「re- inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an inspecting/sorting apparatus capable of avoiding reduction in operation efficiency caused by execution of re-inspection of an article even when operation is temporarily stopped due to a trouble.例文帳に追加

何らかのトラブルによって運転が一時的に停止された場合でも、物品の再検査の実施に伴う運転効率の低下を回避することが可能な検査振分装置を提供する。 - 特許庁

To provide an automatic analyzer having a pretreatment mechanism capable of performing a rapid automatic re-inspection and controlling the consumption of an original specimen and a pretreatment solution.例文帳に追加

前処理機構を備えた自動分析装置において、迅速な自動再検が可能で、かつ元検体および前処理液の消費量を抑制できる自動分析装置を提供すること。 - 特許庁

To efficiently acquire a re-configuration image without generating an arch fact by accurately and precisely correcting deviation between a rotation center and an image center of a turntable fixing an inspection object.例文帳に追加

検査対象物を固定したターンテーブルの回転中心と画像中心とのずれを正確に精度よく補正し、アーチファクトの発生しない再構成像を効率的に取得する。 - 特許庁

The inspection device 1 divides furthermore the small region image and the similar small region image, and re-extracts a region image, having a high correlation coefficient in a sub-pixel unit, relative to the divided regions.例文帳に追加

検査装置１は小領域画像と類似小領域画像を更に分割し、分割した領域についてサブピクセル単位で相関係数の高い領域画像を再抽出する。 - 特許庁

Projection images at respective angle phases are captured at respective imaging positions and re-constitution calculation is performed from the photographed projection images to reconstitute the internal structure data of the inspection target.例文帳に追加

そして各撮像位置において各角度位相の投影像を撮像し、撮像された投影像から再構成計算を行い、被検査体の内部構造データを再構成する。 - 特許庁

If the largest distance from a focus point to the best fit surface is larger than the predetermined value, then the virtual slide image is designated as needing a manual inspection and possible re-scan.例文帳に追加

最良適合表面から合焦点までの最大距離が所定値より大きいとき、仮想スライド画像に手動検査及び可能な再走査が必要であることが指摘される。 - 特許庁

A re-wiring layer 14 which is, so to speak, a dummy sheet having an electrode pad 6 for a test connected corresponding to an electrode pad 13 and applied only to electric characteristic inspection is formed on the semiconductor chip surface, and the characteristic inspection is performed through the electrode pad 6 for the test.例文帳に追加

電極パッド１３と対応して接続されてなり電気的特性検査のみに供される試験用電極パッド６を持つ言わばダミーシートである再配線層１４を半導体チップ表面に形成し、試験用電極パッド６を介して特性検査を行う。 - 特許庁

To provide a lithography apparatus constituted high in reliability of accuracy and a quality of generating image which can reduce pattern inspection time after exposure, and/or re-working amount.例文帳に追加

露光後のパターン検査時間を減じ得る、かつ／あるいは再作業量を低減することの可能な、精度および生成される像の品質において信頼性の高い構成のリソグラフィ装置を提供する。 - 特許庁

The edge extracting part re-extracts the edge points Pe1 to Pe12 using the corrected inspection area 50, and the object detecting part again obtains the outline 102 from the edge points Pe1 to Pe12.例文帳に追加

エッジ抽出部では、補正後の検査領域５０を用いてエッジ点Ｐｅ１〜Ｐｅ１２を再度抽出し、対象検出部では、当該エッジ点Ｐｅ１〜Ｐｅ１２から外形線１０２を求め直す。 - 特許庁

To provide a pattern inspection device excellent in work efficiency capable of reducing the time required in re-adjustment or the like even when a plurality of kinds of semiconductor mounting tapes different in width are inspected.例文帳に追加

テープ幅が異なる複数種類の半導体実装用テープを検査する場合であっても、再調整等にかかる時間を低減でき、作業効率に優れたパターン検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an egg inspection apparatus capable of preventing the lowering of the quality of an egg during feed when an egg feeder is stopped and capable of rapidly corresponding to the re-operation of the egg feeder.例文帳に追加

卵搬送装置が運転停止した場合、搬送中の卵の品質が低下することを防止することができ、卵搬送装置が再運転した場合、迅速に対応することができる検卵装置を提供する。 - 特許庁

To provide a specimen imaging device constituted so as to certainly identify a specimen even if the reading of the identifying information preliminarily applied to the specimen fails so that the mistake or re-inspection of the specimen is prevented.例文帳に追加

予め標本に付された識別情報の読み取りに失敗してもその標本を確実に識別できるようにして、標本の取り違えや再検査を防止することができる標本撮像装置を提供する。 - 特許庁

To provide an automatic analysis apparatus that can accurately recognize a specimen, removed before necessity determination of re-inspection is performed, and can smoothly execute analysis operation, even if there is a removed specimen.例文帳に追加

再検査の要否判定が出るよりも前に取り出された検体を適確に認識することができ、取り出された検体があっても分析動作を円滑に実行することができる自動分析装置を提供する。 - 特許庁

To obtain a taximeter by which a work for re-inputting information such as a distance correcting value, which is intrinsic to a vehicle body, is unnecessitated not only after the inspection of a head part but also in the case a new kind of taximeter is mounted on the vehicle body.例文帳に追加

頭部検査後は勿論のこと新機種のタクシーメータを車体に装着する際にも、距離補正値その他の車体に固有な情報を再入力する作業が不要となるタクシーメータを提供せんとする。 - 特許庁

To provide a proper timing technique for carrying a reticle so as to prevent a semiconductor wafer from being put on standby even if the re-inspection of the reticle is performed in the carrying of the semiconductor wafer and the reticle to an exposure treatment step.例文帳に追加

露光処理ステップへの半導体ウエハとレチクルとの搬送において、レチクルの再検査が発生した場合でも、半導体ウエハを待機させることがないようにレチクル搬送の適切なタイミング技術を提供する。 - 特許庁

a. If the product is found to be sound and wholesome, inspection program personnel may permit the product to be re-packaged (at the packers option), sign the export application, and proceed by following the instructions in FSIS Directive 9000.1.例文帳に追加

a.製品が無傷かつ健全であれば、検査プログラム担当職員は、製品の再梱包（梱包者の選択に委ねる）を許可し、輸出申請書に署名して、FSIS指令第9000.1号の指示に従って手続きを進める。 - 厚生労働省

To provide a means for verifying a measurement result and for making clear the data fluctuation factors caused by a reagent or specimen and to improve inspection reliability and making clear the origin of the specimen and further improve inspection efficiency in an automatic analysis device for automatically re-inspecting the specimen.例文帳に追加

検体を自動的に再検査することが可能な自動分析装置で、測定結果に対する確認、および試薬起因もしくは検体起因のデータ変動要因を明確にできる手段を提供し、また、検査の信頼性および検体素性の明確化の達成、さらには検査の効率化を達成する。 - 特許庁

The electron microscope 5 for observing a defect detected by the optical defect inspection device or the optical appearance inspection device has a constitution wherein an optical microscope 14 for re-detecting the defect is loaded, and a distribution polarization element and a space filter are inserted onto a pupil surface when performing dark field observation by the optical microscope 14.例文帳に追加

光学式欠陥検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を観察する電子顕微鏡5において、欠陥を再検出する光学顕微鏡14を搭載し、この光学顕微鏡14で暗視野観察する際に瞳面に分布偏光素子及び空間フィルタを挿入する構成とする。 - 特許庁

To provide a propriety inspection for re-initialized CTC connection between a first channel and a second channel in a computing environment where a channel-to-channel control unit function can be provided within either one channel after the initialization of channel-to-channel connection and moved from the one channel to the other channel after the re-initialization of connection.例文帳に追加

チャネル間制御ユニット機能がチャネル間接続の初期化後にいずれか一方のチャネル内に設けることができ、接続の再初期化後に一方のチャネルからもう一方のチャネルに移動することができるコンピューティング環境において、第１のチャネルと第２のチャネルとの間の再初期化したＣＴＣ接続の妥当性検査を提供すること。 - 特許庁

To simplify work required for the removal and re-erection of a scaffolding board in a suspended scaffolding arranged at a bridge girder joint part or the like and to relatively easily form a vertical passage, a working space, an inspection space, or the like at an optional stage.例文帳に追加

橋桁接合部等に配置される吊り足場に関し、足場板の取外し及び再架設に要する作業を簡素化し、垂直方向の通路、作業空間、検査空間等を任意の時期に比較的容易に形成可能にする。 - 特許庁

Any person may request a re-examination of any claim of a patent by filing with the Commissioner prior art, consisting of patents, applications for patents open to public inspection and printed publications, and by paying a prescribed fee. 例文帳に追加

何人も，特許，公衆の閲覧に供された特許出願及び印刷された刊行物からなる先行技術を長官に呈示し，かつ，所定の手数料を納付することにより，特許のクレームの再審査を請求することができる。 - 特許庁

Re-allotment processing part 32 finally decides allotment of the lot to the customer if the lot allotted to the customer meets the customer's required standard in the result of inspection in the evaluation process executed to a semi-conductor wafer to be made of the lot.例文帳に追加

また、再引当処理部３２は、顧客に引当てたロットが、このロットの半導体ウエハに対して行なった評価工程での検査結果が顧客の要求規格を満足している場合に、このロットの顧客への引当を最終確定する。 - 特許庁

To provide an automatic analyzer capable of performing dilution operation of a sample, and of dispensing the sample to a re-inspection system, an analysis pretreatment function by a diluted solution, and a reaction vessel effectively, and an operation method of the automatic analyzer.例文帳に追加

本発明は試料の稀釈動作および再検のシステム、稀釈液による分析前処理機能、反応容器への分注を効率的に行なうことができる自動分析装置、および自動分析装置の稼動方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a drawer type heating cooker capable of easily performing work such as the opening, re-engagement, and replacement of a gear component in maintenance and inspection, and reducing cost by reducing the number of components, with respect to a bottom surface moving mechanism including a pinion gear and a rack gear.例文帳に追加

ピニオンギアとラックギアとを備える底面移動機構について、保守点検時、開放、再係合、或いはギア部品の交換等の作業を容易にすることができ、かつ部品点数を削減してコストが安価な引出し型加熱調理器を提供する。 - 特許庁

The completion inspection computer 13 determines whether it is possible to determine whether the assembled state of the product to be inspected based on the product images is right or wrong, and transmits a re-acquisition request of the product images to the portable terminal 11 when determining that it is not possible to perform the determination.例文帳に追加

完成検査コンピュータ１３は、製品画像に基づく検査対象製品の組み付け状態の正否判定が可能であるか否かを判定し、その判定が不可能であると判定したときには、製品画像の再取得要求を携帯ターミナル１１に対して送信する。 - 特許庁

To provide a system for executing code inspection in system development, and for re-evaluating a developer and the difficulty of module development according to the result, and for calculating the delay state of development from the evaluation of the developer after evaluation and the difficulty of the module.例文帳に追加

システム開発時にコードインスペクションを実施し、その結果に応じて開発者の再評価とモジュールの開発難易度の再評価を行い、評価後の開発者の評価とモジュールの難易度から開発の遅延状況を算出することができるシステムを提供すること。 - 特許庁

To compensate secure valve action even when a large scale earthquake happens which is a rare phenomenon as it is possible to prevent secondary water leakage accident caused by pump re-start and the like after the earthquake by conducting automatic operation inspection regularly.例文帳に追加

地震後のポンプ再起動等によって引き起こされる二次的漏水事故を防止することができると共に、定期的に自動的な作動点検を行うことで、稀な現象である大規模地震発生時にも確実な弁の作動を補償することができる緊急遮断弁装置を提供する。 - 特許庁

A reticle allocation carrying control means 40 is controlled independently from a wafer allocation carrying control means 50, and the reticle is carried to an exposure device before a semiconductor wafer is carried to the exposure device in consideration of a time required for re-inspection of the reticle carried to the exposure device.例文帳に追加

レチクル割り付け搬送制御手段４０を、ウエハ割り付け搬送制御手段５０とは独立に制御して、レチクルの露光装置への搬送を、露光装置への搬送後のレチクルの再検査に要する時間を考慮して、露光装置に搬送する半導体ウエハよりも先行して搬送する。 - 特許庁

1. If the inspection program employee finds signs of poor product handling and storage, he or she may examine the product as set out in FSIS Directive 9040.1, Revision 3, Re-inspection of Product Intended for Export, and take any necessary actions when the product may be adulterated as provided in FSIS Directive 5000.1 (at official establishments (e.g., regulatory control actions or issuance of Non-Compliance Records (NRs)) or FSIS Directive 8410.1 (at non-official establishments (e.g., detaining products)).例文帳に追加

1.検査プログラム担当職員は、不適切な取り扱い・保管の証拠の疑いを持つ場合、当該製品をFSIS指令9040.1改定3版「輸出目的の製品の再検査」に定めるとおり検査し、製品が不純である場合には、必要な措置をFSIS指令5000.1（公認施設に（例；規制管理措置または違反通知書（NR)の発行）またはFSIS指令8410.1（非公認施設に（例；製品の留置））に従って講じることができる。 - 厚生労働省

To provide a surface protective film for a transparent conductive film which facilitates a visual inspection without hurting the back of the surface protective film during a process and can improve work properties by omitting work for re-sticking the surface protective film and the transparent conductive film using the surface protective film.例文帳に追加

工程中において表面保護フィルムの背面に傷がつくことなく外観検査が容易になり、また表面保護フィルムを貼りかえる手間が省けて著しく作業性を向上させることができる透明導電性フィルム用表面保護フィルム、及びこれを用いた透明導電性フィルムを提供する。 - 特許庁

The device for performing fluid-tight inspection after repair of fluid leakage of the piping includes: an AE sensor 10 for measuring an elastic wave from the piping of the fluid filling process after piping repair; and an analyzing part 20 for evaluating operation and fluid re-leakage of an air valve connected to the piping of the fluid filling process by analyzing signals from an AE sensor.例文帳に追加

配管の漏液の補修後の液密性検査を行う装置は、配管補修後の充液過程の配管からの弾性波を測定するためのＡＥセンサ１０と、ＡＥセンサからの信号を解析し、充液過程の配管に接続される空気弁の動作及び再漏液の評価を行う解析部２０とを具備する。 - 特許庁

To provide a test tube rack constituted so as to store the data necessary for the transport and keeping a specimen-containing test tube in a wireless tag, to enable the reading of the memory data of the wireless tag by radio communication and capable of later writing the data necessary for the re-inspection presence data or the like of a specimen in the wireless tag.例文帳に追加

検体入り試験管の輸送保管に必要な情報を無線タグに記憶させておき、この無線タグの記憶情報を無線通信によって読み取ることができ、また無線タグに検体の再検査有無情報等の必要な情報を後で書き込むこともできる試験管ラックを提供することにある。 - 特許庁

The electron microscope 5 for observing the defect detected by an optical defect inspection device is mounted with an optical microscope 6 for re-detecting the defect, and has a constitution where, when focusing of the optical microscope 6 is performed, a lighting position and a detecting position of the optical microscope 6 to a sample 1 are not changed.例文帳に追加

光学式欠陥検査装置で検出した欠陥を観察する電子顕微鏡５において、欠陥を再検出する光学式顕微鏡６を搭載し、この光学式顕微鏡６の焦点合わせを行う時に、試料１に対して光学式顕微鏡６の照明位置と検出位置を変化させない構成とする。 - 特許庁

To provide substrate treating equipment capable of quickly and efficiently performing a bump shaping process and an inspection process for the state of a bump after shaping in a series of processes including a re-shaping process that is executed when a bump shaping failure occurs, for efficiency in facility costs and footprints, with reduced labor of workers.例文帳に追加

バンプ整形処理及び整形後のバンプの状態に関する検査処理を、バンプ整形不良発生時に行う再整形処理を含めて一連の工程で迅速かつ効率よく行うことができるとともに、設備コストや設置面積等の面で効率が図れ、また作業者の手間を削減できる基板処理装置を提供する。 - 特許庁

6. Any person who in good faith has used or made effective and serious preparations for using all invention which is the subject of a patent application open to public inspection or a granted patent in the course of the period between the loss of rights referred to in paragraph 1 and the date of the Ministerial decision relating to re-establishment of that right, may without payment continue such use in the course of his business or for the needs thereof.例文帳に追加

(6) 公衆の閲覧に供せられた特許出願又は付与された特許の対象である発明については，(1)に掲げた権利の喪失と当該権利の回復との間の期間中に，善意でそれを実施し又はその実施に対する実際上のかつ相当な準備をした者は何人も，その者の事業継続中又はその必要のために，かかる実施を無償で継続することができる。 - 特許庁

Article 32-5 (1) Explanation of the following matters shall be given to any person who intends to acquire the specified maintenance products through sales or other transaction or linked to the transaction of articles other than the specified maintenance products (except for those who intend to acquire the specified maintenance products for the purpose of re-transferring the specified maintenance products and those who are provided for by the Ordinance of the competent ministry; hereinafter referred to as an "acquirer" in Article 32-8, paragraph (3)) by a business operator who transacts with said person (hereinafter referred to as a "business operator transacting specified maintenance products"), upon the delivery of said specified maintenance products; provided, however, that this shall not apply in the case where the inspection period of said specified maintenance products has expired and any other case where there are justifiable grounds: 例文帳に追加

第三十二条の五　特定保守製品を、売買その他の取引により、又は特定保守製品以外の物に関する取引に付随して取得しようとする者（特定保守製品を再度譲渡することを目的として取得しようとする者及び主務省令で定める者を除く。第三十二条の八第三項において「取得者」という。）に対し、当該取引の相手方たる事業者（以下「特定保守製品取引事業者」という。）は、当該特定保守製品の引渡しに際し、次の事項について説明しなければならない。ただし、当該特定保守製品の点検期間が経過している場合その他正当な理由がある場合は、この限りでない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム