「Process inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(25ページ目) - Weblio英語例文検索

To lower the manufacture cost of an electrode substrate for a liquid crystal device, which is used for a p-Si type TFT-LCD by performing high- precision OS inspection, without causing increase in the area of a row electrode driving circuit or the facility investment amount and decreasing defective substrates moving into cell process.例文帳に追加

ｐ−Ｓｉ型ＴＦＴ−ＬＣＤに用いられる表示装置用電極基板において、行電極駆動回路の面積増や設備投資額の増加を招くことなしに高精度なＯＳ検査を可能とし、不良基板のセル工程への流れ込みを低減して、製造コストを削減する。 - 特許庁

To provide a method in which a cast and forged product without a substantially problematic defect even when used in a later forging process is inspected with high inspection accuracy and with satisfactory efficiency, by a method wherein a so-called preform after a casting operation or a finished product as required is inspected.例文帳に追加

鋳造後のいわゆるプリフォーム或いは必要により完成部品を検査することにより、その後の鍛造工程で使用しても、実質的に問題となるような欠陥を有しない鋳造鍛造品を検査精度高く、かつ、検査効率よく、検査する方法の提供。 - 特許庁

The email client also includes a detection unit 121 for detecting that the operation reception unit 110 has received a specific operation and an inspection unit 123 for, if a specific operation is detected, inspecting the email and a file to be attached to the email before the processing unit 130 performs a process.例文帳に追加

また、操作受け付け部１１０により特定の操作が受け付けられたことを検出する検出部１２１と、特定の操作が検出された場合に、処理部１３０による処理が実行される前に、電子メールおよびこの電子メールに添付されるファイルを検査する検査部１２３とを備える。 - 特許庁

Succeedingly, the average evaluation scores related to the films on a predetermined number of substrates before the substrate concerned by an average evaluation score acquiring part 214 and the separation degree showing the ratio of the evaluation score of the film on the substrate is calculated with respect to the average evaluation score by a process inspection part 215.例文帳に追加

続いて、平均評価点取得部２１４により当該基板以前の所定数の基板上の膜に係る平均評価点が求められ、工程検査部２１５により当該平均評価点に対する当該基板上の膜の評価点の割合を示す乖離度が求められる。 - 特許庁

In the inspection method of the resin-coated glass bottle, steam is sprayed to the surface of the glass bottle that has completed a resin-coating treatment process for generating a blur on the surface, and the degree of blur is detected optically, thus discriminating the presence or absence of the resin-coated film on the surface of the glass bottle.例文帳に追加

樹脂コーティング処理工程を終えたガラスびんの表面に蒸気を吹きつけて表面に曇りを発生させ、この曇り度合いを光学的に検出することによりガラスびん表面の樹脂コーティング膜の有無を判別するようにした樹脂コートガラスびんの検査方法。 - 特許庁

To provide an optical pickup device, capable of preventing a shipment of an abnormal product by detecting a terminal misalignment at an inspection process and also capable of preventing damages to a circuit to which the pattern terminals are connected, even if there is terminal misalignment, and to provide an information processor that has the optical pickup device mounted thereon.例文帳に追加

検査工程で端子ずれを検知して異常品の出荷を防止することができ、また端子ずれがあってもパターン端子が接続される回路の破損を防止することができる光ピックアップ装置、およびそれを搭載する情報処理装置を提供する。 - 特許庁

In the third inspection process, the solid-state imaging device is inspected per predetermined range set in advance, and the number of peculiar pixels within each range is counted, and at the same time, the sum of brightness data of the individual peculiar pixels within each range is calculated as a defect level.例文帳に追加

第３検査工程では、予め設定されている所定範囲ごとに固体撮像素子の検査が行われ、この所定範囲内の特異画素の個数が計数されると同時に、この所定範囲内の各特異画素の輝度データの合計値が欠陥レベルとして算出される。 - 特許庁

A hole 21 is opened near the base end 7a of the cage 7 so as to visually confirm the outer peripheral surface of a connecting end part 3 of a male pipe 2 positioned inside a bead hook part 6 in the connecting state, whereby the inspection time for a pipe joint 1 in a manufacturing process can be reduced.例文帳に追加

また、孔２１はケージ７の基端７ａの近傍から開口し、連結状態でビードフック部６の内側に位置するオス管２の接続端部３の外周面を目視可能とするものであるため、製造工程における管継手１の検品時間が短縮する。 - 特許庁

To provide a transparent laminated sheet which does not spoil the inspection property of a bonded surface to be protected, does not spoil adhesion and transparency to heating in a manufacturing process, and furthermore can fully follow even when there is irregularity on the surface.例文帳に追加

本発明は、貼り合せた被保護面の検査性を損なわず、かつ製造工程における加熱に対しても密着性および透明性が損なわれず、さらには表面に凹凸が有る場合にも十分に追従することができる透明積層シートを提供することを主目的とする。 - 特許庁

The history information is not only utilized for analyzing defective goods in the market, but also referred in the inspection process, thereby enabling the potential failures and signs of abnormality to be discovered even in the case of a deck unit 2 apparently operating normally, and preventing any defective good from arriving on the market.例文帳に追加

履歴情報を、市場での不具合品の解析に利用するだけでなく、検査時に参照することによって、見かけ上正常に動いているデッキユニット２でも潜在的な故障や異常の兆候を発見できるようにして、不良品の市場流出を防止する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing for high quality liquid crystal display substrates for inspection with neither admixture of air bubbles nor gap non-uniformity disturbing recognition of defects and the assembling device in the liquid crystal display substrates used for evaluation of a manufacturing process of the liquid crystal display substrates.例文帳に追加

本発明は液晶表示基板の製造プロセスの評価に用いる液晶表示基板において、不良発見の妨げとなる気泡の混入やギャップ不良の無い高品質な検査用液晶表示基板の製造方法及び組立装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

At S103, the device judges whether time has passed beyond the prescribed time or not after the right of radiogram interpretation is acquired, the process proceeds to S102 when time has passed beyond the prescribed time, cancels the right of radiogram interpretation to the diagnostician, and indicates on the inspection list so as to allow other diagnostician to acquire the right.例文帳に追加

Ｓ１０３において、読影権を取得してから所定時間以上経過しているか否かを判断し、所定時間以上経過していればＳ１０２に進み、該当の診断医に対する読影権を取り消し、他の診断医が読影権を得られるように検査リストに表示する。 - 特許庁

To provide a stage control method, capable of optimizing speed, acceleration, etc., of a stage, reducing time between the end of a process such as drawing or inspecting operation to the start of movement of the stage to a next movement start point, and hence improving the throughput of a depicting unit or an inspection unit.例文帳に追加

ステージの速度、加速度等の最適化に加えて、描画あるいは検査などの処理終了後から次の移動開始点への移動開始までの時間を短縮し、ひいては描画装置あるいは検査装置のスループットを向上させることが可能なステージ制御方法を提供する。 - 特許庁

31. A perspective to be applied to rating criteria should, in accordance with the concepts of the Financial Inspection Manual, which places its basic emphasis on process checking, set the main target of evaluation on aspects of control systems, leaving as a secondary factor in judgment the issue of how many incidents or losses have actually resulted. 例文帳に追加

31．評定基準の目線については、プロセス・チェックを基本とする金融検査マニュアルの考え方に則り、管理態勢面に評価の重点を置くものとし、結果としてどの程度の事故・損失等が生じているかは副次的な判断要素にとどめるものとする。 - 金融庁

The MHLW will instruct importers, if necessary, to confirm using genetic recombination technology in production process, because at the end of last year food additives produced with genetically-modified microorganism, for which safety inspection was not performed, were imported and sold.例文帳に追加

また、昨年末に安全性審査を経ていない遺伝子組換え微生物を利用して製造された食品添加物が輸入、販売された事案があったことから、製造工程における遺伝子組換え技術の利用について、必要に応じ輸入者に確認するよう指導する。 - 厚生労働省

To provide a sheet substrate conveying apparatus applicable to not only a wet conveying apparatus such as a development device but also a dry conveying apparatus such as a process device and an inspection device by applying a sheet conveying unit capable of constructing a constitution for periodically and automatically cleaning a substrate contact member at low cost.例文帳に追加

基板接触部材を定期的に自動清掃可能な構成を安価に構築し得る枚葉搬送ユニットを適用することで、現像装置のようなウェット搬送設備だけでなく、プロセス装置、検査装置等のドライ搬送設備へも適用可能な枚葉基板搬送装置を提供する。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display device which can suppress degradation of yield by forming marker for alignment without increasing an additional process, can provide alignment with high accuracy, can reduce a time required for inspection and, thereby, permits high visibility.例文帳に追加

新たな工程を増やすことなく位置合わせの為のマーカーを形成して歩留まりの低下を抑えると共に、精度の高い位置合わせおよび検査工程にかかる時間の短縮化を可能とすることにより視認性の高い液晶表示装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a substrate inspection apparatus, capable of precisely measuring automatically and analyzing at least the stress and film thickness at a prescribed measuring point in each of all the manufactured semiconductor substrates, so as to contribute to the establishment of a substrate production process of high performance and high productivity.例文帳に追加

製造された全ての半導体基板の所定の測定点における少なくとも応力と膜厚とを自動的に測定し、かつ、的確に分析して高性能で生産性よい基板製造工程の確立に寄与する基板検査装置を提供できるようにする。 - 特許庁

The change of the thickness in the length direction of the molding (waving etc.), which has been difficult to find in a conventional sampling inspection can be inspected in real time during production so that a defective and troubles in a production process to cause the defective can be find at once.例文帳に追加

そのため、従来の抜き取り検査では見出すことが困難であった、成型品の長さ方向の厚さの変化（波打ち等）を製造中にリアルタイムで検査することができ、不良品やその原因となる製造工程上の不具合を直ちに知ることが可能となる。 - 特許庁

A longitudinally long U-shaped groove 22' for housing both a water supply hose 25 and a drain hose 26 is arranged in a rear part of a bottom plate 20, and either hose can be taken out of the bottom plate 20 only by pulling out the hose backward from the groove 22' to reduce a work cost of an assembling/inspection process.例文帳に追加

底板２０の後部に、給水ホース２５と排水ホース２６の双方が入る前後方向に長いＵ字形の溝２２'を設けたので、いずれのホースも溝２２'から後方に引き出すだけで底板２０から取り出せ、組立・検査工程の作業コストを低減できる。 - 特許庁

To provide an abnormality detecting method capable of continuously producing a stable product by continuing a hose continuous production line without stopping the same to remove an abnormal part in an inspection/finishing process, and the discrimination/detection device for an abnormality detecting part.例文帳に追加

ホース連続生産ラインを停止させることなく継続させて検査，仕上げ工程において異常部分を除去することにより、安定した製品を連続して生産することが出来る異常検出方法及びその異常検出部の識別検出装置を提供する。 - 特許庁

To manufacture a magnetic disk medium with few defects by detecting original defects without detecting a groove of a magnetic film and a pattern of unevenness or the like as a defect in an error inspection process of a step for manufacturing the discrete track magnetic disk medium or a bit patterned magnetic disk medium.例文帳に追加

ディスクリートトラック磁気ディスク媒体またはビットパターンド磁気ディスク媒体の製造段階のエラー検査工程において、磁性膜の溝、凹凸などのパターンを欠陥として検出することなく本来の欠陥を検出し、欠陥の少ない磁気ディスク媒体を製造する。 - 特許庁

A tablet inspection device 21 includes a lighting device 22 that irradiates a tablet housed in a pocket of a container film with light; a camera 23 that can image a tablet in a range irradiated with light; and an image processing device 24 that can process an image signal output from the camera 23.例文帳に追加

錠剤検査装置２１は、容器フィルムのポケット部に収容された錠剤に対し光を照射可能な照明装置２２と、照明された範囲内の錠剤を撮像可能なカメラ２３と、カメラ２３から出力される画像信号を処理する画像処理装置２４とを備える。 - 特許庁

The manufacturing condition data collecting device and the inspection result data collecting device supervise the file server at regular time intervals, and when ensuring the presence of a file, process the contents of the text file into a database storage format for storage in the database server, enabling the data consulting device to consult the data as necessary.例文帳に追加

製造条件データ収集装置と検査結果データ収集装置はファイルサーバを一定時間周期で監視し、ファイルの存在を確認するとテキストファイルの内容をデータベース記憶形式に加工しデータベースサーバに蓄積しデータ参照装置は任意にデータを参照できる。 - 特許庁

To automatically divide an exposure mask into regions without requiring manual work of a worker by extracting and classifying a characteristic part of the mask pattern in the process of inspecting pattern defects in the exposure mask, and to improve inspection efficiency and its reliability or the like.例文帳に追加

露光用マスクにおけるパターン欠陥を検査するのにあたり、マスクパターンの特徴部分を抽出分類することで、作業者の手作業を要することなく自動的にその露光用マスク上を領域分割し得るようにし、これにより検査効率やその信頼性の向上等が図れるようにする。 - 特許庁

To provide an effective product inspection method and a device capable of filling a content of liquids into a container, and then immediately transferring to a process for inspecting a defect on the container or the content, by removing positively bubbles or water drops existing in the container.例文帳に追加

容器内に存在しうる気泡や水滴を積極的に除去することによって、容器に液体類内容物を充填した後、直ちに容器やその内容物の欠陥を検査する工程に移行することができる効率のよい製品検査方法及び装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a production evaluation control system in which, when a defective point of a product is found from evaluation result information based on at least one of the inspection and test of the product, site information data on the equipment of a production process involved in the production of the product corresponding to the information are collected immediately and analyzed so that the problem of the production process can be elucidated instantly.例文帳に追加

製品の検査および試験の少なくとも一方に基づく評価結果情報から製品の不具合点が判明した場合にその評価結果情報に対応する製品の製造に関与した製造工程の設備の現場情報データを直ちに収集し分析することで製造工程の問題点を短時間で即座に究明することができる製造評価管理システムを提供する。 - 特許庁

The CPAAOB will analyze the information obtained through the process mentioned in “III Information Requirements” as well as information otherwise collected. When, as a result of this analysis, the CPAAOB considers it necessary to conduct inspection to verify whether a Firm’s Audit and Attestation Services are conducted properly, and whether its operation control systems are well established or are functioning effectively, the CPAAOB will select the Firm for inspection. 例文帳に追加

審査会は、Ⅲにおいて徴収した情報及びその他の情報を分析した結果、外国監査法人等における監査証明業務に相当すると認められる業務が適切に行われているか、外国監査法人等における業務管理体制が適切に整備されているか、また、有効に機能しているか等について、検査により確認する必要があると認められる場合には、当該外国監査法人等を検査対象先として選定する。 - 金融庁

To provide a quality information system for specifying a cause speedily on the basis of a trouble event discovered in a selling store and the inspected result in the inspection process of a production plant, disclosing measure contents/dealing method to that cause and information on the trouble event to the selling store and speedily dealing with trouble.例文帳に追加

販売店で発見された不具合事象と製造工場の検査工程での検査結果に基づいて迅速に原因を特定し、その原因に対して行った対策内容・処置方法およびに不具合事象に関する情報を販売店に開示し、対応が迅速にできる品質情報システムを提供すること。 - 特許庁

To easily display satisfactorily user-friendly images on a monitor screen without having to process the images by software etc. when images of objects to be inspected such as the mounting, soldering, etc. of surface-mounted substrates etc. to which electronic parts such as IC chips are mounted are enlarged and displayed on the monitor screen for inspection.例文帳に追加

ＩＣチップ等の電子部品が実装された表面実装基板等の実装や半田付けなどの被検査対象の画像をモニター画面に拡大表示して検査するに際し、使い勝手の良好な画像を、ソフトウェアなどで画像処理を施すことなく簡便にモニター画面に表示できるようにする。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope and cantilever management method suitable for automatic inspection process capable of automatically replace with a new probe or inducing a user to replace a probe when the tip of the probe has worn while surely monitoring the tip condition of the probe in real time and in a short time.例文帳に追加

探針の先端状態をリアルタイム、短時間で確実にモニタでき、使用中の探針の先端が磨耗等したときに、自動的に新しい探針に交換しまたはユーザに交換を促すことができる自動検査工程に適した走査型プローブ顕微鏡およびカンチレバー管理方法を提供する。 - 特許庁

In the fabrication process of a rewiring structure, electric connection of an element electrode 11bi for use in burn-in screening and a common interconnect line for use in burn-in screening is interrupted selectively only for a semiconductor chip 10b judged rejective in electrical characteristics inspection by using a negative photosensitive material.例文帳に追加

再配線構造の製造工程において、ネガ型の感光性材料を使用することにより、電気特性検査にて不良と判定された半導体チップ１０ｂについてのみ、バーンインスクリーニングで使用するための素子電極１１ｂｉとバーンインスクリーニングで使用する共通配線との電気的接続を選択的に遮断する。 - 特許庁

Since the quality of the milled rice (a raw sample) is previously inspected before it is heated, a heating condition is set and the milled rice is heated from an inspection result (quality information), the milled rice is prevented from being damaged owing to the chap and the expansion by the heating process, and the residual sugar can be colored.例文帳に追加

加熱する前の精米（元試料）の品位を予め検査し、この検査結果（品位情報）に基づいて加熱条件を設定して加熱を行うので、加熱作用によって精米に亀裂が生じたり精米が膨張したりするなどの損傷を生じることなく、残留糠部分を変色させることができる。 - 特許庁

To provide a biological information monitoring device for monitoring biological information of a patient, performing alarm inspection in the state of displaying the biological information of the patient in the process of being monitored on a display part without turning off a power supply of the biological information monitoring device and without interrupting the measurement.例文帳に追加

患者の生体情報をモニタする生体情報モニタ装置において、生体情報モニタ装置の電源を遮断したり、測定を中断することなく、モニタ中の患者の生体情報を表示部に表示した状態で、アラーム点検を実行することが可能な生体情報モニタ装置を提供する。 - 特許庁

Thus, the cost of adapter die exchange required every time the semiconductor package type changes by removing the adapter used inside the socket or by modifying into a free-size adapter type, or the exchange time of the socket of an interface board is saved and efficiency of a semiconductor package inspection process is improved.例文帳に追加

これにより、ソケット内部で使用するアダプタを除去したり、あるいはフリーサイズアダプタ型に改造したりして、半導体パッケージ形態が変化する度に必ず行わねばならなかったアダプタ金型交替コスト、インターフェースボードのソケット交替時間などを節約して半導体パッケージ検査工程の効率を向上させる。 - 特許庁

Since the disk is irradiated by an inspection beam 44, and a reflection beam reflected from the patterns is received, and respective component disks 2, 3 are confirmed by a pattern recognition means, whether or not respective component disks of the sticking disk are correct is confirmed easily, and fully automatizing this confirmation process is also easy.例文帳に追加

ディスクに検査光を照射し、該パターンから反射される反射光を受光し、パターン認識手段で各構成ディスクを確認することができるから、貼合わせディスクの各構成ディスクが正しいものであるかどうかを容易かつ迅速に確認することができ、また、この確認を全自動化することも容易である。 - 特許庁

In the derivation of an evaluation criterion, a plurality of samples are tentatively molded by using the same process as the product molding, the optical property of each molded sample is inspected by incorporating it into a backlight device, the optical property of each sample is measured by using the inspection device, and the evaluation criterion is derived on the basis of them.例文帳に追加

この評価基準は、製品成形工程と同一の工程を用いて複数のサンプルを試験的に成形し、成形された各サンプルの光学特性をバックライト装置に組み込んで検査するとともに、各サンプルの光学特性を前記検査装置を用いて測定し、これらに基づいて導出する。 - 特許庁

To obtain a semiconductor device, which is suitable for mass- production management and has high reliability and stable yield by improving dense distribution of holes and controllability to a hole diameter and by realizing easy inspection process for a buried plug height, using a scanning electron microscope as for the height of the buried plug in formation of a wiring contact part of a dual-damascene wiring.例文帳に追加

デュアルダマシン配線の配線コンタクト部の形成における埋め込みプラグの高さについて、ホールの疎密分布およびホール径に対する制御性を改善し、走査型電子顕微鏡を用いた埋め込みプラグ高さの検査工程を容易にし、量産管理に適した信頼性の高い歩留の安定した半導体装置を得る。 - 特許庁

This defect inspection method of a gray tone part in a gray tone mask is characterized by including a process (a drawing 1 (3)) of applying gradating processing for flattening the signal when there is a periodic change as indicated in a drawing 1 (2) in the transmissivity signal obtained by scanning a gray tone part as indicated in a drawing 1 (1).例文帳に追加

グレートーンマスクにおけるグレートーン部の欠陥検査方法であって、図１（１）に示すようなグレートーン部を走査して得られる透過率信号に、図１（２）に示すような周期的な変動がある場合に、その信号を平坦化するためのぼかし処理を施す（図１（３））工程を含むことを特徴とする。 - 特許庁

To perform appropriate inspection of rotational characteristics by rotating a rotary member including a rotator stably with a constant r.p.m. while reducing contamination of atmosphere and the occurrence of flaw or contamination of the rotator in the process for assembling/inspecting a motor before a rotary drive section is constituted between the stator and rotator constituting the motor.例文帳に追加

モータを構成する固定体と回転体との間に回転駆動部が構成される前のモータの組立・検査工程において、雰囲気の汚れ、回転体の傷及びコンタミネーションの発生を低減しつつ、回転体を含む回転部材を一定回転数で安定的に回転させて適切な回転特性の検査をする。 - 特許庁

When inputting a signal including measuring data different in a form by a kind of measurement or a measuring instrument 13, the signal is converted into the measuring data of a certain form by executing processing suited to a form of its signal and the data, and for example, the whole measuring data of an inspection process of a manufacturing system can be converted into electronic data.例文帳に追加

計測の種類又は計測器１３により形式が異なる計測データを含む信号が入力されると、その信号及びデータの形式に合わせた処理を行ってある形式の計測データにし、例えば製造システムの検査工程の全ての計測データを電子データ化できるようにしたものである。 - 特許庁

To provide a surface protective film for a transparent conductive film which facilitates a visual inspection without hurting the back of the surface protective film during a process and can improve work properties by omitting work for re-sticking the surface protective film and the transparent conductive film using the surface protective film.例文帳に追加

工程中において表面保護フィルムの背面に傷がつくことなく外観検査が容易になり、また表面保護フィルムを貼りかえる手間が省けて著しく作業性を向上させることができる透明導電性フィルム用表面保護フィルム、及びこれを用いた透明導電性フィルムを提供する。 - 特許庁

In a process for manufacturing a product 1, this manufacture history information recording device of products converts manufacture history information generated in assembly, adjustment, measurement, and inspection processes into a two-dimensional code 3, and attaches or adheres the printed matter of the converted two-dimensional code 3 to the product 1.例文帳に追加

本発明の製品の製造履歴情報記録装置は、製品１を製造する過程において、組立、調整、測定、検査等の工程で発生した製造履歴情報を２次元コード３に変換し、この変換した２次元コード３を印刷したもの４を製品１に添付するまたは貼り付けるように構成したものである。 - 特許庁

To provide an outside development information practical use method of a steel strip and a collection/display program of defect data on the steel strip, when an operator inputs an outside inspection result of a defect in a one's own process onto an outside development displayed on a screen of a defect recording device and records it when processing the steel strip in a plurality of processes.例文帳に追加

鋼帯を複数の工程で処理するに際し、オペレータが自工程での欠陥の外観検査結果を、欠陥記録装置の画面上に表示された外観展開図上に入力して記録を行う際の鋼帯の外観展開図情報活用方法および鋼帯の欠陥データの収集・表示プログラムに関する。 - 特許庁

In addition, in the abnormality determination, since a waveform coefficient Ki is calculated from the total value Pt of the amplitude values in one process of an inspection object and the subtotal value Ps and the waveform abnormality is detected by the waveform coefficient Ki, even if the ambient temperature is fluctuated, the waveform abnormality can be detected without being influenced thereby.例文帳に追加

さらに、異常判定を検査対象物の１工程中の振幅値の合計値Ｐｔと前記小計値Ｐｓとから波形係数Ｋｉを算出し、この波形係数Ｋｉにより波形異常を検出しているため、周囲温度の変動があっても、その影響を受けることなく、波形異常を検出することができる。 - 特許庁