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ion probeの意味・使い方・読み方 | Weblio英和辞書
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ion probeとは 意味・読み方・使い方

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意味・対訳 イオンプローブ


JST科学技術用語日英対訳辞書での「ion probe」の意味

ion probe

イオンプローブ

「ion probe」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 108



例文

ATOM PROBE ELECTRIC FIELD ION MICROSCOPE例文帳に追加

アトムプローブ電界イオン顕微鏡 - 特許庁

MAGNESIUM ION/CALCIUM ION SIMULTANEOUS MEASURING PROBE例文帳に追加

マグネシウムイオン及びカルシウムイオン同時測定用プローブ - 特許庁

PROBE FOR MEASURING ALUMINUM ION AND/OR FERRIC ION例文帳に追加

アルミニウムイオン及び/又は第二鉄イオン測定用プローブ - 特許庁

PROBE FOR SCANNING MICROSCOPE BY FOCUSED ION BEAM PROCESSING例文帳に追加

集束イオンビーム加工による走査型顕微鏡用プローブ - 特許庁

SECONDARY COPPER ION MEASURING PROBE AND MEASURING METHOD OF SECONDARY COPPER ION USING THE SAME例文帳に追加

第二銅イオン測定用プローブ及びそれを用いた第二銅イオンの測定方法 - 特許庁

MEASURING METHOD FOR ION TEMPERATURE AND FLOW VELOCITY BY DOUBLE PROBE例文帳に追加

ダブルプローブによるイオン温度並びに流速の測定方法 - 特許庁

例文

The probe device reduces adverse effect on the sample caused by sputter particles generated by ion beam irradiation to the probe, debris of the probe, and the ion beams passing through the vicinity of the probe.例文帳に追加

本発明により、プローブへのイオンビーム照射により発生したスパッタ粒子,プローブの破片,プローブの近傍を通過したイオンビームなどによる試料などへの悪影響を低減できる。 - 特許庁

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日英・英日専門用語辞書での「ion probe」の意味

ion probe

イオンプローブ

「ion probe」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 108



例文

SCANNING-TYPE ELECTROCHEMISTRY ION CONDUCTANCE MICROSCOPE MEASURING METHOD, SCANNING-TYPE ELECTROCHEMISTRY ION CONDUCTANCE MICROSCOPE, PROBE FOR THE SAME, AND PROBE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

走査型電気化学イオンコンダクタンス顕微鏡測定法、走査型電気化学イオンコンダクタンス顕微鏡、その探針および探針の製造方法 - 特許庁

In a probe device having an ion beam system for irradiating an ion beam, and a probe control device for driving the probe arranged in a vacuum sample chamber, a zone for processing the probe with ion beams is arranged in the sample chamber, and sputter particles of the probe and ion beams passing through in the vicinity of the probe are captured in the zone.例文帳に追加

本発明は、イオンビームを照射できるイオンビーム装置と、真空試料室内に配置されたプローブを駆動するプローブ制御装置と、を備えたプローブ装置において、プローブをイオンビームで加工するための領域を試料室内に設け、プローブのスパッタ粒子やプローブ近傍を通過したイオンビームを当該領域に捕捉させることに関する。 - 特許庁

PROCESSING METHOD OF NEEDLE-LIKE SAMPLE FOR ATOM PROBE, AND FOCUSED ION BEAM APPARATUS例文帳に追加

アトムプローブ用針状試料の加工方法及び集束イオンビーム装置 - 特許庁

Preferably, an oxide film is removed from the tip end of the probe without exposing the probe in the atmosphere through dry processing using an ion source or the like, and the probe is housed in the probe housing container.例文帳に追加

好ましくは、大気暴露することなく、イオン源等を用いたドライ処理により探針先端部の酸化膜を除去し、探針を探針収納容器に収容する。 - 特許庁

FORMING METHOD OF NEEDLE-LIKE BODY USED IN ELECTRIC FIELD ION MICROSCOPE OR ATOMIC PROBE, AND NEED-LIKE BODY USED IN THE ELECTRIC FIELD ION MICROSCOPE OR ATOMIC PROBE例文帳に追加

電界イオン顕微鏡又はアトムプローブに用いられる針状体の形成方法及び電界イオン顕微鏡又はアトムプローブに用いられる針状体 - 特許庁

A sensor probe and a standard probe are arranged in the layer of the ion-exchange material in a vertical direction and mutually shifted.例文帳に追加

センサプローブおよび基準プローブは、イオン交換材の層内に、垂直方向に相互にずらして配置される。 - 特許庁

The probe 18' is brought under the optical axis of the ion beam, by means of the driving mechanism 19.例文帳に追加

駆動機構19によりプローブ18′をイオンビーム光軸下に持って来る。 - 特許庁

例文

To provide a florescent probe capable of specifically capturing a potassium ion to measure the potassium ion with high sensitivity even under coexistence of a sodium ion.例文帳に追加

ナトリウムイオンの共存下においてもカリウムイオンを特異的に捕捉して高感度にカリウムイオンを測定することができる蛍光プローブを提供する。 - 特許庁

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