Deprecated: The each() function is deprecated. This message will be suppressed on further calls in /home/zhenxiangba/zhenxiangba.com/public_html/phproxy-improved-master/index.php on line 456
「detection of defects」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索
[go: Go Back, main page]

1153万例文収録!

「detection of defects」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索


小窓モード

プレミアム

ログイン
設定

設定

Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > detection of defectsに関連した英語例文

セーフサーチ:オン

不適切な検索結果を除外する

不適切な検索結果を除外しない

セーフサーチについて

detection of defectsの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 231



例文

To provide a magnetic flux leakage flaw detection apparatus which is installed in an assembly line manufacturing magnetic materials, especially sheet irons (thin plates) to detect internal defects and surface defects of a member to be detected and especially to provide a sensitivity calibration means which conducts the sensitivity calibration of a magnetic sensor detecting magnetic flux leakage easily and with high precision.例文帳に追加

本発明は、磁性材、特に薄鋼板(薄板)を製造するラインに設置して被探傷材の内部欠陥、表面欠陥を探傷する漏洩磁束探傷装置に関し、特に、漏洩磁束を検出する磁気センサの感度校正を簡便かつ高精度に行う感度校正手段を提供する。 - 特許庁

Or the detection of the untrue defects can be suppressed and the pattern can be rapidly inspected by setting the selected area to reference data by using a conversion part, reading a predetermined threshold corresponding to inspection accuracy of each area and determining and detecting the defects.例文帳に追加

また、本発明によれば、変換部で基準データに選択エリアを設定し、欠陥判定部でアルゴリズムを用いて、各エリアの検査精度に応じた所定のしきい値を読み出し、欠陥の判定、検出を行うことにより、擬似欠陥の検出を抑制しつつ、かつ迅速なパターン検査をすることが可能である。 - 特許庁

To provide a dot line printer which eliminates defects such as a drop in detection accuracy and defective printing in a detection mark section and makes an improvement in a stain by ribbon and a life while preventing the ink in the joint part of an endless ink ribbon from transferring to a printing paper and improving the life of the joint part.例文帳に追加

エンドレスインクリボンの継ぎ目部分のインクが印字用紙へ転写することを防ぎ、継ぎ目の寿命向上の目的を満足しつつ、検出精度の低下や検出マーク部の印刷不良といった欠点をなくし、リボンによる汚れ、寿命向上を達成することを課題とする。 - 特許庁

To provide a fisheye detection determination method for detecting fisheye defects generated during a manufacturing process of a thermoplastic resin film, capable of surely discriminating fisheyes caused by foreign matters, caused by raw material gas and caused by gel, and allowing number management for each kind thereof.例文帳に追加

熱可塑性樹脂フィルム製造中に発生するフィッシュアイ欠点を検出し、異物起因、原料カス、ゲル起因を確実に判別し、種類ごとに個数管理を行うフィッシュアイ検出判定方法を提供する。 - 特許庁

例文

To provide a defect inspection method for an axially symmetric object, which permits handy and quick inspection of defects such as chips or burrs with a higher detection accuracy as caused at a corner part, in the inspection of products with the aim of guaranteeing the quality thereof.例文帳に追加

品質保証を目的とした製品検査において、角部に発生する欠けやバリ等の欠陥を、高検出精度、簡便、かつ迅速に検査することができる軸対称物体の欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁


例文

To provide a cleaning device or the like provided with a cleaning blade brought into contact with a cleaning object member in a freely attachable and detachable manner, wherein "cleaning blade curl" and "cleaning blade squeaking" are prevented without increasing costs and detection defects of a position detection sensor due to dirt of a detection mark provided to the cleaning object member are prevented.例文帳に追加

被クリーニング体に接離自在に当接するクリーニングブレードを備えたクリーニング装置等に関し、コストアップを招くことなく、「クリーニングブレードめくれ」や「クリーニングブレード鳴き」を防止するとともに、被クリーニング体に設けられた検出用マークの汚れに起因する位置検出センサの検出不良を防止したクリーニング装置等を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a defect detector which attains improvement in defect detection output and reliability by highly accurately detecting various defects to occur on the surface of an inspection object.例文帳に追加

検査対象物の表面上に発生する様々な欠陥を高精度に検出可能とすることで、欠陥検検出力及び信頼性の向上を図った欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect detector for easily removing pseudo defect images generated by vibration, or the like and for preventing the erroneous detection of pseudo defects.例文帳に追加

本発明は、振動等により生じた擬似欠陥画像を容易に除去することが出来、擬似欠陥の誤検出を防止出来る欠陥検出装置を提供することを可能にすることを目的としている。 - 特許庁

To provide an irregular pattern detector and an irregular pattern detection method for easily detecting minute defects of irregular patterns, such as a mold release pattern in a groove, in an optical recording medium, or the like.例文帳に追加

光記録媒体等におけるグルーブの離型パターンなど、凹凸パターンの微細な欠陥を容易に検出することが可能な凹凸パターン検出装置及び凹凸パターン検出方法を提供する。 - 特許庁

例文

To provide a pattern inspection apparatus and a method for it which can finely set an area where a high accuracy inspection is required, suppress detection of untrue defects and rapidly inspect a pattern.例文帳に追加

高精度の検査が必要なエリアをきめ細かく設定し、かつ擬似欠陥の検出を抑制しつつ、迅速にパターン検査をすることが可能なパターン検査装置及びその方法を提供する。 - 特許庁

例文

To provide a defect detection method for easily detecting defects in an SOI substrate by performing etching while restraining deterioration in the surface roughness of a silicon film and uniformity in a film thickness within a plane.例文帳に追加

シリコン膜の表面粗さおよび面内の膜厚均一性の悪化を抑えながらエッチングすることで、SOI基板の欠陥を検出容易にする、欠陥検出方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a drawing device which efficiently detects errors in the drawing device causing defects even if a memory has a small limited capacity, and also to provide an error detection method of the drawing device.例文帳に追加

メモリが有限の小さな容量を有していても、効率的に欠陥の原因となる描画装置内のエラーを検出することのできる描画装置、及び描画装置のエラー検出方法を提供する。 - 特許庁

Defects in repetitive patterns in a multilayer substrate are detected by a defect detection part provided in the defect correcting device, and when the defects detected by the defect detection part overlap with a region where an occurrence of the interlayer short-circuit defect is assumed, a control part 301 provided in the defect correcting device generates an object corresponding to a defect correction technique for the interlayer short-circuit defect.例文帳に追加

欠陥修正装置が備える欠陥検出部により多層基板における繰り返しパターン内の欠陥を検出し、欠陥検出部で検出された欠陥が層間ショート欠陥の発生が想定される領域に重なる場合、欠陥修正装置が備える制御部301により層間ショート欠陥用の欠陥修正手法に対応するオブジェクトを生成する。 - 特許庁

When specifying the position to be observed on a sample and applying electron beams for forming an image, based on the position information of a defect inspected and detected by other inspection device, observation of electrical defects that can be conducted with a potential contract by designating electron beam irradiation conditions, detectors, detection conditions, and the like, according to the types of defects to be observed.例文帳に追加

他の検査装置で検査され、検出された欠陥の位置情報をもとに、試料上の被観察位置を特定し、電子線を照射し画像を形成する際に、観察すべき欠陥の種類に応じて電子ビーム照射条件および検出器、検出条件等を指定することにより、電位コントラストで観察可能な電気的欠陥が可能になる。 - 特許庁

To provide a method for detecting a lithographic printing precursor which enables the easy and quick detection of manufacturing defects in a layer especially colorless or as unlimitedly near colorlessness layer in a method for detecting manufacturing defects of a press development lithographic printing precursor which is little in printing ink hue variation or coloration of dampening water due to components to be removed in press development.例文帳に追加

機上現像の際に除去される成分による印刷インキ色相変化や湿し水着色が少ない機上現像型平版印刷版原版の製造欠陥検査方法において、特に無色或いは限りなく無色に近い層の製造欠陥を容易かつ迅速に検出出来る平版印刷版原版の検査方法を提供すること。 - 特許庁

In step S1, a defect detection processing for extracting the ordinates of a new defect and a detection size by a prescribed process is performed, after a prescribed process by using an area reducing function of an inspection device, and in step S3, existence of a new defect is determined in chip unit by a discrimination condition validating all detected new defects.例文帳に追加

ステップS1で、検査装置の面積縮小機能を用いて所定の工程後に所定の工程による新規欠陥の座標及び検出サイズを抽出する欠陥検出処理を行い、ステップS3で、検出されたすべての新規欠陥を有効とする識別条件で新規欠陥の有無をチップ単位に判定する。 - 特許庁

To provide an apparatus and method for inspecting patterns, capable of preventing incorrect detection of defects while shortening the inspection time by controlling the focal deviation of an electron beam or the deviation of irradiation position, which is caused by the charging phenomenon on the surface of a sample incident to irradiation with an electron beam in the inspection of fine patterns.例文帳に追加

微細なパターンの検査において、電子ビームの照射によって生じる試料表面の帯電現象による電子ビームの焦点ずれや照射位置のずれを抑制し、欠陥の誤検出を防止するとともに、検査時間を短縮できる検査装置,検査方法を提供する。 - 特許庁

The method for detecting and classifying pixel defects of the TFT array substrate includes a signal acquiring step for acquiring a detection signal from a plurality of detection signal acquiring points in one pixel and a signal processing step for dividing one pixel into a plurality of regions and performing defect judgement in the pixel using the divided region as one unit by using the detection signal in the detection signal acquiring point existing in each divided division processing region.例文帳に追加

TFTアレイ基板のピクセル欠陥を検出し分類する方法であり、1ピクセル内の複数の検出信号取得点から検出信号を取得する信号取得工程と、1ピクセルを複数の領域に分割し、分割した各分割処理領域内に存在する検出信号取得点の検出信号を用いて、分割領域を単位としてピクセル内の欠陥判定を行う信号処理工程とを備える。 - 特許庁

A device for reproducing magnetic recordings, which includes a means for controlling the device to suppress reproduction signals for coping with the defects of picture signals by using detection signals output from a detector which detects the defects, for special reproduction to reproduce recordings by sending a magnetic tape at high speed. 例文帳に追加

磁気記録再生装置において磁気テープを高速送りしながら再生する特殊再生時に、映像信号部分の欠落区間を検出する検出器の検出出力により、前記欠落区間には再生信号を抑制する方向に制御する手段を有したことを特徴とする磁気記録再生装置。 - 特許庁

The detection of defects of a sealing agent applied pattern is made easy by incorporating a fluorescent substance developing color when it is irradiated with a visible or ultra violet ray into the sealing agent and developing color of the sealing agent by irradiating the visible or ultra violet ray.例文帳に追加

シール剤中に、可視光または紫外線を照射した場合に発色して見える蛍光物質を含有させ、可視光又は紫外線の照射によりシール剤を発色させることで、シール剤塗布パターンの欠陥の検出を容易にする。 - 特許庁

To provide a weld joint method for a reinforcing bar in which the joining strength of the reinforcing bar by the CO2 gas shielded metal arc welding is consistent and improved, the acquisition ratio of flaws such as defects in a flaw detection of a weld part by the ultrasonic wave is improved.例文帳に追加

炭酸ガスアーク溶接による鉄筋の接続強度の一定化と向上が図れ、かつ、超音波による溶接部探傷検査での欠陥等の探傷の捕捉率を向上させることができる鉄筋の溶接継手工法を提供する。 - 特許庁

To provide a device and a method for detecting a hole defect detecting accurately existence of a hole defect and the position if a hole defect exists, by preventing surely excessive detection of hole defects of an inspection object by a light receiving part.例文帳に追加

受光部による被検査物の穴欠陥の過剰検出を確実に防止して、穴欠陥の有無、及び穴欠陥があった場合のその位置の検出を精度良く行うことができる穴欠陥検出装置及び穴欠陥検出方法を得る。 - 特許庁

To restore high-frequency components of an image which are not correctly restored by a conventional method because of differences in color and sensitivity for each pixel through detection and correction processing for pixel defects of an image sensor and demosaic processing for color image sensor output.例文帳に追加

画像センサの画素欠陥の検出および補正処理、カラー画像センサ出力のデモザイク処理において、従来方法では画素ごとの色や感度の違いに起因して正しく復元できなかった画像の高周波成分を復元する。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus which can detect the amount of moisture contained in a paper in conveying, perform a transfer control on the basis of the detection result, and then, prevent an occurrence of image defects, such as void (white spot), toner scattering, in the transferred image.例文帳に追加

搬送中の用紙一枚毎の含水分量を、その検出結果に応じて転写制御を可能とし転写像に白抜け(白ポチ)やトナー散りと呼ばれる画像欠陥が発生するのを回避可能な画像形成装置を提供する。 - 特許庁

To provide an epitaxial wafer that has small surface roughness and low haze level of a surface of an epitaxial film, thereby enabling detection of LPDs of smaller sizes, to provide an epitaxial wafer wherein formation of pit-like defects is reduced, and to provide a method for manufacturing the same.例文帳に追加

表面ラフネスが小さく、エピタキシャル膜の表面上のヘイズレベルが小さく、より微小サイズのLPDについても検出可能であるエピタキシャルウェーハを提供することができ、さらに、ピット状欠陥の発生が低減されたエピタキシャルウェーハを提供を提供することにある。 - 特許庁

In this invention, a circumferential flaw is detected in a totalized track domain exceeding a standard deviation value on a defect detection amount (the number of detected defects) classified by radius in defect number histogram data classified by radius.例文帳に追加

この発明は、半径別の欠陥数ヒストグラムデータにおける半径別の欠陥検出量(欠陥検出個数)についての標準偏差値を越える集計トラック領域において、円周疵の検出をする。 - 特許庁

To provide an eddy-current test probe and an eddy-current test method using the probe having high detection precision to detect defects of a heat exchanger tube with inner fins.例文帳に追加

インナーフィン付き伝熱管における伝熱管自体に発生した欠陥の検出精度を向上させることができる渦流探傷検査用プローブおよびこれを用いる渦流探傷検査方法を提供することである。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for displaying printing defects in which defect detection data are collected and processed, and displayed as a graph on a desired time axis for each desired segment in a width direction of a printing machine.例文帳に追加

印刷機幅方向における所望の区間ごとに、所望の時間軸において、欠陥検出データを集計処理し、それをグラフとして表示する印刷欠陥表示方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide a detection apparatus of a critical micellar concentration of a interfacial active agent by taking notice of an interfacial adsorption phenomenon and providing an optical transmission path with a detecting function and an information transmitting function so as to eliminate the weakness due to conventional defects, slow and troublesome measuring method.例文帳に追加

従来からの長時間、煩雑な測定方法の欠点を取り除くため、界面の吸着現象に注目し、かつ光伝送路に検知機能と情報伝達機能を与えて界面活性剤の臨界ミセル濃度の測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection apparatus for substrates, which substantially improves accuracy in defect inspection when light reflected from substrates are detected to inspect defects of the substrates on the basis of results of the detection despite a simple constitution and having cost advantage.例文帳に追加

基材からの反射光を検出してその結果に基づいて基材の欠陥検査をおこなうにあたり、構成が簡易であると共にコスト的に有利でありながら、欠陥検査の精度を著しく向上することができる基材の欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

A correction control part 4 compares pixel defect detection signals with respect to multiple frames, determines that the pixel defect is the true one when the same kind of pixel defects exist at the same pixel positions of the multiple frames, and indicates the correction of the pixel defect to a pixel defect correction part 5.例文帳に追加

補正制御部4は、複数フレームに対する画素欠陥検出信号を比較し、複数フレームの同じ画素位置に同種の画素欠陥が存在している場合は真の画素欠陥と判定し、画素欠陥補正部5に対し画素欠陥の補正を指示する。 - 特許庁

To provide an electronic component mounting device and a bonding defect detection method by which bonding defects can be detected even for an object incapable of securing temperature uniformity in a plurality of electrodes in the electronic component mounting of bonding the plurality of electrodes at the same time.例文帳に追加

同時に複数電極を接合する電子部品実装において、複数電極に対して温度均一性が保障されない対象であっても、接合不良を検出できる電子部品実装装置及び接合不良検出方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a release film in which detection of defects, foreign substances, or the like is carried out with high accuracy in a visual inspection by a cross-Nicol method, one of the inspection methods of a polarizing plate, and which is not easily scratched in the production process of the release film or the process in which the release film is used.例文帳に追加

偏光板の検査方法の一つであるクロスニコル法による目視検査において、欠点や異物等の検出を高精度で実施することができ、離型フィルムの製造工程内や離型フィルムが使用される工程内でキズの入りにくい離型フィルムを提供する。 - 特許庁

The liquid crystal deflection element 102 corrects the scanning position and defects the laser beam which is made incident on a polygon mirror 7 on the basis of the detected result from a laser beam detector 101, and the detection of the scanning position of the laser beam is performed unsynchronized with the output timing of an image forming signal.例文帳に追加

液晶偏向素子102はレーザビーム検出器101からの検出結果に基づいて、走査位置の補正、ポリゴンミラー7に対して入射するレーザビームの偏向を行うが、レーザビームの走査位置検出は画像形成信号の出力タイミングと非同期に実行される。 - 特許庁

To overcome problems in a conventional defect detection technique in which defects of electric resistance welded parts cannot be detected sufficiently, and mixing of an electric resistance welded pipe including a local part deteriorated in mechanical properties into a resultant product cannot be prevented in some cases.例文帳に追加

従来の欠陥検出技術では電縫溶接部の欠陥を十分に検出できるまでには至っておらず、機械的特性の劣化した局部を含む電縫鋼管が製品に混入する場合があるという事態を防ぎ難い。 - 特許庁

A focus deviation detection device according to the present invention detects the focus deviation of an imaging device in a surface defect inspection device inspecting surface defects based on image data that is produced by imaging the surface of a test subject being transported with the imaging device.例文帳に追加

本発明の焦点ズレ検出装置は、搬送される被検査体の表面を撮像装置により撮像した画像データに基づいて、表面欠陥を検査する表面欠陥検査装置において、撮像装置の焦点ズレを検出する。 - 特許庁

To provide a defect detection method and its program for calculating a quasi-straight line with accuracy that will not deteriorate, by using a simple means, in a state of on-line real time where inspecting objects are flowing, when detecting defects in the profile shapes of the inspecting objects.例文帳に追加

検査物の外形の欠点を検出する場合に、検査物が流れているオンラインリアルタイムの状態で、簡易な手法により、精度が低下することのない疑似直線を算出可能な欠点検出方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁

Namely, when a predetermined number of defects are not removed from the substrate through the cleaning processing on the substrate, the possibility that a defect is present in the mask substrate is high, so detection processing for the defect in the substrate is carried out.例文帳に追加

すなわち、基板の洗浄加工処理によって基板から所定数の欠陥が除去されなかった場合には、マスク基板の内部に欠陥が存在する可能性が高いので、基板内部の欠陥の検出処理行い。 - 特許庁

To provide a pattern defect detection device that detects a fluorescent image, a diffusion light image, and a reflection light image of a substrate formed by laminating dry films so as to easily detect various defects occurring in an exposure process.例文帳に追加

ドライフィルムが積層された基板の蛍光イメージと散乱光イメージ、そして反射光イメージをさらに検出して、露光工程で発生する様々な欠陥を容易に検出できるようにしたパターン欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

Moreover, since the quality of the pressing work can be determined by comparing pressing parameters of the pressing work calculated on the basis of these pieces of pressure information and position information, with specified pressing condition values stored in a memory 33 previously, the pressing work can be always performed under the proper pressing conditions, and detection omission of the potential short-circuit defects can be reduced, so that the accuracy of detection is enhanced.例文帳に追加

また、これらの圧力情報および位置情報をもとに算出した当該押圧作業の押圧パラメータと、予めメモリ33に記憶された押圧条件規定値を比較して当該押圧作業の良否判定を行なうことができるため、常に適正な押圧条件で押圧作業を実施することができ、潜在的短絡欠陥の検出漏れを低減することが可能となり、検出精度が向上する。 - 特許庁

Further, since conventionally the connection test has been conducted between the logic section and the line address, the column address in the whole LSI operation test resulted in low defect detection rate; however it can be conducted in a scan test and a test pattern which has a high detection rate of the circuit defects can be created automatically.例文帳に追加

さらには、ロジック部とメモリ間の行アドレス及び列アドレスの接続テストを従来は、LSI全体の実動作テストで行っていたため、回路の故障検出率を低かったが、この発明によりスキャンテストにより行うことができ、回路の故障検出率が高いテストパターンを自動で作成することができる。 - 特許庁

To provide a rail flaw detection device that inspects internal defects by allowing ultrasonic waves to enter a track rail by a probe, and especially includes a variable width type guide wheel where the probe of the rail flaw detection device is positioned on a rail front part and ultrasonic waves impinge on the entire rail appropriately even if the track rail is deformed.例文帳に追加

軌道レールに探触子より超音波を入射し内部欠陥を検査するレール探傷装置であって、特に、軌道レールが変形していても、レール探傷装置の探触子がレール腹部上に位置し、正しくレール全体に超音波が入射されるような可変幅式案内車輪を備えるレール探傷装置を提供する。 - 特許庁

Using a defect detection sensitivity correction standard substrate including a pattern 8 and pseudo-defective sections 7 that are cone defects differing in size and are randomly formed on a silicon substrate 1, defect detection sensitivity is used in product management as an indicator for judging sensitivity adjustment after a lamp 21a in a lighting section 21 of a defect detecting device is replaced.例文帳に追加

パターン8と、サイズの異なるコーン欠陥であり、シリコン基板1上にランダムに形成された擬似欠陥部7とを備えた欠陥検出感度校正標準基板を用いて、欠陥検査装置の照明部21におけるランプ21aの交換後の感度調整を判断する指標として製造管理に利用する。 - 特許庁

To provide a pattern for evaluation and a photomask for forming the pattern for evaluation capable of evaluating irregularity defect detection capacity and capacity for detecting and analyzing periodicity of irregularity defects in an inspection device for inspecting irregularities of a body to be inspected having a periodic pattern.例文帳に追加

周期性のあるパターンをもつ被検査体のムラ検査をする検査装置の、ムラ欠陥検出能力やムラ欠陥の周期性を検出・解析する能力を評価することが可能な、評価用パターンおよびその評価用パターンを形成したフォトマスクを提供することを目的とする。 - 特許庁

By providing an ultrasonic test equipment 20 on the inlet side of a pickling tank 8 in a pickling stage after hot rolling, flaw detection is continuously executed about the defects of the hot rolled steel sheet 15 during conveying, stamp (marking) is executed on the surface of the steel sheet in defective parts with marking devices 50 (50a, 50b).例文帳に追加

熱間圧延後の酸洗工程における酸洗槽8の入側に、超音波探傷装置20を設けて、搬送中の熱延鋼板15の欠陥について連続的に探傷を行い、マーキング装置50で欠陥位置の鋼板表面に刻印(マーク)を施す。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus that captures cracks generated on a transparent plate, such as a glass plate, by images for detection, and detects defects in the transparent plate for detecting cracks regardless of the relationship between the direction of cracks and the irradiation direction of a lighting means.例文帳に追加

ガラス板のような透明板に発生したクラック(割れ)を画像で捉えて検出する検査装置であって、クラックの方向と照明手段の照射方向との関係にかかわらずクラックの検出が可能な透明板の欠陥を検出する検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The kind of a defect is detected, and signal processing is performed according to this defect, by providing an information processor with an envelope detection part 11 for detecting an envelope of a reproduction RF signal, and a defect detection device 1 comprising a three-block configuration for classifying the defects into a micro defect, a degenerated defect, and a difference defect.例文帳に追加

再生RF信号のエンベロープを検出するエンベロープ検出部11と、ディフェクトをマイクロディフェクト、縮退ディフェクト、及び差分ディフェクトの3種類に分類するための3つのブロック構成とを備えたディフェクト検出装置1を情報処理装置に設けることにより、ディフェクトの種類を検出し、このディフェクトに応じた信号処理を実行する。 - 特許庁

In a defect detection method for remotely detecting defects S that are present in a girder 4 of a ceiling crane as a large steel structure, the girder 4 for causing repetitive stress variations by the drive of a crane carriage 7 is photographed by an infrared camera 9, and temperature distribution variations on the surface of the girder 4 are measured as images, thus detecting defects present in the ceiling crane.例文帳に追加

大型鋼構造物として天井クレーンのガーダ4に存在する欠陥(S)を離れた場所から検出する欠陥検出方法において、クレーン台車7の走行により繰り返し応力変動が生じているガーダ4を赤外線カメラ9により撮影して、ガーダ4の表面の温度分布変動を画像として計測し、これにより天井クレーンに存在する欠陥を検出する。 - 特許庁

To provide a defect detection device capable of determining a defect with a proper criterion in accordance with the proportion of included colors, even when the defect includes a pixel of a plurality of colors, in a technique for detecting defects of a display panel, by picking up by a camera an image displayed on the display panel, including pixels of a plurality of colors such as a color LCD panel.例文帳に追加

本発明は、カラーLCDパネル等の複数の色の絵素を備える表示パネルに表示された画像をカメラで撮像し、表示パネルの欠陥を検出する技術に関し、欠陥が複数の色の絵素を含む場合においても、含まれる色の割合に応じて適切な基準で判断することができる欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

例文

The printing image detection method is used for management of a printing balance in a direction perpendicular to the printing direction, and detects printing defects from fine line information obtained by measuring the fine lines of each color printed with a detection device responding to the fine lines, in which the fine lines of each color are arbitrarily allotted in a direction perpendicular to the printing direction on the printing image.例文帳に追加

印刷方向に対して垂直方向の印刷バランスの管理に使用する方法であって、印刷画像には印刷方向に対して垂直方向に任意に各色の細線を配し、該細線に対応する検知装置により、印刷された各色の細線を測定して得られた細線情報から印刷不良を検知する方法であることを特徴とする印刷画像検知方法。 - 特許庁




  
Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
  
Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する
英→日 日→英
こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する

©2025 GRAS Group, Inc.RSS