「inspection object」に関連した英語例文の一覧と使い方(15ページ目) - Weblio英語例文検索

Both X-ray images have each overlapped part mutually, and the whole inspection object 50 can be imaged.例文帳に追加

両Ｘ線画像は互いに重複部分を有し、被検査物５０の全体を撮像可能である。 - 特許庁

To provide a relay connector in which a probe 54 is made to butt with a terminal 38a of an inspection object side connector 38.例文帳に追加

被検査側コネクタ３８の端子３８ａにプローブ５４を当接させる中継コネクターを提供する。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus capable of quickly inspecting an internal state of an object to be inspected at low cost.例文帳に追加

検査対象物の内部状態を低コスト、且つ、迅速に検査可能な検査装置を提供すること。 - 特許庁

To accurately detect abnormality of an inspection object packed in a container.例文帳に追加

容器内に充填された検査対象物の異状をより高い精度で検出することを可能とする。 - 特許庁

In a secondary discrimination process, light having a specific wavelength is irradiated toward the inspection object 1, while conveying the inspection object 1 passing through the primary discrimination process, and existence of a failure is discriminated again relative to the inspection object 1 on which the ink 2 is visualized by receiving irradiation of the light having the specific wavelength.例文帳に追加

二次判別工程では、一次判別工程を経た検査対象物１を搬送しながらこの検査対象物１へ向けて特定波長の光を照射するとともに、特定波長の光を照射を受けて上記インク２が可視化している検査対象物１について、不良の有無を再度判別する。 - 特許庁

This substrate object B for inspection includes the substrate 11, an anisotropic conductive sheet 20, and an engaging member 16.例文帳に追加

検査用基板体Ｂは、基板１１と、異方導電性シート２０と、嵌合部材１６とを備えている。 - 特許庁

A detector 14 detects γ-rays emitted from a radioisotope inside an object under inspection P.例文帳に追加

検出器１４は、被検体Ｐ内の放射性同位元素から放出されたガンマ線を検出する。 - 特許庁

The inspection object A includes a lamp unit B and a body C for causing the lamp unit B to emit light.例文帳に追加

検査対象物Ａは、ランプユニットＢと、ランプユニットＢを発光させる本体部Ｃとで構成される。 - 特許庁

To provide an object intrusion prevention device for an passenger conveyor that can reduce a frequency of maintenance inspection.例文帳に追加

保守点検の頻度を低減させることができる乗客コンベアの物体侵入防止装置を得る。 - 特許庁

Plural glossiness sensors 13 are arranged along a surface of a stainless steel strip 11 being an inspection object.例文帳に追加

被検査物であるステンレス鋼帯１１の表面に沿って、複数の光沢度センサ１３を配置する。 - 特許庁

To extinguish moire fringes, when the moire fringes are generated in an X-ray transmission image of an inspection object.例文帳に追加

検査対象物のＸ線透過画像にモアレ縞が発生する場合において、モアレ縞を消滅させる。 - 特許庁

Inspection is performed by using infrared light having the property of penetrating into the interior of the inspecting object.例文帳に追加

本発明は、検査対象物内部へ浸透する性質をもつ赤外光を用いて検査を行う。 - 特許庁

The ultrasonic analysis system 1 is a system for performing ultrasonic analysis by using a rail 3 as the inspection object.例文帳に追加

超音波解析システム１は、レール３を検査対象物として超音波解析を行うシステムである。 - 特許庁

(ii) with regard to a search or inspection, the location of the place, body, or object to be searched or inspected; 例文帳に追加

二　捜索又は検証については、捜索又は検証すべき場所、身体又は物の所在地 - 日本法令外国語訳データベースシステム

The focusing type ultrasonic probe 11 allows the ultrasonic wave to enter the inspection object through the film 13.例文帳に追加

集束型超音波探触子１１は膜１３を通して被検査体に超音波を入射する。 - 特許庁

A holding section of the visual inspection apparatus places the object to be inspected so as to support it by at least three leading ends.例文帳に追加

外観検査装置の保持部は、被検査物を少なくとも３つの先端で支持して載置する。 - 特許庁

To facilitate an ultrasonic flaw detection even for an inspection object surface having a complicated shape.例文帳に追加

複雑形状を持つ被検査対象表面に対しても、容易に超音波探傷できるようにする。 - 特許庁

The probe holding member mounting member 23 is pressed to the inspection object 1 side by a coil-shaped spring 26.例文帳に追加

プローブ保持部材取付け部材２３は、コイル状バネ２６によって被検査体１側へ押圧されている。 - 特許庁

A microextraction unit 14 extracts micro information from an inspection object file 12 and re-builds to a source code.例文帳に追加

マクロ抽出部１４は、検査対象ファイル１２からマクロ情報を抜き出し、ソースコードに再構築する。 - 特許庁

A defect detection part 25 extracts a defect on an inspection object by using the reduced image information.例文帳に追加

欠陥検出部25は、縮小画像情報を用いて検査対象物上の欠陥を抽出する。 - 特許庁

A probe assembly is provided that supports a blade-type probe and makes it electrically contact an electrode of an inspection object.例文帳に追加

ブレード型プローブを支持して被検査体の電極に電気的に接触させるプローブ組立体である。 - 特許庁

This device is equipped with a light source for irradiating the inspection object surface with light, a light receiving means for receiving a back-scattering component of reflected light reflected by the inspection object surface, and a signal processing device for calculating surface roughness of the inspection object based on the light quantity received by the light receiving means.例文帳に追加

被検査体表面に対して光を照射する光源と、前記被検査体表面で反射した反射光の後方散乱成分を受光する受光手段と、該受光手段で受光した光量にもとづいて、前記被検査体の表面粗さを算出する信号処理装置とを備える。 - 特許庁

To provide an X-ray tube device can carry out switching on/off of X rays irradiated on an inspection object at high speed.例文帳に追加

被検体に照射するＸ線のオン／オフを高速で行えるＸ線管球装置を提供する。 - 特許庁

To provide a nondestructive inspection apparatus for detecting defects of a long object by using a resonance phenomenon.例文帳に追加

共振現象を利用して長尺物の欠陥を検出する非破壊検査装置を提供する。 - 特許庁

INSPECTION SYSTEM FOR PARTICLE-OPTICAL IMAGING OF OBJECT, AND DEFLECTOR FOR CHARGED PARTICLE AND ITS OPERATING METHOD例文帳に追加

物体の粒子光学的結像のための検査系、荷電粒子用偏向器およびその操作方法 - 特許庁

To provide a carrier and a processor to position an object to carry at the time of inspection and machining.例文帳に追加

検査や加工時に搬送する物体の位置決めを行う搬送装置及び処理装置の提供 - 特許庁

To simply and exactly detect a defect, etc. of an inspection object without using a thick correction jig.例文帳に追加

肉厚補正治具を使用することなく簡易かつ正確に検査対象物の欠陥等を検出する。 - 特許庁

A light-receiving part 16, extending in the width direction, receives reflected light from the surface of the inspection object 1.例文帳に追加

幅方向に延設された受光部１６は、被検査物１の表面からの反射光を受光する。 - 特許庁

A pixel region where black pixels aggregate is extracted as an object pixel region from the inspection image.例文帳に追加

この検査画像から、黒画素が集合した画素領域を、対象画素領域として抽出する。 - 特許庁

WAVELENGTH CONVERSION OPTICAL SYSTEM, LASER LIGHT SOURCE, EXPOSURE DEVICE, INSPECTION OBJECT INSPECTING DEVICE, AND PROCESSING DEVICE FOR POLYMER CRYSTAL例文帳に追加

波長変換光学系、レーザ光源、露光装置、被検物検査装置、及び高分子結晶の加工装置 - 特許庁

Belt-shaped light is radiated obliquely against the conveyance direction on the surface of an inspection object 10 conveyed in one direction, and the irradiation part on the inspection object is imaged by a linear imaging element 14 arranged similarly obliquely to obtain sequential video signals, and a surface defect of the inspection object is detected based on the video signals.例文帳に追加

一方向に搬送される被検査物１０の表面に、帯状の光を搬送方向に対して斜めに照射すると共に、同じく斜めに配置したリニア撮像素子１４により被検査物上の該照射部分を撮像して逐次ビデオ信号を得、該ビデオ信号に基づいて、被検査物の表面欠陥を検出する。 - 特許庁

To provide a surface unevenness inspection apparatus for efficiently detecting surface unevenness of an object to be inspected.例文帳に追加

効率的に被検査物の表面の凹凸を検出する表面凹凸検査装置を提供すること。 - 特許庁

Prior to a main inspection, discharge of an object motor 10 is performed to stabilize measurement of discharge quantity.例文帳に追加

まず，本検査の前に，放電電荷量の計測安定化のために被検モータ１０の放電を行う。 - 特許庁

To provide an inspection recording device for a die and an inspection recording method of the die capable of viewing surely a fine irregularity inspection object such as all the refuse or flaws existing on a molding surface of the die, and recording and displaying the state wherein the fine irregularity inspection object can be clearly viewed by irradiation with light.例文帳に追加

金型の成形面上にある全てのゴミや傷等の微小凹凸検査対象を確実に視認でき、かつ、どのような状態で光を照射すると微小凹凸検査対象が明瞭に見えるかを記録し表示できる金型用検査記録装置及び金型の検査記録方法を提供する。 - 特許庁

To provide an appearance inspection device for simplifying the inspection method and shortening the inspection time, by simultaneously performing, in one operation, appearance inspection of an inspected object, especially a plurality of appearance inspections of length dimension of the inspected object with a circular outline, roughness of each end face, and the like.例文帳に追加

被検査物の外観検査、特に外形が円形である被検査物の長さ寸法及び各端面の表面粗さなど複数の外観検査を一回の操作の中で同時に行えるようにして、検査方法の簡素化と検査時間の短縮を図れるようにした外観検査装置を提供することである。 - 特許庁

To provide a nozzle inspection device, a nozzle inspection method, and an inspection program, which can shorten the nozzle inspection time depending on the printing mode which accompanies the print job as the object of printing, in order to shorten the time until an image is printed.例文帳に追加

画像が印刷されるまでの時間を短くするために、印刷対象である印刷ジョブに付随する印刷モードに応じてノズルの検査時間を短縮することができるノズル検査装置、ノズル検査方法、および検査プログラムを提供する。 - 特許庁

Hereby, a proper inspection frequency can be set corresponding to the degree of necessity of the inspection object relative to the same substrate, and the optimum inspection form balanced between improvement of the production efficiency and security of the inspection accuracy can be realized.例文帳に追加

これにより、同一基板について検査対象物の必要度に応じて適正な検査頻度を設定することが可能となり、生産効率の向上と検査精度確保のバランスがとれた最適な検査形態を実現することができる。 - 特許庁

To provide a visual inspection device and a visual inspection method for enabling even an operator who is not familiar with image processing or the like to easily and accurately inspect the property of the inspection surface of an inspection object while reducing costs.例文帳に追加

画像処理等に精通したオペレータを必要とすることなく、検査対象物の検査面の性状を簡単且つ正確に検査することができ、コスト低減を図ることができる外観検査装置および外観検査方法を提供する。 - 特許庁

The inspection apparatus comprises a probe 3, a probe holder 4 holding the probe 3, an inspection circuit 5 for outputting an inspection signal to the object to be inspected 1 via the probe 3, and a relay connecting member 6 for electrically connecting the probe 3 to the inspection circuit 5.例文帳に追加

プローブ３と、プローブ３を保持するプローブホルダ４と、プローブ３を介して検査対象１に対して検査信号を出力する検査回路５と、プローブ３と検査回路５とを電気的に接続する中継接続部材６とを備える。 - 特許庁

To provide a surface inspection method and surface inspection device capable of improving the accuracy for detecting a defect such as unevenness existing in a surface of an inspecting object without complicating the inspection process and the constitution of the inspection device.例文帳に追加

検査工程および検査装置の構成を複雑化させることなく、検査対象物の表面に存在する凹凸などの欠陥を検出する精度を向上させることができる表面検査方法および表面検査装置を提供する - 特許庁

To provide a nozzle inspection device, a nozzle inspection method, and an inspection program which can shorten a nozzle inspection time depending on a printing mode which accompanies a print job as an object of printing in order to shorten a time until an image is printed.例文帳に追加

画像が印刷されるまでの時間を短くするために、印刷対象である印刷ジョブに付随する印刷モードに応じてノズルの検査時間を短縮することができるノズル検査装置、ノズル検査方法、および検査プログラムを提供する。 - 特許庁

To converge an ultrasonic wave in an inspection portion to conduct surely inspection, even when a sonic velocity and detailed inner structure of a constitutive material of an inspection object is unclear, in an ultrasonic inspection device using an array type ultrasonic sensor.例文帳に追加

本発明の課題は、アレイ型超音波センサを用いた超音波検査装置において、検査対象の構成材料の音速や詳細な内部構造が不明確な場合でも、超音波を検査個所に集束して確実な検査を実施することにある。 - 特許庁

To provide an alignment method in a board inspection apparatus and a board inspection apparatus capable of carrying out inspection, after accurately ascertaining the position at which the board is loaded, when the inspection is carried out by loading the board, which is the object to be inspected, at a predetermined inspecting position.例文帳に追加

検査対象となる基板を所定の検査位置に載置して検査を行う場合に、基板の載置される位置を正確に把握して検査を行うことを可能とする基板検査装置における位置合わせ方法及び基板検査装置の提供。 - 特許庁

The non-destructive inspection is performed by generating one or a plurality of plasma channels on the inspection surface, generating electromagnetic waves with directivity, guiding the electromagnetic waves generated on the inspection surface, and analyzing the electromagnetic waves reflected from the inspection object.例文帳に追加

被検査物表面に１本あるいは複数本のプラズマチャンネルを生成し、指向性を持った電磁波を発生させ、被検査物表面で発生した電磁波をガイドし、被検査物から反射された電磁波を解析することにより非破壊検査を行う。 - 特許庁

A maintenance system which is applied to a surface inspection device which emits inspection light to an inspection object provides a graphical user interface 25 for a user to input operation information for operating the surface inspection device.例文帳に追加

本発明の保守システムは、被検査物に検査光を照射する表面検査装置に適用されるものであり、表面検査装置を操作するための操作情報をユーザが入力できるように構成されたグラフィカルユーザインタフェース２５を提供する。 - 特許庁