「Process inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(22ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a mold releasing film for a liquid crystal polarizing plate, formed of a polyester film that can achieve high accuracy in an inspection of processing aptness by a crossed-Nicol method, in widening and quality improvement of a process for manufacturing a liquid crystal polarizing plate.例文帳に追加

液晶偏光板の製造工程の広幅化や高品質化において、加工適正、のクロスニコル法による検査において、高度な精度を実現できるポリエステルフィルムからなる液晶偏光板用離型フィルムを提供する。 - 特許庁

To provide a method for inspecting nonvolatile memories 1 capable of reducing the probability of mixture of the nonvolatile memories 1 to be actually used on the market and become defectives by adding an inspection process in which a manufacturing side and a receiving side are combined.例文帳に追加

製造側と受け入れ側とを組合わせた検査工程を追加して、市場で実使用されて不良品となる不揮発性メモリ１の混在確率を低減することができる不揮発性メモリ１の検査方法を提供する。 - 特許庁

In addition, optimum acceptance criteria values can be used, to conduct highly-reliable motor surfacing revolution testing because the surfacing revolution testing in fluid bearing motor inspection process enables more accurate motor surfacing revolution testing.例文帳に追加

また、流体軸受モータ検査工程の浮上回転数検査で、正確にモータの浮上回転数の検査を行うことができるため、最適な合格判定基準値を用い信頼性の高い浮上回転数の検査を行うことができる。 - 特許庁

To provide an inspection method of a polymer film for a fuel cell capable of detecting a hole having a submicron-level diameter important for the durability of the fuel cell at an initial stage (a polymer film or MEA) of a manufacturing process of a fuel cell stack.例文帳に追加

燃料電池のスタックの製造工程の初期段階（高分子膜またはＭＥＡ）で、燃料電池の耐久性に重要な直径サブμｍの孔を検出可能な燃料電池用高分子膜の検査方法を提供する。 - 特許庁

The inspection board 10 includes a PKG board 12 on which an LSI 11 having a signal transmitting/receiving function is mounted and a break-away board 13, which are integrated through a separation line 14 to be separated in a later process.例文帳に追加

本発明の検査用基板１０は、信号送受信機能を有するＬＳＩ１１が実装されたＰＫＧ基板１２と、割り基板１３とが、後の工程で切り離される切り離し線１４を介して一体化されている。 - 特許庁

To provide a simple-structure, low-cost and excellent-operability inspection device for a sample and a method, suitable to inspect the sample such as a semiconductor element in a production process of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイスの製造工程における半導体素子等の試料の検査を行うために好適な装置および方法であって、構造が簡単で廉価で操作性が良好な試料の検査装置および方法を提供する。 - 特許庁

Furthermore, the quarantine stations provide complete instructions for checking thatproduction, manufacturing and processing of imported foods are not illegal in exportingcountries and that raw materials, additives, manufacturing process, inspection data, and all otheraspects conform with the Law.例文帳に追加

また、輸入する食品等が輸出国において違法に生産、製造加工されたものではないこと、原材料、添加物、製造方法、検査データ等が法に適合していることについての確認を徹底するよう指導する。 - 厚生労働省

To specify a process of generating a defect, or to detect the defect, even in an area that is not formed with a repeeated pattern on a wafer surface, when detecting the defect appearing on the semiconductor wafer surface by visual inspection.例文帳に追加

外観検査により半導体ウエハの表面に現れる欠陥を検出する際に、欠陥を生じた工程を特定する、或いはウエハ表面に繰り返しパターンが成形されていない領域においても欠陥を検出する。 - 特許庁

The manufacturing processes can be simplified, and the reliability of the inspection process is enhanced, to lower the production costs, and non-detection in the subsequent processes can be minimized, to improve the competitive strength of the manufacturing company.例文帳に追加

本発明によれば、製造工程を簡素化し、検査工程での信頼性を高めて生産原価を減らすことができ、後続工程での未検出を最小化して、製造会社の競争力を向上させることができる。 - 特許庁

Contaminations deposited on a wiring pattern are removed in-line in a carrier process from a feeding reel 1 to a take-up reel 5 of a semiconductor device tape carrier 2, which is subjected to automatic visual inspection.例文帳に追加

配線パターン上に付着している異物の除去操作を、半導体装置用テープキャリア２の自動外観検査がなされる送出しリール１から巻取りリール５までの搬送過程中においてインラインで行うことを特徴としている。 - 特許庁

The tape carrier for TAB is obtained by loading only a plurality of flexible wiring substrates 1 of the individual piece type, which have been manufactured separately and decided as good ones previously in the inspection process on a transfer supporting film 7 keeping the predetermined interval.例文帳に追加

別途作製され、予め検査工程において良品と判断された個片状のフレキシブル配線基板１のみを、搬送支持フィルム７上に所定間隔を隔てて複数搭載することによりＴＡＢ用テープキャリアを得る。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for inspecting foreign materials on a wafer, wherein foreign materials on a wafer can be inspected during a cleaning process to shorten the time required for manufacturing the wafer and the process of cleaning can be surely checked and no foreign material will adhere to the wafer between cleaning and foreign inspection.例文帳に追加

ウェーハの異物検査を、その洗浄工程において行なえるようにして、ウェーハの製造に要する時間を短縮することができるとともに、洗浄の進み具合を確実に把握することができ、洗浄と異物検査との間にウェーハに異物が付着することがないウェーハ上の異物検査方法および装置を提供すること。 - 特許庁

In the cured coating film forming method for curing the coating film formed after predetermined coating is applied to an article to be coated, two or more cured coating film forming processes 203 and 209 for curing the coating film are provided, and at least one process of the cured coating film forming processes 203 and 209 is provided after a coating quality inspection process 208.例文帳に追加

被塗装物に所定の塗料を塗布した後に、塗膜を硬化させる硬化塗膜形成方法であって、塗膜を硬化させるための硬化塗膜形成工程２０３・２０９を、二工程以上設け、前記硬化塗膜形成工程２０３・２０９のうち、少なくとも一工程は、塗装品質検査工程２０８後に設けられる。 - 特許庁

The image data processing method includes a haze value measuring process for measuring the haze value corresponding to each of the respective surface positions of the wafer using a wafer surface inspection device and a noise removing process for removing a noise component by performing the processing of image data along the measuring direction of the haize value with respect to the image data comprising the haze value corresponding to each of the surface positions of the wafer.例文帳に追加

ウェーハ表面検査装置を用いて、ウェーハ表面の各位置に対応したヘイズ値を測定するヘイズ値測定工程と、ウェーハ表面の各位置に対応したヘイズ値からなる画像データに対し、ヘイズ値の測定方向に沿って画像データ処理を行ってノイズ成分を除去するノイズ除去工程とを含む画像データの処理方法である。 - 特許庁

To reliably discriminate a main surface of a magnetic disk substrate, where a defect is detected in a magnetic recording layer in the defect inspection of a process for manufacturing the magnetic disk substrate, in a subsequent film-forming process, and to reduce costs by preventing the use of an expensive material for a substrate surface obviously not to be used as a recording surface.例文帳に追加

磁気ディスク基板の製造工程における欠陥検査で磁気記録層に不適切な欠陥が検出された磁気ディスク基板の主表面を、後の成膜工程において確実に判別することができ、初めから記録面として用いられないことが判っている基板面にまで高価な材料を用いることを回避してコストの削減を図ること。 - 特許庁

On the subject of an inspection committee for the Incubator Bank of Japan, I said that trust is a must in financial affairs. We are in the process of properly selecting appropriate people at appropriate times. There are some who have already accepted our offer and I am committed to working on this process responsibly in my capacity as the Minister. 例文帳に追加

日本振興銀行の検証委員会は金融には信頼が必要だということを申し上げました。それにふさわしい人材を適時適切に選考中でございまして、もう引き受けてくれた人もいますけれども、これは年を越しますけれども、責任を持って、きちんと国務大臣としての責任においてやらせていただきたいと思っております。 - 金融庁

The microorganism culture sheet with the mount in which the microorganism culture sheet is fixed to the mount facilitates inoculation of fungus liquid, image data of colonies of the plurality of microorganism culture sheets is formed by shooting, and the number of colonies can be counted based on the image data, efficiently performing image processing process, and a colony number counting process in a microorganism inspection.例文帳に追加

台紙に微生物培養シートを固定した台紙付き微生物培養シートは菌液の接種が容易であり、かつ撮像により複数の微生物培養シートのコロニーの画像データを形成でき、この画像データに基づいてコロニー数をカウントできるため、微生物検査における画像処理工程、コロニー数カウント工程を効率的に行うことができる。 - 特許庁

The inspection method for the coaxial cable in which the existence of the damage of the metal shield in the coaxial cable is inspected nondestructively is constituted so as to be provided with a process in which an electrostatic noise is applied to a casing of the coaxial cable, and a process in which a signal at a prescribed level or more generated in a core wire in the coaxial cable due to its application is detected.例文帳に追加

同軸ケーブルにおける金属シールドの破損の有無を非破壊で検査する同軸ケーブルの検査方法であって、前記同軸ケーブルの外皮に静電気ノイズを印加する工程と、前記印加により同軸ケーブルにおける芯線に生じた所定レベル以上の信号を検出する工程と、を備えるように構成する。 - 特許庁

In a failure inspection after each processing process such as film forming or etching or the like, when wafers of a set consisting of a plurality sheets of wafer are inspected, by changing the inspected wafer every for the set, failures generated in a specified wafer and failures generated irregularly are detected easily and early, and feedback to each processing process is facilitated.例文帳に追加

成膜やエッチングなどの各加工処理工程の後の不良検査において、複数枚でセットのウエハを検査する際に、セット毎に検査するウエハを変更することで、特定のウエハに生じやすい不良および不規則に生じる不良を簡便かつ早期に検出することができ、各加工処理工程へのフィードバックを容易にすることができる。 - 特許庁

In such a constitution the inspecting station is connected to the process station and wafers W are transferred automatically between these stations S2, S3 and this enables facilitating simple and easy works from the substrate processing to the inspection and shorten the time.例文帳に追加

このような構成では、検査ステーションを処理ステーションに接続し、これらステーションＳ２，Ｓ３間のウエハＷの搬送を自動でおこなっているので、基板処理から検査に亘る作業の簡便化と、時間の短縮とを図ることができる。 - 特許庁

Re-allotment processing part 32 finally decides allotment of the lot to the customer if the lot allotted to the customer meets the customer's required standard in the result of inspection in the evaluation process executed to a semi-conductor wafer to be made of the lot.例文帳に追加

また、再引当処理部３２は、顧客に引当てたロットが、このロットの半導体ウエハに対して行なった評価工程での検査結果が顧客の要求規格を満足している場合に、このロットの顧客への引当を最終確定する。 - 特許庁

To provide an apparatus for manufacturing a liquid crystal panel having high reliability by simplifying a process inspection for detecting the delicate level of cell thickness unevenness in the same high temperature state and leaned state as the usage environment by the user of the liquid crystal display panel to reliably detect the cell thickness unevenness.例文帳に追加

液晶表示パネルのユーザによる使用環境と同様の高温状態及び立て掛け状態におけるセル厚ムラの微妙なレベルを検出するための工程検査を簡易化し、セル厚ムラを確実に検出することを可能する。 - 特許庁

(a) Scattered light from a surface of a sample after the same process as that of an inspection object is observed to detect defects based on the intensity of the scattered light, and the positions of the detected defects and the intensity of scattered light caused by the defects are acquired.例文帳に追加

（ａ）検査対象物と同一の処理を経たサンプルの表面からの散乱光を観測して、散乱光の強度に基づいて欠陥を検出し、検出された欠陥の位置、及び当該欠陥に起因する散乱光の強度を取得する。 - 特許庁

In the image display device 3 about the components corresponding to the component codes, the transmission of images from the inspection device 1 and the image acquisition device 2A, 2B is accepted, and the image of the each process is displayed for every component of the same substrates and the same components.例文帳に追加

画像表示装置３では、前記部品コードに対応する部品について、検査装置１および画像収集装置２Ａ，２Ｂから画像の送信を受け付け、同一の基板および同一の部品毎に各工程の画像を表示する。 - 特許庁

To measure not only the height of outermost layer, but also the height of the upper surface (or lower surface) of the other layers of an inspection object, constituted by forming a transparent or translucent material layer on a material layer, in a single scanning/imaging process.例文帳に追加

一の材料層に透明或いは半透明の材料層が形成されてなる被検物に対し、一回の走査・撮像工程で、その最表層の高さのみならず、それ以外の層の上面（或いは下面）高さをも測定できるようにする。 - 特許庁

To enable the speedy ad definite discovery of the generation of failure, etc., by allowing the 100% inspection of recording media in the manufacturing process of the recording media and systematically recognizing the manufacturing history of the variations in deposition, etc., of a recording layer.例文帳に追加

記録媒体の製造過程において、記録媒体に対する全数検査を可能とし、記録層の成膜ばらつき等の製造履歴を体系的に把握できるようにして、故障の発生等を迅速に、かつ、的確に発見できるようにする。 - 特許庁

To stabilize dispersion of data collected by each cycle of charging and discharging, to determine more accurately the acceptability of products in measurement/inspection of initial quality, which is performed at the final step of the manufacturing process of an electric double-layer capacitor.例文帳に追加

電気二重層キャパシタの製造過程の最終段階で行われる初期性能の測定・検査において、製品の合否を正確に判定しやすくするため、充放電のサイクル毎に収集されるデータのバラツキを安定化させるようにする。 - 特許庁

To provide an element transfer device capable of transferring the element fed from an element feed device side to a latter process side after positioning the elements accurately and speedily and capable of performing an identification inspection of the elements from the underside.例文帳に追加

素子供給装置側より送られてきた素子を正確かつ高速に位置決めして後工程側に移載することができ、素子に対する下方からの認識検査も可能である素子移載装置および素子移載方法を提供する。 - 特許庁

To provide configuration of a contact probe card capable of easily uniform arrangement in a manufacturing process of the contact probe card by being applied to inspection of a minute electronic circuit element arranged in a compact state and comparatively facilitating elastic deformation.例文帳に追加

コンパクトな状態にて配置された微細な電子回路素子の検査に適用でき、弾性変形が比較的容易であり、かつコンタクトプローブカードの製造工程において容易に均一な配置を可能とするようなコンタクトプローブカードの構成を提供すること。 - 特許庁

When any of the part manufacturing process is designated (S4), statistics related to variation of the inspection data on the products processed by each of the manufacturing devices are calculated based on the data set per the manufacturing devices (S5).例文帳に追加

いずれか一の部分製造工程が指定されたとき（Ｓ４）、そのデータセットに基づいて、製造装置別に、それぞれの製造装置によって処理が行われた製造品についての検査データのばらつきに関する統計量を算出する（Ｓ５）。 - 特許庁

When a software management terminal 8 reads the information of the RFID 2 in an adjustment and inspection process, a necessary TMP or a shipping OS is automatically selected from the software management terminal 8 and installed in an information processing apparatus 3 through a network.例文帳に追加

調整、検査工程においてソフトウェア管理端末８はＲＦＩＤ２の情報を読み取ることで、ソフトウェア管理端末８から必要なＴＭＰや出荷ＯＳを自動選択し、ネットワークを介して情報処理装置３へインストールする。 - 特許庁

To automatically execute a specimen inspection pretreatment process, having complex and various processes and having high possibility of infection, reduce the size and space for installation, and reduce the manufacturing cost and cost of investment.例文帳に追加

複雑で多様な工程を有し且つ感染のおそれが大きい検体検査前処理工程を自動的に実行処理することができ、また小型で設置スペースが僅かで済む上、低コストで製作でき、 設備費も嵩まずにすむ検体検査前処理装置を提供。 - 特許庁

A memory cell left in an initial state is provided without performing write-in/erasure even in an inspection process in a region of a memory cell side storing data, Vt setting of a reference cell is performed performing verifying of the reference cell basing the cell as reference.例文帳に追加

本発明は、データを記憶するメモリーセル側の領域で、検査工程中も書込み／消去を行わず初期状態で残しておくメモリーセルを設け、そのセルを基準としてリファレンスセルのベリファイを行いながら、リファレンスセルのＶｔ設定を行う。 - 特許庁

To provide the adjustment apparatus of a high-frequency module which is capable of shortening a time required for adjusting characteristics of a high-frequency module, and shortening a time consumed in an inspection process by efficiently eliminating a high-frequency module in which a characteristic value cannot be adjusted.例文帳に追加

高周波モジュールの特性値調整に要する時間を短縮でき、特性値調整不能の高周波モジュールを効率的に取り除くことにより検査工程に費やす時間を短縮できる高周波モジュールの調整装置を提供する。 - 特許庁

To provide a foreign matter inspection method for wafers capable of detecting foreign matters, particularly, on a wafer in carrying on the real-time base, and a foreign matter inspecting device for preventing a large quantity of defects to keep a yield in a mass production line of a semiconductor manufacturing process.例文帳に追加

特に搬送途中のウェハ上の異物を実時間で検出できるウェハの異物検査方法、および半導体製造工程の量産ラインにおいて、大量の不良を未然に防ぎ、歩留りを維持させるための異物検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection tool which reduces the occurrence probability of receiving converters having characteristics degraded by deformation of waveguide parts or the like and is used in a manufacturing process of reception devices like receiving converters, and to provide a method of manufacturing the reception devices.例文帳に追加

導波管部の変形などにより特性の劣化した受信用コンバータの発生確率を低減することが可能な、受信用コンバータなどの受信装置の製造工程において用いる検査治具および受信装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

A allotment processing part 31 designates as lots for allotment those lots whose results of inspection in an evaluation process executed to ingots in stock meet a customer's required standard and preliminarily decides the lot to be allotted to the customer out of the lots.例文帳に追加

引当処理部３１は、在庫されているインゴットに対して行なった評価工程での検査結果が顧客の要求規格を満足しているロットを引当候補とし、その引当候補の中から顧客に引当てるロットを仮確定する。 - 特許庁

In the inspection process, whenever formation of each elongated hole 7a-7d is finished, or when the formation of the circuit pattern is finished, it is inspected whether the resultant processed portion of the punched hole 4 in each of the elongated holes 7a-7d is perforated or not.例文帳に追加

検査工程では、各長孔７ａ〜７ｄの形成が終了する毎に、または回路図柄の形成が終了したときに、長孔７ａ〜７ｄにおける打ち抜き孔４の最終加工箇所が穿孔されているか否かを検出する。 - 特許庁

In the airtightness inspection process, the connector 29 and an end part 41c of the coated electric wires 41 are sealed by a cover 46, and a terminal metal fitting 31 as a terminal for the shielded wire 42 which is separated from the connector 29 is arranged outside the cover 46.例文帳に追加

気密検査工程では、コネクタ２９および被覆電線４１の端部４１ｃをカバー４６で密閉するとともに、コネクタ２９から離脱された状態のシールド線４２の端子としての端子金具３１を、カバー４６の外に配置する。 - 特許庁

To protect a chip component against cracks in the inspection process of an electronic circuit board, where electrical characteristics of an element on the board are measured using an in-circuit tester by easily and accurately detecting strain occurring in the chip component on the board.例文帳に追加

インサーキットテスタによる電子回路基板上の素子の電気的特性の計測時に、基板上のチップ部品に生ずる歪みを容易にかつ正確に検出し、かかる基板の検査工程でチップ部品に割れが発生することを防止する。 - 特許庁

To provide an apparatus for inspecting glossy surface for automatically inspecting defects on the surfaces of dry batteries, drink and liquid crystal panels, and for improving the inspection accuracy and speed, and implemented on the line of a mass production process.例文帳に追加

乾電池、飲料、液晶パネル等の表面欠陥の自動的な検査が可能であり、検査精度及び検査速度が格段に高く、大量生産工程のオンライン上で行うことができる光沢面検査装置の提供を目的とするものである。 - 特許庁

To provide a probe card production method improving the positioning accuracy of probe units having a contact probe formed on a substrate in a process of forming the probe units on a wiring substrate in accordance with an arrangement pattern of an electric circuit on an inspection substrate.例文帳に追加

コンタクトプローブが基板上に形成されたプローブユニットを検査基板上の電子回路の配置態様に合わせて配線基板上に形成する際のプローブユニット間の位置精度を向上させることができるプローブカードの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a game machine which facilitates the inspection work while sufficiently improving a strength of a set plate along with the simplification of its production process without requiring a larger molding machine in the production of the set plate.例文帳に追加

セット板の製造に際して、大型の成型機を必要とすることなく、製造工程も簡略化できながら、セット板の強度を十分に高めることができると共に点検作業も容易に行い得るところの遊技機を提供すること。 - 特許庁

To provide a photomask without generating the problem due to static electricity in inspection by SEM and a correction process by FIB by avoiding the damage of a pattern due to static electricity or the like, and to provide a method of manufacturing a semiconductor device using the photomask.例文帳に追加

静電気等によるパターンの破損を回避できるとともに、ＳＥＭによる検査やＦＩＢによる修正プロセスで静電気による問題が発生することがないフォトマスク及びそのフォトマスクを使用した半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

According to this method, after loading of the flexible wiring substrate 1, yield of the continuous manufacture can be improved, while the process to replace the no-good flexible wiring substrate detected by the inspection to the good flexible wiring substrate is eliminated.例文帳に追加

この方法によると、フレキシブル配線基板１の搭載後に、検査によって発見された不良品のフレキシブル配線基板を良品のフレキシブル配線基板に置換する工程を省略しつつ、連続生産の歩留まりを向上させることができる。 - 特許庁