「Process inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(24ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a method for manufacturing a mask blank by which processing steps such as an inspection step can be efficiently carried out and the process can be carried out while reliably preventing chipping or the like in a light transmitting substrate, and to provide a processing apparatus and a cart.例文帳に追加

検査工程などの処理工程を効率よく行うことのでき、しかも透光性基板などに欠けなどが発生することを確実に防止した状態で処理を行うことのできるマスクブランクスの製造方法、処理装置、および台車を提供すること。 - 特許庁

To solve a problem wherein inspection and adjustment in element capacitance cannot be conducted in each element due to the problem regarding circuit, when passive elements are formed within an actual circuit, and a problem that management items are different in the process when a wiring circuit substrate and passive elements are formed.例文帳に追加

実回路内に受動素子を形成すると回路上の問題で素子単独で検査や素子容量の調整ができない問題、及び配線回路基板と受動素子の形成工程での管理項目が異なる問題を解消することである。 - 特許庁

To prevent a variation (increase) of wiring resistance caused by a forming process of a resistor and wiring in a so-called electric characteristic inspection wiring board which is composed so that the wiring resistance reaches a desired value by interposing the resistor in the middle of the wiring.例文帳に追加

配線途中に抵抗体を介在させて配線抵抗を所望の値となるように構成した、いわゆる電気特性測定用配線基板において、前記抵抗体及び前記配線の形成工程に起因した、前記配線抵抗の変化（増大）を防止する。 - 特許庁

To provide an electron beam equipment capable of obtaining an image for inspection with little distortion and enabling a surface observation and a defect detection as well as a device manufacturing method for inspecting a device on the way of a process with a good throughput with the use of the electron beam equipment.例文帳に追加

歪みの少ない検査画像が得られ、信頼性の高い表面観察および欠陥検出を可能にする電子ビーム装置、および、該電子ビーム装置を用いてスループット良くプロセス途中のデバイスを検査するデバイス製造方法を提供すること。 - 特許庁

In inspection process, a self- traveling type imaging device 3 is set on the upstream side, and the reverse side of the laser receiving plate 33 is imaged by the television camera head part 32 while advancing the self-traveling type imaging device 3 to read the position of the light image 61 on the mesh coordinate 35.例文帳に追加

調査工程においては、上流側に自走式撮像装置３を設置し、自走式撮像装置３を前進させながら、テレビカメラヘッド部３２によりレーザ受光板３３の裏面を撮像し、メッシュ座標３５上の光像６１位置を読み取る。 - 特許庁

Broad partitioning lines 15, 16,... are formed between each other's lands of 11, 12,... by silk-screen printing for the land group 10 for chip parts so that the solder bridge or the like can be easily found by the visual inspection when the solder bridge or the like is caused on the board partitioning lines 15, 16,... in a soldering process.例文帳に追加

前記チップ部品用ランド群１０に対しては、各ランド部１１、１２……の間に、シルク印刷により巾の広い仕切ライン１５、１６……を形成し、はんだ付け工程で、はんだブリッジ等が生じた時に容易に目視で判断できるようにする。 - 特許庁

To provide an electronic control unit capable of reducing cost and work time caused by a specification change in sensors, while improving processing efficiency in an inspection-adjustment process of the sensors, without enlarging the area of a control board.例文帳に追加

制御基板の面積を大きくすることなく、センサの検査・調整工程における処理効率を向上させることができるとともに、センサの仕様変更に伴うコスト及び作業時間を低減することができる電子制御ユニットを提供することを課題とする。 - 特許庁

In a processing cartridge whose toner seal is automatically opened by drive force exerted from a main body, a side cover which covers the gear of a path along which drive is transmitted to a toner seal opening means is provided with a hole in which an idler gear can be fitted in the last of the assembly (inspection) process.例文帳に追加

本体からの駆動力によりトナーシールが自動開封されるプロセスカートリッジにおいて、トナーシール開封手段への駆動伝達経路のギアを覆っているサイドカバーに、組立て（検査）工程の最後にアイドラギアを組込み可能な穴が空けられている。 - 特許庁

If any of the following is recognized through the process of inspection, it shall be considered as a negative factor in giving a rating, since it may be taken as evidence that the financial institution has no shortage of weaknesses in its legal compliance system but has taken insufficient improvement measures. 例文帳に追加

以下に掲げる点が認められる場合には、金融円滑化管理態勢に少なからず弱点を抱えているにもかかわらず、改善に向けた対策が不十分であると考えられることから、評定を行う上でのマイナス要素として勘案するものとする。 - 金融庁

Furthermore, when deemed necessary and appropriate in light of the public interest or investor protection, including in cases where a firm has made fraudulent or inappropriate attestation, inspection of the firm may be conducted without going through process 1. 例文帳に追加

なお、公益又は投資者保護のため必要かつ適当であると認められる場合、たとえば、外国監査法人等による虚偽又は不当の証明に関する情報がある場合には、１．の手続きを経ずに、外国監査法人等に対する検査を実施することができる。 - 金融庁

To provide a method and system for manufacturing a semiconductor device, wherein resist size and shape variances caused by exposure process variation are reduced without performing inspection operation in advance in exposure processing for manufacture of the semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイスの製造の露光処理において、事前の点検作業を行うことなく露光プロセス変動によって発生するレジスト寸法および形状ばらつきを低減することができる半導体デバイスの製造方法およびその製造システムを提供する。 - 特許庁

The law had required checkups on the safety of buildings during the design process, to which the amendment toughened building certification and inspection requirements to prevent structural calculation frauds, after false sheets were found in November 2005.例文帳に追加

建築基準法は、設計段階での建築物の安全性を審査することを求めているが、今回の建築基準法の改正は、2005年11月に発覚した構造計算書偽装問題の再発を防止するため、建築確認・検査を厳格化したものであった。 - 経済産業省

This automatically detects the abnormality triggered by an input of inline inspection information, and downloads and analyzes the required information from the upper data base 105, which allows an operator not to select an analysis objective, and the defective process/device can be easily specified.例文帳に追加

このように、インライン検査情報の入力をきっかけとして自動的に異常検知し、上位データベース１０５から必要な情報をダウンロードして解析するので、オペレータが解析対象を選択する必要がなく、容易に問題工程・装置の特定が可能になる。 - 特許庁

In the molded object manufacturing apparatus 10 equipped with an injection device for injecting a resin material and molds 51 and 52 for molding a molded object, a manufacturing process line 50 for manufacturing the molded object by the molds 51 and 52 using the injection device and an inspection process line 60 for inspecting the manufactured molded object are arranged so as to be distributed to upper and lower stages respectively.例文帳に追加

樹脂材料を射出するための射出装置と、成形体を成形するための金型５１，５２とが備えられた成形体製造装置１０において、射出装置を用いて金型５１，５２にて成形体を製造する製造工程ライン５０と、製造された成形体を検査する検査工程ライン６０とが、上段と下段とにそれぞれ振り分けて配置されている。 - 特許庁

To provide a printed-circuit board capable of improving the working efficiency of a mounting process or an inspection process by facilitating the verification of electronic parts or a preset value corresponding to each product substrate, even in a case where two or more types of product substrates are manufactured from the same printed-circuit board by making different electronic parts to be mounted and the preset value.例文帳に追加

実装する電子部品やその設定値を相違させることによって同一のプリント基板から複数種類の製品基板を製作する場合であっても、各製品基板に対応する電子部品やその設定値の確認を容易に行うことができるようにし、実装工程や検査工程の作業効率を向上させるようにしたプリント基板を提供する。 - 特許庁

The inspection method for ejection of an inkjet device comprising an ink head with a plurality of ejection nozzles includes: a process of continuously ejecting ink from respective ejection nozzles of the ink head to form a parallel line pattern while moving the ink head in the conveyance direction on an image reception base material; and a process of determining defective ejection from line width and pattern interval of the line pattern.例文帳に追加

複数の吐出ノズルを有するインクヘッドからなるインクジェット装置の吐出検査方法であって、検査用受像基材上に、インクヘッドを搬送方向に移動させながら、前記インクヘッドの各吐出ノズルからインクを連続吐出し、平行なラインパターンを形成する工程と、ラインパターンの線幅及びパターン間隔から吐出の良不良を判断する工程と、を有する吐出検査方法。 - 特許庁

To ensure the reliability and authenticity of storage data owing to the irreversibility of a fuse element without much increase in the circuit scale of a storage circuit and an inspection circuit and without increase in the process time of data verification by storing target data and logical NOT data of the target data as inspection data in a semiconductor integrated circuit which uses the fuse element for a nonvolatile storage element.例文帳に追加

不揮発性記憶素子にフューズ素子を用いた半導体集積回路において、目的とするデータと、検査データとしての目的とするデータの論理否定データとを記憶し、フューズ素子の不可逆性を利用することで、記憶回路と検証回路の回路規模をあまり大きくすることなく、またデータ検証の処理時間の増大を招くことなく、記憶データの信頼性と正真性を保証する。 - 特許庁

At several places of a process for executing a plurality of continuously continued inspection processes, the forward voltage of a diode inside the IC chip is measured to confirm the temperature, when the temperature does not lie within the range of a diode voltage corresponding to a prescribed temperature range, the temperature is adjusted, and an inspection after an interruption is resumed, after confirming that the diode voltage lies within the prescribed range.例文帳に追加

連続的に連なった複数の検査工程を実行する過程の何箇所かで、ＩＣチップ内のダイオードの順方向電圧を測定して温度確認を行い、所定の温度範囲に該当するダイオード電圧の範囲内に入っていなければ、検査の継続を中止して温度調整を行い、そのダイオード電圧が所定の範囲内に入ったことを確認後、中止後の検査を再開させる。 - 特許庁

I know that the authority over inspection of securities companies was transferred from the FSA to the SESC about three years ago. However, there has been criticism that inspection by the SESC tends to focus on the investigation of violation of laws and the examination of compliance, and that the SESC’s examination of the soundness of securities companies’ financial conditions and risk management systems are insufficient and ineffective. Could you tell me whether the project for reviewing the securities inspection process announced by the SESC address such criticism, and how you view the appropriateness of the transfer of the authority over the inspection of securities companies to the SESC? 例文帳に追加

証券会社への検査については、3年ほど前に金融庁から監視委員会に移管されたことは承知しておりますが、監視委員会の検査は犯則調査やコンプライアンスの検証が中心になりがちで、今世界的に問題になっている証券会社の財務の健全性やリスク管理態勢の検証が不十分であったり実効性を欠いているという批判や指摘が内外でされていて、こないだ監視委員会が公表したプロジェクトがこうした批判に対応したものになっているのかどうかということと、また、証券会社への検査権限を監視委員会に移管した妥当性についてどのようなご見解をお持ちなのか伺います。 - 金融庁

A printer 11 images a substrate mark 2m and each land 3 provided on a substrate 2 by means of a land imaging camera 25, creates the actual measurement position data of each land 3 with reference to the position of the substrate mark 2m, and transmits that data to a print inspection machine 12 on the downstream process side.例文帳に追加

印刷機１１は、ランド撮像カメラ２５により、基板２上に設けられた基板マーク２ｍ及び各ランド３を撮像し、基板マーク２ｍの位置を基準とした各ランド３の実測位置データを作成して、そのデータを下流工程側の印刷検査機１２に送信する。 - 特許庁

In the manufacturing process of thin film devices, the apparatus extracts the candidates of manufacturing equipment in which a trouble has occurred, by evaluating the relationship between data obtained in relation to product inspection for a product, and data indicating the state of manufacturing equipment, for effectively extracting equipment in which a trouble has occurred.例文帳に追加

薄膜デバイスの製造工程において、問題の発生した装置を効率よく抽出する製品について製品検査に関連して得られるデータと、製造装置について状態を示すデータとの関連性を評価することにより、問題が発生した製造装置の候補を抽出する。 - 特許庁

To provide a hot plate unit for a semiconductor producing/increasing system in which a conductor circuit can be formed, as set, on a semiconductor wafer in the production/inspection process of the semiconductor by heating an object e.g. a resin film for forming resist, applied to the semiconductor wafer uniformly.例文帳に追加

半導体製造・検査工程において、半導体ウエハに塗布されたレジスト形成用の樹脂膜等の被加熱物を均一に加熱することにより、半導体ウエハ上に設定通りの導体回路を形成することが可能である半導体製造・検査装置用ホットプレートユニットを提供すること。 - 特許庁

A repetition processing means 24 checks whether or not the inspection pattern is included in the message trace to be inspected based on message repetition information inputted from the input device 1 or the information of the message correspondence confirming means 22 and the process correspondence confirming means 23, and outputs the result to a display device 4.例文帳に追加

繰り返し処理手段２４は、入力装置１から入力されるメッセージ繰り返し情報や、メッセージ対応確認手段２２、プロセス対応確認手段２３の情報を元にして、検査対象メッセージトレースに検査パターンが含まれるかチェックし、その結果を表示装置４に出力する。 - 特許庁

In the scanning exposure method for scanning and exposing an image of a pattern formed in a reticle on a substrate via a projection optical system, the reticle pattern surface is measured in parallel with other inspection process which scans a reticle stage and a substrate stage in the same stage driving state as in exposure.例文帳に追加

レチクルに形成されたパターンの像を投影光学系を介して基板上に走査露光する走査露光方法において、レチクルステージ及び基板ステージを露光時と同じステージ駆動状態で走査させる他の検査工程と並行してレチクルパターン面測定を行うことを特徴とする。 - 特許庁

The feature quantity of a differential image is extracted from the result of plate inspection of the object image produced from a press plate, and the control information CI to adjust the details of control in each process of the print workflow is generated on the basis of the above feature quantity and the image feature.例文帳に追加

刷版から生成された対象画像の検版結果から、差分画像の特徴量を抽出し、当該特徴量と画像特徴とに基づいて、印刷ワークフローの各工程における制御の内容を調整するための制御情報ＣＩを生成する。 - 特許庁

To provide a cooling method of a butt welding portion and a device thereof, which can perform nondestructive inspection of a next process quickly, by performing forced cooling of a steel butt welding portion on a laying vessel, and is capable of cooling the welding portion efficiently in a limited space on the vessel.例文帳に追加

敷設船上にて鋼管の突き合わせ溶接部の強制冷却を行うことで、次工程の非破壊検査を速やかに行うことができ、かつ船上の限られたスペースで効率良く溶接部の冷却が可能な、鋼管突き合わせ溶接部の冷却方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device wherein detection sensitivity and throughput are improved by optimizing shape of illumination when detecting a defect such as foreign matter generated in a production process for forming a pattern on a substrate to manufacture a target object, and to provide a method therefor.例文帳に追加

基板上にパターンを形成し対象物を製作して行く製造工程で発生する異物等の欠陥を検出する際に、照明の形状を最適化することにより、検出感度およびスループットを向上する欠陥検査装置およびその方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide an improve pattern matching inspection method and device therefor capable of detecting a wiring defect in a wiring pattern in a printed wiring board, LSI(Large Scale Integrated Circuit), and a photomask duplicate for them, and judging whether they are good or not in a manufacturing process of the printed wiring board.例文帳に追加

プリント基板やＬＳＩ（大規模集積回路）、そのためのフォトマスク複製物における配線パターンの配線欠陥を見つけ出して良、不良判断をプリント基板の製造過程において行なえる改良されたパターンマッチング検査方法及び検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a method and device for keeping a normal operation by preventing the residence of a powdery body or granular body of a carrying matter within a carrying conduit or transfer device, and smoothing a drying process without performing the periodic inspection and internal cleaning of the conduit or device.例文帳に追加

搬送管路や移送装置内部での被乾燥物の粉状体や粒状体の滞留を防止し、定期的に点検して内部を清掃することなく、乾燥工程を円滑にし、正常な運転の維持するための方法及びその装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide an X-ray inspection device for inspecting a measuring object at various angles, while it is not only moved in the x, y and z axial directions but also rotated, in order to secure reliability of a product, after a component is mounted to a PCB (printed circuit board) and soldered in an electric electronic product manufacturing process.例文帳に追加

電気電子製品製造工程でのＰＣＢに部品を装着した上、ハンダ付け作業後に製品の信頼性を確保するために、被測定物をｘ、ｙ、ｚ軸への移動だけでなく、回転して多様な角度での検査が可能なＸ線検査装置を提供する。 - 特許庁

The inspection method for inspecting the internal state of the optical material OM has a process for irradiating the optical material OM with diffused light from a light source 21, and inspecting the internal state of the optical material OM based on transmitted light transmitted through the optical material OM.例文帳に追加

本発明に係る光学材料ＯＭの内部状態を検査する検査方法は、光源２１からの拡散光を光学材料ＯＭに照射し、この光学材料ＯＭを透過した透過光に基づいて光学材料ＯＭの内部状態を検査する工程を有する。 - 特許庁

Then a P value is calculated for each combination of a process ID and a device ID to be contrasted and compared by applying merge data of inspection data on a product and device history data of a manufacturing device to a predetermined significant difference examination method, and a new P value is calculated based upon the P value and P-value correction factor.例文帳に追加

次に、製品の検査データと製造装置の装置履歴データのマージデータを所定の有意差検定法に適用して工程ＩＤおよび対比較される装置ＩＤの組合せ毎にＰ値を算出し、このＰ値とＰ値補正ファクタに基づいて新たなＰ値を算出する。 - 特許庁

The method for manufacturing the optical element has a process for inspecting the internal state of the optical material OM which is a candidate body of the optical element by using the inspection method, and selecting the optical element from candidate bodies based on the fact that the internal state satisfies a prescribed standard.例文帳に追加

また、本発明に係る光学素子の製造方法は、この検査方法を用いて光学素子の候補体である光学材料ＯＭの内部状態を検査し、この内部状態が所定基準を満たすことに基づいて、候補体から光学素子を選別する工程を有する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit having confidential data such as key for cipher and personal information inside, capable of easily reading out the confidential data to the outside of the semiconductor integrated circuit while the confidence is kept in an inspection process for the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

暗号用の鍵や個人情報などの秘匿データを内部に持つ半導体集積回路に関して、半導体集積回路の検査工程などで秘匿性を維持しながら秘匿データを半導体集積回路外部に容易に読み出せる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

Further preferably, the inspection process is performed by supplying the signal through a position fixing connector 5 which is disposed in the back case section 2 in order to fix the position of the input terminal 9 in an electrically connectable state from the outside and is electrically connected to the input terminal 9.例文帳に追加

さらに好ましくは、検査工程は、入力端子９の位置を外部から電気的に接続可能な状態で固定するために裏ケース部２に設けられ、入力端子９に電気的に接続された位置固定用コネクタ５を介して信号を供給して行なう。 - 特許庁

the values of the critical dimensions of the die can be obtained from a scan image of low resolution obtained at a relatively high scanning speed, so the method can obtain values of critical dimensions of respective dies in the whole wafer within an acceptable inspection time to monitor uniformity of a semiconductor manufacturing process.例文帳に追加

ダイの限界寸法の値は、相対して高いスキャン速度により得られる低解像度の走査像から得られるので、上述の方法は、受け入れ可能な検査時間内で、ウェハ全体中の各ダイの限界寸法の値を得て、半導体製造プロセスの均一性を監視することができる。 - 特許庁

The inspection method includes the process of specifying the steel types of the reference steel bar and the another steel bar, by analyzing either the composition of the reference steel bar or the composition of another steel bar, when the composition of reference steel bar and the composition of the another steel bar are identical.例文帳に追加

好ましくは、この検査方法では、この基準棒鋼及びこの他の棒鋼の組成が同一であるとき、この基準棒鋼及びこの他の棒鋼のいずれか一方の組成が分析されることで、この基準棒鋼及びこの他の棒鋼の鋼種が特定される工程を含む。 - 特許庁

In the inspection method for surface defect, the surface image of a metal band 1 which is conveyed on a production line containing a hot rolling process is photographed by an optical system 20, and a defect which exists on the surface of the metal band 1 is detected on the basis of the photographed surface image.例文帳に追加

本発明は、熱間圧延工程を含む製造ライン上を搬送される金属帯１の表面画像を光学系２０で撮影して、この撮影した表面画像に基づいて金属帯の表面に存在する欠陥を検出する表面欠陥検出方法に適用される。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of rapidly performing measurement of high precision by causing no fine change of potential in the surface fine region of a sample by properly holding the potential difference between the surface of the sample and a probe when the sample due to the probe is measured in an inspection process.例文帳に追加

検査工程での探針による試料測定時に試料の表面と探針との間の電位差を適切に保ち、試料表面の微細領域での微細な電位変化を生じさせず、迅速にかつ高い精度の測定を行うことができる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The inspection system includes a test signal source, a signal detection part, a signal process part, an analysis unit, and an integration circuit provided with a boundary scanning function and can be used for inspecting whether the pins of an inspecting object, e.g. integrated circuit are surely connected to the printed substrate assembly.例文帳に追加

本発明の検査システムは、テスト信号源、信号検出部、信号処理部、分析ユニット、およびバウンダリスキャン機能を有する集積回路を含み、たとえば集積回路のような被検体のピンが確実にプリント基板アセンブリに接続しているかどうかを検査するのに用いることができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor device that prevents deterioration in RF characteristics such as high-frequency characteristics, can reduce the development period or the like of a high-frequency characteristic process, can easily perform inspection in the occurrence of a characteristic fail or the like, is manufactured at low costs, and can miniaturize the package.例文帳に追加

高周波特性等のＲＦ特性を劣化させず、高周波特性プロセスの開発時間等を節減することができ、特性不良が発生した際の検査等を容易に行うことができ、製造コストが低く、パッケージの小型化が可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide an earth metal fitting for a bimetallic raceways in which a boring process to the bimetallic raceways is made unnecessary, in which any possibility of damaging an electric wire and a cable in the bimetallic raceways is eliminated, and in which a complicated operation such as removal of the electric wire and the cable in the bimetallic raceways is made unnecessary even after a construction inspection.例文帳に追加

二種金属製線ぴへの穴あけ加工を不要にし、二種金属製線ぴ内の電線やケーブルを傷つけるおそれをなくし、施工検査後でも二種金属製線ぴ内の電線やケーブルの除去などの煩雑な作業を不要にした二種金属製線ぴ用アース金具を提供する。 - 特許庁

To provide a thin film transistor array substrate or the like which enables a resistor having a resistance value necessary for inspection of the array substrate to be formed in a simple process without adding new resistance materials and is free from a problem caused by cutting processing of the resistor.例文帳に追加

アレイ基板の検査を実施する上で必要な抵抗値を有する抵抗体を、新たな抵抗材料を追加すること無く、簡単なプロセスにより形成でき、抵抗体における切断処理により問題が生じることの無い薄膜トランジスタアレイ基板等を提供する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a semiconductor device capable of manufacturing a polycrystal silicon film improved in performance and quality by adjusting a laser power in a laser treatment process performing crystallization from an amorphous silicon film to a polycrystal silicon film to an optimum value, and to provide a semiconductor inspection apparatus.例文帳に追加

モルファスシリコン膜から多結晶シリコン膜へ結晶化を行うレーザ処理工程でのレーザパワーをより最適値に合わせて、性能品質の向上した多結晶シリコン膜を安定して製造することが可能な半導体装置の製造方法および半導体検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method capable of reducing occurrence of burr caused by a gap of a metal generated in a pad at dicing, and executing probe inspection via a process controlling monitor without problems.例文帳に追加

ダイシングの際に発生するパッド部分の金属のめくれ上がりによるバリを低減することができるとともに、プロセスコントロールモニタを通じてのプローブ検査を問題なく実行することができる半導体ウエハおよび半導体チップの製造方法および半導体ウエハプローブ検査方法を提供する。 - 特許庁