「screening inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To simplify screening operation, to improve throughput of the screening operation, and to improve the accuracy of evaluation of an inspection object.例文帳に追加

スクリーニング作業を簡素化することができ、スクリーニング作業のスループットを向上させることができ、検体の評価の精度を高くすることができるようにする。 - 特許庁

To provide a novel cancer inspection method and a novel anti-cancer drug screening method.例文帳に追加

本発明は新規の癌の検査方法及び新規の抗癌剤のスクリーニング方法の提供を目的とする。 - 特許庁

To facilitate screening at normal temperature in an inspection of a failure mode such as not to feed startup current.例文帳に追加

スタートアップ電流が供給されないような故障モードの検査における常温でのスクリーニングを容易とする。 - 特許庁

Further, the inspection method of the crystal axis in the screening step is one utilizing an X-ray diffraction phenomenon.例文帳に追加

更に、選別工程における結晶軸の検査方法は、Ｘ線の回折現象を利用した方法とする。 - 特許庁

To provide an inspection device and inspection method for electro- optical device for efficiently performing the reliability test and/or burning (screening) inspection of a liquid crystal panel in a short time without affecting on a subject to be inspected.例文帳に追加

検査対象に悪影響を与えることなく、液晶パネルの信頼性試験及び／又はバーニング（スクリーニング）検査を短時間で効率的に行うための検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁

PROBE CARD FOR INSPECTING SHORT CIRCUIT BETWEEN SURFACES OF LIQUID CRYSTAL PANEL AND METHOD FOR ROUGHLY SCREENING LIQUID CRYSTAL PANEL BY INTER-SURFACE SHORT CIRCUIT INSPECTION例文帳に追加

液晶パネルの面間ショート検査用プローブカード及び面間ショート検査により液晶パネルを粗ブルイする方法 - 特許庁

To reduce the amount of a reagent (sample) used for reaction inspection or the like for screening in drug development, life science or the like.例文帳に追加

創薬や生命科学等におけるスクリーニングの反応検査等で使用する試薬（試料）の量を削減する。 - 特許庁

To provide an LED classification device that can reduce inspection time to perform an inspection that can satisfy demand of classification in detail in a step of screening LED elements.例文帳に追加

ＬＥＤ素子の選別工程において詳細な分類要求に応えられる検査を行うために検査時間を短縮できるＬＥＤ分類装置を提供する。 - 特許庁

Screening of a herpes infection inhibitor and sensitivity inspection can be carried out by using the cells of the invention.例文帳に追加

また、本発明の細胞を用いることにより、ヘルペスウイルス感染阻害物質のスクリーニングや感受性検査を行うこともできる。 - 特許庁

To achieve a screening inspection of a semiconductor integrated circuit provided with a circuit section having a plurality of FETs connected in a multi-stage series connection without increasing the number of inspection terminals.例文帳に追加

複数のＦＥＴが多段直列接続されている回路部を備えている半導体集積回路について、検査用端子を増加させずにスクリーニング検査を行うことを可能とする。 - 特許庁

To provide an inspection method of a semiconductor wafer which performs very accurate screening of failures that are likely to occur in an initial failure period.例文帳に追加

初期故障期に発生しうる故障をより高い精度でスクリーニングできる半導体ウェハの検査方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide an inspection method of a semiconductor wafer which can make a very accurate screening of failures which are likely to occur in an initial failure period.例文帳に追加

初期故障期に発生しうる故障をより高い精度でスクリーニングできる半導体ウェハの検査方法を提供することにある。 - 特許庁

An intermediate conveyer 7 is disposed between a carrier conveyer 6 arranged in a shield box main body 11 and a screening conveyer 8 for screening an article M into a conforming article M1 and a non-conforming article M2 based on an inspection result.例文帳に追加

シールドボックス本体１１内に配設された搬送コンベア６と、検査結果に基づいて物品Ｍを良品Ｍ１と不良品Ｍ２とに振り分ける振分コンベア８との間に、中間コンベア７を配設する。 - 特許庁

In this inspecting method, by comparing the inspection data in the wafer test written in the ROM areas of the chips with the inspection data in the screening test, it is possible to inspect the characteristic degradation of the chips due to packaging.例文帳に追加

この検査方法では、チップのＲＯＭ領域に書き込んだウェハテストの検査データと、選別テストの検査データとを比較することで、パッケージングによるチップの特性劣化を検査することが可能になる。 - 特許庁

To heighten the inspection efficiency by performing two or more types of screening including diagnosis for the heart part from the one time scanning result.例文帳に追加

一度に行ったスキャン結果から心臓部の診断を含む複数種のスクリーニングを行うことができるようにし、これにより検査効率を高めること。 - 特許庁

When a screening voltage is applied between one end side (PAD1) and the other end side (PAD2) of a multi-stage series circuit section 5, a screening inspection is performed by applying a gate voltage to turn FET2 to be inspected off and all the other FETs 1, 3, 4 on.例文帳に追加

多段直列回路部５の一端側：ＰＡＤ１と他端側：ＰＡＤ２との間にスクリーニング電圧を印加する場合に、検査対象とするＦＥＴ２をＯＦＦ状態にすると共に、それ以外のＦＥＴ１，３，４を全てＯＮ状態とするようにゲート電圧を印加して、スクリーニング検査を行う。 - 特許庁

To provide a cancer inspection method for accurately and simply evaluating the liver carcinogenesis of a chemical substance, and to provide a method for screening a mammal individual about the prime factor of liver cancer.例文帳に追加

化学物質の肝臓発癌性を正確かつ簡便に評価するための癌検定方法、また肝臓癌の素因について哺乳動物個体をスクリーニングする方法の提供。 - 特許庁

To provide an economical defective product screening system in a simple configuration and easily integrated into such as conventional hanging-type conveyance devices that can accurately, smoothly, and quickly remove a defective product, whose inspection speed is high, inspection/removal efficiency is high, and can process much work.例文帳に追加

不良品を正確に確実にスムーズに迅速に排除でき、検査スピードが速く、検査・排除能率が上がり、多量のワークの処理が可能となり、構成簡素で、既存の吊下げ式搬送装置等に組込み易く、経済的な不良品選別システムを提供する。 - 特許庁

Related to an inspection method for protozoa that uses cultured cells as a technique for screening medicine used for treating protozoa infection, a detection sensitivity is raised.例文帳に追加

原虫感染症の治療に用いるための医薬品をスクリーニングするための手法として提案されている培養細胞を用いた原虫類の検査方法を改良して、検出感度を高めた。 - 特許庁

A screening inspection can be performed after all of the manufacturing processes of the semiconductor device are completed, and therefore, characteristics and reliability with respect to a final structure of the semiconductor device can be inspected.例文帳に追加

また、スクリーニング検査を半導体装置のすべての製造工程を完了してから行うことができるため、半導体装置の最終構造に対して特性、信頼性を検査することが可能となる。 - 特許庁

However, as a result of the examination of inspection results that we provided notice of last October and a report submitted by the bank in relation to the inspection results, we have recognized problems that need to be corrected further with regard to its governance system, legal compliance system, loan screening and management system. 例文帳に追加

しかしながら、昨年10月に通知いたしました検査結果及びそれに係る同行からの報告に基づいて検証を行った結果、経営管理態勢、法令等遵守態勢、及び与信審査管理態勢などに今後更なる改善を要する問題点が認められました。 - 金融庁

In the fabrication process of a rewiring structure, electric connection of an element electrode 11bi for use in burn-in screening and a common interconnect line for use in burn-in screening is interrupted selectively only for a semiconductor chip 10b judged rejective in electrical characteristics inspection by using a negative photosensitive material.例文帳に追加

再配線構造の製造工程において、ネガ型の感光性材料を使用することにより、電気特性検査にて不良と判定された半導体チップ１０ｂについてのみ、バーンインスクリーニングで使用するための素子電極１１ｂｉとバーンインスクリーニングで使用する共通配線との電気的接続を選択的に遮断する。 - 特許庁

To provide a cancer inspection method for accurately and simply evaluating the liver carcinogenesis of a chemical substance as much as possible, to provide a method for screening a mammal individual about the prime factor of liver cancer, and to provide a method for treating the liver cancer.例文帳に追加

化学物質の肝臓発癌性をできるだけ正確かつ簡便に評価するための癌検定方法及び肝臓癌の素因について哺乳動物個体をスクリーニングする方法、及び臓癌の治療方法の提供。 - 特許庁

To provide a cancer inspection method for accurately and simply evaluating the liver carcinogenesis of a chemical substance as much as possible, to provide a method for screening a mammal individual about the prime factor of liver cancer, and to provide a method for treating the liver cancer.例文帳に追加

化学物質の肝臓発癌性をできるだけ正確かつ簡便に評価するための癌検定方法、及び肝臓癌の素因について哺乳動物個体をスクリーニングする方法、及び肝臓癌の治療方法の提供。 - 特許庁

To provide a screening method of semiconductor laser element in which a semiconductor laser element having low COD (catastrophic optical damage) resistant characteristics can be eliminated surely by performing nondestructive inspection of the COD resistant characteristics, and to provide a fabrication process of optical head device.例文帳に追加

耐ＣＯＤ特性を非破壊で検査することにより、耐ＣＯＤ特性が低い半導体レーザ素子を確実に排除可能な半導体レーザ素子の選別方法、および光ヘッド装置の製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a new amyloid β aggregate-binding peptide, an inspection method of amyloidoses using the new amyloid β aggregate-binding peptide, and a screening method of the amyloid β aggregate-binding peptide.例文帳に追加

新規アミロイドβ凝集体結合性ペプチド、新規アミロイドβ凝集体結合性ペプチドを用いたアミロイド病の検査方法、およびアミロイドβ凝集体結合性ペプチドをスクリーニングする方法を提供することである。 - 特許庁

To provide an endoscope system for enlarging observation by which a microscopic enlarged image by the confocal optical system can be observed visually corresponding the same to the observation image of a site concerned to be abnormal found in screening inspection.例文帳に追加

共焦点光学系による顕微鏡的拡大像を、スクリーニング検査で見つけた異常が疑われる部位の観察像と視覚的に対応をつけて観察することができる拡大観察用内視鏡装置を提供すること。 - 特許庁

To carry out a test for a mixed RAM in a CPU-built-in RAM-mixed LSI by a ususal operation of a built-in CPU to enhance inspection precision easily at a low cost, and to enhance a screening level for a deffective.例文帳に追加

ＣＰＵ内蔵ＲＡＭ混載ＬＳＩの混載ＲＡＭのテストを、内蔵ＣＰＵの通常動作にて行えるようにすることで、検査精度の向上を簡便かつ低コストで達成して、不良品のスクリーニングレベルを向上させ得ること。 - 特許庁

(ii) The radioactive cesium concentration in dried or manufactured tea leaves measured using test equipment meeting the requirements provided in the “Screening Methods for Radioactive Cesium in Foods” in the Notice from the Inspection and Safety Division, dated March 1, 2012 does not exceed 150 Bq/kg.例文帳に追加

② 荒茶又は製茶に含まれる放射性セシウム濃度を、平成24 年３月１日付けの監視安全課事務連絡により示した「食品中の放射性セシウムスクリーニング法」の要件を満たした検査機器により測定した結果、150Bq/kg 以下の場合 - 厚生労働省

When the defective inspection is performed to the mask substrate which becomes the origin of the mask of exposure, an exposure region 13 is extracted after the mask pattern is formed from pattern data concerning the form of a mask pattern to be formed on the mask substrate, and the defective inspection must be performed only to a part before screening substrate corresponding to an exposure region 13.例文帳に追加

露光用マスクの元となるマスク基材に対して欠陥検査を行う場合にあたり、前記マスク基材に形成すべきマスクパターンの形状に関するパターンデータから当該マスクパターンが形成された後における露光領域１３を抽出し、前記露光領域１３に対応する前記マスク基材の部分についてのみ前記欠陥検査を行うようにする。 - 特許庁

A light screening film 12 having an opening 13 for transmitting or scattering light is formed on one face of a substrate 11, and the opening 13 is sufficiently small in comparison with a resolving power of the defect inspection apparatus for the flat panel display as an object of calibration.例文帳に追加

光を透過または散乱させるための開口１３を形成した遮光膜１２が基板１１の一方の面上に形成されるとともに、前記開口１３を、校正対象である、フラットパネルディスプレイの欠陥検査装置の分解能に比して十分小さく形成した。 - 特許庁

To provide a liquid reagent reacting with various proteins containing albumin when the total protein in a liquid sample such as a biosample or the like is measured on the basis of the theory of a coloring matter bonding method corresponding to screening inspection to measure the total protein with extremely high sensitivity.例文帳に追加

スクリーニング検査に相応しい色素結合法の原理で生体試料などの液体試料中の総蛋白質を測定する際に、アルブミンを含む幅広い蛋白質と反応し、極めて高い感度で総蛋白質を測定することのできる液状試薬を提供する。 - 特許庁

7 It should be noted that the purpose of this inspection item is not to review whether or not divisions such as the Screening Division, the Credit Management Division and the Problem Loan Management Division have been established as organizations but to review whether or not the functions required for such divisions are being performed. 例文帳に追加

7信用リスク管理部門として以下に記載のある審査部門、与信管理部門及び問題債権の管理部門について、組織形態としてこれらの部門が設置されているかを検証するのではなく、これらの部門の役割・責任が機能として果たされているかを検証することに留意する。 - 金融庁

7 It should be noted that the purpose of this inspection item is not to review whether or not divisions such as the Screening Division, the Credit Management Division and the Problem Loan Management Division have been established as organizations but to review whether or not the functions required for such divisions are being performed. 例文帳に追加

7 信用リスク管理部門として以下に記載のある審査部門、与信管理部門及び問題債権の管理部門について、組織形態としてこれらの部門が設置されているかを検証するのではなく、これらの部門の役割・責任が機能として果たされているかを検証することに留意する。 - 金融庁

To provide a print pattern for inspecting an optical sensor judging ink ejection in which ink ejection can be judged accurately and surely at all times at the time of screening inspection of the optical sensor being used as an ink ejection judging device, and to provide a system and a method for inspecting an optical sensor judging ink ejection.例文帳に追加

インク吐出判定装置として使用される光学式センサの選別検査において常に正確かつ確実な判定を行うことを可能とするインク吐出判定用光学式センサ検査用印刷パターン、インク吐出判定用光学式センサ検査システム及びインク吐出判定用光学式センサ検査方法を提供する。 - 特許庁

This semiconductor crystal screening method is equipped with steps of: inducing a defect in the imperfect portion of the semiconductor crystal by applying an electron beam or light to the semiconductor crystal; and then, performing defect inspection on the semiconductor crystal by a cathode luminescence method or photoluminescence method to screen the semiconductor crystal based on a result thereof.例文帳に追加

本発明の半導体結晶のスクリーニング方法は、半導体結晶に電子線又は光を照射することによって半導体結晶の不完全部分での欠陥を誘起し、その後、カソードルミネッセンス法又はフォトルミネッセンス法により半導体結晶の欠陥検査を行い、その結果に基づいて半導体結晶のスクリーニングを行う工程を備える。 - 特許庁