「inspection object」に関連した英語例文の一覧と使い方(18ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an inspection tool and a method for fixing a probe to it, allowing facilitation of probe replacement and adaptation to the miniaturization of inspection points of an object to be inspected.例文帳に追加

プローブの交換が容易に行え、被検査体の検査点の微細化に対応できる検査治具及び検査治具へのプローブの固定方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an inspection method and an inspection apparatus for laser exposure apparatus for accurately checking that laser light reaches a position, where a photosensitive body as an object of exposure is disposed.例文帳に追加

露光対象物となる感光体の配置位置へのレーザ光の到達を確実に確認することが可能なレーザ露光装置の検査方法及び検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an appearance inspection apparatus and an appearance inspection method which requires less capacity for a memory area, and conducts image composition which is optimum for an object to be inspected.例文帳に追加

必要な記憶領域の容量を少なく、また、検査対象物に最適な画像合成が行うことができる外観検査装置、外観検査方法を提供する。 - 特許庁

To inspect a conductive pattern while maintaining a noncontact condition between an inspection object and an inspection device.例文帳に追加

検査対象と検査装置を非接触状態に維持して、導電パターンの検査をする回路検査装置、回路検査方法、抵抗検査装置および抵抗測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a disk surface inspection device capable of adjusting automatically an optical system so as to have sufficient sensitivity for detecting a defect which is an inspection object.例文帳に追加

検査対象とする欠陥に対して検出するに十分な感度を持つよう光学系を自動調整できるようにしたディスク表面検査装置を提供することにある。 - 特許庁

The surface inspection device includes a moving stage for the body to be inspected; a lighting device; an inspection coordinate detecting device; a light detector; an A/D converter; and a foreign object/defect determining unit.例文帳に追加

表面検査装置は、被検査体移動ステージ、照明装置と、検査座標検出装置、光検出器と、Ａ／Ｄ変換器と、異物・欠陥判定部、を有する。 - 特許庁

To improve inspection accuracy by suppressing the effect of diffracted light by a simple technique even when the diffracted light is generated in an opening pattern of an inspection object.例文帳に追加

検査対象物の開口部パターンにおいて回折光が発生する場合であっても、この回折光の影響を簡易的な手法で抑制し、検査精度を向上させる。 - 特許庁

To provide a device for ultrasonic inspection inspecting easily and highly accurately an internal defect, a void or exfoliation, concerning an inspection object displayed internally in a two-dimensional manner.例文帳に追加

二次元化して内部表示される検査対象において、内部欠陥やボイド、剥離の検査を高精度かつ容易に実施できる超音波検査用装置を提供する。 - 特許庁

To increase the reliability of inspection by automating the inspection of a transparent sealant of a semiconductor element, with the semiconductor element, which is such that a chip is mounted on a substrate, being also an object to be tested.例文帳に追加

チップが基板に搭載された半導体素子も検査対象として、半導体素子の透明封止体の検査を自動化し、検査の信頼性を向上させる。 - 特許庁

To provide an eddy current flaw inspection method and device capable of performing flaw inspection of even an object in a complicated shape, such as a three-dimensional shaped welding part with high accuracy.例文帳に追加

３次元形状溶接部等の複雑な形状の対象物であっても、高精度の探傷検査が可能な渦電流探傷方法及び装置を実現する。 - 特許庁

To provide a visual inspection device, and an ultraviolet light lighting system capable of irradiating ultraviolet light on a surface of an inspection target object such that there are no shadows thereon.例文帳に追加

検査対象物の表面に影が生じないように紫外光を照射することができる外観検査装置及び紫外光照明装置を提供する。 - 特許庁

To provide an image inspection method capable of composing expanded images of an entire inspection object without the need for manual correction and much processing time.例文帳に追加

マニュアルでの補正や多大な処理時間を必要とせず、検査対象全体の展開画像を合成することが可能な画像検査方法を提供することにある。 - 特許庁

In this ultrasonic inspection method, ethyl alcohol 50 is dropped onto a chip type electronic component 30 which is an inspection object, to thereby remove air from the surface of the chip type electronic component 30.例文帳に追加

この超音波検査方法では、検査対象物であるチップ型電子部品３０にエチルアルコール５０を滴下し、チップ型電子部品３０の表面から空気を除去する。 - 特許庁

The visual inspection apparatus 10 takes images by scanning a substrate face of an object to be inspected, compares the images with a predetermined criterion and judges for every inspection item whether or not the substrate face is good.例文帳に追加

外観検査装置１０は、被検査物の基板面を走査して画像を取り込み、所定の合否判断基準に照らし、検査項目ごとに合否を判定する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic inspection method capable of accurately detecting the size of a defect in an inspection section near a fillet weld region of an object to be inspected.例文帳に追加

被検査体のスミ肉溶接部の近傍の検査部位に対して、精度良く欠陥の大きさを検出することができる超音波検査方法を提供することである。 - 特許庁

The orientation of a structural element may be decided or adjusted automatically during a series of automatic inspection operations based on the automatic decision of the orientation of a geometrical feature of the inspection object.例文帳に追加

構造的要素の方位は、検査対象の形体の方位の自動決定に基づいて、一連の自動検査操作中自動的に決定または調整してよい。 - 特許庁

To provide an X-ray inspection device capable of discriminating quality of a binding state, even when a binding member is hidden inside a booklet-like inspection object.例文帳に追加

冊子状の被検査物の内部に綴じ部材が隠れている場合であっても綴じ状態の良否を判別することができるＸ線検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a Barkhausen noise inspection device for performing accurate inspection without being affected by displacement of a noise detection sensor for detecting Barkhausen noise or an inspecting object.例文帳に追加

バルクハウゼンノイズを検出するノイズ検出センサや検査対象物の変位による影響を受けずに、高精度の検査が可能なバルクハウゼンノイズ検査装置を提供する。 - 特許庁

In this radiation inspection device, an imaging means irradiates a plurality of spots of an inspection object with a radiation from a plurality of directions, to thereby image a plurality of radiation transmission images.例文帳に追加

放射線検査装置において、撮像手段は、被検査体の複数の箇所に複数方向から放射線を照射し、複数の放射線透過画像を撮像する。 - 特許庁

To provide a technology for detecting defects with high accuracy, or a technology for supporting defect detection, regardless of a surface shape of an inspection object to be subjected to visual inspection.例文帳に追加

外観検査を行う検査対象の表面形状によらず、高い精度で欠陥を検出する技術または欠陥の検出を支援する技術を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus for precisely and quickly performing measurement when inspecting an inspection object in a complex shape by a laser measuring device.例文帳に追加

レーザ計測装置を用いて複雑な形状を有する検査物の検査を行う際にも、短時間に高精度な測定を行うことが可能な検査装置を提供する。 - 特許庁

Furthermore, inspection data by a plurality of inspection devices can be registered in one defect and the grouping information of defects as an analyzing object can be selected arbitrarily.例文帳に追加

また、ひとつの欠陥について複数の検査装置による検査データを登録可能とし、解析対象である欠陥の分類情報を任意に選択可能とした。 - 特許庁

To provide an inspection device and method capable of acquiring electromagnetic wave response information of an inspection object as average information at high speed by using an electromagnetic wave.例文帳に追加

電磁波を用いて検査対象物の電磁波応答情報を平均的な情報として高速に取得することができる検査装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a vehicle inspection system which materializes easy visual inspection of an object to be inspected in a vehicle having a complex engine room structure and a traveling vehicle.例文帳に追加

エンジンルーム内の構造が複雑な車両や走行中の車両において、点検対象を容易に目視することが可能な車両点検システムを提供する。 - 特許庁

A preferable system comprises a communication network having a preferable method including a controller area network which correlates an inspection control system with the inspection object application.例文帳に追加

好ましいシステムは、検査制御システムを検査対象アプリケーションに関連づけるコントローラー・エリア・ネットワークを含む好ましい方法を有する通信網を備えている。 - 特許庁

A visual inspection device 10 projects a first stripe pattern whose brightness periodically changes onto an inspection object in multiple different phases and images multiple first projection images.例文帳に追加

外観検査装置１０は、周期的に明るさが変化する第１縞パターンを異なる複数の位相で被検査体に投射して複数の第１投影画像を撮像する。 - 特許庁

To provide a procedure file generating device that can accurately records a procedure by a remote simulation controller 3 in the inspection process so as to accurately reproduce operations of an electronic device 4 being an inspection object.例文帳に追加

本発明は、検査過程のシミュレート用リモコン３による手順を正確に記録して検査対象である電子機器４の動作を正確に再現できるようにする。 - 特許庁

To precisely perform the inspection of a surface state such as defect inspection on an object to be inspected by removing the influence of variance of elements of a linear image sensor constituting a camera.例文帳に追加

カメラを構成する一次元イメージセンサの素子ばらつきの影響を除去して、検査対象物上の欠陥検知などの表面状態の検査を精度よく行う。 - 特許庁

To provide a light source device that can uniformly irradiate an object with light, and to provide an inspection device, an inspection method and a method for manufacturing a pattern substrate by using the light source device.例文帳に追加

均一に光を照射することができる光源装置及びそれを用いた検査装置と検査方法並びにパターン基板の製造方法を提供する。 - 特許庁

Selection of the acoustic mirror is at least partly dependent on the selected transducer 20, the total inspection path distance, and curvature of the incident surface 26 of the inspection object 24.例文帳に追加

音響ミラーの選択は、少なくとも部分的に選択トランスデューサ（２０）、総検査経路距離、及び検査対象物（２４）の入射表面（２６）の曲率に応じて決まる。 - 特許庁

To provide an inspection device capable of providing to a user, information for setting a threshold capable of determining accurately whether an inspection object is normal or not.例文帳に追加

ユーザに対して検査対象物が正常であるか否かを確度よく判定できる閾値を設定するための情報を提供することができる検査装置を実現する。 - 特許庁

To provide an external appearance inspection apparatus for markedly suppressing the influence due to interference of light and performing external appearance inspection of an object to be inspected with a very high accuracy.例文帳に追加

光の干渉による影響を大幅に抑制し、検査対象物の外観検査を極めて高精度に行うことが可能な外観検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for inspecting a quenching quality, capable of precisely inspecting the quenching quality of an inspection object, using a nondestructive inspection.例文帳に追加

非破壊検査により検査対象物の焼入れ品質を精度良く検査することができる焼入れ品質検査装置および焼入れ品質検査方法を提供する。 - 特許庁

To measure, effectively in a short time, an internal defect or a surface flaw generated in the diameter direction or the like by an ultrasonic inspection method relative to the side part of a rotor inspection object.例文帳に追加

回転体被検査物の側面部に対する超音波探傷方法で径方向等に生じた内部欠陥や表面傷を短時間で効率よく測定する。 - 特許庁

To suppress variations in inspection accuracy, due to the different levels of proficiency among workers by easily determining the presence of uneveness in a periodic pattern in an object of inspection.例文帳に追加

被検査体の周期性パターンにおけるムラの有無を容易に判定するものであり、作業者間の習熟度の違いによる検査精度のばらつきを抑える。 - 特許庁

To provide a nondestructive inspection method and a nondestructive inspection apparatus for efficiently inspecting a large inspected object even if a thermal insulation material is provided.例文帳に追加

保温材が設けられている状態でも、大型の被検査対象物に対して効率よく検査することのできる非破壊検査方法および非破壊検査装置を提供する。 - 特許庁

To enhance workability for an inspection person, when inspecting an abnormal sound in a plurality of times under the same condition or different conditions, as to the same inspection object.例文帳に追加

本発明の目的は、同じ検査対象について、同一条件又は異なる条件で複数回異音の検査を行うにあたり、検査者の作業性を向上すること。 - 特許庁

To allow imaging/inspection at a high speed, in an ultrasonic imaging system for emitting an ultrasonic wave toward an inspection object and for imaging a reflected echo to inspect a defect or the like.例文帳に追加

超音波を検査対象に照射しその反射エコーを画像化して欠陥等を検査する超音波画像化装置において、より高速に画像化・検査すること。 - 特許庁

To provide a probe device for electric circuit inspection capable of connecting easily a connector to the terminal of a tester, when inspecting circuit operation of an inspection object having the connector.例文帳に追加

コネクタを有している被検査物の回路動作の検査を行う時に、コネクタとテスタの端子の接続が容易に行える電気回路検査用プローブ装置の実現。 - 特許庁

To eliminate unevenness of irradiation intensity by irradiating uniformly an inspection object and an X-ray area camera with X-ray, in an X-ray foreign matter inspection device.例文帳に追加

Ｘ線異物検査装置において、検査対象物及びＸ線エリアカメラに対してＸ線を均一に照射することにより照射強度のむらをなくす。 - 特許庁

The inspection device is structured to correct the positional coordinates of a detected foreign matter or defect based on the central coordinates of the inspection object, in accordance with the detected positional condition when inspected.例文帳に追加

そして、検出された被検査時の位置状態に応じて、検出された異物や欠陥の位置座標を、被検査物の中心座標を基に補正するように構成した。 - 特許庁

To shorten a time required for determining the optimum device condition, concerning an inspection device for inspecting a defect on an inspection object such as a wafer.例文帳に追加

本発明は、ウエハ等の被検物体の欠陥検査を行う検査装置に関し、最適な装置条件の決定に掛かる時間を短縮することを目的とする。 - 特許庁

To provide a failure inspection method discriminating existence of a failure of an inspection object with high sureness without enlarging a facility or increasing facility cost.例文帳に追加

設備の大型化や設備コストの増大を招くことなく、検査対象物の不良の有無を高い確実性をもって判別することができる不良検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus capable of acquiring a clear image of the inner surface of a cylindrical part of an object to be inspected, while taking advantage of an inspection using a fisheye lens.例文帳に追加

魚眼レンズを利用した検査の利点を活かしつつ、検査対象物の円筒部の内面の明瞭な画像を取得することが可能な検査装置を提供する。 - 特許庁

A display unit 2 displays a map indicating the positional relationship between a plurality of regions on an object to be inspected which are to be set up for the inspection region or non-inspection region.例文帳に追加

表示部２は、検査領域または非検査領域の設定対象となる検査対象物上の複数の領域の位置関係を示すマップを表示する。 - 特許庁