「function test」に関連した英語例文の一覧と使い方(14ページ目) - Weblio英語例文検索

A function for guiding urine of the specimen to a face side bonded with the test pieces 24 to turn it in therearound is allowed to be provided in the opening part 30 and the bent part 32.例文帳に追加

開口部３０と切り曲げ部３２には、検体である尿を試験片２４が貼付された面側に案内し、回り込ませる機能を持たせることができる。 - 特許庁

In what is called an R-type fire alarm facility, the fire sensor with automatic test function is additionally connected to a branch line apart from the trunk of the R-type system.例文帳に追加

いわゆるＲ型の火災報知設備において、いわゆる自動試験機能付火災感知器を、Ｒ型システムの幹線とは別の支線に付加的に接続するものである。 - 特許庁

To prevent malfunction of a circuit caused by influence of clock skew, in a scanning test circuit wherein a scan path is constituted by connecting in series flip-flop circuits with scanning function.例文帳に追加

スキャン機能付フリップフロップ回路を直列接続してスキャンパスを構成したスキャンテスト回路において、クロックスキューの影響による回路の誤動作を防止する。 - 特許庁

To provide a method of integrating, into a process control program or a safety control program using a field device, online test function of its field device.例文帳に追加

フィールドデバイスを用いるプロセス制御プログラムまたは安全制御プログラムに対して、それらのフィールドデバイスのオンライン試験機能を統合するような方法を提供する。 - 特許庁

An information processing device 100 sequentially inputs same test online telegraphic messages to each of online systems 200 and 300 that have a same function and different processing systems.例文帳に追加

情報処理装置１００が、同機能で処理系が異なるオンラインシステム２００、３００それぞれに対し、テスト用で同一のオンライン電文を順次投入する。 - 特許庁

To provide a system LSI having the function capable of rightly reading data of an external device when performing a high-speed test with a clock signal higher in speed than in general operation.例文帳に追加

通常動作時よりも高速なクロック信号で高速試験を行う時に、外部装置のデータを正しく読み込むことができる機能を備えたシステムＬＳＩを提供する。 - 特許庁

A program generating function 14 starts a corresponding active template 12 from a model library database 13 based on a template name described in a test spec 2.例文帳に追加

プログラム生成機能１４は、テストスペック２に記述されているテンプレート名に基づいて、対応する能動的テンプレート１２を雛形ライブラリデータベース１３から起動する。 - 特許庁

A function test circuit 21 in the burn-in device 200 is mounted on a burn-in board 30, and specifies a plurality of devices to be inspected DUT operated normally.例文帳に追加

バーンイン装置２００内のファンクションテスト回路２１はバーンインボード３０上に実装され、かつ正常に動作する複数の被検査デバイスＤＵＴを特定する。 - 特許庁

A host PC 8 connected to the signal wire changeover connector 2 has a function for setting connection between the test point 4 and the probe point 2b and informing the signal wire changeover connector 2 of the result.例文帳に追加

信号線切換コネクタ２と接続されるホストＰＣ８は、どのテストポイント４とプローブポイント２ｂを接続するか設定し、信号線切換コネクタ２に通知する機能を備える。 - 特許庁

To provide a means of inspecting function of logic circuit with a high detection capability at low cost by reducing the necessary amount of a pattern memory without reducing the number of step of a test pattern.例文帳に追加

テストパターンのステップ数を減少させずにパターンメモリの必要量を減らし、低コストで検出力の高い論理回路の機能検査手段を提供すること。 - 特許庁

The learning device 1 learning the prediction model for predicting an output of test databased on an importance level that is a ratio of a generation probability between training data that are input data of training sample data and the test data includes a learning part 12 learning the prediction model by the use of an importance level weighted loss function that is a loss function wherein the importance level is considered.例文帳に追加

訓練サンプルデータの入力データである訓練データと、テストデータとの生成確率の比である重要度に基づき、テストデータの出力を予測するための予測モデルを学習する学習装置１であって、重要度を考慮した損失関数である重要度重み付き損失関数を用いて予測モデルの学習を行う学習部１２を有する。 - 特許庁

Log data obtained from the target apparatus M are compared with data obtained by operating the test circuit K according to the log data, thereby if either of function blocks F (F1 and F2) configuring the existing circuit part 11 is determined to be faulty, the faulty function block F is substituted with the alternative circuit D with a part of the test circuit K as the alternative circuit D.例文帳に追加

対象装置Ｍから取得したログデータと、そのログデータに従って検査回路Ｋを動作させることで得られたデータとを比較することで、既存回路部１１を構成する機能ブロックＦ（Ｆ１，Ｆ２，…）のいずれかが故障であると判定されると、検査回路Ｋの一部を代替回路Ｄとして、故障した機能ブロックＦを代替回路Ｄで置換する。 - 特許庁

A coverage devaluation system 10 is composed roughly of an input means for inputting a register transfer level(RTL) description 3, a means for inputting a verification suite 4, a function test coverage measuring instrument 1 which measures the function test coverage, an RTL simplifying device 2 which simplifies RTL, and an output means which outputs a converted verification suite 5.例文帳に追加

カバレッジ評価システム１０は、レジスタ転送レベル（ＲＴＬ）記述３を取り込む入力手段と、検証スイート４を入力する手段と、機能テストカバレッジを計測する機能テストカバレッジ計測装置１と、ＲＴＬを簡単化するＲＴＬ簡単化装置２と、変換された検証スイート５を出力する出力手段とから概略構成される。 - 特許庁

To provide an Ethernet (R) transmission apparatus which can accurately decide the normality of a line quality monitoring function so that the number of pseudo line error codes inserted for a test coincides with an error count value during error count period of the function, and also to provide a method for testing the function of the apparatus.例文帳に追加

イーサネット（登録商標）伝送装置及びその回線品質監視機能の試験方法に関し、試験用に挿入した擬似回線エラーコードの個数と、回線品質監視機能におけるエラーカウント期間のエラーカウント値とが一致するようにし、回線品質監視機能の正常性の正確な判定を可能にする。 - 特許庁

The PDS control section comprising a subscriber multiplex/ demultiplex part 21, a service multiplex/demultiplex part 22 and a test mode circuit part 23, and an Ethernet interface section comprising an Ethernet (trademark) signal terminating function part 25, a filtering function part 26, an Ethernet packet processing function part 27 and a common control part 28 are made into one chip LSI.例文帳に追加

加入者多重分離機能部２１とサービス多重分離機能部２２とテストモード回路部２３とからなるＰＤＳ制御部、及び、イーサネット（登録商標）信号終端機能部２５とフィルタリング機能部２６とイーサネットパケット処理機能部２７と共通制御部２８とからなるイーサインタフェース部を１チップＬＳＩ化する。 - 特許庁

To provide an instant shutdown type circuit-breaker which shares many parts installed at a circuit-breaker main body of a standard product as much as possible and which has no overload/open-phase trip function while retaining a trip test function by changing only a small part of the parts.例文帳に追加

標準品のしゃ断器本体に装備した部品をできるだけ共用し、僅かな部品一部を取り替えるだけでトリップテスト機能を残したまま過負荷／欠相引外し機能が無い瞬時しゃ断方式の回路しゃ断器を提供する。 - 特許庁

To provide a cap with a thread which has the snap-off and snap-on function while maintaining a thred-fixing function similar to that of a conventional cap with a thread, and is attachable/detachable in one operation to/from a male thread part of a container or the like materialized by a test tube body or the like.例文帳に追加

従来の螺子付きキャップと同様の螺子による固定機能を維持しつつ、更にスナップ／オフ及びスナップ・オン機能をも付与して、試験管本体等に具体化される容器等の雄螺子部分にワンタッチで脱着することができるようにする。 - 特許庁

An AAL1-SAR function block 12 divides data of a digital multiplex channel to generate an ATM cell and the ATM cell is reassembled into data of the digital multiplex line to conduct a wrap test of the AAL1-SAR function.例文帳に追加

ＡＡＬ１−ＳＡＲ機能ブロック（１２）によってデジタル多重回線のデータを分割してＡＴＭセルを生成し、そのＡＴＭセルをデジタル多重回線のデータに再び組み立てることでＡＡＬ１−ＳＡＲ機能の折り返し試験を行う。 - 特許庁

To provide an economical infrared radiation simulation target capable of maintaining an infrared radiation function even when it is hit to some extent from a machine gun or the like, and useful in a firing test or shooting practice of a machine gun or the like having an infrared targeting function.例文帳に追加

機関砲等からある程度被弾したとしても赤外線放射機能を維持でき、赤外線照準機能を有する機関砲等の発射試験、射撃訓練に有用で、かつ経済的な赤外線放射模擬標的を提供する。 - 特許庁

In the method for checking the post-processing device function, a printing job transmitted from a host computer by a user for function checking is stored in the printer control device as a print file, and printing the stored print file is executable with the test print menu.例文帳に追加

前記後処理装置の機能確認方法として、ユーザが機能確認用にホストコンピュータから送信する印刷ジョブを、印刷ファイルとしてプリンタ制御装置内に格納し、格納した印刷ファイルをテスト印刷のメニューから印刷できるようにした。 - 特許庁

An external memory BIST 21, which tests a nonvolatile semiconductor memory which is an external memory, is provided with a bad block address management table having a function which monitors block addresses, stores bad block addresses and perform test control in a test of nonvolatile semiconductor memory 4.例文帳に追加

外部メモリである不揮発性半導体メモリをテストする外部メモリＢＩＳＴ２１には、不揮発性半導体メモリ４のテストにおいて、ブロックアドレスの監視、バッドブロックアドレスの格納、ならびにテスト制御などの機能を有するバッドブロックアドレス管理テーブルが設けられている。 - 特許庁

This new immunocyte control/differentiation factor gene search method utilizing the transduction of a gene into a Pax5-defected pro cell B is established to obtain a new cell T reconstruction test system, and the function of Rac1, ERK5 and the like are elucidated by the utilization of the test system.例文帳に追加

Pax５欠損プロＢ細胞への遺伝子導入を利用した新規免疫細胞制御・分化因子遺伝子探索法を確立し、新規Ｔ細胞再構築試験系を得ると共に、それを利用してRac１、ERK５等の機能解明を行なうことにより、課題を解決できた。 - 特許庁

The active template 12 and an intermediate parameter 10 are associated by a test spec editing function 7, and the started active template 12 generates a test program 5 by fetching the necessary intermediate parameter 10 in the intermediate parameter group.例文帳に追加

能動的テンプレート１２と中間パラメータ１０との関連付はテストスペック編集機能７によってなされており、起動された能動的テンプレート１２は、中間パラメータ群の中から必要な中間パラメータ１０を取り込むことによって、テストプログラム５を生成する。 - 特許庁

The information processor 100 has the function of performing the authentication test for transmitting data to the server (e.g., POP server or SMTP server) (e.g., for making a provider accept data), and performs this authentication test by one operation.例文帳に追加

本発明の情報処理装置１００は、サーバ（例えばＰＯＰサーバまたはＳＭＴＰサーバ）にデータを送信するための（例えば、プロバイダーにデータを受け付けてもらうための）認証テストを行なう機能をもち、この認証テストを１回の操作で行なうようになっている。 - 特許庁

A scan chain circuit 1 temporarily holds data output and input to a combination logic circuit 2 during normal operation, and serially transfers a test pattern signal SCANIn by making a plurality of flip-flops F/F function as a shift register during execution of the scan test.例文帳に追加

スキャンチェーン回路１は、通常動作時には、組み合わせ論理回路２に入出力されるデータを一時保持する一方、スキャンテスト実行時には、複数個のフリップフロップＦ／Ｆをシフトレジスタとして機能させテストパターン信号ＳＣＡＮＩｎをシリアル転送する。 - 特許庁

A test pattern data is input into a data input of the IP core 12, an output data output from a data output of the IP core 12 is compared with an expected value for the test pattern data, and the power source noise resistance is inspected when testing a function of the IP core 12.例文帳に追加

ＩＰコア１２のデータ入力にはテストパターンデータが印加され、ＩＰコア１２のデータ出力から出力される出力データとテストパターンデータに対する期待値と比較してＩＰコア１２のファンクションテスト時に電源ノイズ耐性の検査を行う。 - 特許庁

Among transistors 1-4 and 5-8 for establishing a function of a decoder 21 as an ordinary decoder, a test transistor 22 is inserted into the side of the transistors 5-8 connected in series, and a test transistor 11 is connected in parallel to the transistor group including the transistors 22.例文帳に追加

デコーダ２１を、通常のデコーダとしての機能をなすためのトランジスタ１〜４，５〜８の内、直列に接続されるトランジスタ５〜８側にテスト用トランジスタ２２を挿入し、このトランジスタ２２を含むトランジスタ群に対してテスト用トランジスタ１１を並列に接続する。 - 特許庁

This method is inputted with the time for carrying out a tests, the time for final learning, test ranges and acceptance conditions as initial information and provides the learners with the necessary number of learning times for the test ranges by using such initial information and the oblivion function held therein.例文帳に追加

本発明は、テストの実施時期、最終学習時期、テスト範囲、及び合格条件を初期情報として入力し、これらの初期情報と内部に保持する忘却関数を用いて当該テスト範囲に対する必要学習回数を学習者に提示する。 - 特許庁

The peripheral equipment 1 is provided with a switch 15 for selectively setting either the device driver for the general operation or the device driver for the test and a function for writing the attribute information data of either the device driver for the general operation or the device driver for the test in the attribute memory 13a according to the switch setting.例文帳に追加

周辺機器１は、一般運用又はテスト用のいずれか一方を選択設定するスイッチ１５と、スイッチ設定に応じて一般運用又はテスト用のいずれか一方の属性情報データをアトリビュートメモリ１３ａに書き込む機能を有している。 - 特許庁

A program test device 20a tests the content of the program provided to a mobil phone 50 via the network in advance and generates test result data 202 which records information indicating a function included in the program and resources to be accessed when the program is executed.例文帳に追加

プログラム検査装置２０ａは、ネットワークを介して携帯電話機５０に提供されるプログラムの内容を事前に検査し、プログラムに含まれている関数や、プログラムを実行した場合にアクセスされるリソースを示す情報を記録した検査結果データ２０２を生成する。 - 特許庁

To provide an on-chip test interface being integrated and always enabled which is used for verifying a function of high speed incorporated memory such as a synchronous dynamic random access memory(SDRAM) enabling performing a test with an existing tester having comparatively low operation speed (therefore, low cost), or the like.例文帳に追加

既存の比較的低速度の、（よって低コストの）テスタでテストを行なうことを可能にする、シンクロナスダイナミックランダムアクセスメモリ（「ＳＤＲＡＭ」）などの高速組込みメモリの機能を検証するために用いる、統合され常に可能化されたオンチップテストインターフェイスを提供する。 - 特許庁

This in-urine physical component classification device is characterized by having a means for image picking up the test solution on a translucent plate or in a flow cell and by equipping the means with an auto-focusing function for focusing automatically on the physical component in the test solution.例文帳に追加

透光板上もしくはフローセル中の被検液を撮像する手段を有し、かつ前記手段において被検液中の有形成分に焦点を自動に合わせる自動合焦機能が装備されることを特徴とする尿中有形成分分類装置。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device for driving a magnetic recording and reproducing device and a magnetic recording and reproducing device, where the circuit device can be put into a test mode by inputting a test signal for putting each function of the semiconductor integrated circuit device into the test mode to a terminal to be used at ordinary operation.例文帳に追加

半導体集積回路装置の各機能のテストモードにするためのテスト信号を通常動作時に使用される端子に入力することによって、半導体集積回路装置をテストモードにすることのできる磁気記録再生装置ドライブ用半導体集積回路装置及び磁気記録再生装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The method and apparatus are for testing wirings in a circuit base mounted with an integrated circuit, and has a circuit having the function of executing embedded-type time domain reflectivity test is incorporated therein, by sending out a test transition signal generated by the integrated circuit (IC) mounted thereon to the wiring 102 and capturing the reflection 502 of the test transition signal.例文帳に追加

集積回路を搭載した回路基盤の配線を試験する方法及び装置であって、搭載された集積回路より発生される試験遷移信号を配線１０２に送出し、その試験遷移信号の反射５０２をキャプチャすることにより、時間領域反射率試験を実施する機能を有する回路が組み込まれたＩＣを含む方法及び装置。 - 特許庁

An information processor includes: generation means for transmitting data to a verification target from a description within a test bench program including a function of the verification target and for generating a data transmitting and receiving function to receive the data from the verification target; and implementation means for implementing the data transmitting and receiving function generated by the generation means and the function of the verification target in an emulator.例文帳に追加

検証対象の関数を含むテストベンチ・プログラム内の記述から検証対象へデータを送信すると共に、検証対象からデータを受信するデータ送受信関数を生成する生成手段と、生成手段で生成されたデータ送受信関数及び検証対象の関数をエミュレータに実装する実装手段と、を有することによって課題を解決する。 - 特許庁

According to the constitution, even if the function turned ON by the respective switches 6-9 is changed, an executor of the action test can perform input operation to the switches in the lighting order of the switches 6-9.例文帳に追加

この構成により、各スイッチ６〜９によってＯＮされる機能が変更しても、動作試験の実施者は、スイッチ６〜９の点灯順にスイッチへの入力操作を行うことができる。 - 特許庁

To provide a subscriber circuit capable of identifying a protector with a separation function (disconnected state) or a modular jack with a capacitor or the like connected to a subscriber line and to provide a test method.例文帳に追加

加入者線に接続された切分け機能付保安器（切離し状態）と電話機または容量付モジュラジャックなどの識別が可能な加入者回路と試験方法を提供。 - 特許庁

A counter section 14 counts a period required for executing the pipeline process in the pattern generating section 11 after the automatic program function of a memory under test 20 starts a write operation.例文帳に追加

カウンタ部１４は、被試験メモリ２０の自動プログラム機能による書き込み動作が開始されてからパターン発生部１１でパイプライン処理に要する時間分だけ時間を計時する。 - 特許庁

A test computer 51 determines a set value of write current as a function of temperature for every head element section 12 from relation with write current and error rate.例文帳に追加

本発明の一実施形態において、テスト・コンピュータ５１は、ライト電流とエラー・レートとの関係から、ヘッド素子部１２ごとに温度の関数としてのライト電流の設定値を決定する。 - 特許庁

To run a function validation test by an actual machine incorporating a feedback signal of the opening of a regulating valve without starting a plant whole body by using a regulating valve opening model by a change over generator.例文帳に追加

切替発生器により調節弁開度モデルを利用し、プラント全体を起動しなくとも調節弁の開度フィードバック信号を採りいれた実機による機能確認試験を行う。 - 特許庁

By setting the sensitivity function so that the maximum value is suppressed and the vibration frequency range is shifted to a higher frequency range, the vibration of the test piece can be suppressed relative to the disturbance.例文帳に追加

感度関数を、最大値を抑制し且つ振動周波数域を高周波数域にシフトさせるように整形することで、外乱に対して供試体の振動を抑えることができる。 - 特許庁

A compressed-data generation means 20 has a function which compresses a test pattern to be given to this LSI tester 100 and which generates compresses data 30.例文帳に追加

ＬＳＩテスタに与えるテストパターンの圧縮データを生成する圧縮データ生成手段と、前記圧縮データに基づきＬＳＩのテストを行うＬＳＩテスタとを含むＬＳＩテストシステムである。 - 特許庁

To shorten a data write-in time at a test time by giving a function writing the data read out from a specified bank in another bank in a synchronous type DRAM(dynamic random access memory) having multi-bank constitution.例文帳に追加

マルチバンク構成を有する同期型ＤＲＡＭにおいて、特定のバンクから読み出したデータを他のバンクに書き込みを行う機能を持たせ、試験に際してデータ書き込み時間を短縮する。 - 特許庁

A signal having a change equal to or more than a fixed level in a waveform is extracted by carrying out the simulation of low accuracy while using a test pattern prepared in accordance with a function being a simulation object.例文帳に追加

シミュレーション対象とする機能に応じて作成したテストパターンを用いて低精度のシミュレーションを実行し、波形に一定以上の変化がある信号を抽出する。 - 特許庁

In the method, a function-described specification of a semiconductor integrated circuit is logically composed, and a GCB which requires the propagation of a clock in a memory test is then extracted from a net list 1 (S1-1).例文帳に追加

機能記述された半導体集積回路の仕様を論理合成した後、ネットリスト１から、メモリ試験時にクロックを伝播させる必要のあるＧＣＢを抽出する（Ｓ１−１）。 - 特許庁