「function test」に関連した英語例文の一覧と使い方(13ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a testing device and a test method capable of testing various semiconductor integrated circuit having different characteristics, and coping with diversification of an analog characteristic test by fulfillment of generation function of DAC data or the like.例文帳に追加

特性の異なる種々の半導体集積回路の試験を可能にすると共に、ＤＡＣデータの発生機能の充実化を図るなど、アナログ特性試験の多様化に対応できる試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device provided with a self-diagnostic test function that dispenses with complicated control by the arrangement of a complicated and large-scale circuit configuration and can flexibly cope with even revisions and additions of test specifications.例文帳に追加

複雑で大規模な回路構成を備えて複雑な制御をする必要なく、テスト仕様の変更や追加に対しても柔軟に対応することができる自己診断テスト機能を備えた半導体記憶装置を提供すること - 特許庁

A function generator 11, when a speed of the engine under test 1 is in idling range, increases in direct proportional to the speed, and when the speed of the engine under test 1 is in idling range or over, the output of polygonal line characteristic where it becomes a fixed value, is obtained.例文帳に追加

関数発生器１１は、供試エンジン１の回転数がアイドリング領域にあるときは回転数に比例して増加し、エンジン回転数がアイドリング領域以上にあるときは一定値になる折線特性の出力を得る。 - 特許庁

A method for judging a control function for the TGF-β signal response of a test substance includes making TGF-β and the test substance to act on the transformant, examining the expression degree of a reporter gene, and then using the result as an indicator.例文帳に追加

該形質転換体にＴＧＦ−βと被験物質を作用させた後、レポーター遺伝子の発現程度を調べ、その結果を指標にして行う、被験物質のＴＧＦ−βシグナル応答に対する制御機能の判定方法。 - 特許庁

By changing the level of a control signal C2 from a mode selection part 40, the operation mode of a function part 10 is changed over from normal mode to test mode for reading data from a ROM 30 in which command codes for test are stored.例文帳に追加

モード選択部４０からの制御信号Ｃ２のレベルを変えることによって、機能部１０の動作モードを通常モードから、テスト用の命令コードを格納したＲＯＭ３０からデータを読み出すテストモードに切り替える。 - 特許庁

To provide a function that allows a subscriber terminal station device for executing restriction on incoming calls received by an exchange from a point of time, when a test of a speech channel is started until a point of time when the test is completed as to a channel to be tested in a subscriber system network.例文帳に追加

加入者系ネットワークにおいて、被試験回線について通話路試験開始時点から完了時点までの間、加入者側端局装置から交換機の着信規制を実行させる機能を提供する。 - 特許庁

To perform driving operations for a vehicle under test with an ignition key held, even when it has a wireless communications function, without hindering the wireless communications and perform a desired test.例文帳に追加

試験対象車両のイグニッションキーがワイヤレス通信機構を有するものであっても、そのワイヤレス通信を妨げることなくイグニッションキーを保持して試験対象車両の運転操作ができ、目的とする試験を行うことを可能にする。 - 特許庁

A method is provided, which prints a series of test patterns 200 on a test substrate using a lithography projection apparatus in order to measure a critical dimension printed as a function of a preset value of the amount of exposure dose and a preset value of focal length.例文帳に追加

印刷されたクリティカルディメンジョンを露光ドーズ量設定値および焦点設定値の関数として測定するために、リソグラフィ投影装置を使用して試験基板に一連の試験パターン２００を印刷する方法が提供される。 - 特許庁

To prevent increase in test time accompanying scale enlargement of a circuit due to realizing individual test designs in a plurality of function circuit blocks (DRAM, logic, or the like) mounted on an LSI formed into one chip and sequentially testing them by using a plurality of testers.例文帳に追加

１チップ化されたＬＳＩに搭載された複数の機能回路ブロック（ＤＲＡＭ，ロジック等）には個別のテスト設計が実現され、テスタを使い分けて順次テストしていたため、回路の規模化に伴ってテスト時間が増大する。 - 特許庁

At the end of the test process, the information of a test result inputted to the terminal 1 is transferred to the server 3 through the computer 2 and registered in the DB 5 by the function 33.例文帳に追加

テスト工程終了時には、テスト端末機１に入力されたテスト結果の情報を、ホストコンピュータ２を介してテスト管理サーバ３に転送し、テスト管理サーバ３のテスト登録機能３３により進捗管理ＤＢ５に登録する。 - 特許庁

To provide an electronic ground-fault interrupter having an overcurrent determination function and a ground fault determination function which are integrated into a CPU that can suppress a tripping operation based on ground fault determination during a test of overcurrent characteristics for each pole unit of the interrupter through unipolar energization, and conducting a correct test of the overcurrent characteristics.例文帳に追加

過電流判定機能と漏電判定機能とを一つのＣＰＵに集約した電子式漏電遮断器において、単極通電による遮断器各極単位での過電流特性試験時に漏電判定に基づくトリップ動作を抑制し、過電流特性試験を正しく行うことができる電子式漏電遮断器を得る。 - 特許庁

This manufacturing system includes a soldering robot 1 to solder electronic components to a printed circuit board, a circuit check unit to inspect the electrical characteristics of the printed circuit board, a ROM writer 3 to write the predetermined data on the flash ROM on the printed circuit board, and a function test unit 4 to perform a final function test.例文帳に追加

本生産システムは、はんだ付けロボット１によりプリント基板上に電子部品をはんだ付けし、サーキットチェック装置によりプリント基板の電気特性を検査した後、ＲＯＭライタ３によりプリント基板上のフラッシュＲＯＭに所定のデータを書き込み、ファンクションテスト装置４により最終的な機能検査を行う。 - 特許庁

A utilization recommending part 107 selects the translation support function to be recommended to the user out of the plurality of the translation support functions provided in the system 100 on the basis of a mark result of the test, and transmits a utilizing function display screen by which the selected translation support function becomes available to the user terminal 300-1.例文帳に追加

利用推奨部107は、テストの採点結果に基づいて、自システム100が備えている複数の翻訳支援機能の中からユーザに推奨する翻訳支援機能を選択し、選択した翻訳支援機能の利用を可能にする利用機能表示画面を利用者端末300-1へ送信する。 - 特許庁

To provide a supplementary test tool that makes it possible for any- body to easily test the function of sending and receiving ultrasonic waves of an ultrasonic probe with a plurality of arranged ultrasonic oscillators in relation to a supplementary test tool of supporting the test of the functions of sending and receiving ultrasonic waves of a ultrasonic probe having the plurality of arranged ultrasonic oscillators.例文帳に追加

配列された複数の超音波振動子を有する超音波プローブの、その配列された複数の超音波振動子の超音波送受信機能の試験を補助する試験補助治具に関し、超音波プローブの、配列された複数の超音波振動子の超音波送受信機能の試験が誰にでも簡単に行うことができるよう、その試験を補助する試験補助治具を提供する。 - 特許庁

The method for screening the remedy of the multiple system atrophy includes dosing a test substance to a medium spiny neuron of corpus striatum in a nonhuman animal having deficient function of tubulin γ2 gene, and selecting the test substance by using one of the influences of the test substance on the shape of a mitochondrion of the neuron, the released amount of a GABAergic neurotransmitter, and the content of ATP as an index.例文帳に追加

チューブリンγ２遺伝子の機能が欠失した非ヒト動物の線条体中型有棘神経細胞に被検物質を投与し、被検物質の該ニューロンのミトコンドリアの形状、ＧＡＢＡ性神経伝達物質放出量、ＡＴＰ含有量への影響のうちいずれか1つ以上を指標ととして選択する。 - 特許庁

To precisely test a semiconductor integrated circuit device under test, even in the case that the semiconductor integrated circuit device under test which has a power supply pad, a GND pad and an output pad, has a function of outputting a prescribed constant voltage from the output pad, but has no circuit for transmitting any internal voltage correctly.例文帳に追加

電源パッド、ＧＮＤパッド及び出力パッドを備え、出力パッドから所定の定電圧を出力する機能を備えた半導体集積回路装置に対して、半導体集積回路装置が内部電圧を正確に伝える回路を備えていなくても、被試験半導体集積回路装置を高精度に試験する。 - 特許庁

To easily and precisely verify the functions of test circuits by enabling flexible dealing with function variations under various operating conditions, ensuring the versatility with respect to test circuits which can be dealt with, and consequently preventing a verification leakage etc., when the functions of the test circuits are verified.例文帳に追加

被試験回路の機能を検証するのにあたり、対応し得る被試験回路についての汎用性を確保しつつ、様々な動作条件での機能検証に柔軟に対応することを可能にし、これにより検証漏れ等が生じることなく被試験回路の機能検証を容易かつ的確に行えるようにする。 - 特許庁

In a state where the automatic recovery function is not used, a shutter drive coil is excited by depressing a shutter opening and closing switch 12; a movable member 14 is displaced upward by the magnetic attraction of the shutter drive coil, and since a test plug insertion opening 4 is brought into open state; and a test plug can be inserted into the test plug insertion opening 4.例文帳に追加

自動復旧機能が不使用状態のときには、シャッタ開閉スイッチ１２の押下によって、シャッタ駆動コイルが励磁されて、シャッタ駆動コイルの磁気的引力によって、可動部材１４が上方に変位して、テストプラグ挿入口４が開放状態となり、テストプラグのテストプラグ挿入口４への挿入が可能となる。 - 特許庁

In a control device for performing the feedback control for at least the position and attitude angle of a test piece, a sensitivity function related to a transfer function concerning disturbance input through the outputs of the position and attitude angle, and a complementary sensitivity function related to a transfer function concerning a disturbance input through the output of a current fed to a coil and an electromagnet are defined.例文帳に追加

供試体の少なくとも位置・姿勢角についてのフィードバック制御をする制御装系において、外乱入力から位置・姿勢角の出力までの伝達関数に関連する感度関数と、また外乱入力からコイル・電磁石に印加される電流の出力までの伝達関数に関連する相補感度関数とが定められる。 - 特許庁

The portable terminal 100 includes a vibrator 107 which applies vibration to electronic components such as CPU 101 and RAM 102 mounted on a printed circuit board at the time of circuit function test for self-diagnosis of the function of the printed circuit board of the portable terminal 100.例文帳に追加

携帯端末１００のプリント回路基板の機能を自己診断する回路機能検査時に、プリント回路基板に実装されたＣＰＵ１０１やＲＡＭ１０２等の電子部品に振動を加えるバイブレータ１０７を設ける。 - 特許庁

The memory chip of a semiconductor device, especially a DRAM, etc., has a region 15 where a protection film 8 (a first insulation layer) is removed for tests (electrical characteristics test such as a function test), the fine control of characteristics (such as salvation of a fuse), and corrections, etc.例文帳に追加

メモリチップ、特にＤＲＡＭなどの半導体装置であって、検査（機能テスト等の電気的特性検査）や特性微調整（ヒューズ救済等）・修正等の目的のために保護膜８（第１の絶縁層）を除去した領域１５を有する。 - 特許庁

The variable voltage fuse interpreter determines the states of each of the fuses (namely blown or unblown) corresponding to the margin and unmargin test currents and generates a digital output as a predetermined function of the fuse states with respect to each of the test currents.例文帳に追加

可変電圧ヒューズ解釈器が、余裕及び非余裕試験電流に対応する各々のヒューズの状態（即ち、とんだか、とばないか）を決定し、各々の試験電流に対するヒューズ状態の予定の関数として、ディジタル出力を発生する。 - 特許庁

To provide a device hardly influenced by a noise or the like, capable of executing a high-speed test of a semiconductor device, concerning an external test auxiliary device suitable for improvement of measuring performance of a tester or for extension of its function.例文帳に追加

本発明はテスタの測定性能の向上やその機能の拡張を図る上で好適な外部試験補助装置に関し、ノイズ等の影響を受けにくく、かつ、半導体装置の高速試験を可能とする装置を実現することを目的とする。 - 特許庁

To efficiently supply a power to a capsule type endoscope by performing a power supply in response to a power mode to a function executing means in a device (an introducing unit in a test specimen) to be introduced into the test specimen like the capsule type endoscope.例文帳に追加

カプセル型内視鏡のように被検体内に導入される装置（被検体内導入装置）内の機能実行手段への電力供給を電力モードに応じて行うことで、カプセル型内視鏡への電力供給を効率良く行うこと。 - 特許庁

To obtain a method for manufacturing an IC socket, capable of conducting an electrical function test, without requiring a test socket required corresponding to the number of pins and dimension of an IC package or a transfer machine or the like for divided IC packages.例文帳に追加

ＩＣパッケージのパッケージピン数や外形サイズに応じて必要となるテストソケットや、分断されたＩＣパッケージの搬送機等を必要とすることなく電気的な機能テストを実施することが可能なＩＣパッケージの製造方法を得ること。 - 特許庁

The vehicle under test includes a projector equipped with the radio communication function, a reflector for adjusting the projection angle from the projector, and a screen displaying the vehicle speed pattern projected by the projector arranged on the front wind shield of the vehicle under test.例文帳に追加

被試験車両に、無線による送受信機能を有するプロジェクタと、このプロジェクタからの投射角を調整する反射体と、前記被試験車両のフロントウインドウに配設されてプロジェクタが投影した車速パターンを表示するスクリーンを設置する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device having a base plate with a semiconductor framework referred to as a CSP arranged on it and a second upper layer wiring for test provided for a function test, and capable of downsizing overall planar size.例文帳に追加

ＣＳＰと呼ばれる半導体構成体をベース板上に配置し、その上に、ファンクションテストのために設けられたテスト用の第２の上層配線を有する半導体装置において、全体としての平面サイズを小さくする半導体装置を提供する。 - 特許庁

A successive approximation type A/D converter mounted on an LSI chip 10a is allowed to have a self-test function, and the conversion test of the successive approximation type A/D converter circuit 18a can be made with voltage generated from a built-in DAC circuit 22 as an analog input voltage AIN.例文帳に追加

LSI チップ10a に搭載された逐次比較型A/D コンバータ回路18a にセルフテスト機能を持たせ、内蔵DAC 回路22から生成した電圧をアナログ入力電圧AIN として逐次比較型A/D コンバータ回路の変換テストを行なうことを可能とした。 - 特許庁

Before data recording on the optical disk, test recording is carried out in the test area of the optical disk at one recording speed to obtain optimal recording power, and the recording power function of each zone is corrected by using the recording speed and the optimal recording power.例文帳に追加

また、光ディスクへのデータ記録に先立ち、１つの記録速度で、光ディスクのテスト領域にテスト記録を行って最適記録パワーを求めて、該記録速度及び該最適記録パワーを用いて上記各ゾーンの記録パワー関数を補正する。 - 特許庁

The function test control part 12 also holds the control signal CS for handling the operation voltages with respect to the voltage control part 15 at least corresponding to the test program and the voltage control part 15 gets the operation voltages varied according to the control signal CS.例文帳に追加

かつ、機能試験制御部１２は、少なくとも試験プログラムに応じた電圧制御部１５に対する動作電圧操作用の制御信号ＣＳを保持し、電圧制御部１５は、制御信号ＣＳに応じて動作電圧が可変される。 - 特許庁

LBF-x (x=a-c) fields whose number is equal to the number of the function blocks 10a-10c in the ATM transmitter 1 are provided in a payload of this test cell.例文帳に追加

この試験セルのペイロード部には、ＡＴＭ伝送装置１内の各機能ブロック１０ａ〜１０ｃの数と同数のＬＢＦ_x（ｘ＝ａ〜ｃ）フィールドが設けられている。 - 特許庁

To test the margin about a function for data transfer processing by readily creating a state for transferring data amount of performance limitation for a network repeater.例文帳に追加

ネットワーク中継装置において容易に性能限界のデータ量を転送する状態を作り出すことにより、データ転送処理の機能についてのマージンを試験する。 - 特許庁

A method and a device for verifying the function design of a response of a system (10) to the propagation delay from the input of the transmission source synchronous link during a test are disclosed.例文帳に追加

テスト中における送信元同期リンクの入力からの伝搬遅延に対するシステム(10)の応答の機能設計を検証するための方法及び装置が開示される。 - 特許庁

When the last tested pair chip 6 is mounted, a function test as an electronic circuit device is carried out, and when it is determined to be good, the electronic circuit device is completed.例文帳に追加

最後の被試験ベアチップ６を実装した場合は、電子回路装置としての機能テストを行い、良品であると判定された場合は、電子回路装置の完成品とする。 - 特許庁

On an evaluation board 20 for inspection, the data producing function 21 is furnished for producing test data by replacing a part of reproduced data supplied from an MO drive 33 with error data.例文帳に追加

ＭＯドライブ３３から供給された再生データの一部をエラーデータで置換してテストデータを生成するデータ生成機能２１を搭載した評価ボード２０を提供する。 - 特許庁

To obtain a semiconductor device which can be restrained from increasing in power consumption in a normal operation mode, while making normal input pin function as a test pin.例文帳に追加

通常の入力ピンにテストピンとしての機能を持たせながらも、通常動作モードにおいて消費電力を増加させない半導体装置を提供すること。 - 特許庁

To reduce a frame area in a liquid crystal display provided with static electricity protecting function of protecting a thin-film transistor for switching from static electricity, and test functions.例文帳に追加

スイッチング用薄膜トランジスタを静電気から保護するための静電気保護機能およびテスト機能を備えた液晶表示装置において、額縁面積を小さくする。 - 特許庁

To shorten a time required for evaluation by conducting a simple function test for evaluating a cross-point voltage of a differential output of a differential output circuit.例文帳に追加

差動出力回路の差動出力の交差点電圧を評価する際、簡単な機能テストを行うことで可能とし、評価の所要時間を大幅に短縮する。 - 特許庁

When a tire of a new type is sold, an index value indicating quality and cost is automatically calculated by a predetermined function from a performance test value of the tire.例文帳に追加

新しい種類のタイヤが販売されるとき、そのタイヤの性能試験値から、品質とコストとを示す指標値が所定の関数により自動的に算出される。 - 特許庁

To provide a probe capable of efficiently injecting noise signals to a power supply line of a device under test without having to lower the original function of a bypass capacitor.例文帳に追加

バイパスコンデンサの本来の働きを低下させることなく、被試験デバイスの電源ラインに効率よくノイズ信号を注入することが可能なプローブを提供する。 - 特許庁

To provide a valve device having a pressure detection function for allowing a pressure switch and a test communication valve to be attached to a valve box without requiring a complicated pipeline layout.例文帳に追加

煩雑な配管レイアウトを要することなく圧力スイッチおよび試験連通弁を弁箱に取り付けることができる圧力検出機能を有する弁装置を提供する。 - 特許庁

The function circuit also comprises a diagnostic logic for conducting an operation test of an internal circuit mounted in the delay circuit (41, 42) to externally input a diagnostic signal.例文帳に追加

また、遅延回路（４１，４２）に内部回路の動作試験を行うための診断用論理を搭載し、外部から診断用信号が入力されるように構成する。 - 特許庁

The system continues to properly function without needing to change the route of the data item even in a failure, facilitates design, analysis and a test, and thereby enhances reliability.例文帳に追加

このシステムは、故障の場合にもデータ・アイテムのルートを変更する必要なく適切に機能し続け、設計、分析及びテストを容易にし、それにより信頼性を増す。 - 特許庁

To obtain a semiconductor integrated circuit having a redundancy data output function capable of performing a normal/defective condition test on the selection operation of a redundancy output selecting circuit of redundancy output data.例文帳に追加

冗長出力データの冗長出力選択回路の選択動作の良否テストが可能な、冗長データ出力機能を有する半導体集積回路を得る。 - 特許庁

To provide a system and a method for specifying the fault location of a semiconductor device which can specify a fault in function during scanning test of the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置のスキャンテストのファンクション不良を特定する半導体装置の故障箇所判定システム及び半導体装置の故障箇所特定方法を提供する。 - 特許庁