意味 | 例文 (984件) |
function testの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 984件
In addition, the remote test equipment for the plant has a function reading the optional digital signal value of the internal logic of the digital controller or the like without affecting the logic to which a plant control response speed is requested by using an interface for maintenance provided in the digital controller or the like and enabled to transmit the digital signal value to the LAN for the test.例文帳に追加
また、デジタル制御装置等に備えられた保守用インターフェイスを使用することで、プラント制御応答速度を要求されるロジックに対し、影響を与えることなくデジタル制御装置等の内部ロジックの任意のデジタル信号値を読み出し、試験用LANに伝送できる機能を有する。 - 特許庁
When a test transmitting message 6 is outputted from a processing function based on a development object program 3 that is an object of operation confirmation (step S4), a computer selects the message history 1a matched to the test transmitting message 6 as a model message 7 according to a preset selection rule 1b (step S5).例文帳に追加
コンピュータは、動作確認の対象である開発対象プログラム3に基づく処理機能からテスト用送信メッセージ6が出力される(ステップS4)と、予め設定された選択ルール1bに従って、テスト用送信メッセージ6に応じたメッセージ履歴1aを雛形メッセージ7として選択する(ステップS5)。 - 特許庁
When the test pattern layout is determined and the operator performs a specified data-forming operation, the dot is formed on the recording face of the recording sheet P by an arrangement of a test pattern TP displayed on the screen of the liquid crystal monitor 302 by a data-forming function 12, and the record controlling data 13 for performing the recording are generated.例文帳に追加
テストパターンレイアウトを決定し、操作者が所定のデータ作成操作を行うと、データ作成機能12によって、液晶モニタ302の画面上に表示されたテストパターンTPの配置で記録紙Pの記録面にドットが形成されて記録が実行される記録制御データ13が生成される。 - 特許庁
Since abnormal yield can be found in the early stage and the factor of defect can be separated between a preceding step and a following step by conducting leak current test or function test of a semiconductor device, time loss incident to investigation of the cause of defect can be reduced and productivity can be enhanced.例文帳に追加
この構成によれば、インライン検査において、半導体装置のリーク電流検査または、機能検査をすることで、歩留異常を早期に発見でき、前工程と後工程との不良要因を分離することができ、これらにより不良原因究明に伴う時間ロスを低減できるため生産性を向上することができる。 - 特許庁
This method includes a process during which a configuration file including predetermined parameters prescribing the type and function of the device is read, and then, by generating test components, for generating a test environment, which have been selected according to the configuration file by adopting a configuration engine and have been connected, through a bus, to device representation, the test environment for the device is dynamically generated.例文帳に追加
本方法は、デバイスのタイプおよびデバイスの機能を規定する予め定められたパラメータを含むコンフィギュレーション・ファイルを読み込み、次に、コンフィギュレーション・エンジンを採用して、前記コンフィギュレーション・ファイルに従って選ばれ、バスを介してデバイス表現と接続されることによって試験環境を生成する試験部品を生成することによって前記デバイスのための試験環境を動的に生成する工程を含む。 - 特許庁
The function extraction part may comprise: a program control part for making execute the test program previously stored in the test device; a state detection part for detecting each state of constitutional components; and an extraction part for extracting the constitutional element operated according to the test program and on the basis of the state of the constitutional element detected by the state detection part.例文帳に追加
機能抽出部は、試験装置に予め格納されている前記試験プログラムを実行させるプログラム制御部と、試験プログラムを実行させた後に、試験装置のそれぞれの構成要素の状態を検出する状態検出部と、状態検出部が検出したそれぞれの構成要素の状態に基づいて、試験プログラムに応じて動作した構成要素を抽出する抽出部とを有してよい。 - 特許庁
In this electronic equipment having the infrared communication function by an infrared light emitting means and an infrared light receiving means, the infrared light emitting means sends a light emission signal for a test, and the infrared light receiving means receives infrared light emitted from the infrared light emitting means to control the infrared communication function so as to being a state that the infrared communication function effectively operates when the light receiving signal can be recognized.例文帳に追加
赤外線発光手段と赤外線受光手段による赤外線通信機能を有した電子機器において、赤外線発光手段からテスト用の発光信号を送り、赤外線受光手段により発光した赤外線を、赤外線受光部により受光し、受光信号を認識できた場合に、赤外線通信機能が有効に作用するとして、制御を行う。 - 特許庁
When a field test function 71 is operated, the control unit 7 sets the switch 22 to the side of the attenuator 21, measures the error rate while decreasing attenuation levels step by step for each channel, and records data in a recording unit 4.例文帳に追加
制御部7は、フィールドテスト機能71を動作させたときに、スイッチ22をアッテネータ21側に設定して、チャンネルごとに、減衰レベルを段階的に下げながら、エラーレートを測定し、データを記録部4に記録させる。 - 特許庁
The executing state of the program is classified into an authority mode and a normal mode, and a function confirmation test is performed to detect the illegal code making it possible to perform an operation equivalent to that of the authorized user when the secret conditions are satisfied.例文帳に追加
プログラムの実行状態を特権モードと通常モードに分類して機能確認試験を行うことで、秘密の条件が満たされると特権ユーザと同等の操作を可能とする不正コードの検出も行う。 - 特許庁
The test route 8 comprises a maintenance station 14 to maintain the ceiling traveling car 30, a function of moving with a station is adjusted at a reference station 16, and a standby line 20 is provided to wait excessive ceiling traveling cars.例文帳に追加
テストルート8には、メンテナンスステーション14を設けて天井走行車30をメンテナンスし、基準ステーション16でステーションとの移載機能を調整し、待機ライン20を設けて過剰の天井走行車を待機させる。 - 特許庁
The information showing a sequence figure T20 created by the examiner through the tool 50 is converted into a test script T22 recognizable and executable by a CAN bus monitor 52 by the generation function of a script in the tool 50.例文帳に追加
ツール50を介して試験者により作成されたシーケンス図T20を表す情報は、ツール50におけるスクリプトの生成機能により、CANバスモニタ52が認識及び実行可能なテストスクリプトT22に変換される。 - 特許庁
From the event equivalence class included in the transition path, a concrete event value generation function extracts the event instances included in the event equivalence class, and from the extracted event instances, the test cases are generated in which the parameter values are specified.例文帳に追加
イベント具体値化機能は、遷移パスに含まれるイベント同値クラスから、イベント同値クラスに含まれるイベントインスタンスを抽出し、抽出したイベントインスタンスからパラメータ値が示される試験ケースを作成する。 - 特許庁
Moreover, by providing a function, in which a heating state can be checked just before the rear-most heating chamber 1-e, and a batch type heating of the foods of just one heating chamber-quantity can be made, a test run which saves waste can be performed.例文帳に追加
また、最後尾加熱庫1−eの直前で、加熱状態のチェックができ、更には1加熱庫分の食材で、バッチ式に加熱できる機能を持たせることにより、無駄を省いた試運転が可能となる。 - 特許庁
In the detailed explanation of the invention in this example, the result of the pharmacological test on the antiflatulent of this invention formulated by combining the dietary fiber and the YY bacterium is shown, and a fortification of the intestine regulating function is also described. 例文帳に追加
本事例では、発明の詳細な説明において、本発明の食物繊維と YY菌とを組み合わせた整腸剤についての薬理試験結果が示され、整腸作用が増強されることも記載もされている。 - 特許庁
An multi-function peripheral (MFP) 1 performs print-output of an image to be printed in a printer part 3, and a non-volatile memory 12 stores a plurality of kinds of test images for confirming the image condition of the image print-outputted.例文帳に追加
MFP1はプリンタ部3においてプリントすべき画像のプリント出力を行い、不揮発メモリ12はプリント出力された画像の画像状態を確認するためのテスト画像を複数種類記憶する。 - 特許庁
A boundary scanning test circuit 3 is selectively set into an operatable/operation-incapable condition through a control gate 4c according to a signal from a function setting circuit 4a for assigning an operation mode according to a potential of a bonding pad 6b.例文帳に追加
バウンダリースキャンテスト回路(3)を、ボンディングパッド(6b)の電位に従って、その動作モードを指定する機能設定回路(4a)からの信号に従って制御ゲート(4c)より、選択的に動作可能/不能状態に設定する。 - 特許庁
To provide an image recording apparatus capable of effectively utilizing a margin of a paper generated in test printing without wasting the margin, and confirming a space from an installation position of a necessary apparatus when the function of the apparatus is used.例文帳に追加
テストプリントにおいて発生する用紙の余白を無駄にせず有効に活用して、装置の機能を使用する際に必要な装置の設置位置からのスペースを確認することができる画像記録装置を提供すること。 - 特許庁
To provide a method for readily and specifically distinguishing for detecting transient abnormalities in liver function inspection, due to thyroid-gland poisoning and drug hepatopathy caused by an anti-thyroid agent by using a blood test.例文帳に追加
甲状腺中毒症による一過的な肝機能検査異常と、抗甲状腺剤による薬剤性肝障害とを、血液検査などにより、簡便にかつ特異的に区別して検出する方法を提供する。 - 特許庁
To provide an apparatus and method for measuring a three dimensional shape capable of generating an accurate three dimensional model from a three dimensional coordinate of a test surface acquired by a microscope having an auto focus function.例文帳に追加
顕微鏡のオートフォーカス機能を用いて取得した試料表面の三次元座標から正確な三次元モデルを生成することができる三次元形状測定装置及び三次元形状測定方法を提供する。 - 特許庁
To provide a printer having a test print function which enables printing only of required information in the printer by the push apart pattern of a switch button constituting the panel input section of the printer.例文帳に追加
プリンタのパネル入力部を構成するスイッチボタンの押分けパターンにより、当該プリンタの内部情報から、必要な情報のみを印刷することを可能とするテストプリント機能を有するプリンタを提供すること。 - 特許庁
When function, feature, etc. of the invention according to a claim may be converted to ones having other definitions or ones that are obtained according to a test and measurement method, and a cited invention deemed as identical in view of conversion results is found 例文帳に追加
請求項に係る発明の機能・特性等が他の定義又は試験・測定方法によるものに換算可能であって、その換算結果からみて同一と認められる引用発明が発見された場合 - 特許庁
When function, feature, etc. of the invention according to a claim may be converted to ones having another definition or are obtained according to a test and measurement method, and an earlier application invention deemed to be identical in view of conversion results is found. 例文帳に追加
請求項に係る発明の機能・特性等が他の定義又は試験・測定方法によるものに換算可能であって、その換算結果からみて同一と認められる先願発明の物が発見された場合 - 特許庁
An external shape of a flat rectangular body is given to a cell for test used for inspecting the function of a fluorescence device to provide a fit part fitting into a cell insertion part on a diagonal line that together joins confronting vertices thereof.例文帳に追加
蛍光発光装置の機能を点検するために使用する試験用セルの外形形状を扁平矩形体にし、セル挿入部の対向する頂点を結ぶ対角線上に嵌合する嵌合部を設けた。 - 特許庁
To provide a transmission/reception circuit with a data delaying function realizing the reduction of testing cost and testing time by dispensing with a dedicated measuring instrument in a test to a skew belonging to a received signal or a differential signal.例文帳に追加
受信信号または差動信号が有するスキューに対するテストにおいて、専用の測定器が不要となり、テストコストの低減化、テスト時間の短縮化を図るようにしたデータ遅延機能付き送受信回路の提供。 - 特許庁
To provide an autonomous diagnostic function upon device installation while simplifying a test process of immediate screening of a malfunction part, examination of effect of the malfunction on other parts, and operation confirmation at the time of a trouble.例文帳に追加
不具合発生時の早急な不具合箇所の選別、非対象箇所への影響の確認及び動作確認の試験工程を簡略化できるとともに、装置設置時における自立した診断機能を実現する。 - 特許庁
Then, a sense electric current is applied to each of the plurality of test patterns TEG, the resistance values are measured for the second MR elements 22 of different heights h, and a correlation function between these resistance values and the heights h is determined.例文帳に追加
そして、この複数のテストパターンTEGにそれぞれセンス電流Iが印加されて、ハイトhの異なる第2MR素子22の抵抗値Rが測定され、抵抗値Rとハイトhとの相関関数が求められる。 - 特許庁
A standardized test device for a device function 12 of a field control device 1 is used in a method and computer system for configuring a facility control system, and a display 23 of a visible device is generated at a graphic output device.例文帳に追加
設備制御システムの構成のための方法及びコンピュータシステムであって、フィールド制御デバイス(1)のデバイス機能(12)の標準化されたテキストデバイスを使用し、可視のデバイスの表示(23)がグラフィック出力デバイスに生成される。 - 特許庁
A main key is inserted in a state where an IG switch is turned off (S21 and S22), the test terminal is turned on by turning on an auxiliary switch in a prescribed time three times (S23 and S24), and the diagnosis of the door locking/unlocking function is started (S25).例文帳に追加
IGスイッチがオフの状態でメインキーを差し込み(S21、S22)、テスト端子をオンして補助スイッチを所定時間内に3回オンすることにより(S23、S24)、ドアロック/アンロック機能の診断が開始する(S25)。 - 特許庁
To provide a pre-charge control signal generating circuit having a pre-charge function of non-synchronism which can perform a required test without being restricted by performance of a memory tester, and a semiconductor memory using this circuit.例文帳に追加
メモリテスタ装備の性能に制限されないで必要なテスト動作を行うことができる非同期のプリチャージ機能を有するプリチャージ制御信号生成回路及びこれを用いた半導体メモリ装置を提供する。 - 特許庁
A user operates a parameterized operation model 31 by using a test pattern 42 for verifying a function and an architecture parameter file 44, and optimizes the architecture parameter file 44 by verifying the architecture of the microprocessor.例文帳に追加
ユーザは、機能検証用テストパターン42およびアーキテクチャパラメータファイル44を用いてパラメタライズされた動作モデル31を動作させ、マイクロプロセッサのアーキテクチャの検証を行なってアーキテクチャパラメータファイル44を最適化する。 - 特許庁
To reduce circuit scale and to shorten a test time without requiring a data selector for writing data directly to an ECC memory in a semiconductor memory device having an ECC function for data having 32 bits data width.例文帳に追加
32ビットデータ幅のデータに対するECC機能を有する半導体メモリ装置において、ECCメモリに直接データを書き込むためのデータセレクタを必要とせず、回路規模の縮小と検査時間の短縮を図る。 - 特許庁
To provide a semiconductor device provided with a package wherein a good result can be obtained when the semiconductor device incorporating a Peltier element is tested for temperature by using a test handler, concerning the semiconductor device with temperature control function.例文帳に追加
温度制御機能を有する半導体装置に関し、ペルチェ素子が組み込まれた半導体装置をテストハンドラで温度試験した場合に好結果が得られるパッケージを備えた半導体装置を提供しようとする。 - 特許庁
To provide a semiconductor device installed with a self test function accessible to all memory regions of non-volatile memory during burn-in by providing freedom in combination of semiconductor integrated circuit loaded on the semiconductor device.例文帳に追加
半導体装置に搭載される半導体集積回路の組み合わせに自由度をもたせ、且つ、バーンイン時に不揮発性メモリの全メモリ領域にアクセス可能な自己テスト機能内蔵の半導体装置を提供する。 - 特許庁
As a waveform strain generation circuit 31A is installed in the semiconductor device 30A, low-cost semiconductor test devices 10X and 10Y without the waveform strain generation function can be used.例文帳に追加
また、半導体装置30Aには波形ひずみ発生回路31Aが内蔵されているため、半導体試験装置10X,10Yとして、波形ひずみ発生機能のない安価な半導体試験装置を用いることができる。 - 特許庁
To provide a 1394 bus data analyzer with improved system operations in comparison with design of a prior art and having a stealth function for enabling collection of data and monitoring of a bus event without influencing a test bus.例文帳に追加
先行技術の設計に比べシステム動作が改善された、テストバスに影響を及ぼすことなく、データの収集およびバスイベントの監視を可能にするステルス機能を有する1394バスデータアナライザを提供すること。 - 特許庁
To reduce an influence of dullness and strain of a signal in an input for an inspection device to conduct a quick function test, when executing an inspection for a semiconductor device, using the inspection device.例文帳に追加
検査装置を用いて半導体装置の検査を行う際に、検査装置の入力における信号の鈍りや歪みの影響を低減して高速なファンクションテストを行うことができる検査補助装置を提供する。 - 特許庁
For shortening the waiting time from voltage impression to the measurement of a current, a function of detecting a current converging state is provided in a DC measurement unit, and consequently, a minimum test time in the machine number by means of the same kind of tester can be realized.例文帳に追加
電圧を印加してから電流測定までの待ち時間を電流の収束具合を検出する機能をDC測定ユニットに負荷し、同一機種のテスターのその号機における最短のテストタイムを実現する。 - 特許庁
To provide an inspection program generation device that expands a function to perform boundary test on a program including calculating an address of a memory to be accessed by optional integer calculation.例文帳に追加
メモリアクセス先のアドレスを任意の整数演算により算出する処理を含むプログラムに対しても境界検査を実施することができるように機能を拡張することができる検査用プログラム生成装置を提供する。 - 特許庁
To provide a suspension/resumption managing method and device, which conduct a test for continuously repeating a suspension processing/ resumption function by the number of suspension/resumption processing trial times.例文帳に追加
本発明は、サスペンド/レジューム処理試行回数分だけ連続的にサスペンド処理/レジューム機能を繰り返す試験を実施するサスペンド/レジューム管理方法およびサスペンド/レジューム管理装置を提供することを課題とする。 - 特許庁
To obtain high-occuracy measurement of discrete static current consumption properties of semiconductor integrated circuit device each and the electrical characteristics of a plurality of function circuits, even if a plurality of semiconductor integrated circuit devices are tested simultaneously for the static current consumption test of them and the electrical characteristics of the plurality of function circuits.例文帳に追加
半導体集積回路装置の静的消費電流テストや複数の機能回路の電気的特性を複数の半導体集積回路装置で同時に行っても、半導体集積回路装置個々の静的消費電流特性や複数の機能回路の電気的特性を高い精度で測定可能とする。 - 特許庁
The terminal function section 124 sends a radio signal to a signal processing section of a base station 102 or 103 through an antenna of the base station 102, and call connection processing between the terminal function part 124 and a test server 112 is performed through the antenna of the base station 101, and the antenna and signal processing part 122 of the base station 102 (route 192).例文帳に追加
端末機能部124から、基地局101のアンテナを介して、基地局102又は103の信号処理部に無線信号を送信し、基地局101のアンテナと、基地局102のアンテナ及び信号処理部122とを介して(経路192)、端末機能部124とテストサーバ112との呼接続処理を実行する。 - 特許庁
The control program 64 has the same function as a control program built in the control device and also a function imitating so as to obtain a same control result as a result in a case where the IC test device and the control device are connected in accordance with a control demand C1, and then outputs the control result as a control result notice C2.例文帳に追加
制御プログラム64は、制御装置に内蔵の制御プログラムと同機能を持つほか、制御要求C1に従い、IC試験装置及び制御装置が接続されているのと同じ制御結果を得るように模倣する機能を有し、この制御結果を制御結果通知C2として出力する。 - 特許庁
To provide a logic function verification apparatus and a logic function verification method capable of drastically shortening a period of time required to verify a logic circuit by reducing a work process required to generate a test bench being a verification environment for logically verifying a circuit description.例文帳に追加
この発明は、回路記述を論理検証するための検証環境であるテストベンチの生成に要する作業工程を削減し、論理回路の検証に要する時間の大幅な短縮化を図ることを可能とした論理機能検証装置及び論理機能検証方法を提供することを目的としている。 - 特許庁
The communication test means 18 tests whether it is possible to execute the communication function by utilizing the other pattern of the communication setting data stored in the storage means 14, while maintaining a state where it is possible for the communication means 16 to execute the communication function by utilizing the one pattern of the communication setting data.例文帳に追加
通信テスト手段18は、上記の一方のパターンの通信設定データを利用して通信手段16が通信機能を実行することができる状態を維持しながら、記憶手段14に記憶されている他方のパターンの通信設定データを利用して通信機能を実行することができるのか否かをテストする。 - 特許庁
The semiconductor integrated circuit incorporated with the circuit achieving the prescribed function includes: a test circuit simulating operation of the circuit; and a voltage control circuit for specifying a minimum voltage which is applied to the test circuit as drive power and wherein the operation of the circuit simulated by the test circuit is normal, and for setting a voltage of the drive power supplied to the circuit to be a value not less than the minimum voltage.例文帳に追加
所定の機能を実現する回路が組み込まれた半導体集積回路であって、前記回路の動作を模擬する試験回路と、前記試験回路に駆動電力として印加され、かつ前記試験回路によって模擬される前記回路の動作が正常である最小の電圧を特定し、前記回路に供給される駆動電力の電圧を前記最小の電圧以上の値に設定する電圧制御回路とを備える。 - 特許庁
To provide a battery safety mechanism having a stable explosion proof function, capable of easily and inexpensively mounting a safety valve body of metallic foil, reliably discharging gas outside through the safety valve body when the inside pressure of the battery reaches a prescribed low operating pressure, and surely passing a reliability test such as a drop test and the like, and a manufacturing method for it.例文帳に追加
金属箔などの安全弁体を容易、且つ安価に取り付けできるとともに、電池内圧が所定の低い作動圧に達した時点で確実に安全弁体を介してガスを外部放出でき、しかも、落下試験などの信頼性試験を確実にパスし得る安定な防爆機能を有する電池用安全機構およびその製造方法を提供する。 - 特許庁
This one-chip microcomputer 10 is provided with a starting register 18 for starting test operation for an incorporation self-checking function, and an incorporation self-check starting pattern generator 19 for setting an initial value to a test control circuit (a pseudo random number generator 14, a logic circuit checking compressor 15, a pattern generator 16 and a memory checking compressor 17).例文帳に追加
1チップマイクロコンピュータ10は、組み込み自己検査機能のために、テスト動作を起動する起動レジスタ18と、テスト制御回路(疑似乱数発生器14、論理回路検査用圧縮器15、パターン発生器16、メモリ検査用圧縮器17)に初期値を設定する組み込み自己検査起動パターン発生器19とを備えている。 - 特許庁
Each address of a normal unit to be replaced is stored by memory units corresponded to redundant units respectively, a self-test unit performs a function test of a memory cell by the prescribed holding time of contents of a memory cell, successively, analysis that which of normal units is to be replaced by which of redundant unit is performed.例文帳に追加
冗長ユニットにそれぞれ対応付けられているメモリユニットにより、置換すべき通常のユニットの各々のアドレスを記憶し、自己テストユニットは、メモリセル内容の所定の保持時間を以てメモリセルの機能検査を実施し、それに引き続いて、通常のユニットのうちどれを、冗長ユニットのどれと置換するべきであるかの解析が実施される。 - 特許庁
The characteristics on the meat quality of a test cow can be verified by treating a gene DNA of the cow with restriction enzymes EcoRI and MseI or TaqI to obtain specific 18-kinds of AFLP polymorphic markers and examining the gene DNA of the test cow by the marker preferably using a canonical discriminant function.例文帳に追加
牛の遺伝子DNAを、制限酵素EcoRI、並びに、MseIまたはTaqIによる処理を行って得た、特定の18種類のAFLP多型マーカーにより、被験牛の遺伝子DNAを、好ましくは正準判別関数を用いて検討することにより、当該被験牛の肉質についての資質を鑑別することが可能であることを見いだし、本発明を完成した。 - 特許庁
The load characteristics data on a model test piece at each timing of rock compressing tests is stored in a storage means 2, is read by an address generator 3 which generates an address according to a clock from the function generator 1, and is inputted to an amplifier 13 for load as a signal corresponding to a load of a virtual test piece.例文帳に追加
記憶手段2には岩石圧縮試験の各タイミングにおけるモデル試験片の荷重特性データが格納されており、これを前記関数発生器1からのクロックに対応してアドレスを発生するアドレス発生器3により読み出して、仮想試験片の荷重に対応する信号として、荷重用増幅器13に入力する。 - 特許庁
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