「Process inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(20ページ目) - Weblio英語例文検索

To solve the problem wherein important abnormalities cannot be detected for all wafers, because a baseline formed by the residual scores of each wafer subjected to maintenance and inspection deviates from a baseline formed by the residual scores of each wafer not being subjected to maintenance and inspection, and because it exceeds abnormality decision line and decides the process of a processor as being abnormal.例文帳に追加

図９に示すように保守点検後の各ウエハの残差得点によって形成されるベースライン▲２▼が保守点検前の各ウエハの残差得点によって形成されるベースライン▲１▼から変動して異常判定ラインＬを超え、処理装置のプロセスを異常と判定し、全てのウエハについて本来の異常を検知できない。 - 特許庁

A cumulative travel distance of a traveling vehicle is received via the Internet, and if it matches inspection items following the cumulative travel distance of the vehicle prestored in a database, a message notifying a necessity of an inspecting process of the inspection items is sent to the traveling vehicle via the Internet.例文帳に追加

走行中の車両の累積走行距離をインターネットを介して受信し、予めデータベースに蓄積した前記車両の累積走行距離に伴う点検項目に一致する場合には、インターネットを介して前記点検項目の点検処理が必要である旨のメッセージを前記走行中の車両に送信する。 - 特許庁

To provide a system and method for processing and inspection of biological samples which increase automation and its accuracy, decrease travel of the sample processed in an inspection process, and also decrease delay time, possibility of degradation in inconvenient and repetitive diagnostic/treatment processes.例文帳に追加

自動化および自動化に関する精度を増加させ、検査プロセスにおいて処理される標本の移動の量を減少させ、そして遅れ時間、不都合ならびに反復的な診断工程および処理工程に関する分解の可能性を減少させる、生物学的標本の処理および検査のシステムおよび方法を提供すること。 - 特許庁

If it is determined to be an area to perform three dimensional inspection by the determination process, the inspection area is photographed a plurality of times by the photographing part while projecting the lattice fringe by a lattice fringe projection part and shifting the projection location of the lattice fringe, and the three dimensional shape is inspected from the image photographed a plurality of times.例文帳に追加

また、判断処理で３次元検査を行う領域と判断した場合に、格子縞投射部で格子縞を投射させると共にその格子縞の投射位置をシフトさせながら、該当する検査領域を撮影部で複数回撮影して、その複数回撮影された画像から３次元形状を検査する。 - 特許庁

To provide an automatic chemical analyzer reducing a delay of inspection due to a simple error and improving efficiency and speed of data submission of an inspection department by providing a function storing the whole reaction process during an analysis, applied to a concentration calculation of a random sample by a random calibration result and recalculating it.例文帳に追加

分析時の全反応過程を記憶しておき、任意のキャリブレーション結果により任意の試料の濃度計算に適用し、再計算する機能を有することにより、単純ミスによる検査の遅れが減少し、検査室のデータ提出スピードアップ化や効率向上が図れる自動化学分析装置を実現する。 - 特許庁

To provide a technique for improving the manufacture yield of a semiconductor product without spoiling speediness of inspection for a manufacturing technique for semiconductor product including an inspection process for a multilayer wiring layer by a method of efficiently improving a detection rate and in a manner of reducing the probability that an undetected part becomes defective.例文帳に追加

効率的に検出率を向上する方法及び未検出箇所が不良になる確率を低減させる手法により、多層配線層の検査工程を含む半導体製品の製造技術において、検査の迅速性を損なうことなく、半導体製品の製造歩留まりを向上させる技術を提供する。 - 特許庁

In inspecting a semiconductor device, the forward voltage of a protection diode formed in the semiconductor chip contained in the semiconductor device is measured before and after (S3) and (S5) of an inspection process (S4) composed of a plurality of inspection items for inspecting function and performance, for judging breakage of the semiconductor device (S6).例文帳に追加

半導体装置における検査において、半導体装置の中に入っている半導体チップ内に形成された保護ダイオードの順方向電圧の測定を複数の検査項目からなる機能及び性能を検査する検査工程（Ｓ４）の前後（Ｓ３）（Ｓ５）に実施して、半導体装置の破壊を判定（Ｓ６）する。 - 特許庁

To provide an inspection/analysis system which can use an infrared imaging device or both it and a laser imaging device to automatically measure the float or both the floats and cracks of wall surface in a single process and then automatically analyze the pick-up image to extract/determine a defect, in failure check of wall surface for tunnels, etc. by using an inspection vehicle.例文帳に追加

計測車によるトンネル等の壁面の不具合計測において、赤外線撮像装置或は該撮像装置とレーザ撮像装置の両方を使用して壁面の浮き或は浮きとひび割れの両方を１工程で自動計測し、撮像画像を自動解析して不具合を抽出・判定できるシステムを提供する。 - 特許庁

A portable terminal device 13 reads the ID information of the RFID tag 16A, creates a work record of the process of isolating a part to be isolated and restoration, and sends the record to the work management server computer 200 via a network 5 and a network 3 so that inspection/isolation information in the inspection/isolation DB 207 can be quickly updated.例文帳に追加

携帯端末装置１３は、ＲＦＩＤタグ１６ＡのＩＤ情報を読み出して隔離箇所の隔離処理、復旧の作業記録を作成し、ネットワーク５およびネットワーク３を介して、作業管理サーバ計算機２００に送り、点検・隔離ＤＢ２０７の点検・隔離情報を迅速に更新可能とする。 - 特許庁

A snapshot mode-operated lead salt-based image acquisition sensor 20 which is relatively low-cost and has good measurement sensitivity at temperatures consistent with thermoelectric cooling means, is used for various automated process control and article inspection applications, thus enabling a high-speed machine visual inspection system 12.例文帳に追加

熱電気冷却手段と矛盾のない温度における相対的に低コストで良好な測定感度を有し、スナップショットモードで動作される鉛塩ベースの画像取得センサー２０が種々の自動化されたプロセス制御および物品検査アプリケーションに使用されることにより、高速機械視覚検査システム１２が可能となる。 - 特許庁

I would like to ask you several questions regarding inspection of securities companies in Japan. Last week, the SESC (Securities and Exchange Surveillance Commission) announced - I am asking this although I know that the SESC and the FSA are independent of each other - that it will implement a project for reviewing the securities inspection process. 例文帳に追加

証券会社のことに関連して、日本における証券会社への検査のあり方について何問か伺いますが、監視委員会が金融庁と独立していることを承知のうえで質問いたしますが、先週監視委員会が「証券検査に係る業務点検プロジェクト」を実施していくと公表しています。 - 金融庁

To provide a control power supply for a lighting device which ensures an optimum illumination distribution corresponding to an inspection process of an object to be inspected by a simple operation, an efficient utilization of the illumination distribution, and an improved inspection efficiency and accuracy, in a dimming operation for an LED lighting device.例文帳に追加

ＬＥＤ照明装置の調光作業において、被検査体の検査工程に対応した最適な照度分布を簡易な操作で得ることができ、その照度分布を効率良く利用することができ、更には検査効率と検査精度を向上せしめる照明装置の制御電源を提供する点にある。 - 特許庁

In the process of executing the electric inspection of a semiconductor element formed in a chip area by bringing a plurality of probes of a probe card into contact with a plurality of pads respectively formed in the plurality of chip areas of a wafer among the manufacture processes of the semiconductor device, the wafer is sucked and held by an inspection stage 30.例文帳に追加

半導体装置の製造工程のうち、プローブカードの複数のプローブをウエハの複数のチップ領域にそれぞれ形成された複数のパッドに接触させてチップ領域に形成された半導体素子の電気的検査を行う工程において、ウエハを検査ステージ３０に吸着保持させる。 - 特許庁

The microcomputer 5 executes an inspection operation mode 801 for operating the air conditioner 1 in an inspection process at a manufacturing job site, and a normal operation mode 901 for operating the air conditioner 1 at an installation job site, and determines the abnormality when the operating conditions of the air conditioner 1 do not satisfy prescribed conditions and abnormally stops the air conditioner 1.例文帳に追加

マイコン５は、空調機１を製造現場の検査工程で運転させる検査運転モード８０１と、空調機１を据付現場で運転させる通常運転モード９０１とを実行し、空調機１の運転状態が所定条件を満足していない場合に異常と確定して空調機１を異常停止させる。 - 特許庁

The inspection recess is used for inspection of the horizontality of the face plate, the assembly of the head body and the face plate can be quickly and accurately completed before the manufacturing process for the temporary welding and high energy welding, and horizontal assembly of the face plate after the temporary welding can be inspected.例文帳に追加

検査用凹欠部はフェース板の水平の組立を検査するのに用いられ、仮溶接および高エネルギー溶接の製造過程の前にヘッド本体とフェース板の組立を迅速かつ精確に完成でき、さらに仮溶接後にフェース板の水平の組立を検査することができるように構成されている。 - 特許庁

When transferring a mask pattern to a photoresist film applied on a wafer principal surface, after transferring on an off-condition of under dose or defocus or both, a defective inspection is carried out through a process which inspects a transferred pattern to the photoresist film with a scanning electron microscope (SEM) for a voltage potential controlling type visual inspection.例文帳に追加

ウエハ主面上に塗布されたフォトレジスト膜にマスクパターンを転写する際、アンダードーズあるいはデフォーカスまたはその両方の、オフコンディション条件で転写をした後、フォトレジスト膜に転写されたパターンを電位制御型外観検査用走査型電子顕微鏡（Scanning Electron Microscope：ＳＥＭ）で検査する工程を経て欠陥検査する。 - 特許庁

The welds of pressure boundary components and the containment, etc. shall undergo the operator’s inspection on welding, as well as the review by the Japan Nuclear Energy Safety Organization (safety management review on welding) on the organization in charge of implementation of inspection, process management and other issues specified by the Ordinances of the Ministry of Economy, Trade and Industry.例文帳に追加

さらに、耐圧部分及び格納容器等の溶接については、溶接事業者検査を行うとともに、検査の実施に係る組織、検査の方法、工程管理その他経済産業省令で定める事項について、原子力安全基盤機構が行う審査（溶接安全管理審査）を受けなければならない。 - 経済産業省

In the inspection process, vibrations of the foreign substance produced in the blow molding process or the perforating process in which the foreign substance turns over inside the resin member 16 by a shaking of the resin member 16 are measured by a vibration measuring means 44, and the determination about the presence or absence of the foreign substance is carried out by checking measured vibration data measured by the vibration measuring means 44 and previously set reference vibration data.例文帳に追加

検査工程では、樹脂部材１６を揺動することで、該樹脂部材１６の内部で転がるブロー成形工程または穿孔工程で生じた異物の振動を振動測定手段４４によって測定し、振動測定手段４４で測定した測定振動データと予め設定された基準振動データとの照合により異物の有無の判定を行う。 - 特許庁

In a method for analyzing time-series distribution information of defects within the surface of a wafer obtained in an identical inspection process of a manufacturing process of a thin film device for forming the thin film device by sequentially processing the wafer, the occurrence of abnormality in the manufacturing process is determined on the basis of a judgement of local variations in distribution of the defects within the wafer.例文帳に追加

基板を順次処理して薄膜デバイスを形成する薄膜デバイスの製造工程において同一の検査工程にて時系列に得られた欠陥の前記基板面内での分布情報を解析する方法において、前記欠陥の基板面内での分布の局所的な粗密変動を判定基準として前記製造工程において異常が発生したことを判定するようにした。 - 特許庁

This inspection method for the semiconductor integrated circuit includes a burn-in pattern generating process for generating a burn-in test pattern for performing a burn-in test for the integrated circuit, and the generating process is characterized by including an equalization process for generating an equalization burn-in test pattern equalizing the number of times of toggling on each element level of the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

本発明による半導体集積回路の検査方法は、前記半導体集積回路のバーインテストを行うためのバーンインテストパターンを生成するバーンインパターン生成工程を含み、該バーンインパターン生成工程は、前記半導体集積回路の各素子レベルでのトグル回数を平準化する平準化バーンインテストパターンを生成する平準化工程を含むことを特徴とする。 - 特許庁

To provide a matrix array board, for a liquid crystal display device or the like, by which an array inspection process can be performed easily and surely even when the arrangement pitch of connecting pads in a peripheral edge part is 50 μm or less.例文帳に追加

液晶表示装置用等のマトリクスアレイ基板において、検周縁部の接続パッドの配列ピッチが５０μｍ以下である場合にも、アレイ検査工程を容易かつ確実に行なうことができるものを提供する。 - 特許庁

To provide a quality management system for a photoelectric conversion device that allows easy and integrated execution of management of a manufacturing process of a photoelectric conversion device and management of inspection results by a simple and inexpensive device.例文帳に追加

光電変換装置の製造工程の管理、検査結果の管理を簡易で安価な装置で、容易にかつ統一して行うことを可能とする、光電変換装置の品質管理システムを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a charging amount evaluation element, its transformation method, and a charging amount evaluation method for stably manufacturing a highly-sensitive detection element for detecting an excessive current and reducing an inspection process.例文帳に追加

帯電量評価素子、その変形方法、及び、帯電量評価方法に関し、高い感度を持つ過大電流を検出する検出素子を安定して製造するとともに、検査工程を大幅に短縮する。 - 特許庁

To obtain an optical writing unit employing an LED head in which generation of white streak can be prevented thoroughly without causing any variation in the magnification of main scan or deterioration in the work efficiency of process inspection at the time of manufacture.例文帳に追加

ＬＥＤヘッドを用いた光書込装置において、主走査変倍率が変化したり、製造時の工程検査の作業効率が悪化したりすることなく、白筋の発生を完全に防止できるようにする。 - 特許庁

When pressure oil is supplied in an oil chamber 13 to move the piston 16 to the stroke end on the gear housing 4 side in an inspection process, an erroneously inserted oil seal 20 is pushed with the extended part 19 to blockade the port 17.例文帳に追加

検査工程にて、油室１３に圧油が供給されてピストン１６がギヤハウジング４側のストロークエンドに移動すると、誤挿入されたオイルシール２０が延設部１９によって押されてポート１７を塞ぐ。 - 特許庁

The image inspection device 20 determines which processing of the automatic confirmation processing and the normal confirmation processing is executed based on the signal receiving channel that has received the selection information and the medical image data, and executes the process.例文帳に追加

そして、検像装置２０は、この選択情報と医用画像データを受信した受信チャンネルとに基づいて、自動コンファーム処理、通常コンファーム処理のどちらの処理を実行するか判定し実行する。 - 特許庁

To provide a plasma display panel in which the display quality is not deteriorated by sudden changes in display brightness depending on its positions, and of which production efficiency is not reduced by frequent occurrence of misdetection at the time of inspection in manufacturing process of members.例文帳に追加

表示輝度が位置によって急激に変化し、表示品位が悪化したり、部材の製造工程で検査の際、誤検出が多発し生産効率を低下させることのない、プラズマディスプレイパネルを提供する。 - 特許庁

In this detection process, the microorganism as a subject to inspection in the specimen comes through the preculture medium and the above entering window and arrives at a detection culture medium where the microorganism is proliferated and the resultant change in the color tone of the detection culture medium is observed.例文帳に追加

検出方法は、被検試料中の検査対象微生物が前培養培地及び進入用窓部を経て検出用培地に到達し、増殖された結果生じる検出用培地の色調変化を観察する。 - 特許庁

To provide lubricant compositions such as a calibration fluid composition for calibration (operation test) of an injector and a low viscosity lubricating rust preventive oil composition, which are used for an inspection line in a diesel injector manufacturing process.例文帳に追加

ディーゼルインジェクター製造工程における検査ラインで使用するインジェクターのキャリブレーション（作動検定）用のキャリブレーションフルード組成物や低粘度潤滑防錆油組成物などの潤滑油組成物を提供する。 - 特許庁

The IC tag 9 is recorded with at least the manufacture lot number of the manufacture lot number and the recorded information of the IC tag 4 after the inspection process of each element article 2 used for the machine element commodity 1.例文帳に追加

このＩＣタグ９に、製造ロット番号、および上記機械要素商品１に用いられた各要素品２の上記検査工程後のＩＣタグ４の記録情報のうち、少なくとも製造ロット番号を記録する。 - 特許庁

Prior to putting the wafer into the wafer process, one part of a contact layer 6 of the wafer forming a device is eliminated to form an opening 11, and an excitation laser 9 is applied from the opening 11 to perform PL wavelength inspection for the active layer 3.例文帳に追加

ウェハプロセス投入前に、デバイスを形成するウェハのコンタクト層６の一部を除去して開口部１１を形成し、開口部１１から励起レーザ９を入射して活性層３のＰＬ波長検査を行う。 - 特許庁

A crystal structure is formed in a process of directly sticking an inspection object such as saliva to the surface of the lens with an angular magnification of 200 or more and drying them, so that the ovulation date is determined based on difference in pattern.例文帳に追加

角倍率が２００倍以上のレンズの表面に直接に唾液等の検視物を付着させて乾燥する過程で、結晶構造が形成されるので、その、文様の違いで排卵日を判定する。 - 特許庁

To provide a highly versatile support capable of performing electric connection between the conductive pattern of the support and a slider, and easily and efficiently executing a slider holding process, and an inspection method using the same.例文帳に追加

支持体の導電パターンとスライダとの電気的接続を良好にでき、スライダ保持工程を容易に効率良く行え、汎用性の高い支持体、およびこの支持体をを用いた検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a resistance measuring method capable of measuring accurately and stably an electric resistance of a sheet-shaped, cloth-shaped or film-shaped measuring object, and a component inspection process to which the resistance measuring method is applied.例文帳に追加

シート状や布状や膜状の測定対象物の電気抵抗の測定を正確かつ安定に行なうことができる抵抗測定方法およびその抵抗測定方法が適用された検査部品プロセスを提供する。 - 特許庁

This warpage detector 10 of the glass substrate G performs total inspection with laser displacement gauges 24 and 24 while conveying the glass substrate G with a conveyor 12, thereby preventing flow out to a downstream process.例文帳に追加

実施の形態のガラス基板Ｇの反り検出装置１０は、ガラス基板Ｇを搬送装置１２によって搬送しながら、レーザ変位計２４、２４による全数検査を実施し、下流工程への流出防止を図る。 - 特許庁

To provide a semiconductor device preventing a crack from occurring on an insulating film at a lower layer of a pad electrode by a stress given to the pad electrode in the case of bonding in a semiconductor process, or in the case of probing at the time of inspection.例文帳に追加

半導体プロセスにおけるボンディング又は検査時のプロービングの際に、パッド電極にかかる応力によって、パッド電極の下層の絶縁膜にクラックが発生することを防止する半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a highly sensitive waterless lithographic printing plate precursor which allows plate inspection without needing a post-dyeing process and handling in a bright room, and has superior dye fixability in a silicone rubber layer.例文帳に追加

後染色工程を必要とせずに検版が可能であり、明室での取り扱いが可能で、シリコーンゴム層中での色素定着性に優れ、且つ高感度な水なし平版印刷版原版を提供すること。 - 特許庁

To provide a probe film for a probe block and a manufacturing method of the probe film, which are capable of effectively inspecting a display panel having micro electrodes arrayed with high density and capable of decreasing a pin miss in an inspection process.例文帳に追加

高密度に微細電極が配列されたディスプレーパネルを効果的に検査することができ、検査工程中のピンミスを減少させることができるプローブブロック用プローブフィルム、及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an electric rice cooker capable of omitting a microcomputer mounted on a control substrate side by substituting storage means such as an EEPROM for the microcomputer, and writing adjustment data from an inspection machine in a production process.例文帳に追加

制御基板側に搭載していたマイコンをＥＥＰＲＯＭ等の記憶手段で代用し、製造過程で検査機から調整用データを書き込むことにより、制御基板側のマイコンを省略できるようにする。 - 特許庁

To provide an agitating dryer allowing an easy manufacturing, inspection, repairing or the like, particularly capable of preventing a dried object from locally stagnating and aggregating during a drying process, thereby obtaining a uniformly dried object.例文帳に追加

その製作、点検及び補修等が容易であり、とりわけ乾燥中に被乾燥物の局部的な滞留や塊状化が起こるのを防止して均質な乾燥物を得ることができる撹拌式乾燥機を提供する。 - 特許庁

To improve the inspection efficiency of registration accuracy while assuring the quality of a semiconductor device regarding a measurement control device for controlling the registration accuracy method in a semiconductor- manufacturing process.例文帳に追加

本発明は半導体製造プロセスにおいて重ね合わせ精度の手法を制御する測定制御装置に関し、半導体デバイスの品質を保証しつつ、重ね合わせ精度の検査効率を高めることを目的とする。 - 特許庁

To detect the shape of fluorophor layer formed on a substrate by non-destructive inspection during the manufacturing process of a plasma display panel, with respect to a method for evaluating the application state of the fluorophor of a plasma display panel.例文帳に追加

プラズマディスプレイパネルの蛍光体塗布状態を評価する方法に関し、基板に形成された蛍光体層の形状を非破壊検査によって、プラズマディスプレイパネルの製造工程中に検出することを課題とする。 - 特許庁

In this quality control system S, shipment inspection data as the quality data inputted from a supplier terminal 30 are stored in a database of the server 10, and the server 10 performs a statistic process to automatically generate a control diagram.例文帳に追加

品質管理システムＳは、サプライヤ端末３０から入力された品質データとしての出荷検査データをサーバ１０のデータベースに蓄積し、サーバ１０で統計処理を行って管理図を自動生成する。 - 特許庁

The gas inspecting method includes an adhering step for making the gas-sensing material adhere to the surface of an inspection object; and a heat developing step in which the gas-sensing material is subjected to a heat development process.例文帳に追加

前記ガス検出用材料を被検査対象物表面に付着させる付着工程と、該ガス検出用材料を熱現像処理する熱現像工程とを含むことを特徴とするガス検査方法である。 - 特許庁

In the mold releasing process, an inspection mechanism for inspecting whether the lens molded article 46 is stuck to an upper mold or not and a claw moving mechanism 53 for moving a couple of oppositely disposed claws 51, 52 in a horizontal direction are arranged.例文帳に追加

離型工程には、上型にレンズ成形品４６が付着しているか否かを検査する検査機構と、対向配置された一対の爪５１，５２を水平方向に移動する爪移動機構５３とが配されている。 - 特許庁