「Process inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(21ページ目) - Weblio英語例文検索

After a resist pattern formation process with a prescribed layer of a semiconductor wafer, a selected wafer is irradiated with an inspection light which causes fluorescence emission in the resist pattern, for example, ultraviolet ray (UV) of a prescribed wavelength band.例文帳に追加

半導体ウェハ所定層におけるレジストパターン形成工程終了後、選ばれたウェハは、そのレジストパターンに対して蛍光発光させる検査用の光、例えば所定の波長帯を有する紫外線（ＵＶ）を照射する。 - 特許庁

To enhance bonding accuracy of a pixel electrode substrate and a microlens substrate, and to eliminate an inspection process which is complicated and requires cost when the pixel electrode substrate and microlens substrate which composes a liquid crystal display panel are stuck together.例文帳に追加

液晶表示パネルを構成する画素電極基板とマイクロレンズ基板とを貼り合わせる際に、それらの貼り合わせ精度を向上させ、煩雑でコストのかかる検査工程を省略できるようにする。 - 特許庁

After positioning between a standard printed circuit board 100 and the checker head 2 is executed through each process, the standard printed circuit boars 100 is replaced with a printed circuit board 1 to be inspected, and ordinary continuity inspection is executed.例文帳に追加

各工程を経て，基準プリント配線板１００とチェッカーヘッド２とを位置合わせした後，基準プリント配線板１００を検査すべきプリント配線板１に置き換えて通常の導通検査を行なう。 - 特許庁

To provide a visual examination device capable of performing an inspection process without exerting an effect on the throughput of the visual examination device when the flaw detected by the visual examination device is further inspected in detail.例文帳に追加

外観検査装置で検出された欠陥をさらに詳細に検査する際に、外観検査装置のスループットに影響を及ぼさずに、かかる検査工程を行うことが可能な外観検査装置を提供する。 - 特許庁

To form aperture parts through which PAD should be exposed, in one process by prescribing vertical positions of PAD, contact holes, etc. in an inspection element forming region and to allow a contact resistance to be surely measured.例文帳に追加

検査素子形成領域におけるＰＡＤ及びコンタクトホール等の垂直位置を規定することによって、ＰＡＤを露出させる開孔部を１工程で形成すると共に、確実なコンタクト抵抗の測定を可能にする。 - 特許庁

The licensee shall also receive the review by the Japan Nuclear Energy Safety Organization (periodic safety management review) on the organization in charge of implementation of inspection, process management and other issues specified by the Ordinances of the Ministry of Economy, Trade and Industry.例文帳に追加

また、検査の実施に係る組織、検査の方法、工程管理その他経済産業省令で定める事項について、原子力安全基盤機構が行う審査（定期安全管理審査）を受けなければならない。 - 経済産業省

The method for inspecting function of the logic circuit contained in the electronic device is characteristically provided with the process for temporarily retaining the output signal from the object device for inspection when an input signal is transmitted thereto, and the process for forming a new input signal for inspection by performing a logical operation of output signal from the object device and the previously stored signal for forming the input signal.例文帳に追加

電子デバイスに含まれる論理回路の機能検査方法であって、被検査デバイスに検査用入力信号を印加した際の被検査デバイスからの出力信号を一時保存する工程と、被検査デバイスからの出力信号と検査装置上に予め格納された入力信号作成用信号との論理演算を行うことによって、新たな検査用入力信号を作成する工程を具備することを特徴とする。 - 特許庁

The probe inspection method comprises a process of delivering conductive liquid body 124 toward an electrode 116 of an inspected element 180 and supplying the conductive liquid body 124 onto the electrode 116, and a process of delivering and receiving electrical signal via the conductive liquid body 124 and inspecting the inspected element 180.例文帳に追加

本発明に係るプローブ検査方法は， 被検査素子１８０の電極１１６に向けて導電性液状体１２４を吐出して、電極１１６上に導電性液状体１２４を供給する工程と、 導電性液状体１２４を介して電気信号を授受し、被検査素子１８０の検査を行う工程と，を含む。 - 特許庁

In step S1, a defect detection processing for extracting the ordinates of a new defect and a detection size by a prescribed process is performed, after a prescribed process by using an area reducing function of an inspection device, and in step S3, existence of a new defect is determined in chip unit by a discrimination condition validating all detected new defects.例文帳に追加

ステップＳ１で、検査装置の面積縮小機能を用いて所定の工程後に所定の工程による新規欠陥の座標及び検出サイズを抽出する欠陥検出処理を行い、ステップＳ３で、検出されたすべての新規欠陥を有効とする識別条件で新規欠陥の有無をチップ単位に判定する。 - 特許庁

The device for performing fluid-tight inspection after repair of fluid leakage of the piping includes: an AE sensor 10 for measuring an elastic wave from the piping of the fluid filling process after piping repair; and an analyzing part 20 for evaluating operation and fluid re-leakage of an air valve connected to the piping of the fluid filling process by analyzing signals from an AE sensor.例文帳に追加

配管の漏液の補修後の液密性検査を行う装置は、配管補修後の充液過程の配管からの弾性波を測定するためのＡＥセンサ１０と、ＡＥセンサからの信号を解析し、充液過程の配管に接続される空気弁の動作及び再漏液の評価を行う解析部２０とを具備する。 - 特許庁

Since a machining process S3 is performed after an ultrasonic flaw detection process S2, an influence of refraction or the like caused by machining can be avoided when performing the ultrasonic flaw detection, and only one ultrasonic probe 90 is required for oscillating and receiving an ultrasonic wave, namely, inspection is possible with a comparatively simple configuration.例文帳に追加

機械加工工程Ｓ３を、超音波探傷工程Ｓ２の後に行うようにしたため、超音波探傷の際に機械加工による屈折などの影響を回避することができ、超音波を発振および受信するための超音波プローブ９０が１つで済むなど、比較的単純な構成で検査が可能となる。 - 特許庁

The terminal working method consisting in simultaneously executing a process for electrically cutting bus lines and the terminals for inspection by cutting the substrate surface of the liquid crystal display device to a line form by the projections described above and a process for chamfering the peripheral edge of the substrate by the grinding wheel surface is implemented.例文帳に追加

そして、前記端子加工砥石を用い、前記突起で前記液晶表示装置の基板表面をライン状に削る事によりバスラインと検査用端子の電気的切断を行う工程と、前記砥石面で前記基板周縁部の面取りを行う工程とを、同時に実行する事を特徴とする端子加工方法を行う。 - 特許庁

The plate inspection apparatus 101 carries out steps of converting the division plate data of arbitral two colors into a RGB image (step 201 and step 202), subjecting the data to gray scale conversion (step 203), to binarizing process (step 204) and AND process (step 205) to extract an overlapped part of the division plate data, and enhancing the overlapped part (step 206).例文帳に追加

検版装置１０１は、任意の２色の分版データをＲＧＢ画像に変換し（ステップ２０１、ステップ２０２）、グレイスケール変換（ステップ２０３）、二値化処理（ステップ２０４）及びＡＮＤ処理（ステップ２０５）を経て、分版データの重複部分を抽出し、当該重複部分を強調処理する（ステップ２０６）。 - 特許庁

The inspection method of a semiconductor wafer includes a process of preparing a wafer formed with a chip region which will become a semiconductor chip, a first probe test for inspecting the wafer by probing, a process of pressing the electrode of the wafer by a pressurization member having a flat plane, and a second probe test for inspecting the wafer by probing.例文帳に追加

半導体ウェハの検査方法は、 半導体チップとなるチップ領域が形成されたウェハを準備する工程と、 前記ウェハをプロービングによって検査する第１プローブ検査と、 平坦面を有する加圧部材によって、前記ウェハの電極を押圧する工程と、 前記ウェハをプロービングによって検査する第２プローブ検査と、を含む。 - 特許庁

The inspection method for detecting the moisture contained in the granular elastomer polymer includes the process for irradiating the granular elastomer polymer with a microwave and the process for measuring the temperature of the granular elastomer polymer irradiated with the microwave.例文帳に追加

粒状エラストマー重合体中に含有されている水分を検出するための検査方法であって、前記粒状エラストマー重合体にマイクロ波を照射する工程と、マイクロ波を照射した前記粒状エラストマー重合体の温度を測定する工程と、を有する粒状エラストマー重合体の検査方法を提供する。 - 特許庁

Further, a laser inspection process is performed by an interruption process at fixed intervals of time by using a 1st laser irradiation flag 13, a 2nd laser irradiation flag 14, a laser irradiation time area 15, and a RAM check area 16 in a RAM 12 and a laser output port 9 and a key input/output port 10 of the CPU 8.例文帳に追加

さらに、ＲＡＭ１２の第１レーザー照射フラグ１３,第２レーザー照射フラグ１４,レーザー照射時間エリア１５およびＲＡＭチェックエリア１６とＣＰＵ８のレーザー出力ポート９,キー入出力ポート１０とを用いて、一定時間毎に割り込み処理によってレーザー検査処理を実行する。 - 特許庁

To provide a simple and high-sensitivity measurement method that does not include a treatment process using a strongly acidic solution (pH≤4.0) or a neutralization process using an alkaline solution, which is an immunity measurement method on a human parvovirus B19 antigen that does not have the problem accompanying RHA inspection or a PCR method.例文帳に追加

本願発明は、ＲＨＡ検査およびＰＣＲ法に伴う問題点を有さないヒトパルボウイルスＢ１９抗原の免疫測定方法であって、強酸性溶液（ｐＨ４．０以下）による処理工程およびアルカリ性溶液による中和工程を含まない、簡便且つ高感度な測定方法を提供するものである。 - 特許庁

To obtain a deodorant, to provide a deodorization method and a deodorant bag capable of extremely easily removing the malodors generated in high-pressure steam sterilization treatment to be implemented to prevent the infection from putrefactive matter, the sample to be examined used for microorganism inspection and the wastes formed in the process before the completion of the microorganism inspection.例文帳に追加

腐敗物や、微生物検査に用いた被検試料及びその微生物検査を完了するまでの過程で生成する廃棄物からの感染を防止するために実施する高圧蒸気滅菌処理において発生する悪臭を、極めて簡便に除去することのできる脱臭剤、脱臭方法、及び脱臭剤バッグを提供する。 - 特許庁

The inspection warranty system has an inspection process terminal 1 for displaying on a display 2 a component to be assembled to a workpiece, and other component not to be assembled to the workpiece, then receiving from a remote controller 31 an input indicating which component displayed on the display 2 is assembled, and determining whether or not the input indicates the component to be assembled.例文帳に追加

ワークに取り付け指示の出ている取り付け指示部品と、ワークに取り付け指示の出ていない他の部品をディスプレイ２に表示し、取り付けられている部品がディスプレイ２に表示されている部品のいずれであるかの入力をリモコン３１から受けて、その入力が取り付け指示部品を示しているか否かを判断する検査工程端末１を備える。 - 特許庁

Distribution work for distributing to a plurality of delivery destinations the number of warehoused objects in sorting sections, acquired in a receiving process before inspection for determining the sorting sections for the warehoused objects is operated by an operator and the delivery destinations are specified in sequence for the objects subjected to inspection in accordance with obtained distribution data for the number of delivered objects in sorting sections and delivery destinations.例文帳に追加

入荷した対象物の仕分け区分を確定する検査の前の荷受過程で取得した仕分け区分ごとの入荷数を複数の出荷先に配分する配荷作業をオペレータに行わせ、これにより得られた仕分け区分及び出荷先ごとの出荷数に関する配荷データに基づいて検査を経た対象物に順次出荷先を特定する。 - 特許庁

When a detection frame below the detection determination threshold appears (step S156) at a stage for finding a vector evaluated value by scanning an inspection frame within a retrieval range in a reference frame, subsequent retrieval is not performed and the inspection frame is regarded as the start point of the moving vector for the macroblock (step S162) to shorten the process time.例文帳に追加

そして、参照フレーム内で検索範囲内に検査枠をスキャンしてベクトル評価値を求める段階で、この検出確定しきい値以下となる検出枠が出現すれば（ステップＳ１５６）、それ以降の検索を行うことなく、この検査枠をそのマクロブロックに対する動きベクトルの起点とする（ステップＳ１６２）ことで、処理時間の短縮を図っている。 - 特許庁

To provide a device for designing an electrical wiring board, the device which has a data inputting means 5, a wiring pattern illustrating means 1, a network generating means 2 and a data outputting means 6 and enables inspection contents to be set in a designing stage, the inspection being performed during a manufacturing process of a wide variety of electrical wiring boards and after completing the product.例文帳に追加

データ入力手段５と、配線パターン作画手段１と、ネット生成手段２と、データ出力手段６を有する電気配線板設計装置において、多岐にわたる電気配線板の製造工程内及び製品完成後に実施される検査内容を、設計段階で設定可能とする電気配線板設計装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide an inspection method of a semiconductor element requiring to form a line for short-circuiting respective conductive patterns on a wafer in order to release charges generated in each conductive pattern during manufacturing process of a semiconductor element in which the inspection of electrical characteristics can be carried out appropriately before the wafer is diced.例文帳に追加

半導体素子の製造過程において各導電パターンに生じる電荷を逃すなどのために、各導電パターンを短絡させる短絡線をウエハー上に形成する必要がある半導体素子において、ウエハーの切断前に、電気的な特性の検査を適切に行うことができる半導体素子の検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a mounding agent for a model material with small dimensional increase by moisture absorption, solving problems in a conventional model material obtained by curing a displaying agent that the model deforms due to dimensional increase by moisture absorption, when using it as a master model or an inspection tool after a cutting process, and becomes useless as the inspection tool.例文帳に追加

従来の盛り付け剤を硬化させてなる模型素材では切削加工後、マスターモデルや検査治具として使用する際に吸湿による寸法増加で、該モデルが歪んだり、検査治具としての用をなさなくなるという問題があったため、吸湿による寸法増加の小さい模型素材を与える、模型素材用盛り付け剤を提供する。 - 特許庁

As for exported agricultural and marine products, in addition to the inspection in the process of domestic distribution, information concerning food inspection and regulation tightening by major countries and regions is provided to exporters so as to secure the trust for the safety of Japanese products at borders, and safety certifications are issued as needed.例文帳に追加

輸出される農林水産品に関しては、国内流通過程での検査に加え、水際においても我が国産品の安全性に対する信頼を確保するために、主要な諸外国・地域における食品の検査や規制強化の状況について輸出業者に情報提供し、必要に応じ安全性の証明書を発行している。 - 経済産業省

A differential image formation part 22 forms differential information between image data taken in this time, and image data of a precedent one page stored in a precedent one page printing image storage part 210, and sends the information to an image inspection process part 24.例文帳に追加

差分画像生成部２２では、今回取り込まれた画像データと、１頁前印刷画像記憶部２１０に記憶されている１頁前の画像データとの差分情報を生成して画像検査処理部２４に送出する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a semiconductor laser device capable of determining, by a simple method, whether deviation of a resonator length is in an allowable range on a chip basis; and an inspection method of a semiconductor laser bar in its manufacturing process.例文帳に追加

簡便な方法でチップ毎に共振器長のずれが許容範囲内であるか否かを判別可能な半導体レーザ装置の製造方法およびその製造工程における半導体レーザバーの検査方法を提供する。 - 特許庁

In each process 40 to 70, the part ID and the product ID are read, the inspection result and quality inferior information are input, and stored in the respective DBs 7, 9, 12, 14, 16 to manage the quality history of each product.例文帳に追加

そして、各プロセス４０〜７０毎に、部品ＩＤまたは製品ＩＤを読み取り、検査結果及び品質不良情報を入力して各ＤＢ７，９，１２，１４，１６に記憶することで、製品毎の品質履歴を管理する。 - 特許庁

By specifying the sealing width, the period while the thickness of the liquid crystal layer after a heating process is stabilized can be reduced, and therefore, accurate inspection for the cell thickness can be fast performed to improve the productivity.例文帳に追加

このようにシール幅を規定することにより、加熱工程後の液晶層の厚みが安定するまでの時間を短縮することができるため、正確なセル厚検査を速やかに行うことができ、生産性が向上される。 - 特許庁

To provide an exposure pattern data inspection apparatus, method and program which when a printed circuit board is produced by a direct drawing system, enable exposure pattern data for use in the direct drawing process to be accurately inspected in a shorter period of time than before.例文帳に追加

プリント基板を直描方式により製造する場合において、直描工程で使用する露光パターンデータを従来よりも短時間で正確に検査することのできる露光パターンデータ検査装置、方法およびプログラムを提供すること。 - 特許庁

To prevent generation of pin holes in a vacuum heat insulation material pierced therein from the inside even when its outer wrapping material uses a thin innermost layer, thereby dispensing with a bag breakage inspection process and suppressing temporal gas intrusion due to permeation through the innermost layer.例文帳に追加

真空断熱材の外包材の最内層を薄くした場合にも、内部からの突き刺しピンホールの発生を防止でき、破袋検査工程を不要とし、さらに最内層を透過する経時的なガス侵入を抑制する。 - 特許庁

First, a measurement value obtained inaccurately from the parasitic components R1, R2 is compensated during a manufacturing process, such as an electrical final inspection in an electronic power circuit, regarding the current/temperature dependency or voltage dependency of the components.例文帳に追加

初めに、該寄生構成要素Ｒ１、Ｒ２から不正確に得られた測定値を、該構成要素の電流／温度依存性または電圧依存性に関して、製造工程（例えば、電子電力回路での電気系最終検査）中に補償する。 - 特許庁

To provide a superposition inspection system that can inspect the superposition of respective substrates in a lot without deteriorating the original throughput of a lithography system and can maintain high precision that can be used for correction in an exposure process.例文帳に追加

リソグラフィシステムの本来のスループットを低下させることなくロット内の各基板の重ね合わせ検査を行うことができ、かつ、露光工程の補正に使用可能な高い精度を維持することもできる重ね合わせ検査システムを提供する。 - 特許庁

To realize an indication characteristics measuring device capable of efficiently measuring chromaticity, brightness, contrast and flicker as important administrative items in a control and inspection process of products using a liquid crystal display, for example, with one measuring apparatus.例文帳に追加

１台の測定器で例えば液晶ディスプレイを用いた製品の調整検査工程における重要な管理項目である色度、輝度、コントラスト、フリッカなどを効率よく測定できる表示特性測定装置を実現すること。 - 特許庁

To remotely operate opening and closing of a blowout and/or suction opening of an air conditioning duct arranged in a nuclear power plant, to eliminate the need to install a temporary scaffold, and to realize shortening of an inspection process and cost reduction.例文帳に追加

原子力発電所内に配設された空調ダクトの吹出口及び／又は吸込口を遠隔位置から開閉操作可能とし、仮設足場の設置を不要とするとともに、点検工程の短縮とコスト削減を実現する。 - 特許庁

To provide a screening method of semiconductor laser element in which a semiconductor laser element having low COD (catastrophic optical damage) resistant characteristics can be eliminated surely by performing nondestructive inspection of the COD resistant characteristics, and to provide a fabrication process of optical head device.例文帳に追加

耐ＣＯＤ特性を非破壊で検査することにより、耐ＣＯＤ特性が低い半導体レーザ素子を確実に排除可能な半導体レーザ素子の選別方法、および光ヘッド装置の製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an automatic analyzer which can provide a user with a highly reliable inspection result by confirming during a progress of a reaction process that dispensation and agitation are actually properly carried out and then achieving proper dispensation and proper agitation.例文帳に追加

分注や攪拌が実際に適切になされたことを反応過程の進行中に確認し、適切な分注と適切な攪拌を実現して、ユーザーに信頼性の高い検査結果を提供することができる自動分析装置を提供する。 - 特許庁

To provide a substrate treatment system capable of detecting an abnormality of the chip on a substrate in a stage before the inspection process of the substrate is performed in-line by measuring the temperature or temperature distribution of the substrate accompanied by operation or the chip on the substrate during treatment.例文帳に追加

動作を伴う基板や処理中の基板上のチップの温度または温度分布をインラインで計測して、基板の検査工程を行う前の段階で基板上のチップの異常を検出できる基板処理システムを提供する。 - 特許庁

As a result, it is made possible to make the polarization of the capacitor to be zero and thus it is made possible to prevent the imprint degradation even with respect to a high temperature treatment in the succeeding packaging process by performing such a polarization erasing processing after a probe inspection.例文帳に追加

これにより、分極を０にすることが可能となり、このような分極消去処理をプローブ検査後に実施することで、後のパッケージ工程における高温処理に対してもインプリント劣化を防止することが可能となる。 - 特許庁

In light of the fact that this committee handles information concerning the inspection and supervision of a specific financial institution, the process of review will not be open to the public. However, its reports will be made public in principle. 例文帳に追加

なお、本委員会は個別金融機関に対する検査・監督に関する情報等を扱うこと等に鑑み、検証作業は非公開とするが、報告書については原則として公表することにしたいと思っております。 - 金融庁

In an inspection process of crystallinity of a p-Si film 23, irradiation light Lout is emitted to the p-Si film 23 and an a-Si film 230 to acquire transmission images of the p-Si film 23 and the a-Si film 230.例文帳に追加

ｐ−Ｓｉ膜２３の結晶化度の検査処理の際に、ｐ−Ｓｉ膜２３およびａ−Ｓｉ膜２３０へ向けて照射光Ｌoutを照射し、ｐ−Ｓｉ膜２３およびａ−Ｓｉ膜２３０の透過画像を取得する。 - 特許庁

The inspection system further includes a detachable infrared high radiation generation means including a heat-resistant thin film detachably put on the solder ball mounting board surface before cooling it after heating the solder ball mounting board surface in the heating process.例文帳に追加

さらに、加熱工程においてはんだボール搭載基板面を加熱後、冷却させる前に、はんだボール搭載基板面に着脱自在に被覆される耐熱性薄膜を含む着脱式赤外線高放射生成手段と、を備える。 - 特許庁

To enable changing the setting of a scramble circuit in an inspection process of a semiconductor device with a real time in a data storage device which are suitable for analyzing a semiconductor device in which plural function blocks are incorporated.例文帳に追加

本発明は複数の機能ブロックが搭載された半導体装置の解析に適したデータ記憶装置に関し、スクランブル回路の設定を半導体装置の検査過程でリアルタイムに変更できるようにすることを目的とする。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus in which an error can be specified easily at the time of maintenance or inspection by not presenting a print format set by a user but presenting the determination process of an actually performed print state as a report.例文帳に追加

ユーザの設定した印刷形式ではなく、現実に実行された印刷状態の決定過程をレポートとして示すことにより、保守点検等の際にエラーの特定を容易に行える画像形成装置を提供する。 - 特許庁

The whole property is inspected in a customized method composed of repeated call of the property inspection schema related to each of the operators F(p), G(p), U(p, q), and X(p), and a standard process to an atomic proposition and Boolean operator.例文帳に追加

特性全体は、Ｆ（ｐ）、Ｇ（ｐ）、Ｕ（ｐ， ｑ）、Ｘ（ｐ）の各演算子に関する特性検査スキーマの反復呼び出しと、原子命題およびブール演算子の標準的な処理で構成されるカスタマイズされた方法で検査される。 - 特許庁