「detection of defects」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a technology for detecting defects with high accuracy, or a technology for supporting defect detection, regardless of a surface shape of an inspection object to be subjected to visual inspection.例文帳に追加

外観検査を行う検査対象の表面形状によらず、高い精度で欠陥を検出する技術または欠陥の検出を支援する技術を提供する。 - 特許庁

To provide a water leak inspection agent and a water leak detection method allowing visual inspection of the subject of inspection over a long period for any defects causing leaks.例文帳に追加

検査対象物中にある水漏れを生じる欠陥を長期間にわたって目視で検出できる水漏れ検出剤および水漏れ検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for evaluating eddy-current flaw detecting signals and capable of improving accuracy in evaluating the depth of defects to be detected by eddy-current flaw detection.例文帳に追加

渦流探傷により検出する欠陥深さの評価精度を向上させることができる渦流探傷信号の評価方法及び装置を提供する。 - 特許庁

The defect detection parameters determine what degree the difference between the surface image of a normal semiconductor wafer and the surface image of a semiconductor wafer having defects is allowed.例文帳に追加

欠陥検出パラメータは、正常な半導体ウェハの表面画像と、欠陥が生じている半導体ウェハの表面画像との差をどの程度許容するか定めている。 - 特許庁

To provide an application method capable of reducing production cost of organic electroluminescent panels through easy and quick detection of jetting defects of a nozzle head of an ink-jet apparatus; and a substrate for an organic electroluminescent panel.例文帳に追加

インクジェット装置のノズルヘッドの吐出異常を簡単かつ迅速に検出することで有機ＥＬの製造コストを低減できる塗布方法，及び，有機ＥＬパネル用の基板を提供すること。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus, an inspection method, and a sensor output correction method that image a target to be inspected by a one-dimensional or two-dimensional photoelectric conversion image sensor, improving the contrast of a detection image to be detected, reducing the non-detection and a false report of defects, and also detecting fine defects.例文帳に追加

被検査対象から一次元もしくは二次元の光電変換イメージセンサで撮像して検出される検出画像のコントラストを向上させて欠陥の見逃しや虚報を低減し、微細な欠陥も検出可能にした検査装置及び検査方法並びにセンサ出力補正方法を提供する。 - 特許庁

To provide a heat exchanger that allows eliminating defects in welded parts by enabling detection and identification of internal defects through an inspection using radioactive rays or the like and that is excellent in manufacturability and a method for manufacturing the heat exchanger.例文帳に追加

放射線等を用いた検査により内部欠陥を検知、識別することが可能となり溶接部の欠陥を無くすことができると共に、製作性に優れた、熱交換器及び熱交換器の製造を実現することを目的とする。 - 特許庁

To specify a defect position without wrong detection from an image taken in first magnification, and to enable imaging in second magnification, in a method for observing many defects in a short time by using an image acquisition means, concerning defects of a sample.例文帳に追加

試料上の欠陥を，画像取得手段を用いて短時間に多数の欠陥観察を行う方法において，第１の倍率で撮像した画像から誤検出なく欠陥位置を特定し，第２の倍率での撮像を可能とする。 - 特許庁

The patterns of the test mask are transferred onto a wafer; the certified defect dimension of each kind of defects is determined; and the detection sensitivity of the defect inspection apparatus, with respect to a semitransparent defect, is controlled by using the test mask in the defect inspecting apparatus.例文帳に追加

テストマスクをウェハーへ転写し、各種欠陥の保証欠陥寸法と決定し、欠陥検査装置にて、テストマスクにより半透明欠陥に対する欠陥検査装置の検出感度調整する。 - 特許庁

To reconcile a high position resolution of a scanning image with a short inspection time; to heighten position accurately of the scanning image to a pixel position; and to improve detection accuracy of defects, in inspection of a TFT array.例文帳に追加

ＴＦＴアレイの検査において、走査画像の高い位置分解能と短い検査時間とを両立させ、ピクセル位置に対する走査画像の位置精度を高め、欠陥の検出精度を向上させる。 - 特許庁

To provide a defect detection apparatus and a defect detection method for detecting the defect of an object to be inspected reliably by applying light for detecting defects to the site of the object to be detected whose position is regulated reliably, and for miniaturizing the entire defect detection apparatus.例文帳に追加

位置が確実に規制される検査対象物の部位に欠陥検出用の光を照射して、検査対象物の欠陥を確実に検出することができ、しかも欠陥検出装置全体の小型化を図ることができる欠陥検出装置および欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide an eddy current flaw detection probe for a pulsed eddy current flaw detector inspecting magnetic materials, such as carbon steel, capable of detecting defects inherent in an inspection object at a high resolution, while maintaining defect detection sensitivity.例文帳に追加

炭素鋼等の磁性材に対する検査を行うパルス渦電流探傷装置の渦電流探傷プルーブにおいて、被検査体に内在する欠陥を、欠陥検出感度を維持しつつ高分解能で検出する。 - 特許庁

To provide a pixel defect detection/correction device that detects pixel defects even if there is a large value of the pixel in the adjacent same color pixels, an image pickup device, a pixel defect detection/correction method, and program therefor.例文帳に追加

同色隣接画素に大きな値の画素が存在する場合であっても画素欠陥を検出することが可能な画素欠陥検出補正装置、撮像装置、画素欠陥検出補正方法、およびプログラムを提供する。 - 特許庁

In an inspection method of surface defects of a transparent resin film, by using a reflection optical system composed of an irradiation device 1 for ultraviolet rays having a wavelength of 350 to 380 nm and a detection device 5 having the detection capability for the wavelength, defects on the surface of a resin film 2 on the ultraviolet irradiation side, which is transparent in visible light and opaque at the wavelength, are detected.例文帳に追加

波長３５０〜３８０ｎｍの紫外線の照射装置１と、当該波長に検出能力を有する検出装置５からなる反射光学系を用い、可視光において透明な樹脂フィルム２であって当該波長において不透明な樹脂フィルムの紫外線照射側表面にある欠点を検出する透明樹脂フィルムの表面欠陥の検査方法。 - 特許庁

To provide a lamination-type gas sensor element and a gas sensor equipped with the gas sensor element capable of urging the detection part with early activation, the defects of which are less likely to take place by becoming wet.例文帳に追加

被水による損傷の発生が起こり難く、且つ検出部の早期活性化を促すことができる積層型ガスセンサ素子及びこの素子を備えるガスセンサを提供する。 - 特許庁

To permit detection of defects on a liquid crystal display without omission, from the directly above or from the direction of an optionally selected oblique angle, in an apparatus for optically inspecting a surface to be inspected.例文帳に追加

光学的被検査面検査装置において、真上からや、任意に選択された斜角の方向から、もれなく液晶デイスプレイ上の欠陥を検出することができるようにする。 - 特許庁

To solve the problem in detection of a pattern of a glass substrate for flat panel display and defects of a peripheral part thereof wherein the distortion of the glass substrate by dead weight causes gradation disorder by focal point slippage and distortion of illuminating transmitted light in a taken image, which deteriorates or unstabilizes the detection accuracy.例文帳に追加

フラットパネルディスプレイ用のガラス基板のパターンと周辺部の欠陥を画像処理で検出する際、ガラス基板の自重による撓みにより撮像画像に焦点ズレと照明透過光のゆがみによる階調乱れが生じ、検出精度が低下、不安定化している。 - 特許庁

To increase time and power efficiency in detection while securing reliability by changing resolution of detection in association with the structure or state of the recording medium of an optical disk or the use state of a device, in detecting stains or defects of an optical disk recording/playback device.例文帳に追加

光ディスク記録再生装置の汚れ及び欠陥の検出において、光ディスクの記録媒体の構造や状態、または装置の使用状況に関連して検出の分解能を変化することで、信頼性を確保しつつ時間的電力的に効率のよい検出を行う。 - 特許庁

A detection rate is calculated in every of the defects based on whether the same defect is detected in a plurality of differential images or not, based on a result in a process for detecting the defect on a surface of the silicon wafer, and the shape of the defect is identified in the every defect on the surface of the silicon wafer, according to the detection rate.例文帳に追加

シリコンウエハ表面上の欠陥を検出する工程の結果から、同一の欠陥が複数の差分画像から検出されたかにより欠陥毎に検出率を算出し、前記検出率に従って前記シリコンウエハ表面上の欠陥毎に該欠陥の形状を識別する。 - 特許庁

In defect detection of conductor patterns 20, 21, there is a case that defects cannot be detected by a comparative inspection, using a periodic pitch, in each outermost pattern 22, 23, 26, and 27.例文帳に追加

導体パターン２０，２１の欠陥検出において、最外部パターン２２，２３，２６，２７での周期ピッチを用いた比較検査では、欠陥を検出できない場合がある。 - 特許庁

To provide an eddy current flaw detection apparatus which can detect even minute defects present in a steel strip by a high S/N ratio with noises because of an uneven magnetic permeability in the steel strip suppressed.例文帳に追加

鋼帯中の透磁率の不均一に起因する雑音を抑制した高いＳ／Ｎにより鋼帯に存在する微小な欠陥まで検出できる渦流探傷装置。 - 特許庁

To provide a defect detection method capable of detecting defects with high accuracy, without having to require time or effort in setting filters, even when an object to be inspected is a complex structural surface.例文帳に追加

複雑な構造面を検査対象とする場合であっても、フィルタ設定に手間が掛からず、欠陥を高精度に検出可能な欠陥検出方法の提供。 - 特許庁

To allow the work for irradiating a defect detection object with a radiation while detecting the defects of its solid insulator to be performed efficiently and easily without erroneous determination.例文帳に追加

欠陥検出対象物に放射線を照射しながらその固体絶縁物の欠陥を検出する作業を、効率よく且つ誤判定なく容易に実施する。 - 特許庁

To provide a surface defect inspection method which enables accurate detection of surface defects in information recording media which can cause errors, and to provide a surface defect inspection apparatus.例文帳に追加

エラーとなり得る情報記録媒体の表面の欠陥を精度良く検出可能な表面欠陥検査方法および表面欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a production method of a polyimide film free of defects by detecting defects such as coating irregularity or coating stripes on a film surface during production in an early stage, specifying the cause of coating irregularity by using the detection results and taking countermeasure, so as to prevent occurrence of coating irregularity of coating stripes.例文帳に追加

本発明は、製造途中においてフィルム表面の塗工ムラ・塗工スジといった欠陥を早期に発見し、その結果を利用して塗工ムラ原因の特定、対策を取ることで、塗工ムラや塗工スジ発生の防止を行い、欠陥の無いポリイミドフィルムの製造方法の提供を目的とする。 - 特許庁

This scanning electron microscope is provided with the function of computing corrected precision after coordinates compensation to be displayed by using a vector 39, the function of automatically determining scale factor during search in automatic detection of foreign materials/defects after coordinates compensation from acquired information, and the function of computing appearance ratio of foreign materials/defects and time required from search scale factor and measuring conditions.例文帳に追加

座標補正後の補正精度を算出し、ベクトル３９を用いて表示する機能、得られた情報から座標補正後異物／欠陥を自動検出する際の探索時の倍率を自動で決定する機能、また探索倍率と測定条件から異物／欠陥の出現率とかかる時間を算出する機能を設けた。 - 特許庁

To provide an improved method of defect detection and reporting technique for detecting and differentiating defects of interest that are difficult to detect accurately, using current inspection techniques, while minimizing the reporting of non-defective areas reported as being defective.例文帳に追加

非欠陥の範囲を欠陥として報告することを最小にしながら、現在の検査技術を用いて、正確に検出するのが困難である関心の欠陥を検出し且つ見分ける。 - 特許庁

To provide a shading correction method for improving precision for removing shading in a display defect detection step of a display device and detecting display defects precisely, and to provide a defect detection method, a defect detector, and a control method program of the defect detector.例文帳に追加

表示デバイスの表示欠陥検出工程においてシェーディング除去の精度を高め、表示欠陥を高精度に検出できるシェーディング補正方法、欠陥検出方法、欠陥検出装置、その制御方法プログラムを提供すること。 - 特許庁

To detect defects in a minute wiring pattern formed on a sample with high sensitivity, by improving the contrast of an optical image of the sample formed by the interference between the 0-th and higher-order diffracted lights of reflected light, arising from illuminating light reflected by the sample surface, in a defects detection optical system which detects defects in a pattern formed on the sample surface.例文帳に追加

試料表面に形成したパターンの欠陥を検出する欠陥検出光学系において、照明光により試料表面で反射した反射光の０次光と高次回折光の干渉により形成される試料の光学像のコントラストを向上させることにより、試料上に形成された微細な配線パターンの欠陥を感度良く検出する。 - 特許庁

To provide a screen printing machine and a foreign matter detection method in the screen printing machine, which shortens operation time required for detection of foreign matters on a substrate to prevent lowering of productivity, and which prevents occurrence of printing defects due to "feeding of two stacked substrates".例文帳に追加

基板上の異物の検査に要する作業時間を短縮して生産性の低下を防止でき、更には「基板２枚流し」に起因する印刷不良の発生を防止することができるスクリーン印刷機及びスクリーン印刷機における異物検出方法を提供すること目的とする。 - 特許庁

To provide a front loading evaluation device evaluating not only the number of defects in a process but also evaluating a degree of divergence between a defect generation process and a detection process, so that the number of outflow defects and outflow state to a downstream process are obtained, and the progress of improvement activity relating to front loading can be evaluated.例文帳に追加

工程内の欠陥数の評価だけでなく、欠陥の発生工程と発見工程の乖離度をあわせて評価することにより、流出欠陥数と下流工程への流出状況を把握し、フロントローディングに関する改善活動の進捗状況を評価できるフロントローディング評価装置を得ること。 - 特許庁

The defect detection method of matrix structure 100 which has structure of grid-like crossing a plurality of gate lines 4a, 4b, 4c and 4d arranged in X-axis direction and a plurality of data lines 3a and 3b arranged in Y-axis direction, which detects point-like defects 11 as linear defects.例文帳に追加

Ｘ軸方向に配置された複数のゲート線４ａ，４ｂ，４ｃ，４ｄと、Ｙ軸方向に配置された複数のデータ線３ａ，３ｂとが格子状に交差している構造を有してなるマトリクス構造１００の欠陥検出方法であって、点状欠陥１１を線状の欠陥にして検出することを特徴とする。 - 特許庁

The device for inspecting the image defects is configured so that defect detecting processing S3 detecting the defects appearing in the sensed image on the sample surfaces, and reinspection processing S6 conducting reinspection or deciding truth or falsehood at a place of detection in the sensed image regarding the defects detected by the defect detecting processing are carried out by the same processor element.例文帳に追加

試料の表面の撮像画像に現れる欠陥を検出する欠陥検出処理Ｓ３と、この欠陥検出処理欠陥により検出された欠陥に関して撮像画像中の検出箇所を再検査する又は真偽を判定する再検査処理Ｓ６とが、同一のプロセッサエレメントによって実行されるように画像欠陥検査装置を構成する。 - 特許庁

To provide a method, apparatus and program for defect detection, capable of accurately detecting defects in the contour shape of an workpiece having an outer circumferential contour, based on a straight line.例文帳に追加

直線を基調とした外周輪郭を有する被検査物に対して、精度よく輪郭形状欠陥を検出可能な欠陥検出方法、欠陥検出装置、および欠陥検出プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device for inspecting a liquid crystal display device which enable execution of pressing work under proper pressing conditions, and reduction in detection omission of potential short-circuit defects.例文帳に追加

適正な押圧条件で押圧作業を実施することができ、潜在的短絡欠陥の検出漏れを低減することが可能な液晶表示装置の検査方法および検査装置を提供する。 - 特許庁

The non-reviewed defect is supplied with the defect class having the identical definition, by using a defect data set which relates to defects of an inspection apparatus at a defect detection event, and the defect class of the reviewed defect given by an ADC of a review system.例文帳に追加

欠陥検出時の検査装置の欠陥に関する欠陥データとレビュー済み欠陥のレビュー装置のADCで与えられた欠陥クラスを用いて，レビューしていない欠陥に対して同じ定義の欠陥クラスを付与する。 - 特許庁

To provide an image processing device, image processing method and a computer program enabling highly accurate detection of surface irregularity and existence of defects in vicinity of a contour line, as well as enabling secure determination on non-defective items.例文帳に追加

表面の凹凸、輪郭線近傍の欠陥等の存在を高い精度で検出することができ、良品判定を確実に行うことができる画像処理装置、画像処理方法、及びコンピュータプログラムを提供する。 - 特許庁

An inspection apparatus includes: a first processing unit for calculating signals for each pixel and determining abnormality in the detection unit; a second processing unit for correcting a pixel where the abnormality has occurred; and a third processing unit for determining defects of a substrate by use of detection results of the pixel after correction by the second processing unit.例文帳に追加

画素ごとの信号を計算し、前記検出部の異常を判定する第１の処理部と、前記異常が発生した画素を補正する第２の処理部と、前記第２の処理部による補正後の画素の検出結果を用いて、前記基板の欠陥を判定する第３の処理部と、を有する。 - 特許庁

The inspecting device for printed matters has a defect detecting means, which judges the existence of defects and their kinds so as to output a detection signal, and an alarming means for alarming the kind of the defect with a defect specifying sound on the basis of the detection signal.例文帳に追加

欠陥の存在とともにその種類を判別して検出信号を出力する欠陥検出手段と、前記検出信号に基づいて前記欠陥の種類を特定する欠陥特定音で警報する警報手段とを有するようにした印刷物検査装置。 - 特許庁

To provide a linear pattern detection method capable of extracting and detecting, without being affected by thinning-out measurement, a linear pattern characterized in a shape in which microscopic defects are dispersed.例文帳に追加

間引き測定の影響を受けることなく、微視的な欠陥分布形状に特徴のある線状パターンを抽出して検知することができる線状パターンの検知方法を提供する。 - 特許庁

Methods and devices are described using different defect detection standards to detect and map defects of different sizes and in specific regions that can affect a drive operation.例文帳に追加

サイズが異なり、特定の領域においてドライブ動作に影響し得る欠陥を検出してマップするために、異なる欠陥検出基準を用いる方法及び装置が説明される。 - 特許庁

To provide a method and apparatus improving image uniformity and contrast quality in detection of defects in a patterned semiconductor substrate by a charged particle utilization type defect inspection device.例文帳に追加

帯電粒子利用型欠陥検査装置によるパターン形成ずみの半導体基板の欠陥の検出に、画像の均一性およびコントラストの質を改善する方法及び装置を提供する。 - 特許庁

A method is provided that includes a defect detection step to detect one or more defects in a software application composed of heterogeneous languages using a configurable web services architecture.例文帳に追加

設定可能なウェブサービスアーキテクチャにより異種言語から成るソフトウェアアプリケーションにおける１又はそれ以上の欠陥を検出する欠陥検出段階を有する方法が提供される。 - 特許庁

To provide an Iddq-measuring circuit detection by measuring defects, such as release failure, short-circuit failures and insulation faults of an IC circuit, to be measured with a static current (Iddq).例文帳に追加

被測定ＩＣ回路の開放故障，短絡故障，絶縁不良などの欠陥を静止電流（Ｉｄｄｑ）を測定することにより検出するＩｄｄｑ測定回路に関する。 - 特許庁

To sufficiently guarantee defect detection sensitivity corresponding to minute defects occurring in an actual semiconductor process and, in particular, to use the defect detection sensitivity for production management as an indicator for judging sensitivity adjustment after a light source replacement is performed in a lighting means of a defect detecting device.例文帳に追加

実際の半導体プロセスおいて発生する微小欠陥に対応した欠陥検出感度を十分に保証し、特に欠陥検査装置の照明手段の光源交換後の感度調整を判断する指標として製造管理に利用する。 - 特許庁