「refraction」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

refraction of light 例文帳に追加

光線の屈折 - 斎藤和英大辞典

the angle [index] of refraction 例文帳に追加

屈折角[率]. - 研究社 新英和中辞典

Refraction of light.例文帳に追加

光の屈折です - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

REFRACTION MEASURING APPARATUS例文帳に追加

屈折測定装置 - 特許庁

a refraction of light, called double refraction 例文帳に追加

複屈折という,光の屈折現象 - EDR日英対訳辞書

LOW DOUBLE REFRACTION FILM例文帳に追加

低複屈折フィルム - 特許庁

AUTOMATIC DOUBLE REFRACTION METER例文帳に追加

自動複屈折計 - 特許庁

OCULAR REFRACTION MEASURING APPARATUS例文帳に追加

眼屈折測定装置 - 特許庁

PROGRESSIVE REFRACTION LENS例文帳に追加

累進屈折力レンズ - 特許庁

REFRACTION TYPE CONSTRUCTION MACHINE例文帳に追加

屈折式建設機械 - 特許庁

COMPOUND DOUBLE REFRACTION MEMBER例文帳に追加

複合複屈折部材 - 特許庁

REFRACTION OBJECTIVE OPTICAL SYSTEM例文帳に追加

屈折対物光学系 - 特許庁

REFRACTION MEASURING APPARATUS例文帳に追加

眼屈折力測定装置 - 特許庁

REFLECTION/REFRACTION OBJECTIVE LENS例文帳に追加

反射屈折対物レンズ - 特許庁

REFRACTION/DIFFRACTION HYBRID LENS例文帳に追加

屈折・回折ハイブリッドレンズ - 特許庁

DOUBLE REFRACTION MEASURING METHOD, DOUBLE REFRACTION MEASURING INSTRUMENT AND PROGRAM例文帳に追加

複屈折測定方法及び装置並びにプログラム - 特許庁

DOUBLE REFRACTION MEASURING INSTRUMENT AND DOUBLE REFRACTION MEASURING METHOD例文帳に追加

複屈折測定装置及び複屈折測定方法 - 特許庁

EYE REFRACTION MEASURING APPARATUS例文帳に追加

眼屈折力測定装置 - 特許庁

DOUBLE REFRACTION MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加

複屈折率測定装置 - 特許庁

EYE REFRACTION POWER MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加

眼屈折力測定装置 - 特許庁

ANTI-REFRACTION PROPERTY TESTING METHOD AND ANTI-REFRACTION PROPERTY TESTER例文帳に追加

耐屈折性試験方法及び耐屈折性試験装置 - 特許庁

LIGHT REFRACTION TYPE LIGHTING PLATE例文帳に追加

光線屈折型採光板 - 特許庁

VARIABLE REFRACTION CONTROL SPECTACLES例文帳に追加

可変屈折制御型眼鏡 - 特許庁

We are going to conduct a refraction test.例文帳に追加

屈折検査を行います。 - 旅行・ビジネス英会話翻訳例文

REFRACTION/REFLECTION COMPOSITE OPTICAL SYSTEM例文帳に追加

屈折反射複合光学系 - 特許庁

REFRACTION-CONDENSING PLATE FOR BACKLIGHT例文帳に追加

バックライト用屈折集光板 - 特許庁

VARIABLE REFRACTION ANGLE STEREOSCOPIC VISION GLASSES例文帳に追加

可変屈折角立体視眼鏡 - 特許庁

The refraction member 40 includes at least one refraction structure 41.例文帳に追加

屈折部材４０は少なくとも１つの屈折構造４１を含む。 - 特許庁

DOUBLE REFRACTION CHARACTERISTIC MEASURING DEVICE AND DOUBLE REFRACTION CHARACTERISTIC MEASURING METHOD例文帳に追加

複屈折特性測定装置および複屈折特性測定方法 - 特許庁

REFRACTION INDEX DISTRIBUTION MEASURING METHOD AND REFRACTION INDEX DISTRIBUTION MEASURING DEVICE例文帳に追加

屈折率分布計測方法および屈折率分布計測装置 - 特許庁

In the expression, n_u is the refraction index of the refraction index control layer 3 and n_d is the refraction index of the charge transport layer 1.例文帳に追加

ｎ_eff＝０．７ｎ_u＋０．３ｎ_dｎ_u：屈折率制御層３の屈折率ｎ_d：電荷輸送層１の屈折率 - 特許庁

REFRACTION TYPE FUEL CONCENTRATION DETECTOR例文帳に追加

屈折式燃料濃度検出器 - 特許庁

MEASURING METHOD OF DOUBLE REFRACTION CHARACTERISTIC例文帳に追加

複屈折特性の測定方法 - 特許庁

ARRAY REFRACTION ELEMENT AND EXPOSURE DEVICE例文帳に追加

アレイ屈折素子及び露光装置 - 特許庁

FLUOROPLASTIC FILM OF LOW DOUBLE REFRACTION例文帳に追加

低複屈折のフッ素樹脂フィルム - 特許庁

AUTOMATIC DOUBLE REFRACTION MEASURING INSTRUMENT AND DOUBLE REFRACTION MEASURING METHOD USING IT例文帳に追加

自動複屈折測定装置とこれを用いた複屈折測定方法 - 特許庁

DOUBLE REFRACTION PHASE DIFFERENCE MEASURING DEVICE AND DOUBLE REFRACTION PHASE DIFFERENCE MEASURING METHOD例文帳に追加

複屈折位相差測定装置及び複屈折位相差測定方法 - 特許庁

The refraction material is composed of a resin having high refraction property.例文帳に追加

屈折材料層１７は、高屈折性の樹脂から構成されている。 - 特許庁

A refraction index of the film of low refraction index is lower than that of the I layer.例文帳に追加

低屈折率膜の屈折率は、Ｉ層の屈折率よりも低い。 - 特許庁

An apparent double refraction is reduced by stretching the polymer in a direction for developing a negative orientation double refraction with respect to an intrinsic double refraction, and cancelling the intrinsic double refraction by the orientation double refraction.例文帳に追加

固有複屈折に対し負の配向複屈折が発現する方向に延伸し、固有複屈折を配向複屈折で相殺させることにより見掛け上の複屈折を下げる。 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF DOUBLE REFRACTION FILM例文帳に追加

複屈折性フィルムの製造方法 - 特許庁

DOUBLE REFRACTION POLYIMIDE LAYER AND DOUBLE REFRACTION OPTICAL WAVE GUIDE USING THE SAME例文帳に追加

複屈折性ポリイミド層およびそれを用いた複屈折性光導波路 - 特許庁

To highly accurately measure the refraction characteristics of a refraction optical system.例文帳に追加

屈折光学系の屈折特性測定を高精度で行えるようにする。 - 特許庁

REFRACTION LIGHTING PLATE FOR WINDOW OR FILM例文帳に追加

窓用屈折採光板又はフィルム - 特許庁

EVALUATION SYSTEM FOR REFRACTION OPERATION例文帳に追加

屈折矯正手術の評価方式 - 特許庁