「defect production」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a production history management system capable of analyzing a defect including information about an installation site of an appliance and properly grasping an area of the installation sites affected by the defect.例文帳に追加

機器の設置先情報も含めた不具合の解析や、当該不具合により影響を受ける設置先の範囲を的確に把握することが可能な製造履歴管理システムを提供する。 - 特許庁

To provide a photomask defect correction method that improves the efficiency of defect inspection and correction processes for a photomask and improve and stabilize the yield in mask production.例文帳に追加

フォトマスクにおける欠陥検査及び修正工程の効率化を図り、マスク生産における歩留の向上及び安定を図ることができるフォトマスクの欠陥修正方法を提供する。 - 特許庁

To sufficiently guarantee defect detection sensitivity corresponding to minute defects occurring in an actual semiconductor process and, in particular, to use the defect detection sensitivity for production management as an indicator for judging sensitivity adjustment after a light source replacement is performed in a lighting means of a defect detecting device.例文帳に追加

実際の半導体プロセスおいて発生する微小欠陥に対応した欠陥検出感度を十分に保証し、特に欠陥検査装置の照明手段の光源交換後の感度調整を判断する指標として製造管理に利用する。 - 特許庁

To provide a method for determining a photomask defect for improving the production yield of photomasks and suppressing the cost of an inspection.例文帳に追加

フォトマスクの製造歩留まりを向上し、検査コストを抑制することができるフォトマスク欠陥判定方法を提供する。 - 特許庁

To realize the miniaturization of crystal defect grains and the improvement of pulling up speed at the same time, and improving the production efficiency of a wafer for annealing.例文帳に追加

結晶欠陥の小粒化と引上げ速度の向上とを同時に実現し、アニール用ウエハの生産効率を向上させる。 - 特許庁

To improve the production yield and the quality by suppressing the occurrence of the liquid shortage defect in the coating of a large sized substrate.例文帳に追加

大型基板の塗布に際して液切れ欠陥の発生を抑制し、製造歩留まりの向上と品質の向上を図る。 - 特許庁

APPARATUS FOR TESTING DEFECT OF SHEET-SHAPED PRODUCT HAVING OPTICAL FILM, APPARATUS FOR PROCESSING TEST DATA THEREOF, APPARATUS FOR CUTTING SAME, AND PRODUCTION SYSTEM THEREOF例文帳に追加

光学フィルムを有するシート状製品の欠点検査装置、その検査データ処理装置、その切断装置及びその製造システム - 特許庁

To rapidly grasp a defect generating cause in a manufacturing step of color liquid crystal display panels manufactured by m×n piece-production.例文帳に追加

ｍ×ｎ個取りで作製するカラー液晶表示パネルの製造工程での欠陥の発生原因を迅速に把握すること。 - 特許庁

After the production of a device, the defect accumulation region H is dissolved by heated KOH or NaOH to separate polygonal chips.例文帳に追加

デバイスを製作したのち加熱したＫＯＨ、ＮａＯＨで欠陥集合領域Ｈを溶かし多角形のチップに分離できる。 - 特許庁

To provide an imaging device that can solve problems attended with production of many defect pixels in pixel defect compensation, so as to extend the limit of a photographing condition such as long time photographing, while minimizing a degree of image quality deterioration.例文帳に追加

画素欠陥補償における欠陥画素の大量発生に伴う問題点を解決し、画質劣化の程度を最低限に抑えつつ長時間撮影などの撮影条件の限界を延ばす。 - 特許庁

To provide a defect correcting method of a phase shift photomask that can raise and stabilize the yield of mask production by making efficient defect inspection and correction stages of the phase shift mask.例文帳に追加

位相シフトマスクにおける欠陥検査及び修正工程の効率化を図り、マスク生産における歩留の向上及び安定を図ることができる位相シフトマスクの欠陥修正方法を提供する。 - 特許庁

To facilitate specification of a trouble caused by an inspection equipment or process by performing defect distribution state analysis based on defect data detected by the inspection equipment in the production process of a semiconductor substrate.例文帳に追加

半導体基板の製造工程において、検査装置によって検出された欠陥データに基づいて欠陥分布状態解析を行い、装置あるいはプロセス起因の不良原因の特定を容易にする。 - 特許庁

The method for detecting the external surface defect is used for detecting the external surface defect of the tubular material in the production equipment of the tubular material P in which the sizer M2 is installed downstream of the elongator M1.例文帳に追加

本発明に係る外面疵検出方法は、延伸圧延機Ｍ１の下流に定径圧延機Ｍ２を設置した管材Ｐの製造設備において管材の外面疵を検出する方法である。 - 特許庁

To efficiently carry out production management such as specification of a product number of a product with a machining defect from multiple products.例文帳に追加

多数の製品から加工不良がある製品の製品番号を特定するなど、生産管理を効率的に行なう装置を提供する。 - 特許庁

To provide a process management apparatus capable of reducing costs by quickly detecting and improving the generation of a defect in a production process.例文帳に追加

生産過程において、不良発生を早期に発見し、手直しコストを削減することが可能な工程管理装置を実現する。 - 特許庁

The air stagnated around a carcass during the production of a tire is vented by the small holes to suppress the defect of air inclusion in the green tire.例文帳に追加

この小孔にりタイヤ製造中にカーカス周りに滞留したエアーを抜き、生タイヤのエアー入り不良の発生を抑制する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR EVALUATING EASE OF DEFECT OCCURRENCE IN PRODUCTION WORKSHOP, METHOD AND DEVICE FOR EVALUATING QUALITY OF PRODUCT, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

製造職場の不良の起こし易さ評価方法及びその装置、製品の品質評価方法及びその装置並びに記録媒体 - 特許庁

To provide a plasma etching processing method capable of reducing a work defect in the terminal edge of a large diameter wafer and raising production yield.例文帳に追加

大口径ウエハの最エッジ部での加工不良を低減し、生産歩留まりを向上できるプラズマエッチング処理方法を提供する。 - 特許庁

The defect information of a half-product is previously transmitted to a customer through the Internet, the customer judges whether the completion of a product is available or not on the basis of the defect information and a manufacturer receives a production command from the customer through the Internet and manufactures a product on the basis of the production command.例文帳に追加

あらかじめ半製品における欠陥情報を、インターネットを経由して顧客に送信し、該欠陥情報に基づいて顧客が製品化の可否を判断し、製品化指令をインターネットを経由して顧客から受信し、該製品化指令に基づいて製品にする。 - 特許庁

The surface of the steel sheet 100 flowing the production line is inspected by a surface inspection device 20, and the surface defect of the steel sheet 100 is automatically dressed by a grinding mechanism 20 according to the type and degree of a defect without stopping the production line.例文帳に追加

生産ラインを流れる薄鉄鋼１００の表面を表面検査装置２０４により検査し、この検査により発見された薄鋼板１００の表面欠陥を、生産ラインを止めず、かつ欠陥の種類や程度に応じて、研磨機構２０７により自動的に手入れする。 - 特許庁

A known standard defect 9 is provided in a sample 2, the defect appearing on a surface of the sample 2 is detected, and prescribed processing recipe evaluation information that varies in response to difference in a processing recipe used in the prescribed production process is acquired, based on a detection result of the standard defect 9.例文帳に追加

試料２に既知の標準欠陥９を設けて、試料２の表面に現れる欠陥を検出し、所定の製造プロセスで使用された処理レシピの相違に応じて変化する所定の処理レシピ評価情報を、標準欠陥９の検出結果に基づいて取得する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method discovering early a VA pattern formation defective substrate by detecting a partial VA deficiency of VA having a line width of 5-10 μm, and improving a line production efficiency, and also to provide a defect inspection device to which the defect inspection method is adapted.例文帳に追加

線幅５μｍ〜１０μｍのＶＡの、部分ＶＡ欠損を検出することで、ＶＡパターン形成不良基板を早期に発見し、ラインの生産効率を向上させることが可能な欠陥検査方法、および、この欠陥検査方法を適応した欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

In the production of silicon wafer, size of grown-in defect is made small by doping nitrogen when silicon ingot is pulled up and a defect-free layer is formed on the surface of wafer and oxygen deposit is produced in high density in the interior and whisker-like defect is produced by carrying out heat treatment.例文帳に追加

シリコンウェーハ製造に際し、シリコンインゴット引上げ時に窒素をドープすることにより、Ｇｒｏｗｎ−ｉｎ欠陥のサイズを小さくし、熱処理を行うことによりウェーハ表面に無欠陥層を形成し、内部に高密度に酸素析出物を生成させかつヒゲ状欠陥を生成させる。 - 特許庁

To provide a process/production management device which can collect various pieces of management data on total man-hours, the number of nondefecture articles and a defect rate on a real time basis and can precisely and clearly manage process/production and to provide a process/production management method using the device.例文帳に追加

延べ工数、良品数、不良率等々、種々の管理データをリアルタイムに収集でき、正確で明瞭な工程／生産管理を行うことができる、工程／生産管理装置およびそれを用いた工程／生産管理方法を提供する。 - 特許庁

To provide a concave portion forming method, capable of restraining generation of defect portions by quickly spotting the processing quality, and to provide a production step of a concave-convex product, a production step of a light-emitting element, and a production step of an optical element.例文帳に追加

本発明は、加工品質を迅速に見極めることで不良部位の発生を抑えることができる凹部形成方法、凹凸製品の製造方法、発光素子の製造方法および光学素子の製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To improve the efficiency of the management (deletion, retrieval and display, etc.) of image data while defect image data gathered every day in a semiconductor mass production line become extensive by the throughput improvement of a review SEM (defect observation apparatus).例文帳に追加

レビューＳＥＭのスループット向上により、半導体量産ラインにおいて日々収集される欠陥画像データが大量になってきており、それらの画像データの管理（削除、検索、表示等）の効率化が望まれている． - 特許庁

To provide a device for indicating a defect of a sheet material and a method therefor capable of improving production yield by surely indicating a defect detected on a running sheet material.例文帳に追加

走行する板材で検出された欠陥を確実に標示することにより、製品の歩留まりを向上させた板材の欠陥標示装置及び板材の欠陥標示方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a dislocation controlling seed crystal and a production method of the seed crystal that has little possibility of inducing a defect in a SiC single crystal during growing, and to provide a production method of a SiC single crystal.例文帳に追加

本成長途中のＳｉＣ単結晶中に欠陥を生成させるおそれの少ない転位制御種結晶及びその製造方法、並びに、ＳｉＣ単結晶の製造方法を提供する。 - 特許庁

To suppress the occurrence of deadline delay as little as possible concerning an ordered production system by performing scheduling by calculating the required time while considering the occurrence of any assembly defect in a production process.例文帳に追加

生産工程における組立不良の発生を考慮した所要時間算出をしてスケジューリングすることにより、注文生産方式において、納期遅れの発生を可及的に抑止すること。 - 特許庁

To provide a coating component for glass production equipment in which peeling and wear are hard to be generated even at high temperature, and with which a defect caused by the separation of roll stock material components does not occur in glass, and to provide its production method.例文帳に追加

高温においても剥離や磨耗が生じにくく、ガラスにロール素材成分の脱離による欠点を生じないガラス製造設備用被覆部品およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a filter comprising a frame body for holding a filter material which can be produced at a low defect ratio of a formed product in a narrow production dispersion.例文帳に追加

製造バラツキが小さく、成型品の不良率が低いフィルター濾材を保持する枠体を備えたフィルターを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method for depositing a GaN-based compound semiconductor layer having a low crystal defect density and almost free from production of piezo spontaneous polarization.例文帳に追加

結晶欠陥密度が低く、しかも、ピエゾ自発分極が生じ難いＧａＮ系化合物半導体層の形成方法を提供する。 - 特許庁

If it is possible to recognize what position in what material roll the defect exists, a production management can be carried out more precisely.例文帳に追加

このように、どのロール原反におけるいずれの位置に欠点があったかが認識できれば、より精度よく製造管理を行うことができる。 - 特許庁

The processing device is manually processed based on the defect prevention measures to improve the factors causing failures prior to production.例文帳に追加

不良発生未然防止策に基づいて加工装置を人為的に処理して不良発生の原因となる要因を改善してから生産をする。 - 特許庁

To provide a method for producing an N-formylaminocarboxylate in a high yield and high selectivity, having no defect of conventional technology and usable for large-scale production.例文帳に追加

従来技術の欠点がない、大規模製造に使用可能な、Ｎ-ホルミルアミノカルボン酸エステルの高収率、高選択率の製造方法を提供する - 特許庁

To provide a manufacturing method of an IC card or an IC tag for improving variations of production speeds, defect rates and electrical qualities.例文帳に追加

生産速度と不良品発生率、電気的品質のバラつきを改善することができる、ＩＣカードまたはＩＣタグの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a display device which can surely detect a wiring defect on a panel and yet can suppress the degradation in production yield.例文帳に追加

パネル上の配線不良を確実に検出でき、しかも、製造歩留まりの低下を抑制することが可能な表示装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a defect determination method capable of enhancing a yield of a substrate formed with an electrode pattern or the like, and capable of reducing a production loss cost.例文帳に追加

電極パターン等が形成された基板の歩留まりを向上させ、製造ロスコストを低減することが可能な欠陥判定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a honeycomb structural body which facilitates the clamping of a honeycomb sintered body, hardly occurs defect such as chipping and cracking and permits high-efficiency production.例文帳に追加

ハニカム焼成体を把持しやすく、かつ、欠け及びクラック等の不良が発生しにくい、製造効率の良いハニカム構造体を提供すること。 - 特許庁

An equipment candidate causing the defect in a plurality of pieces of equipment is specified, on the basis of information displaying the substrate and production history information.例文帳に追加

その基板を表す情報と製造履歴情報とに基づいて、複数の設備のうち不良発生の原因となった原因設備候補を特定する。 - 特許庁

To produce a quartz glass worked component at low cost by making defect parts generating in the hot forming small and improving the production efficiency and yield.例文帳に追加

熱間成形をする際に発生する不良部を小さくし、生産効率・歩留まりを高くして、低コストで石英ガラス加工部品を製造できるようにする。 - 特許庁

To provide a method of treating semiconductor wafers which annihilates pit defects in order to prevent the operation defect of semiconductor devices and to improve the yield of production.例文帳に追加

半導体デバイスの動作不良を防止し、製造の歩留まりを向上させるために、ピット欠陥を消失する半導体ウエハの処理方法を提供する。 - 特許庁

To effectively measure a surface shape of a phase defect existing on an exposure mask, and contribute to improvement of production efficiency of the exposure mask.例文帳に追加

露光用マスク上に存在する位相欠陥の表面形状を効率的に測定することができ、露光用マスクの生産効率向上に寄与する。 - 特許庁

To provide a resin compound which is a raw material of a printing plate for laser engraving which enables production of a printing plate superior in resolution without causing printing defect.例文帳に追加

印刷不良を生じずかつ解像度に優れた印刷版を製造できるレーザー彫刻用印刷原版の原料となる樹脂組成物を提供する。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display device which prevents the deterioration of production yield, prevents the occurrence of defect and has high reliability.例文帳に追加

製造歩留まりの低下を防止するとともに、欠陥の発生を防止して信頼性の高い液晶表示装置を提供することを目的とする。 - 特許庁