「detection of defects」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

To cause unexpected flag on detection in a device of a data communication system to serve for resolution of defects within an image forming apparatus.例文帳に追加

データ通信システムのデバイスにおける予定外のフラグオン検出を利用して、画像形成装置内の不具合解消に役立てる。 - 特許庁

In this method, a means of synchronization with detection of defects to calculates amount of image features of the defect, and a means for classifying defects into clusters, depending on the calculated amount of image features are added to the high-speed pattern defect inspection system.例文帳に追加

高速のパターン欠陥検査装置に、欠陥の検出に同期して欠陥の画像的特徴量を計算する手段と、計算された特徴量によって欠陥をクラスタに分類する手段とを付加する。 - 特許庁

The monitoring device analyzes the new information received from the PLC or the sensor in response to a request 15 of a user or the detection of defects or an abnormality of the machining device and compares the new information with the reference information of the base 12.例文帳に追加

そのコンピュータは、コントローラが発生した制御信号及び加工装置に搭載されたセンサからのステータス信号を記録する。 - 特許庁

To provide a pressurizing and infiltrating method and a pressurizing and infiltrating apparatus for scanning and inspecting flaws which infiltrate a penetrant into fine surface layer defects of an object to be inspected and facilitate detection of the surface layer defects in an infiltrating flaw scan inspection for nondestructively inspecting the surface layer defects of a material.例文帳に追加

材料の表層欠陥を非破壊的に検査する浸透探傷検査において、被検査物の微細な表層欠陥内にも浸透液を浸透させ、表層欠陥の検出を容易にする加圧式浸透探傷検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To evaluate various photoreptor characteristics related to electrophotography simultaneously with detection of defects on the surface of a photoreceptor.例文帳に追加

感光体表面の欠陥を検出する欠陥検出と、電子写真に関わる種々の感光体特性の評価とを同時に行う。 - 特許庁

To provide a wafer appearance inspection device capable of reducing detection of noncritical defects, and shortening the time required for visual confirmation.例文帳に追加

非致命欠陥を検出を低減し、目視確認に要する時間を短縮可能なウェハ外観検査装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a method for processing eddy current flaw detection signal, capable of automatically identifying defective sections and accurately restoring the shape of defects.例文帳に追加

欠陥部の自動識別や欠陥形状の正確な復元をおこない得る渦電流探傷信号処理方法を提供する。 - 特許庁

After the formation of magnetic films on the plural disk substrate, the defects existing on the surfaces of the disks 1, 2, and 3 are detected, and the fixed defects 4 existing at approximately the same positions each other are extracted by the detection result of the defects existing on the major surfaces of the three disks 1, 2, and 3, respectively.例文帳に追加

複数枚のディスク基板上に磁性膜を形成した後、ディスク１，２，３の表面に存在する欠陥を検出して、３枚のディスク１，２，３の主面にそれぞれ存在する欠陥の検出結果から、互いにほぼ等しい位置に存在する固定欠陥４を抽出する。 - 特許庁

A defect identification determining part 21 obtains the times of defect detection by determining whether the defects detected by defect inspection devices arranged in a plurality of inspection processes are the same defects or not.例文帳に追加

欠陥同一判定部２１は、複数の検査工程に配置された欠陥検査装置によって検出された欠陥が同一欠陥であるか否かを判定して欠陥検出回数を求める。 - 特許庁

To provide a defect detection method for matrix structure and defect detection device of matrix structure which make it possible to easily detect point-like defects in matrix structure.例文帳に追加

マトリクス構造における点状の欠陥を容易に検出可能にするマトリクス構造の欠陥検出方法およびマトリクス構造の欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

Thus, a system and a method for in-situ detection of contaminants or defects on a reticle are provided.例文帳に追加

このように、レチクル上の汚染物質または欠陥をインシチュ（ｉｎ−ｓｉｔｕ）で検出するシステムおよび方法が提供される。 - 特許庁

To prevent variations in pattern forming positions and pattern sizes from affecting detection precision of defects even if those variations are present.例文帳に追加

パターンの形成位置や大きさにばらつきがあっても、そのばらつきが欠陥の検出精度に影響を及ぼさないようにする。 - 特許庁

To provide a magnetic non-destructive examination method having high detection sensitivity for defects and fatigue of structural materials and high practical usability.例文帳に追加

構造材料の欠陥や疲労の検出感度が高くかつ実用性を有する磁気的な非破壊検査法を提供すること。 - 特許庁

Since the luminance of light detected by the detection means 3 is strengthened by reflected light by the reflecting means 6 in the region not to be measured 5, incorrect detection of defects is reduced.例文帳に追加

非測定領域５について検出手段３で検出される光の輝度が反射手段６による反射光によって大きくなって、欠陥の誤検出が抑制される。 - 特許庁

To provide a new photoresist film which ensures easy detection of defects on the film and excels in prevention of entry of air bubbles when laminated on a printed wiring board under reduced pressure.例文帳に追加

フィルム上の欠陥を検知しやすく、減圧下におけるプリント配線板との積層における気泡混入防止に優れた新規フォトレジストフィルムの提供。 - 特許庁

To provide a high-speed and highly accurate apparatus for detecting defects of image without being affected by variations of good products, and its defect detection method.例文帳に追加

良品のバラツキに影響されない高速で且つ高精度な画像の欠陥検出装置及びその欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

To ensure detection of fine defects while stably judging whether the crimped condition of a terminal crimping device is acceptable or not.例文帳に追加

端子圧着装置における圧着状態の良否の判別を安定して検出するとともに細かな不良まで確実に検出する。 - 特許庁

To provide a defect detection method of turbine generator end ring, capable of effectively detecting defects by discriminating between a defect echo and a pseudo echo.例文帳に追加

欠陥エコーと擬似エコーとを識別し、効果的に欠陥の検出ができるタービン発電機エンドリングの欠陥検出方法を実現する。 - 特許庁

To eliminate influences of disturbance light noise intruding into a detection optical system from a peripheral environment of a transparent substrate with a large thickness upon inspecting a defect in the substrate, and improve detection accuracy of defects.例文帳に追加

板厚の大きい透明な基板の欠陥の検査において、基板の周辺環境から検出光学系に入り込む外乱光ノイズの影響を無くし、欠陥の検出精度を向上させる。 - 特許庁

In defect detection by the defect data detecting part 112a, candidates for defects are detected by analyzing an image, for example, in the case of every main photographing and only a candidate for the defects to satisfy prescribed conditions in a plurality of times of detection is further determined as defect pixel data.例文帳に追加

欠陥データ検出部１１２ａによる欠陥検出では、例えば毎回の本撮像の際に画像を解析して欠陥の候補が検出され、さらに複数回の検出において所定の条件を満たした欠陥候補のみが欠陥画素データとして決定される。 - 特許庁

To provide an apparatus for mending defects capable of surely mending woody materials while detection or mending of defects not followed by a loss of thickness of a surface of the woody material is automatically carried out and a natural condition is kept without unnatural feeling.例文帳に追加

木質材表面の肉の欠損を伴わない欠陥の検出ないし補修を自動的に、かつ違和感なく自然な状態を保ちながら、しかも確実に補修することができる欠陥補修装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a non-destructive inspection system which can accurately obtain positional relations of defects in an object to be inspected by using ultrasonic flaw detection and X-ray flaw detection, and can simplify works for setting flaw detection trajectories.例文帳に追加

本発明の目的は、超音波探傷とＸ線探傷による被検体の欠陥の位置関係を正確に把握でき、探傷軌跡設定作業を簡略化できる被破壊検査装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide an image processing method and an image processor for correcting image defects by properly coping with even the case of when an image as a processing target is not suitable for detection and correction of the image defects.例文帳に追加

処理対象の画像が画像欠陥の検出及び修正に適していない場合であっても、適切に対応して画像欠陥の修正を実行できる画像処理方法及び画像処理装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect detection method and a defect detecting device, capable of accurately detecting display defects, such as voltage cause defects which can be generated in image, when a voltage is applied to an image display device.例文帳に追加

画像表示デバイスに電圧を印加した際に画像内に生成し得る電圧要因欠陥等の表示欠陥を精度よく検出できる欠陥検出方法、および欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

To reduce erroneous detection that a package acceptable as a proper product is detected as a defective product while reliably detecting defects of packages.例文帳に追加

包装体の欠陥を確実に検出しつつ、良品としてもよい包装体を不良品とする誤検出を低減させること。 - 特許庁

To improve detection accuracy by mutually correcting defects of an image pick-up device and an infrared ray sensor utilizing an artificial retina.例文帳に追加

人工網膜を利用した撮像装置と赤外線センサの短所を互いに補い合わせることにより検知確度をより向上させる。 - 特許庁

Hereby, since defect detection processing of the circumferential flaw or the island defect can be performed stepwise separately from other defects, even if the number of defects to be detected is increased, a processing load of a data processing device can be reduced.例文帳に追加

これにより円周疵あるいは島状欠陥を他の欠陥と分離して欠陥検出処理を段階的に行うことができるので、検出される欠陥数が増加してもデータ処理装置の処理ロードを低減することができる。 - 特許庁

To provide a defect inspection apparatus capable of highly accurately detecting pattern defects without reducing the light quantity of a laser beam used for defect detection.例文帳に追加

欠陥検出に用いるレーザ光の光量が低減することなく、パターン欠陥の検出を高感度にて行うことができる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a visual inspection method and a visual inspection device of color filters performing inspection by improving detection capability of defects in the color filters, especially a void.例文帳に追加

カラーフィルタの欠陥、特に、白抜けの検出能力を向上させて検査することのできるカラーフィルタの外観検査方法、外観検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a high frequency flaw detection method by which welding defects can be inspected in the online of the manufacture line of weldments and cost is reduced.例文帳に追加

溶接物の製造ラインにおいて溶接欠陥をオンラインで検査することができ、しかも経費が安くて済む高周波探傷方法を提供する。 - 特許庁

Variations in the lift-off separation between a probe 1 and the surface of a structure 2 to be tested often mask the detection of defects in the structure.例文帳に追加

探触子（１）とテスト対象構造（２）の表面の間のリフトオフ分離のバラツキによって構造内の欠陥の検出がマスクされることが多い。 - 特許庁

To provide an ultrasonic flaw detection method for detecting defects precisely without being affected by the contamination and inclination of the surface of an inspection body.例文帳に追加

検査体表面の汚れや傾きに影響されることなく欠陥を高精度で検出することができる超音波探傷方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for detecting defects of a welding gun for a capacitor discharge type stud welding, enabling visual capturing, being capable of carrying out data inspection and being capable of exactly detecting defects in action of the welding gun, and also to provide a defect detection device.例文帳に追加

視覚的に捉えることができ、データ的点検が可能で、しかも正確に溶接ガンの作動良否の判定を行うことができるコンデンサ放電型スタッド溶接用溶接ガンの良否判定方法及び良否判定装置を提供する。 - 特許庁

METHOD, SENSOR AND APPARATUS FOR DETECTION OF SURFACE SHAPE, METHOD AND APPARATUS FOR DISCRIMINATION OF COIN, METHOD AND APPARATUS FOR DETECTION OF SURFACE DEFECTS AND VISUALIZATION APPARATUS FOR SURFACE SHAPE例文帳に追加

表面形状検出方法、表面形状検出センサ、表面形状検出装置、硬貨識別方法、硬貨識別装置、表面欠陥検査方法、表面欠陥検査装置および表面形状可視化装置 - 特許庁

To realize an imaging system with high performance not to generate degradation of image quality due to the increase of defects of pixels over aging by preventing erroneous detection due to reverse incident light through the finder.例文帳に追加

ファインダからの逆入射光による誤検出を防止し、経時的画素欠陥増加による画質劣化を生じない高性能な撮像装置の実現を図る。 - 特許庁

A detection circuit (RC circuit) which can impress an AC voltage to a wiring 2 is constituted while regarding disconnection defects 4 of the wiring 2 as a capacitor.例文帳に追加

配線２の断線欠陥４をキャパシタとみなし、配線２に交流電圧を印加することのできる検出回路（ＲＣ回路）を構成する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic flaw detection method of a steel bar hardly influenced by foreign substances and air bubbles attached to a surface of the steel bar, and accurately and inexpensively implementing ultrasonic flaw detection of defects that exist in the inside of the steel bar.例文帳に追加

棒鋼の表面に付着した異物や気泡の影響を大きく受けることなく棒鋼の内部に存在する欠陥を精度よく且つ低コストで超音波探傷することのできる棒鋼の超音波探傷方法を提供する。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus capable of preventing the generation of image density defects caused by differences or the like in the detection characteristics of a plurality of detectors for detecting the density of toner images and capable of stabilizing image density.例文帳に追加

トナー像の濃度を検出する複数の検出器の検出特性の違いなどに起因する画像濃度不良の発生を防止し、画像濃度の安定した画像形成装置を提供する。 - 特許庁

Signal intensity of the acquired image of the partial area and an area ratio between a desired inspection area and the partial area are used to determine a detection threshold so that the number of signals showing signal intensity equal to or more than the detection threshold becomes equal to or less than the target number of pseudo defects in the desired detection area.例文帳に追加

取得された一部領域の像の信号強度と、所望検査領域と一部領域の面積比を用い、所望検査領域において検出しきい値以上の信号強度を示す信号数が目標擬似欠陥数以下になるように検出しきい値を決定する。 - 特許庁

To provide an inspecting device for semiconductor pattern where, when a semiconductor circuit pattern region of a sample is inspected, a clear contrast between a defective part and a base material is obtained, various patterns of defects, voids and foreign matters of various materials are detected, and the defects are classified using the result of detection of the inspected defects, and a method for inspecting semiconductor pattern.例文帳に追加

試料の半導体回路パターン領域の検査を行う際に、欠陥部と下地で明確なコントラストが得られ、幅広い種類のパターンの欠陥，空隙，各種材質の異物を検出でき、その検査された欠陥検出結果を用いて欠陥を分類することができる半導体パターン検査装置及び半導体パターン検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a reflection type mask blank that can eliminate a decrease in yield due to discrepancy between the detection limit of a defect on a substrate surface and a demand for the number of defects of an EUV mask blank.例文帳に追加

基板表面の欠点の検出限界と、ＥＵＶマスクブランクの欠点数に関する要求とのずれによる歩留りの低下を解消することができるマスクブランクの製造方法。 - 特許庁

In reviewing the defects, by irradiating the primary electron beam on the testpiece in such a state that the deflection amount of the electrostatic deflector 12 is reduced than the detection time of defects, and by forming the secondary electron microscopic picture of the defect candidate of the testpiece 19, the three-dimensional SEM image is obtained.例文帳に追加

欠陥レビュー時には、静電偏向器１２の偏向量を欠陥検出時より低下させた状態で１次電子線を試料に照射して試料１９の欠陥欠陥候補の２次電子画像を形成することにより立体的なＳＥＭ像が得られる。 - 特許庁

To provide a defect detection method and a defect detection device capable of precisely detecting defects using a simple device even for a work-piece in a complicated shape.例文帳に追加

簡易な装置を用いて、複雑な形状のワークに対しても、精度良く欠陥を検出することができる欠陥検出方法および欠陥検出装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

This defect detection device for the optically transparent film A is equipped with a detection means 3 for detecting defects of the optically transparent film A, from an image acquired by imaging by the imaging means 1.例文帳に追加

撮像手段１による撮像で得られた画像から光透過性フィルムＡの欠陥を検出する検出手段３とを備える光透過性フィルムＡの欠陥検出装置に関する。 - 特許庁

The cells may be turned to bit file map for single-cell failures, thereby enabling detection of the localized defects due to the floating-body effects.例文帳に追加

セルは、単一セル障害を検出するようにファイル・ビットマップ化することができ、それによって浮動体効果による局在欠陥の検出が可能になる。 - 特許庁