「function test」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a method and a device for supporting the verification of a logic circuit function capable of omitting simulation properly when simulating a plurality of test patterns, to enhance efficiency for function verification.例文帳に追加

複数のテストパターンをシミュレーションする際に適切にシミュレーションを省略して、機能検証の効率を上げれる論理回路機能検証支援方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device for an automatic test which make function testing operation efficient and improve reliability of the software of a portable telephone by automating the function testing operation for the software.例文帳に追加

携帯電話のソフトウエアに対する機能試験作業を自動化し、試験作業を効率化するとともに、ソフトウエアの信頼性を向上させる自動試験方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device which is provided with a JTAG function taking priority of a test function and which can maintain functionally compatibility with existent general purpose semiconductor memory device.例文帳に追加

テスト機能を優先してＪＴＡＧ機能を搭載し、かつ機能的には既存の汎用半導体記憶装置とのコンパチブルを保つことができる半導体記憶装置を提供すること。 - 特許庁

The physical layer processing section 26 has return control sections 262, 264 for performing a return test with a Bridge/VLAN function section 261 and a PHY function section 263 as return points each.例文帳に追加

物理レイヤ処理部２６は、Bridge/VLAN機能部２６１およびＰＨＹ機能部２６３それぞれを折り返し点として折り返し試験を行う折り返し制御部２６２，２６４を備えている。 - 特許庁

This memory is provided with an internal address generating circuit 12 controlled by an address control signal from the outside in a test mode and generating an address signal, and an address increment function, a decrement function, and an address holding function are given to the address control signal.例文帳に追加

テストモード時に外部からのアドレス制御信号により制御されてアドレス信号を発生する内部アドレス発生回路１２を設け、前記アドレス制御信号にアドレスインクリメント機能、デクリメント機能およびアドレス保持機能を持たせる。 - 特許庁

In the method for evaluating the brain function-related parameter, tracers are provided to a lung of a test animal, and then steps of stopping provision of the tracers are repeated to estimate a lung function parameter, subsequently, the brain function parameter is calculated.例文帳に追加

脳機能に関するパラメータを評価する方法においては、実験動物の肺にトレーサを供給し、その後、トレーサの供給を停止する工程が繰り返されて肺機能パラメータが求められ、その後、脳機能パラメータが演算される。 - 特許庁

The one chip microcomputer 10 has a starting register 18 starting a test operation and a built-in self test starting pattern generator 19 setting initial values in test control circuits (a pseudo random number generator 14, a logic circuit inspection compressor 15, a pattern generator 16 and a memory inspection compressor 17) for a built-in self test function.例文帳に追加

１チップマイクロコンピュータ１０は、組み込み自己検査機能のために、テスト動作を起動する起動レジスタ１８と、テスト制御回路（疑似乱数発生器１４、論理回路検査用圧縮器１５、パターン発生器１６、メモリ検査用圧縮器１７）に初期値を設定する組み込み自己検査起動パターン発生器１９とを備えている。 - 特許庁

To provide an IC in which the power supply of a test circuit can be controlled independently, even at low voltage for performing evaluation of high-speed operation or the voltage margin of a function macro circuit and the function macro circuit can be evaluated accurately, without lowering performance of the test circuit.例文帳に追加

機能マクロ回路の高速動作評価、電圧マージン評価を行なう際の低電圧時でも、テスト回路の電源を独立に制御することができ、テスト回路のパフォーマンスを落とさずに機能マクロ回路の正確に評価し得るＩＣを提供する - 特許庁

In an image formation engine which can be loaded both in an image forming apparatus with the predetermined function and in the other image forming apparatus without the predetermined function, before function information related to whether or not it has the predetermined function is received from a printer controller 201, if an indication of the operation test is inputted, the operation test is carried out by a safe transfer mode.例文帳に追加

所定の機能を有する画像形成装置と所定の機能を有しない他の画像形成装置との双方に搭載可能な画像形成エンジンにおいて、プリンタコントローラ２０１から所定の機能を有するか否かに関連する機能情報を受信する前に、動作テストの指示が入力された場合には、無難な搬送モードにて動作テストを実行する。 - 特許庁

After finishing a function test, a solder ball 32b for grounding is formed to a connection pad of a second upper layer wiring 29b for grounding and on a connection pad part of a second upper layer wiring 29c for test.例文帳に追加

ファンクションテストを終えた後に、グランド用の第２の上層配線２９ｂの接続パッド部およびテスト用の第２の上層配線２９ｃの接続パッド部上にグランド用の半田ボール３２ｂを形成する。 - 特許庁

A multivariable test function generating means 2 corrects classification data, based on the group label information, and generates the multivariable test functions for every non-terminal node, based on the corrected classification data.例文帳に追加

多変数テスト関数生成手段２はグループラベル情報に基づいて、分類データの修正を行い、修正がなされた分類データに基づいて非終端節点毎に前記多変数テスト関数を生成する。 - 特許庁

To provide a driver IC also having a function capable of supplying test pattern signals for the inside of the IC without the need for the supply of various test patterns signals from the outside and to provide an inspection method of the same.例文帳に追加

外部から各種検査パターン信号を供給することなく、ＩＣ内部に検査パターン信号を供給できる機能を併せ持たせたドライバＩＣ及びその検査方法を提供すること。 - 特許庁

When test data is transmitted from the station side media converter 2a to the user side media converter 8, the user side media converter 8 replies the test data to the station side media converter 2a by return, based on a MAC address function.例文帳に追加

局側メディアコンバータ2aから利用者側メディアコンバータ8へ試験データを送信すると、利用者側メディアコンバータ8はMACアドレス機能に基づいて、試験データを折り返して局側メディアコンバータ2aへ返信する。 - 特許庁

To provide a press unit for a necessary and enough pressure strength and to minimize the stress to a print plate in an in-circuit test or a function test of the print plate with mounted components.例文帳に追加

部品を実装したプリント板のインサーキット・テストまたはファンクション・テストにおいて、被測定プリント板に与えるストレスを最小限に抑えながら、必要かつ充分な加圧力を与えるプレスユニットを提供する。 - 特許庁

To provide a method capable of automatically forming a test schedule using an orthogonal table for an optional software function that is a test object, and a computer program for achieving the method.例文帳に追加

テスト対象となる任意のソフトウェア機能に対して、直交表を利用したテスト計画表を自動的に作成することができる方法及びその方法を実現するためのコンピュータプログラムを提供する。 - 特許庁

To perform a connection test even when the number of output terminals are few in a semiconductor memory provided with a test function and in a circuit substrate incorporating this semiconductor memory.例文帳に追加

本発明は、試験機能を備えた半導体記憶装置およびこの半導体記憶装置を搭載する回路基板に関し、出力端子の数が少ない場合にも接続試験を実行する事を目的とする。 - 特許庁

A delay characteristic by edge search is detected with no time for stabilization of the delay characteristic in order to stabilize a test, and is stored in a memory, in a testing-objective chip for conducting the function test at first.例文帳に追加

最初にファンクション試験を行なう試験対象チップで、試験を安定させるためにエッジサーチによる遅延特性を、遅延特性が安定するのにかかる時間をおかずに検出してメモリに保持する。 - 特許庁

In a specific immunity test, a BALB/c mouse is medicated with a test substance, and is injected with egg albumin, then the immunity regulation function of an immunity cell growth action and serum specific antibody preparation are measured.例文帳に追加

特異的免疫試験では、ＢＡＬＢ／ｃマウスに試験物質を投与し、卵白アルブミンを注射後、免疫細胞増殖作用および血清特異的抗体生成の免疫調節機能を測定。 - 特許庁

To provide an integrated circuit with built-in ROM having an error correction function capable of reducing test time and further improving manufacture yields and reliability, and to provide a test method therefor.例文帳に追加

テスト時間の短縮が図れ、さらには、製造歩留りおよび信頼性を向上させることのできる誤り訂正機能付きＲＯＭ内蔵集積回路およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

A value of an internal row address signal bit is set from an address buffer 2 according to the test control signal, and operations of a row selecting circuit 3 and a bit line peripheral circuit 4 are controlled by a row system control circuit 10 with a test controlling function according to the test control signal.例文帳に追加

このテスト制御信号に従ってアドレスバッファ（２）からの内部ロウアドレス信号ビットの値を設定し、かつテスト制御信号に従ってテスト制御機能付行系制御回路（１０）が行選択回路（３）およびビット線周辺回路（４）の動作を制御する。 - 特許庁

When executing the instrumented indentation test, √At (At is a contact area) shown by the formula 1 is determined as √At=f(hr) in the whole test load area, as a single-continuous function of hr which an intersection point with a displacement axis h of a tangent line on an unloading curve of the maximum test load Fmax.例文帳に追加

インストルメンテッドインデンテーション試験を実施した場合、(数１)に示す√At（Atは接触面積）を、最大試験荷重Fmaxにおける除荷曲線での接線が、変位軸hと交わる点であるhrの単独・連続関数として、全試験荷重範囲で√At = f(hr)のように定め得る。 - 特許庁

In a nonspecific immunity test, continuation of six weeks, the administration test of the test substance to BALB/c mouse is performed, the promotion of peritoneal macrophage activity, the regulating of hormonal secretion of an antitumor cell, and the immunity regulation function which promotes serum antibody preparation are measured.例文帳に追加

非特異的免疫試験では、ＢＡＬＢ／ｃマウスに連続６週間、試験物質の投与試験を行い、腹腔マクロファージ活性の促進、抗腫瘍細胞のホルモン分泌の調節、および血清抗体生成を促進する免疫調節機能を測定。 - 特許庁

Therefore, addresses before and after scramble by the scramble memory 11b are simultaneously displayed on a display device as one part of a result of a function test.例文帳に追加

これにより、スクランブルメモリ１１ｂによるスクランブル前後のアドレスをファンクションテスト結果の一部として、表示装置に同時に表示する。 - 特許庁

Consequently, the test of the function by the instruction code constitution and the operand dependency relation between the instructions can efficiently be conducted.例文帳に追加

以上の構成により、命令コード構成および命令間のオペランド依存関係による機能の試験を効率良く行うことができる。 - 特許庁

To provide means for reliably detecting any abnormality of a metal detecting function without having to actually pass a metallic test piece through a passage route.例文帳に追加

金属製のテストピースを通過経路に実際に通過させることなく金属検出機能の異常をより確実に検出する。 - 特許庁

To provide a data storage device, which has a cache function of continuing hit test of hardware using a controller.例文帳に追加

ハードウェアのコントローラによるヒット判定を継続的に実行できるキャッシュ機能を実現したデータ記憶装置を提供することにある。 - 特許庁

3) In an actual machine as well, the manual/automatic switching function having a test mode for enabling confirmation by simulation as in an embodiment is provided.例文帳に追加

３）実機においても、実施例のようなシミュレーションによる確認が行えるテストモードを有する手動自動切り替え機能を設ける。 - 特許庁

To provide a method of efficiently preparing a test case related to function competition in the development stage of software having a plurality of functions.例文帳に追加

複数の機能を持つソフトウェアの開発段階において、機能競合に関するテストケースを効率よく生成する方法を提供する。 - 特許庁

When a packet identification function is to be verified, a switching part 16 is switched to a test packet data TPKT side by a mode-switching signal MOD.例文帳に追加

パケット識別機能の検証時に、モード切替信号ＭＯＤによって切換部１６を試験パケットデータＴＰＫＴ側に切り替える。 - 特許庁

A test function controller 217 controls switchings of the RF-SWs 220-224 according to information designated by a maintenance apparatus (OMC).例文帳に追加

試験機能制御部２１７は、保守装置（ＯＭＣ）により指定される情報に従い、ＲＦ—ＳＷ２２０〜２２４の切換を制御する。 - 特許庁

To suppress a supply voltage overshoot occurring at the same time as the termination of a function test for a semiconductor integrated circuit device.例文帳に追加

半導体集積回路装置の機能試験の際、機能試験終了と同時に生じる電源電圧をオーバーシュートを抑制する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device efficiently performing discrimination of a relief by an ECC function while attaining the cost reduction.例文帳に追加

コストの低減を図りながらＥＣＣ機能による救済の判定を効率的に行うことが可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To efficiently perform a system level function test of an LSI for processing a huge amount of data such as video data.例文帳に追加

例えば映像データなどのような膨大なデータ量をデータ処理するようなＬＳＩのシステムレベルでの機能テストを効率よく行う。 - 特許庁

To obtain a device capable of detecting a fault in a function for controlling traffic without using a test packet in a fixed length packet network.例文帳に追加

固定長パケット網において、テストパケットを用いることなくトラヒックを制御する機能の故障を検出できる装置を提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING TEST FUNCTION, CHARGING/ DISCHARGING PROTECTION CIRCUIT, BATTERY PACK COMPRISING THE CHARGING/DISCHARGING PROTECTION CIRCUIT, ELECTRONIC DEVICE UTILIZING THE BATTERY PACK例文帳に追加

テスト機能を有する半導体装置、充放電保護回路、該充放電保護回路を組み込んだバッテリーパック、該バッテリーパックを用いた電子機器 - 特許庁

To provide a driving module of a plasma display panel which has a function to detect a PKG, that is conducting an abnormal operation, by means of a test signal.例文帳に追加

テスト信号により、異常な動作をしているＰＫＧを検出する機能を有するプラズマディスプレイパネルの駆動モジュールを提供する。 - 特許庁

(a) Knowledge necessary for structure, function, performance, maintenance, remodeling, and test of piston engine, piston engine accessory, and piston engine's command system 例文帳に追加

イ　ピストン発動機、ピストン発動機補機及びピストン発動機の指示系統の構造、機能、性能、整備、改造及び試験に必要な知見 - 日本法令外国語訳データベースシステム

(a) Knowledge necessary for structure, function, performance, maintenance, remodeling, and test of turbine engine, turbine engine accessory, and turbine engine's command system 例文帳に追加

イ　タービン発動機、タービン発動機補機及びタービン発動機の指示系統の構造、機能、性能、整備、改造及び試験に必要な知見 - 日本法令外国語訳データベースシステム

The operator performs soldering with the soldering robot, circuit check, and data writing while the function test unit performs its process.例文帳に追加

作業員は、ファンクションテスト装置が処理している間に、はんだ付けロボットによるはんだ付け処理、サーキットチェック及びデータ書込処理を行う。 - 特許庁

An address decoding circuit 10 receives an address signal s200a to operate the two logic circuits 11, 12 having the same function, in a test.例文帳に追加

テスト時、アドレスデコード回路１０はアドレス信号ｓ２００ａを受けて、同一機能を持つ２つの論理回路１１、１２を動作させる。 - 特許庁

The cartridge for monitoring the function of the device for blood platelet diagnosis has a housing 1 which includes a test chamber 3 and a holding chamber 5.例文帳に追加

血小板診断用の装置の機能をモニタするためのカートリッジは、検査チャンバ３および保持チャンバ５を含むハウジング１を有する。 - 特許庁

In addition, the data inversion circuit 15 and the data inversion circuit 16 have a function of comparing an access address from the CPU to a memory 17 with a test address.例文帳に追加

また、データ反転回路とデータ反転回路は、ＣＰＵからメモリ17へのアクセスアドレスを検査アドレスと比較する機能を有する。 - 特許庁

To provide a microprocessor having a function for easily performing debugging on a system in a test at a system level in the microprocessor.例文帳に追加

マイクロプロセッサにおけるシステムレベルでのテストにおいて、システムのデバッグを容易に行うことができる機能を有したマイクロプロセッサを提供する。 - 特許庁

A way around this is to use None as the default, and explicitly test for it in the body of the function, e.g.:例文帳に追加

このような動作を避けるには、デフォルト値に None を使い、この値を関数本体の中で明示的にテストします。 例えば以下のようにします: - Python

The automatic test system includes a correction function.例文帳に追加

アプリケーションを動作させるためのスクリプトを有する試験環境において、アプリケーションの挙動を分析してスクリプトを自動的に補正するものである。 - 特許庁