「function test」に関連した英語例文の一覧と使い方(11ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a test having a function for finding out an instruction which is a factor, and an object function when an expected value and an executed result value are not matched and avoiding the occurrence of a defect caused by the same factor.例文帳に追加

期待値と実行結果値とが不一致の場合、要因となった命令及び対象機能を見つけ出し、同一要因による不良の発生を回避する機能を有する試験を提供する。 - 特許庁

The indirect branch instruction is used for improving processing in comparison with the use of the successive chain of test and branch by executing indirect function calling, virtual function calling and switch statement.例文帳に追加

間接的な分岐命令は、間接的な関数呼び出し、バーチャルな関数呼び出し、及びスイッチステートメントを実施して、テスト及び分岐の逐次チェーンの使用に比して処理性能を改善するのに使用される。 - 特許庁

To create a software function test specification, a software structure and a program according to contents described in a software function specification so as to improve software development efficiency and software product quality.例文帳に追加

ソフトウェア機能仕様書に記載した内容に応じてソフトウェア機能試験仕様書と、ソフトウェア構造と、プログラムを作成することで、ソフトウェア開発の効率向上とソフトウェア製品の品質向上を図る。 - 特許庁

When the specified function is invoked on the target computer system, if the specified test is not satisfied by the specified parameter, the facility performs the specified modification to the behavior of the specified function.例文帳に追加

指定された機能が、対象コンピュータシステムで呼び出される時、指定されたテストが指定されたパラメータによって満足されない場合、本機構は、指定された機能の挙動の指定された変更を実行する。 - 特許庁

To provide a sensor capable of shortening a test time in the case of testing even if the sensor is provided with an abnormality deciding function (e.g. a function for deciding fire/non-fire) and to provide a monitoring and controlling system.例文帳に追加

異常判断の機能（例えば火災／非火災の判断を行なう機能）を備えた感知器であっても、試験時の試験時間を短縮することの可能な感知器および監視制御システムを提供する。 - 特許庁

To separate a DPP and other devices and locate the trouble when a trouble breakes out by conducting an electric test and the confirmation of an operation by a DPP single body without using an exclusive test jig, a measuring instrument or the like and conducting the test for every function.例文帳に追加

専用のテスト治具や計測器等を用いることなくＤＰＰ単体で電気テストや動作確認ができ、機能部位別にテストが出来るようにして、トラブル発生に対してＤＰＰと、その他装置との切り分け、障害発生部位の特定を容易に行えるようにする。 - 特許庁

When a request for retrieving the test progress state information is sent from a test management terminal 4 to the server 3, the test progress state information is retrieved from the DB 5 by the function 33 and the retrieved information is displayed on the terminal 4.例文帳に追加

また、テスト管理端末機４からテスト管理サーバ３にテスト進捗状況情報の検索要求が送出されると、テスト管理サーバ３のテスト検索機能３３により進捗管理ＤＢ５からテスト進捗状況情報を検索し、検索した情報をテスト管理端末機４に表示する。 - 特許庁

To provide a component testing device for improving a throughput on a test of an electronic component by shortening a time required for replacement into a test socket of the electronic component, even when a plurality of test sockets having the same function are arrayed along a moving direction of a conveyance hand.例文帳に追加

同一機能のテストソケットが搬送ハンドの移動方向に沿って複数配列される場合であれ、電子部品のテストソケットへの入れ替えに伴う時間の短縮化によって電子部品の試験にかかるスループットの向上を図ることのできる部品試験装置を提供する。 - 特許庁

The semiconductor test device 100 measures the matching time of each DUT and performs processing calculating test efficiency values at each matching time by performing processing which takes the statistics of the distribution of the yield of DUT in a function test of a prescribed time out of multiple times.例文帳に追加

半導体試験装置１００では、複数回実行されるうちの所定回目のファンクションテストにおいて、各ＤＵＴのマッチ時間を計測し、ＤＵＴの収量の分布を統計する処理を行い各マッチ時間ごとに試験効率値を算出する処理を行う。 - 特許庁

The test circuit is provided with a bit 7 of a register 5 for test to hold a state value to indicate state of the microcomputer peripheral function and a comparator 7 to output a state change signal to the output terminal for test of the microcomputer through an OR gate 4 according to changes in the state value held by the bit 7.例文帳に追加

マイコン周辺機能の状態を示す状態値を保持するテスト用レジスタ５のビット７と、そのビット７に保持された状態値の変化に応じて状態変化信号をＯＲゲート４を通じてマイコンのテスト用出力端子に出力する比較器７とを備えた。 - 特許庁

A space which is added to the row driver by the test circuit is very slight, and since the test circuit will not make the function of the row driver complicated, probability of failures induced in the test circuit is suppressed to be low, and the technique can be applied to high-sensitivity tests at a low cost.例文帳に追加

試験回路により行ドライバに追加されるスペースはごくわずかであり且つ試験回路が行ドライバの機能を大幅に複雑にすることもないため、試験回路で誘起される故障の確率を低く抑えた上、低コストで高度な試験に適用することができる。 - 特許庁

A text pattern generating device 11 acquires a test pattern with pattern length based on an index value by automatic test pattern generation (ATPG) based on a net list 21 of an LSI, and extracts only a part related with a circuit function operation, and outputs it as a test pattern 18 for power analysis.例文帳に追加

ＬＳＩのネットリスト２１をもとに、テストパターン生成装置１１は、自動テストパターン生成（ＡＴＰＧ）により指標値に基づくパターン長のテストパターンを得、そのうち回路機能動作に関する部分のみを抽出して電力解析用テストパターン１８として出力する。 - 特許庁

To inspect the function of a fluorescence measuring instrument by accurately measuring the amount of fluorescence without damaging the translucent surface of a cell for test by friction between the cell for test and a cell fixation part when inserting the cell for test into a cell insertion part.例文帳に追加

試験用セルをセル挿入部に挿入しても、試験用セルとセル固定部との摩擦で試験用セルの透光性のある表面に傷を付けることなく蛍光発光量の測定を正確に行い蛍光発光測定装置の機能を点検することを可能とする。 - 特許庁

To provide a sequence program test equipment that boosts test work efficiency by making possible automatic recall for test action instructions when a real PLC with a communication function or a PLC emulator activated through a communication message is used for the testing instructions.例文帳に追加

通信機能を有するＰＬＣ実機若しくはＰＬＣエミュレータを使用しかつ通信メッセージを介してテスト動作の指示を与えるシーケンスプログラムのテスト装置において、テスト動作指示の自動再現を可能として、この種のシーケンスプログラムテストの作業効率を向上させること。 - 特許庁

Therefore, since it is necessary and sufficient that only access inspection be using the register 104 for test of each of function blocks be conducted and that it is not necessary to conduct the access inspections for all the registers, the test time for the access examination between registers and the test vector length can be reduced.例文帳に追加

そのために、各機能ブロックのテスト用レジスタ１０４を用いたアクセス検査のみを行えば必要十分であり、全てのレジスタのアクセス検査をする必要がなくなるので、レジスタ間のアクセス検査のテスト時間、およびテストベクタ長の短縮化を図ることができる。 - 特許庁

The test sample is subjected to an evaluation system equipped with measurement sites having different function-evaluation abilities.例文帳に追加

食材成分に応答した細胞抽出物を被検試料とし、機能性評価能が異なる複数の測定部位を備えた評価系にかける。 - 特許庁

To efficiently test a reproduction only medium that is designed for reproduction in a reproducing device and has a copy protection function such as a CSS.例文帳に追加

ＣＳＳ等のコピープロテクション機能を備えた再生装置で再生されることを前提にした再生専用媒体を効率よく検査する。 - 特許庁

To normally operate a system even when a test terminal is short- circuited, and inform the start and end of the diagnosis of a door locking/ unlocking function.例文帳に追加

テスト端子の短絡が発生していてもシステムが正常に動作するようにし、ドアロック／アンロック機能の診断の開始、終了を報知する。 - 特許庁

To realize testing easily by suppressing increment of circuit elements about a test function to the minimum in a semiconductor apparatus especially including a phase transition material.例文帳に追加

特に相変化材料を含む半導体装置において、テスト機能に関する回路素子増加を最小に抑え、テストの容易化を実現する。 - 特許庁

To provide a circuit module having circuit blocks in multiple stages and a function for executing the operation test only of the target circuit block.例文帳に追加

複数段の回路ブロックを備え、動作テストの対象となる回路ブロックのみの動作テストを行う機能を設けた回路モジュールを提供する。 - 特許庁

The Young's modulus of the test piece which is an important physical value is calculated simply and quickly in the range of about ±5%, by utilizing the function.例文帳に追加

この関数を利用することにより、重要な物性値である試験片のヤング率を±５％程度の範囲で簡便・迅速に算出できる。 - 特許庁

The output path 158 of the internal circuit connected to the function switchable external terminal 153 is controlled to the high impedance state in the test mode.例文帳に追加

機能切り替え可能な外部端子１５３へ接続される内部回路の出力経路１５８はテストモードではハイインピーダンス状態に制御する。 - 特許庁

The fatigue safety factor test apparatus is provided with a normalized stress calculating section 14, a fatigue safety factor calculating section 15 and a function table 18.例文帳に追加

正規化応力計算部１４、疲労安全率計算部１５及び関数テーブル１８を具備する疲労安全率検査装置を用いる。 - 特許庁

The test sample is subjected to an evaluation array equipped with a plurality of wells having different biological function-evaluation abilities.例文帳に追加

食材成分に応答した細胞抽出物を被検試料とし、生体機能性評価能が異なる複数のウエルを備えた評価アレイにかける。 - 特許庁

Further, a method for performing a highly accurate power supply voltage variation test by using a power supply current expressed as a function of a time is also disclosed.例文帳に追加

また、時間の関数として表した電源電流を用いて、高精度な電源電圧変動検証を行う方法についても開示する。 - 特許庁

To provide a test facilitation design system which can analyze control and observation performances at a stage of hardware function description not relying on architecture.例文帳に追加

アーキテクチャに依存しないハードウェア機能記述の段階で制御性・観測性の解析を実施できるテスト容易化設計システムを提供する。 - 特許庁

The image shift calculating section calculates positional shift of recording using the cross correlation function of the sum density data of the pair of test patterns, for example.例文帳に追加

画像ずれ算出部は例えば一対のテストパターンの加算濃度データの相互相関関数を用いて記録位置ずれ量を算出する。 - 特許庁

When a function requires that a feature test macro is defined, the manual page SYNOPSIS typically includes a note of the following form (this example from the chmod (2) 例文帳に追加

関数が機能検査マクロの定義を必要とする場合、マニュアルページの書式 (SYNOPSIS) の節に以下の形式の注釈を入れる(以下の例はchmod (2) - JM

To provide an EEPROM in which a data rewriting test can be performed in the worst condition of voltage stress when the device has a verify- function.例文帳に追加

ベリファイ機能を有する場合に電圧ストレスワースト条件でデータ書き換えテストを行うことを可能としたＥＥＰＲＯＭを提供する。 - 特許庁

To provide a mobile probe unit mechanism 21 equipped with an adjustment function corresponding to different sizes of test subject plates and an electric inspection apparatus 1.例文帳に追加

異なる寸法の検査対象板に応じた調整機能を備えた可動式プローブユニット機構２１及び電気検査装置１を提供する。 - 特許庁

Thus, a user can test the DMA generation or the update function of a desired disk recording and reproducing device in an early period and reduce cost due to the manufacture and providing of the disk for test.例文帳に追加

これにより、使用者が早い時間内に所望のディスク記録及び再生装置のＤＭＡ生成または更新機能をテストでき、テスト用ディスクに対する製作及び提供による費用を減らすことができる。 - 特許庁

When the similar phenomenon is absent, a scenario for reproduction test is prepared by an automatic test scenario generating function 8, dealing methods are collected after analysis, recorded in the analyzed result DB 3 and stored as know- how.例文帳に追加

同様の現象が存在しない場合は、試験シナリオ自動生成機能８が再現試験用のシナリオを作成し、解析後に対策方法をまとめて解析結果ＤＢ３に記録してノウハウとして蓄積する。 - 特許庁

To obtain an automatic test item creating device which reduces the development time of a program by reducing the test period of a purchased program and reducing the burden of an engineer who is familiar with the function of a program to be developed.例文帳に追加

購入プログラムのテスト期間の短縮と、開発するプログラムの機能に熟知したエンジニアの負担を軽減することでプログラムの開発期間を短縮するテスト項目自動作成装置を提供する。 - 特許庁

To provide an on-chip test circuit which can output the measurement result of internal delay time of an access time or the like of a semiconductor memory apparatus to the outside and does not require a test function having high performance for the external tester.例文帳に追加

半導体記憶装置のアクセスタイム等の内部遅延時間を測定して当該結果を外部に出力可能で、外部テスタに対し高性能なテスト機能を要求しないオンチップテスト回路を提供する。 - 特許庁

To verify the test facilitation in the function description of a register transfer level by checking the propagation of data from its input up to its output by an inputted test pattern without correcting a source code to be verified.例文帳に追加

検証対象のソースコードを修正することなく、入力するテストパタンにより入力から出力までのデータの伝搬を調べることによりレジスタトランスファレベルの機能記述においてテスト容易化を検証する。 - 特許庁

To provide a test apparatus highly precisely measuring the equilibrium function and a degree of easiness to fall of a person in walking by a test under a dynamic form close to the action of walking.例文帳に追加

本発明が解決しようとする課題は、歩行という動作に近い動的形態での検査によって、歩行時における人の平衡機能、転び易さの程度を精度良く測定する検定装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide an actuator capable of selectively driving a brake pedal or an accelerator pedal in the case of executing a function test, an endurance test, etc., for the devices of an automobile and minimizing a space required and being produced at an appropriate cost.例文帳に追加

自動車の装置の機能テストおよび耐久テスト等を実施する場合に、ブレーキペダルまたはアクセルペダルを選択的に作動でき、所要スペースが最小であり且つコスト的に妥当なアクチュエータを創成する。 - 特許庁

To perform redundant replacing test having higher efficiency of replacement and to improve productivity by discriminating whether a redundant program means is used for a redundant memory cell operation test function before redundancy replacement or not.例文帳に追加

冗長置換前の冗長メモリセル動作試験機能に冗長プログラム手段使用の有無を判別可能とさせることにより、より置換効率の高い冗長置換試験を可能とし、生産性向上を図ることである。 - 特許庁

Current limiting circuits 23, 24 are arranged on the side of a test head 22, and an excessive current which flows when a short circuit occurs is limited by the limiting circuits 23, 24, at least in an interval up to when the current mechanism of a test power supply device starts to function.例文帳に追加

テストヘッド２２側に電流制限回路２３、２４を設け、少なくとも試験電源装置の電流機構が機能するまでの間、電流制限回路２３、２４で短絡時の過大な電流を制限する。 - 特許庁

To enable function test or the AC test for every series data signal for facilitating inspection of a semiconductor integrated circuit for transferring or latching a plurality of series data signals synchronously with the same clock signal.例文帳に追加

同一のクロック信号に同期して複数系統のデータ信号の転送又はラッチを行う半導体集積回路において、データ信号の系統毎にファンクションテスト又はＡＣテストを可能として検査を容易にする。 - 特許庁

To provide a charge and discharge control circuit and a rechargeable power unit provided with a charge and discharge control terminal having a test function and capable of switching among a normal application state, a charge and discharge state and a test state.例文帳に追加

テスト機能を兼有する充放電制御端子を備え、通常応用状態、充放電禁止状態及びテスト状態を切り替えることが可能な充放電制御回路及び充電式電源装置の提供。 - 特許庁

A generation processing part 11 generates, based on the input data item definition 3 and the function definition 4, the test item list 5 including test items and typical data for an item type contained in the input data item definition 3, and substitutes the input data 2 by the typical data, thereby generating output data 6 for performing a test based on the test item list 5.例文帳に追加

生成処理部１は、入力データ項目定義３と機能定義４とに基づいて、入力データ項目定義３に含まれる項目タイプについてのテスト項目及び典型データを含むテスト項目リスト５を生成し、入力データ２を典型データで置換することにより、テスト項目リスト５に基づくテストを行うための出力データ６を生成する。 - 特許庁

A system for performing the function test of the microcomputer by impressing a test signal by a tester to the microcomputer and detecting its expected value is provided with a test synchronizing signal generation circuit 1 generating the timing of detecting an input signal asynchronously inputted to the reference clock of the microcomputer as a test synchronizing signal, and the test synchronizing signal by the circuit 1 is supplied to the tester.例文帳に追加

マイクロコンピュータにテスタによるテスト信号を印加し、その期待値を検出することによりマイクロコンピュータのファンクションテストを行うものにおいて、マイクロコンピュータの基準クロックに対して非同期に入る入力信号を検出するタイミングをテスト同期信号として発生するテスト同期信号発生回路１を設け、テスト同期信号発生回路１によるテスト同期信号を前記テスタに供給する。 - 特許庁

To automatically create a cache test program and a cache state setting program according to cache configuration modeling arrangement and the description of a cache test sheet on the basis of a cache configuration to automatically create a program easily and certainly testing a cache function without a description mistake, in a test program creation system creating the program testing the cache function, a test program creation program, and a record medium.例文帳に追加

本発明は、キャッシュ機能の試験を行うプログラムを生成する試験プログラム生成システム、試験プログラム生成プログラム、および記録媒体に関し、キャッシュ構成をもとにキャッシュ試験シートの記述およびキャッシュ構成モデリング配列に従い、キャッシュ状態設定プログラムおよびキャッシュ試験プログラムを自動生成し、簡易かつ確実かつ記述ミスなしにキャッシュ機能の試験を行うプログラムを自動生成することを目的とする。 - 特許庁

The main computer is provided with a model alternative function acquired by modeling a specimen to be excited, a parameter changing function for changing successively its parameters based on an excitation test result, and an abnormality diagnostic processing function for executing abnormality determination of an excitation system, and switching a reaction measured value to the output of the model alternative function in the case of the abnormality.例文帳に追加

また、メイン計算機には加振される供試体をモデル化したモデル代替機能とそのパラメータを加振試験結果に基づき逐次変更するパラメータ変更機能と、加振システムの異常判定を行い異常の場合には反力計測値をモデル代替機能の出力に切り替える異常診断処理機能を設ける。 - 特許庁