「defect production」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a production process of a laminated substrate in which the laminated substrate of low defect density can be produced by laminating substrates of high hardness.例文帳に追加

硬度の高い基板を貼り合わせに用いて欠陥密度の小さい貼り合わせ基板とすることができる貼り合わせ基板の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of production of a piezoelectric resonator with which a piezoelectric element can be easily bonded to a base substrate and a bonding defect or damping can be effectively suppressed.例文帳に追加

ベース基板に圧電素子を容易に接合でき、接合不良やダンピングなどを有効に抑えることができる圧電共振子の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a bone prosthetic material having a bone regenerative capacity capable of regenerating a bone by filling an osseous defect site therewith, and its production method.例文帳に追加

骨欠損部に填入することにより、骨再生を図ることができる、骨再生能を有する骨補填材およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

To correctly determine, by calculation, the production conditions of a single crystal with its non-defect zone most extended in its pulling and radial directions.例文帳に追加

単結晶の引上げ方向及び半径方向に無欠陥領域が最も拡大する単結晶製造条件を計算により正確に求める。 - 特許庁

To provide a defect inspection device realizing high resolution and an increase in an inspection speed in a technology for inspecting a pattern defect, foreign matter, residue, a step and the like on a wafer in a production process of a semiconductor by an electron beam.例文帳に追加

半導体装置の製造過程にあるウェハ上パターンの欠陥、異物、残渣および段差等を電子ビームにより検査する技術において、高分解能で、かつ検査速度の高速化を実現する欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device and method for a film, capable of inspecting simply and easily an optical defect in the film to be inspected formed with an optical compensation layer having a double refraction characteristic, in a production line or the like.例文帳に追加

製造ライン等において、複屈折特性を有する光学補償層が形成された被検査フィルムの光学的欠陥検査を簡易かつ容易に行うことができるフィルムの欠陥検査装置よおび方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect judging system and a substrate processing system with which abnormality in a manufacturing process is detected in an early stage of production, deterioration of an amount of production can be suppressed to be minimum and yield in the manufacturing process can be improved.例文帳に追加

生産の早い段階で製造工程の異常を発見し、生産量低下を最小限に抑えて製造工程の歩留まりを改善することができる欠陥判定システムおよび基板処理システムを提供する。 - 特許庁

To provide a rubber for correcting a tire pattern model applicable for the production of a silicone rubber mold with a silicone rubber composition without causing vulcanization defect in the production of the rubber mold and enabling the correction and repair of the mold.例文帳に追加

シリコーンゴム組成物を用いたシリコーンゴム型の製造に適用し得るタイヤパターンモデルを、ゴム型製作時における加硫不良を生ずることなく、修正、修繕することができるタイヤパターンモデル修正用ゴムを提供する。 - 特許庁

To provide a tetraalkyldialkoxydistannoxane which is used in the production of a dialkyl tin alkoxide or as a reaction catalyst, supplements a defect of the by-production of a trialkyl tin compound, and is hardly thermally degenerated.例文帳に追加

ジアルキルスズアルコキシド製造の際あるいはテトラアルキルジアルコキシジスタンオキサンを反応触媒として使用する際にトリアルキルスズ化合物が副生する欠点を補った、熱変性しにくいテトラアルキルジアルコキシジスタンオキサンの提供。 - 特許庁

To provide a tetraalkyldialkoxydistannoxane which is used in the production of a dialkyl tin alkoxide or as a reaction catalyst, supplements a defect of the by-production of a trialkyl tin compound, and is hardly thermally degenerated.例文帳に追加

ジアルキルスズアルコキシド製造の際あるいはテトラアルキルジアルコキシジスタンオキサンを反応触媒として使用する際にトリアルキルスズ化合物が副生するという欠点を補った、熱変性しにくいテトラアルキルジアルコキシジスタンオキサンの提供。 - 特許庁

To improve such a factor as a variation in productivity caused by a characteristic defect of a circuit caused by thinning, production yields, etc., when manufacturing an integrated circuit device of which the substrate is thinned, the factors that largely affect mass production.例文帳に追加

基板を薄膜化した集積回路装置を作製する際に、薄膜化による回路の特性不良によるバラツキ、生産歩留まり等、量産化に大きく影響する要素を改善することを課題とする。 - 特許庁

To provide production equipment and production process for BMC that can inhibit the glass fibers from tangling each other and pilling with no occurrence of the white spot defect in the formed product.例文帳に追加

ガラス繊維どうしがからまることなく、毛玉の発生を防止することができるとともに、成形品の白点不良を防止することができるＢＭＣ製造装置およびＢＭＣの製造方法を提供するものである。 - 特許庁

The production pathway navigation system is configured to calculate the percentage of defect-free product for every manufacturing history and model based on manufacturing history information transmitted from a manufacturing process management device and inspection history information transmitted from the inspection process management device, and determines the optimal production pathway from the calculated percentage of defect-free product.例文帳に追加

この生産経路ナビゲートシステムは、まず、製造工程管理装置から送信された製造履歴情報と、検査工程管理装置から送信された検査履歴情報とに基づいて、製造履歴、機種毎に直行率を算出し、算出した直行率から最適な生産経路を決定しておく。 - 特許庁

To provide a production process of a tire mold, capable of abbreviating production steps, suppressing generation of a casting defect of the mold and improving dimensional accuracy of the mold obtained, in producing the tire mold by a casting production process using a transfer method.例文帳に追加

転写法を用いた鋳造製法によりタイヤ成形用金型を製造するに際し、製造工程を省略でき、金型の鋳造欠陥の発生を抑え、さらに得られる金型の寸法精度を高めることが可能なタイヤ成形用金型の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a correction color for a defect part of a color filter pattern, which is used for a color filter correction method that copes with a size increase, is automated, rational, and economical in perfect correction of color filter defect parts during color filter production.例文帳に追加

カラーフィルターの製造に際し、カラーフィルターの欠陥部分を完全に補修するに、大型化に対応できる、自動化された合理的、経済的なカラーフィルターの新規な補修方法に使用されるカラーフィルターのパターン欠陥部の補修用カラーの提供。 - 特許庁

The quality grade and the supplier grade of the component can be obtained, taking into consideration the defect rate of the component, after shipping as well as the defect rate during production, thereby reliability of the quality determination apparatus is improved.例文帳に追加

したがって生産時における部品の不良発生率に加えて、出荷後における部品の不良発生率を考慮した部品の品質等級および部品の供給者等級を求めることができ、信頼度の高い品質判定装置を実現する。 - 特許庁

To provide a method for producing a solution of resin composition, having high productivity and sufficiently inhibiting contamination of impurities, a possible factor of defect in a production process, to reduce the content of the impurities as much as possible, and an apparatus for production.例文帳に追加

生産性が高く、製造過程においてディフェクト要因となり得る異物の混入を十分に抑制することができ、異物含有量を極力低減させて樹脂組成物溶液の製造方法、及び製造装置を提供する。 - 特許庁

In the system, a production plan is prepared at first (S101), and in the case of producing an original film based on the production plan, the thickness and defect data of respective places of the film are simultaneously and automatically collected (S103).例文帳に追加

システムにおいて、まず生産計画が作成され（Ｓ１０１）、生産計画に基づいたフィルムの原反の生産が行なわれるときに、同時に自動的にフィルムの各場所における厚みおよび欠点データを収集する（Ｓ１０３）。 - 特許庁

To provide a process for producing a silicon wafer in which a defect is eliminated from the surface layer of the wafer for forming a device without sacrifice of productivity or production cost of the wafer.例文帳に追加

ウエハの生産性や生産コストを損なうことなく、デバイスが形成されるウエハ表層部に欠陥が存在しないシリコンウエハの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor light-emitting device capable of mainly suppressing defect caused by increase in an operational voltage and improving a production yield by increasing a conforming rate.例文帳に追加

半導体発光装置において、動作電圧の上昇による不良を抑制し、良品率を高めて生産歩留まりを向上させることを主要な目的とする。 - 特許庁

To provide a display apparatus equipped with an inspection section capable of preventing the occurrence of a defect in reliability test and the degradation in production yield.例文帳に追加

信頼性試験における不良の発生及び製造歩留まりの低下を防止することが可能な検査部を備えた表示装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The glass sheet is bent by using the belt while being transported, by which the efficient production of the bent sheet glass suppressed of the surface defect is made possible.例文帳に追加

このベルトを用いて、ガラス板を搬送しながら曲げ成形することにより、表面の欠陥が抑制された曲げガラス板を効率良く製造することができる。 - 特許庁

To provide a method for mounting a component capable of improving production efficiency by early detecting a possible cause that would be a defect in quality of a component mounted substrate.例文帳に追加

部品実装基板の品質不良となる原因を早期に検出することにより生産効率を向上させることが可能な部品実装方法を提供する。 - 特許庁

To provide a low cost tape carrier package semiconductor device and a production method therefor, with which an operation defect caused by contacting of the terminal part of a semiconductor device, and a wiring pattern is prevented.例文帳に追加

半導体素子の端部と配線パターンとの接触による動作不良が防止された低コストのテープキャリアパッケージ半導体装置およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for automatically detecting an external surface defect (outside diameter dimple) of a tubular material in production equipment in which a sizer is installed downstream of an elongator.例文帳に追加

延伸圧延機の下流に定径圧延機を設置した管材の製造設備において、管材の外面疵（外径凹み疵）を自動的に検出する方法を提供する。 - 特許庁

Thereby, production of glass powder, produced in cutting the glass substrate 1 which causes a defect of the PDP, can be restrained in manufacturing the plasma display panel.例文帳に追加

このことにより、ガラス基板１を割断する際に発生する、ＰＤＰの不良の原因となるガラス粉が、プラズマディスプレイパネル製造時に発生することを抑制することができる。 - 特許庁

To provide design and test methodology for breaking a linear relation between a defect detecting range or test possibility and a design test or a cost related to production.例文帳に追加

欠陥検出範囲又はテスト可能性と、設計のテスト又は製造に関するコストとの間の線形的な関係をうち破る設計及びテスト方法論を得る。 - 特許庁

To provide a pattern forming apparatus flexibly adaptable to a diversified small-quantity production and easily forming a smooth and defect-free pattern on a desired position.例文帳に追加

少量多品種生産に柔軟に対応でき、かつ滑らかで欠陥のないパターンを所望位置に形成し易いパターン形成装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

This silicon wafer is a silicon wafer which is obtained from a silicon single crystal rod grown by doping with nitrogen by CZ method, has 2-12 μm defect-free layer depth after gettering heat treatment and after device production and heat treatment of silicon wafer and 1×108 to 2×1010 defects/cm3 internal fine defect density after gettering heat treatment and after device production and heat treatment.例文帳に追加

ＣＺ法により窒素をドープして育成されたシリコン単結晶棒から得たシリコンウエーハであって、該シリコンウエーハのゲッタリング熱処理後またはデバイス製造熱処理後の無欠陥層深さが２〜１２μｍであり、かつゲッタリング熱処理後またはデバイス製造熱処理後の内部微小欠陥密度が１×１０^８〜２×１０^１０ケ／cm^3であるシリコンウエーハ。 - 特許庁

To obtain a reproduction output signal for inspection having a sufficient level even at the time of off-track of a magnetic heat for inspection, when the defect inspection of a discrete track type magnetic disk medium provided with grooves is performed by using a defect inspecting device for the present mass-production line not furnished with servo function.例文帳に追加

溝付きのディスクリート・トラック型磁気ディスク媒体の欠陥検査を、サーボ機能を備えていない既存の量産ラインの欠陥検査装置を用いて行う際、検査用磁気ヘッドのオフトラック時にも十分なレベルの検査用再生出力信号を得る。 - 特許庁

To provide a method, which achieves the production of an original plate for galvanizing without developing stripe defect after galvanizing under state of a high rolling efficiency in an existing rolling facility.例文帳に追加

電気亜鉛めっき後に筋状欠陥の発生しない電気亜鉛めっき用原板の製造を、既存の圧延設備において高い圧延効率の下に達成する方途について提案する。 - 特許庁

To provide an aluminum alloy die-casting component in which the reduction of production cost can be achieved, and which is produced at high strength and high quality even if a casting defect is generated.例文帳に追加

製造コストの低減化を図ることができ、鋳造欠陥が生じていても高強度、高品質で製造することができるアルミニウム合金ダイカスト鋳物部品を提供する。 - 特許庁

To provide an insulating film which is suitable for mass-production, less contaminated, composition-controlled, dense, extremely small in defect and grain boundary, and structure-controlled along the depth, and has excellent insulation characteristics.例文帳に追加

量産に適した、コンタミの少ない、組成制御された、ち密で、欠陥、粒界の極めて少ない、深さ方向に構造制御された、良好な絶縁特性を持つ絶縁膜の提供。 - 特許庁

As a result, ΔCD and X-phenomena are prevented from arising or are minimized, by which the process step margins during the production process are widened and the occurrence of opaque defect sources is substantially prevented.例文帳に追加

これにより、ΔＣＤ及びＸ−現象が生じないか、あるいは最小化され、製造工程時の工程マージンが広くなり、かつ不透明欠陥源が生じなくなる。 - 特許庁

To provide a porous membrane cartridge and a production method therefor without destroying a porous membrane even if an insert injection molding is carried out and without generating an adhesion defect between a cap member and a barrel member.例文帳に追加

インサート射出成形を行っても多孔質膜が破損せず、また、キャップ部材とバレル部材の密着不良が発生しない多孔質膜カートリッジとその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a display apparatus which can perform stable inspection of a wiring defect on a display panel and even more can suppress decrease in the production yield.例文帳に追加

表示パネル上の配線不良を安定して検査することが可能であり、しかも、製造歩留まりの低下を抑制することが可能な表示装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method for producing a fluoride optical thin film having a stoichiometric composition free from the defect of fluorine, to provide a production method therefor, to provide an optical element obtained therefrom and to provide an exposure device using the same optical element.例文帳に追加

フッ素欠損のない化学量論組成のフッ化物光学薄膜の製造方法、その製造装置、それから得られる光学素子、該光学素子を用いた露光装置の提供。 - 特許庁

To suppress specific natural resonance vibration frequency enhancement as a defect of a conventional loudspeaker employing a polymer piezoelectric film and to solve a problem of peculiar production sound.例文帳に追加

従来の高分子圧電フィルムを使用したスピーカーの欠点である特定の固有共振振動周波数の強調を抑制し、再生音の癖の問題を解消することにある。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for inspecting an external form of a lumber product, capable of automating a sensor-based detection of a defect of a surface-machined lumber product and improving production efficiency.例文帳に追加

表面が加工された製材品の欠陥部をセンサによって検出して自動化を図り、生産効率を高めるようにした製材品の外形検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a plating method by which a uniform plating film is formed on numerous objects to be plated at the same time with high production efficiency without causing plating defect or the like.例文帳に追加

めっき不良などを生じることなく、一度に多量の被めっき物に対して均一なめっき膜を形成することができ、しかも生産効率に優れためっき方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a system for inspecting a sample for a defect and an inspection method which can make production start in a short time, make a reliability test appropriate, reduce initial defects in an element and improve the element reliability.例文帳に追加

製品の短期立ち上げ，信頼度試験の適正化，素子初期不良の低減，素子信頼度の向上を実現できる試料の欠陥検査システム、および検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for production of a rare earth vanadate single crystal which has no crystal defect, has high quality, is large-sized platy and is suitable for use in a semiconductor laser-excited solid-state laser.例文帳に追加

結晶欠陥がなく、高品質かつ大型の板状であり、半導体レーザ励起固体レーザ用途等に好適な希土類バナデイト単結晶を製造する方法を提供する。 - 特許庁

To provide an automatic analyzer capable of extracting easily a measured result obtained using a consumable with a defect-generated production lot number, out of the consumables used in the analyzer, and capable of preventing the consumable having the defect lot number from being used for analysis hereafter.例文帳に追加

分析装置で使用する消耗品のうち、欠陥が発生した製造ロット番号のものを使用して得られた測定結果を容易に抽出するとともに、該欠陥ロット番号を有する消耗品の以降の分析への使用を防止することができる自動分析装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device wherein detection sensitivity and throughput are improved by optimizing shape of illumination when detecting a defect such as foreign matter generated in a production process for forming a pattern on a substrate to manufacture a target object, and to provide a method therefor.例文帳に追加

基板上にパターンを形成し対象物を製作して行く製造工程で発生する異物等の欠陥を検出する際に、照明の形状を最適化することにより、検出感度およびスループットを向上する欠陥検査装置およびその方法を提供することにある。 - 特許庁

In the inspection method for surface defect, the surface image of a metal band 1 which is conveyed on a production line containing a hot rolling process is photographed by an optical system 20, and a defect which exists on the surface of the metal band 1 is detected on the basis of the photographed surface image.例文帳に追加

本発明は、熱間圧延工程を含む製造ライン上を搬送される金属帯１の表面画像を光学系２０で撮影して、この撮影した表面画像に基づいて金属帯の表面に存在する欠陥を検出する表面欠陥検出方法に適用される。 - 特許庁