「defect production」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide a production method for particulate arrangement structure with little defect, a production method for optical media with little defect, and production apparatuses used for production thereof.例文帳に追加

欠陥の少ない微粒子配列構造体の製造方法、欠陥の少ない光学媒体の製造方法、及びこれらの製造に用いる製造装置を提供すること。 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND APPARATUS THEREFOR, AND PRODUCTION METHOD OF MASK例文帳に追加

欠陥検査方法及びその装置、マスクの製造方法 - 特許庁

PRODUCTION OF STAINLESS STEEL STRIP SMALL IN SURFACE MICRO- DEFECT例文帳に追加

表面微小欠陥の少ないステンレス鋼帯の製造法 - 特許庁

PRODUCTION OF NITROGEN-DOPED, LOW DEFECT DENSITY SILICON SINGLE CRYSTAL例文帳に追加

窒素ドープした低欠陥シリコン単結晶の製造方法 - 特許庁

PRODUCTION OF CONTINUOUSLY CAST SLAB HAVING LITTLE INCLUSION DEFECT例文帳に追加

介在物欠陥の少ない連続鋳造鋳片の製造方法 - 特許庁

PRODUCTION FOR SOFT PACKAGE MATERIAL AND DEFECT INFORMATION TRANSMITTING DEVICE例文帳に追加

軟包装材料の生産方法及び不良情報伝達装置 - 特許庁

To obtain high production efficiency while reducing mounting defect.例文帳に追加

実装不良の低減を図りながら高い生産効率を得る。 - 特許庁

PRODUCTION OF STEEL SLAB WITHOUT DEVELOPING SURFACE DEFECT DUE TO WIDTH REDUCTION例文帳に追加

幅圧下による表面欠陥が生じない鋼片の製造方法 - 特許庁

EPITAXIAL STRUCTURE HAVING LOW DEFECT DENSITY, AND PRODUCTION PROCESS OF THE SAME例文帳に追加

低欠陥密度を有するエピタキシャル構造およびその製造方法 - 特許庁

ELECTRIC RESISTANCE WELDED TUBE HAVING REDUCED DEFECT IN WELD ZONE AND ITS PRODUCTION METHOD例文帳に追加

溶接部欠陥の少ない電縫鋼管およびその製造方法 - 特許庁

MARTENSITIC STAINLESS STEEL HAVING NO PINHOLE DEFECT AND ITS PRODUCTION METHOD例文帳に追加

ピンホールの欠陥のないマルテンサイト系ステンレス鋼及びその製造方法 - 特許庁

FIELD PATTERN DEFECT DETECTION METHOD IN SEMICONDUCTOR PRODUCTION PROCESS例文帳に追加

半導体製造工程におけるＦｉｅｌｄパターン欠陥検出方法 - 特許庁

DESIGN METHOD AND PRODUCTION METHOD OF INK FOR CORRECTING DEFECT OF COLOR FILTER例文帳に追加

カラーフィルタの欠陥修正用インキの設計方法および製造方法 - 特許庁

SILICON SINGLE CRYSTAL WAFER HAVING LOW CRYSTAL DEFECT DENSITY AND ITS PRODUCTION例文帳に追加

結晶欠陥の少ないシリコン単結晶ウエーハ及びその製造方法 - 特許庁

To provide a production method of hologram with which the defect of appearance hardly occurs.例文帳に追加

外観不良が生じ難いホログラムの製造方法を提供すること。 - 特許庁

LOW DEFECT DENSITY SILICON SINGLE CRYSTAL WAFER DOPED WITH NITROGEN AND ITS PRODUCTION例文帳に追加

窒素ド—プした低欠陥シリコン単結晶ウエ—ハおよびその製造方法 - 特許庁

To realize a defect inspection system enabling further efficient production management by sharing inspection result data by the whole production line, and easy recognition of the details of a defect detected by defect inspection.例文帳に追加

生産ライン全体で検査結果データを共有してより効率的な生産管理ができるとともに、欠陥検査で検出された欠陥の詳細を容易に認識できる欠陥検査システムを実現する。 - 特許庁

METHOD FOR CORRECTING DEFECT IN ACTIVE MATRIX SUBSTRATE AND PRODUCTION OF LIQUID CRYSTAL PANEL例文帳に追加

アクティブマトリクス基板の欠陥修正方法および液晶パネルの製造方法 - 特許庁

CAST PIECE FOR THIN STEEL SHEET SMALL IN DEFECT CAUSED BY INCLUSION AND ITS PRODUCTION例文帳に追加

介在物性欠陥の少ない薄鋼板用鋳片およびその製造方法 - 特許庁

HIGH WORKABILITY HOT ROLLED STEEL SHEET FREE FROM GENERATION OF CHATTER MARK DEFECT AND ITS PRODUCTION METHOD例文帳に追加

畳じわの発生しない高加工性熱延鋼板及びその製造方法 - 特許庁

SLAB FOR THIN STEEL SHEET SMALL IN DEFECT CAUSED BY INCLUSION AND ITS PRODUCTION例文帳に追加

介在物性欠陥の少ない薄鋼板用鋳片およびその製造方法 - 特許庁

HIGH WORKABILITY HOT ROLLED STEEL SHEET FREE FROM GENERATION OF CHATTER MARK DEFECT AND ITS PRODUCTION METHOD例文帳に追加

腰折れの発生しない高加工性熱延鋼板及びその製造方法 - 特許庁

By this method, a forming defect is prevented and a production cost can be reduced.例文帳に追加

これにより、成形不良を防止でき、製造コストの低減を図ることができる。 - 特許庁

METHOD FOR CORRECTING DEFECT OF ACTIVE MATRIX SUBSTRATE AND PRODUCTION OF LIQUID CRYSTAL PANEL AS WELL AS DEVICE FOR CORRECTING DEFECT OF ACTIVE MATRIX SUBSTRATE例文帳に追加

アクティブマトリクス基板の欠陥修正方法及び液晶パネルの製造方法並びにアクティブマトリクス基板の欠陥修正装置 - 特許庁

DEFECT EVALUATION METHOD FOR LAMINATED CERAMIC ELEMENT, AND PRODUCTION METHOD FOR LAMINATED CERAMIC ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加

積層型セラミック素子の欠陥評価法及び積層型セラミック電子部品の製法 - 特許庁

To restrain production of an interface defect at the time of forming an insulating film and to reduce the produced defect.例文帳に追加

絶縁膜を形成する際の界面欠陥の生成を抑制するとともに、生成された欠陥を低減させることを可能にする。 - 特許庁

To provide a defect inspection device for a PDP substrate and a defect inspection method capable of obtaining a precise defect location even if the defect inspection is carried out with the substrate in a state of thermal expansion, and capable of improving production efficiency.例文帳に追加

基板が熱膨張した状態で欠陥検査を行っても正確な欠陥位置を得ることができ、生産効率を向上させることができるＰＤＰ用基板の欠陥検査装置および欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an epitaxial structure having low defect density, and to provide a production method for the structure.例文帳に追加

低欠陥密度を有するエピタキシャル基材構造およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

WIDE FLANGE SHAPE EXCELLENT IN TOUGHNESS OF FILLET PART AND UT DEFECT RESISTING CHARACTERISTIC AND ITS PRODUCTION例文帳に追加

フィレット部靭性および耐ＵＴ欠陥特性の優れたＨ形鋼およびその製造方法 - 特許庁

PRODUCTION METHOD FOR MASK BLANK-USE TRANSLUCENT SUBSTRATE, PRODUCTION METHOD FOR MASK BLANK, PRODUCTION METHOD FOR EXPOSING MASK, PRODUCTION METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE AND PRODUCTION METHOD FOR LIQUID CRYSTAL DISPLAY UNIT, AND METHOD OF CORRECTING DEFECT IN EXPOSING MASK例文帳に追加

マスクブランク用透光性基板の製造方法、マスクブランクの製造方法、露光用マスクの製造方法、半導体装置の製造方法及び液晶表示装置の製造方法、並びに露光用マスクの欠陥修正方法 - 特許庁

To provide a prediction support device for a residence-by-residence defect having a function for pre-extracting only defect items pertinent to each residence to be predicted and outputting the defect items concurrently with output of a production drawing, in the production drawing preparation task of each residence.例文帳に追加

邸毎の生産図作成業務において、生産図の図面出力と同時に、予測される各邸に該当する不具合項目のみを予め抽出し、出力する機能を有する邸別不具合予測支援装置を提供する。 - 特許庁

To detect a defect having the possibility of growth in a storing condition after production to remove in advance an optical information recording medium having the defect, in a production stage of the optical information recording medium.例文帳に追加

光情報記録媒体の製造段階において、その後の保存の状況によって成長しそうな欠陥を検出して、このような欠陥を有する光情報記録媒体を事前に排除する。 - 特許庁

To provide a defect detection apparatus by which a defect generated on a sheetlike specimen at a production stage can be time-series-confirmed easily.例文帳に追加

製造段階におけるシート状の被検査物上に発生した欠陥の時系列確認を容易に行うことができる欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

To provide a processing system for defect information and a processing method for defect information which are capable of analyzing defect information of products on a production line and quickly notifying an operator of the analyzed result.例文帳に追加

製造ラインにおける製品の不具合情報を解析し、解析結果を作業者に速やかに伝達することができる不具合情報の処理システム及び不具合情報の処理方法を提供する。 - 特許庁

To provide a single crystal production method capable of markedly widening the production margin in pulling a single crystal in a defect-free region and therefore capable of markedly improving the production yield of a defect-free region crystal and its productivity.例文帳に追加

無欠陥領域の単結晶を引き上げる際の製造マージンを大幅に拡大することができ、したがって、無欠陥領域結晶の製造歩留り、生産性を大幅に向上させることが可能な単結晶の製造方法を提供する。 - 特許庁

To estimate influence affected to another component or process by generation of a defect in a certain component or process in a stage (a product design stage or a design stage of a production process) before production, and to estimate an importance level of the defect to support a design of the production process.例文帳に追加

製造前の段階（製品設計段階や製造工程の設計段階）で、ある部品や工程における不良の発生が他の部品や工程に及ぼす影響を推定し、不良の重要度を評価して製造工程の設計を支援する。 - 特許庁

To provide a template production device capable of easily producing a template without defect.例文帳に追加

不備のないテンプレートを簡単に作成することができるテンプレート作成装置を得ることを目的とする。 - 特許庁

CRYSTAL DEFECT RESTORATION METHOD, CRYSTAL PRODUCTION METHOD, PATTERN FORMATION METHOD, AND X-RAY DOSE DETECTION BODY例文帳に追加

結晶欠陥の回復方法、結晶体の作製方法、パターン形成方法、Ｘ線量の検出体 - 特許庁

Therefore, parts whose use periods are expired are prevented from being used in the production line 11 so that the defect production rate is lowered.例文帳に追加

よって、使用期限切れとなった部品が生産ライン１１において使用されることを防止することができ、生産不良率を下げることができる。 - 特許庁

To provide a production method for a mask blank-use translucent substrate, a mask blank and an exposing mask to prevent occurrence of a transfer pattern defect and a mask pattern defect by correcting a recessed defect on the surface of a translucent substrate, and to provide a method of correcting a defect in an exposing mask.例文帳に追加

透光性基板表面にある凹欠陥を修正して転写パターン欠陥やマスクパターン欠陥の発生を防止するマスクブランク用透光性基板、マスクブランク及び露光用マスクの製造方法、並びに露光用マスクの欠陥修正方法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection apparatus capable of improving the overall throughput of production processes by facilitating the quality determination of substrates, and to provide a defect inspection method.例文帳に追加

基板の良否判定を容易にすることによって製造工程全体のスループットを向上させることができる欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR RESTRAINING DROSS DEFECT ON GALVANIZED STEEL SHEET AND PRODUCTION OF GALVANNEALED STEEL SHEET例文帳に追加

溶融亜鉛めっき鋼板のドロス欠陥抑止方法および合金化溶融亜鉛めっき鋼板の製造方法 - 特許庁

METHOD FOR CORRECTING DEFECT OF MASK FOR EXPOSURE, MASK FOR EXPOSURE, EXPOSURE METHOD, SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS PRODUCTION例文帳に追加

露光用マスクの欠陥修正方法、露光用マスク、露光方法、並びに、半導体装置及びその製造方法 - 特許庁

A 1st inspection screen 524 is constituted of a production data display part 520 and a defect breakdown display part 522.例文帳に追加

第１の検査画面５２４は、生産データ表示部５２０と欠陥内訳表示部５２２とで構成されている。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and a production method therefor, with which the conduction defect of wiring and a via part can be avoided.例文帳に追加

配線とｖｉａ部との導通不良を回避できる半導体装置及びその製造方法を提供する。 - 特許庁