「Process inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(17ページ目) - Weblio英語例文検索

Since usefulness of hollow 52 as standards and shape for fixing continues to exist after first production process, hollow 52 is useful for inspection and repair after production.例文帳に追加

基準としておよび固定するための形状としてのくぼみ５２の有用性は、最初の製造処理を経ても存続するので、くぼみ５２は、製造後の検査や修理のために有用である。 - 特許庁

In the process, the image processing section 22 generates a design image indicative of the substrate in accordance with the design information and cross-checks the design image with the image of the substrate as indicated by the inspection image information pp.例文帳に追加

その過程で画像処理部２２は、設計情報に基づいて基板を表す設計画像を生成し、検査用画像情報ｐｐにより表される基板画像との照合を行う。 - 特許庁

To provide an acoustic tester capable of sensing the contact state between an intake-exhaust valve of a valve train for a vehicle engine and a valve seat and simplifying the test process to enable quick inspection.例文帳に追加

車両エンジン用バルブトレンの吸・排気バルブとバルブシートの間の接触状態を感知することができ、検査工程の単純化により迅速な点検が可能な音波検査機を提供する。 - 特許庁

To optimize easily various parameters for extracting the line edge shape of a pattern with high precision and over a wide range in a semiconductor device inspection process using a scanning type microscope.例文帳に追加

走査型顕微鏡を用いた半導体装置検査工程においてパターンのラインエッジ形状を高精度で広範囲に渡って抽出するための各種パラメータを簡便に最適化する。 - 特許庁

Bonding data such as profile type and loop parameters created by a process engineer is transmitted to a CAD system 20 where wire clearance inspection is performed using the bonding data.例文帳に追加

プロセス技術者が作成したプロファイルタイプやループパラメータ等のボンディング用データをＣＡＤシステム２０へ送信し、ＣＡＤシステム２０でボンディング用データを用いてワイヤ隙間検査を行う。 - 特許庁

In a comparison process, by comparing the calibration curve spectrum group FB with the object spectrum FB_j(f), the thickness Δw of the aperture A, which is the inspection object, is measured.例文帳に追加

比較工程にて、検量線スペクトル群ＦＢと対象スペクトルＦＢ_ｊ（ｆ）とを比較することにより、検査対象となる空隙Ａの厚さΔｗを計測することができる。 - 特許庁

Probe contact for the probe contact area 32 is used for contacting the edge of a test probe in a semiconductor chip inspection process performed prior to the bonding.例文帳に追加

プローブ接触領域３２へのプローブ接触は、上記ボンディングに先立って行われる半導体チップ検査工程において、試験用プローブの先端を接触させるために用いられる。 - 特許庁

A method is provided for completing a liquid crystal cell, in which a bonding process, a liquid crystal injection processing, a sealing processing, a foreign matter inspection processing and a polarizing plate attachment processing are carried out, after manufacturing a TFT and a color filter.例文帳に追加

ＴＦＴとカラーフィルタとを製造した後、貼り合わせ処理、液晶注入処理、封止処理、異物検査処理、偏光板貼り付け処理を行って液晶セルを完成させる。 - 特許庁

To provide a pill inspecting device for inspecting for inclusion of different pills in a PTP sheet manufacturing process which can improve inspection accuracy dramatically, and provide a PTP packaging machine.例文帳に追加

ＰＴＰシートの製造過程における異種錠の混入検査に関し、検査精度の飛躍的な向上を図ることのできる錠剤検査装置、及び、ＰＴＰ包装機を提供する。 - 特許庁

To provide a defective inspection technique for detecting a shortcircuit and a leakage of a wafer including a pattern of small capacitance as a technique of inspecting the wafer in the mid point of the semiconductor manufacturing process.例文帳に追加

半導体製造工程途中のウエハを検査する技術として、容量の小さいパターンを含むウエハのショートおよびリークを検出する欠陥検査技術を提供する。 - 特許庁

To realize the acceleration of an inspection in a device which inspects the defects of the same design patterns, foreign matter, residue or the like on a wafer in the manufacturing process of a semiconductor device with electron beams.例文帳に追加

半導体装置の製造過程にあるウェハ上の同一設計パターンの欠陥、異物、残渣等を電子線により検査する装置において、検査の高速化を実現すること。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for inspecting an object, particularly a small and long electrical object like a minute capacitor which is susceptible to damages during inspection process.例文帳に追加

微小なコンデンサなどの対象物は、検査プロセス中に損傷することがあり、殊に小さくて長い電気的対象物などの対象物を検査するための装置および方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scaffold structure for boiler furnace interior work, which promptly and easily installs a scaffold within a furnace, shortens the entire process of periodic inspection while reducing costs.例文帳に追加

炉内に迅速にかつ容易に足場を設置し、定期点検の工程全体を短縮しコストの低減を図ることができるボイラ火炉内作業用足場構造を提供すること。 - 特許庁

In the inspection process, illuminating light having a wavelength of 400 nm or less is applied from a light source 7 to the lamination film and light from the lamination film is imaged on a CCD 24 by lens optical systems 13, 24.例文帳に追加

検査工程は、積層膜に波長４００ｎｍ以下の照明光を光源７から照射し、積層膜からの光をレンズ光学系１３，２４でＣＣＤ２４に結像させる。 - 特許庁

To provide a process managing method with which dispersion of an increase amount of line width by a flow can be managed with high measurement precision and high throughput by using an optical inspection device.例文帳に追加

フローによる線幅の増加量のばらつきの管理を光学的検査装置を用いて高い測定精度、且つ高スループットに行うことができるプロセス管理方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method for a semiconductor integrated circuit including an equalization process for generating a burn-in test pattern for equalizing the number of times of toggling on each element level of the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路の各素子レベルでのトグル回数を平準化するバーンインテストパターンを生成する平準化工程を含む半導体集積回路の検査方法の提供。 - 特許庁

To provide a semiconductor device measuring DC characteristics of a switching device in a resonant switch circuit in an inspection process of the semiconductor device including the circuit.例文帳に追加

共振型スイッチ回路を含む半導体装置の検査工程において、その回路内のスイッチング素子のＤＣ特性を測定することを可能とする半導体装置を提供することである。 - 特許庁

A worker inputs the inspection result of an assembly on this screen, and the input system clients 201-208 register the data on the screens in the database of the process monitoring server 300a.例文帳に追加

そして、作業者は、この画面上で被組立品の検査結果を入力し、入力系クライアント２０１〜２０８は、画面上のデータを工程監視サーバー３００ａのデータベースに登録する。 - 特許庁

In this system for optimizing the inspection process of the medical diagnosis, the data are displayed in the same method as the image screen where a display device of a central unit is locally arranged for the medical diagnostic systems.例文帳に追加

医療診断の検査プロセスを最適化するシステムにおいて、中央装置の表示装置を、医療診断装置のためにローカルに設けた画像スクリーンと同じ方法でデータを表示する。 - 特許庁

The automatic inspection of a specified region can be carried out by acquiring the image, giving a real time image process thereto, and sequentially repeating the operation of storing the position and the brightness of the defective portion.例文帳に追加

この画像を取得し、リアルタイム画像処理を施し、不良部の位置と明るさを記憶する動作を順次繰り返すことにより、指定領域の自動検査を実施できる。 - 特許庁

To perform a highly accurate inspection and a high accurate adjustment by receiving efficiently a reflected light by a liquid crystal layer in the manufacturing process of an optoelectronic device such as a reflection type liquid crystal device.例文帳に追加

反射型の液晶装置などの電気光学装置の製造工程において、液晶層による反射光を効率的に受光して高精度の検査及び調整を行う。 - 特許庁

To provide a pattern inspection method for easily specifying a part that easily cause pattern failure and the appropriate exposure energy and a wafer for inspecting a pattern in the photolithography process.例文帳に追加

フォトリソグラフィ工程において、パタン不良の発生しやすい部分や、適切な露光量を容易に特定することができるパタン検査方法およびパタン検査用ウェハを提供する。 - 特許庁

To provide a ring-shaped light irradiation device 1 for a product inspection, which has suitable heat radiation performance, provides a large amount of light, and is manufactured without a complicated process.例文帳に追加

放熱性に優れ、大光量化が可能で、なおかつ複雑な工程を必要とすることなく製造できる製品検査等用の環状光照射装置１を提供する。 - 特許庁

To provide a plant facility management/maintenance support system capable of precisely and efficiently issuing, collecting, and managing work tags during maintenance and inspection work, and quickly collecting the work log of an isolation process.例文帳に追加

保守点検作業において作業タグを的確に効率よく発行、回収管理し、隔離処理の作業記録を迅速に収集できるプラント設備管理保守支援システムを提供する。 - 特許庁

This device can recognize the lot No. or the order of manufacture of a product made on the wafer, the function of the product, the inspection results of the manufacture process and others by reading the ID mark.例文帳に追加

ＩＤマークを読み取ることで、ウェーハに形成された製造物のロット番号もしくは製造順番、製造物の機能、及び製造工程の検査結果などを認識することができる。 - 特許庁

Two or more of inspection images are obtained by imaging at least two out of the top surface, the reverse surface and the bevels of the substrate in one or more of manufacturing process of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の１つ以上の製造工程において基板の表面、裏面、およびベベルのうち少なくとも２つを撮像することにより２枚以上の検査画像が得られる。 - 特許庁

The pad layout can be obtained as capable of wire bonding easily, and narrowing the pitch between the probe contacting regions, in which the probe needle is planted in the inspection process of semiconductor chips.例文帳に追加

ワイヤボンディングが容易に行うことができ、半導体チップ検査工程におけるプローブ針立てが行われるプローブ接触領域の狭ピッチ化が可能なパッドレイアウトが得られる。 - 特許庁

The intelligent product transfer and conveyance system for a processing facility ensures the continuous flow of a plurality of good products from the inspection process to subsequent stations for subsequent individualized packaging.例文帳に追加

加工設備用のインテリジェント製品移送運搬システムは、複数の良質の製品を検査段階から引き続くステーションに連続的に流通させて個別的包装が行われるようにする。 - 特許庁

To provide a semiconductor acceleration sensor capable of measuring a temperature characteristic without mounting the semiconductor acceleration sensor in a package, and thereby simplifying a manufacturing process, and its inspection method.例文帳に追加

半導体加速度センサをパッケージに実装することなく温度特性を計測して製造工程を簡略化できる半導体加速度センサおよびその検査方法を提供すること。 - 特許庁

To operate a scanning electron microscope with high precision and high speed by curtailing a process for inspection position setting or an input operation or the like.例文帳に追加

本発明は、検査位置合わせに関する処理、或いは入力作業等を削減することで、高精度かつ高速に走査電子顕微鏡を稼動せしめることを目的とするものである。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which minute defects in itself or in its electrodes can be detected in a stage before a substrate attachment process is carried out and to provide its inspection method.例文帳に追加

半導体素子や電極の微小欠陥を基板組付け工程の前の段階で検出可能な半導体素子およびその半導体素子の検査方法を提供すること。 - 特許庁

To decrease a carrying work of a photomask in an inspection process and to easily and rapidly inspect photomasks with different exposure wavelengths by using one simulator.例文帳に追加

検査工程におけるフォトマスクの搬送作業を低減できるようにすると共に、露光波長の異なるフォトマスクを同一のシミュレータを用いて簡単、かつ迅速に検査できるようにする。 - 特許庁

The inspection program employee should inform the applicant that the process may be expedited if he or she provides the necessary documents (e.g., Export Verification record eligibility information), along with the application.例文帳に追加

検査プログラム担当職員は、申請書に加えて必要な文書（例：輸出証明記録適格性情報）を提出すれば処理が迅速化されることを、申請者に伝える。 - 厚生労働省

To dispense with skew adjustment of actuator which requires a producing process using a exclusive assembly jig and with troublesome inspection processes which obstructs operability of optical head device production and cost reduction.例文帳に追加

アクチュエータのスキュー調整は、専用の組立治具を用いた製造工程や煩雑な検査工程を必要とし、光学ヘッド装置生産の作業性及びコスト削減の障害となっている。 - 特許庁

To provide a check sheet registration system in which development costs of a check sheet to be used for work process management, inspection report and the like can be reduced and efficiency in a check sheet entry job can be improved.例文帳に追加

作業の工程管理、検査報告等で用いるチェックシートの開発コストを軽減すると共に、チェックシート記入業務の効率向上が可能なチェックシート登録システムを提供する。 - 特許庁

To automatically perform a series of operations until the process fit for the purpose is completed, with a manufacturing device, by uniting an inspection device, the manufacturing device, a wafer sorting function, and a wafer carrier.例文帳に追加

検査装置と製造装置およびウェハー仕分け機能、ウェハー搬送装置が一体となって製造装置が目的にあったプロセスが完了するまで自動的に一連の繰作を行う。 - 特許庁

To provide an inspecting device used for a discrimination/inspection process etc. for a semiconductor device which, to be inspected, operates at working frequency and comprises silicon or metal as a base material.例文帳に追加

被検体である半導体装置の、実働周波数で動作可能な、シリコンあるいは金属を基材とした半導体装置の選別検査工程などに使用される検査装置を実現する。 - 特許庁

To reduce the defective read rate of a trimming parameter in an inspection process in a nonvolatile memory requiring trimming of word line voltage and read reference voltage at the time of read operation.例文帳に追加

読出し動作時にワード線電圧や読出し参照電圧のトリミングが必要である不揮発性メモリにおいて、検査工程におけるトリミングパラメータの読出し不良率を低減する。 - 特許庁

To provide a board for inspecting semiconductor devices at a lower cost, which enables stable and highly reliable inspection by restricting generation of noises, even at a high operation frequency in the inspection of electrical characteristics which is one process in the production of semiconductor devices.例文帳に追加

本発明が解決しようとする課題は、半導体装置製造工程の一工程である電気的特性検査において、高い動作周波数での検査でも、ノイズの発生を抑制し、安定して信頼性の高い検査が行なえる半導体装置検査用基板を安価に提供することである。 - 特許庁

The method for inspecting the gas-permeable hollow fiber membrane module includes a process for measuring change of the pressure of the introduced inspection gas after introducing the inspection gas into the gas-permeable hollow fiber membrane module 14, to inspect the presence or absence of the leakage in the gas-permeable hollow fiber membrane.例文帳に追加

また、本発明のガス透過性中空糸膜モジュールのリーク検査方法は、ガス透過性中空糸膜モジュール１４に検査用ガスを導入させた後、導入させた検査用ガスの圧力の変化を測定する工程を有し、ガス透過性中空糸膜のリークの有無を検査する。 - 特許庁

This technique is to create Raster Image Processor (RIP) development data Compact Discs (CDs) 2, 3 for inspection developed under the same developing conditions from two print image data created in different processes during plate making process, and then obtain the inspection results by comparing these data CDs 2, 3.例文帳に追加

製版工程の中の異なる工程で作成された２つの印刷物画像データから、同一のＲＩＰ展開条件で展開された検版用ＲＩＰ展開データＣＤ２，ＣＤ３を作成し、これらのデータＣＤ２，ＣＤ３を比較することによって検版結果を得る。 - 特許庁

To provide a mark erasing device for freely erasing unnecessary displays in a preceding process in a continuous production line or an inspection line even in the case of erroneously displaying caused by the defects of a steel plate inspection device or the like to improve the production efficiency.例文帳に追加

本発明は、鋼板の検査装置等の不具合によって誤って表示を付した場合でも連続生産ラインや検査ライン等の前工程で自由に不要な表示を消去でき、生産効率の向上が期待できるマーク消去装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

Execution of non-contact inspection in place of a conventional continuity test can eliminate contact on the electrode surface of the display portion and shorten inspection process for formation of the electrode, making it possible to inspect faults of the electrode developed in processes after the electrode formation to improve the quality.例文帳に追加

導通検査に代えて非接触検査を行うことにより、表示部の電極表面に接触せずに済み、また電極形成時の検査工程を短縮することができ、電極形成以降の工程において発生する電極欠陥の検査が可能となり、品質の向上が図れる。 - 特許庁

To provide a conveyance device capable of conveying quickly a disk product in an inspection process for inspecting successively the appearance quality of the disk product, and an inspection device capable of inspecting accurately and quickly the disk product by applying the conveyance device.例文帳に追加

円板製品の外観上の品質を順次検査する検査工程において当該円板製品を迅速に搬送することができる搬送装置を提供し、さらに、その搬送装置を適用して当該円板製品の検査を精度よくかつ迅速に行うことができる検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a printing solder inspection apparatus capable of grouping a plurality of soldered parts, reversibly recognizing the relation between allowable values and process indices on shape values of the group, and reflecting this in the following first inspection when the allowable values have altered.例文帳に追加

複数はんだ箇所をグループ化し、そのグループにおける形状値を軸に許容値と工程指数との関係を可逆的に認識可能にし、許容値の変更があったときは次の１枚目の検査から反映することができる印刷はんだ検査装置を提供することである。 - 特許庁