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「inspection object」に関連した英語例文の一覧と使い方(14ページ目) - Weblio英語例文検索
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inspection objectの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 2478



例文

A circuit board inspection system 100 is composed of a circuit board 10 as an inspection object, a signal converter 20 and an image display device 30.例文帳に追加

回路基板検査システム100は、検査対象としての回路基板10と、信号変換装置20と、画像表示装置30とから構成される。 - 特許庁

To provide a visual inspection device capable of imaging clear inspection images, using a simple constitution, even after storing an inspected object in an embossed carrier tape, after bonding with a cover tape.例文帳に追加

簡単な構成で、エンボスキャリアテープに被検査物を収納してカバーテープ貼付後でも、鮮明な検査画像を撮像可能な外観検査装置を提供する。 - 特許庁

This substrate visual inspection device is for inspecting the quality of the substrate by taking an image of a substrate that is an object under inspection to analyze the image.例文帳に追加

検査対象である基板の画像を撮像して、当該画像を解析することによって基板の良否を検査する基板の外観検査装置である。 - 特許庁

In inspection, an inspection time decision unit 8 determines whether a test object is put in a normal state by using a plurality of identifies selected in learning.例文帳に追加

検査時判定部8は、検査時において、学習時に選択された複数の識別器を用いて検査対象物が正常状態であるか否かを判定する。 - 特許庁

例文

To provide a flaw inspection device capable of detecting a flaw only of an object layer at the time of inspection of a multilayered specimen.例文帳に追加

本発明の目的は、多層の被検体を検査する際に、対象の層のみの欠陥を検出し得る欠陥検査装置を提供することである。 - 特許庁


例文

To provide an inspection apparatus can easily change the method of lighting, according to an inspection object, and having a smaller and simpler structure than those of conventional apparatuses.例文帳に追加

検査対象に応じて照明法を簡便に変更できるとともに、従来に比べて小型で単純化された構造の検査装置を提供する。 - 特許庁

To obtain a voice inspecting method capable of performing the voice inspection of a long time in real time as to the output voices of voice coding and decoding equipment which is made to be the object of the inspection.例文帳に追加

対象とする符号化・復号化機器の出力音声をリアルタイムで長時間の音声検査ができる音声検査方法を得る。 - 特許庁

To provide an ultrasonic inspection device capable of inspecting conveniently the fusion state along a fusion part regardless of the shape and the size of an inspection object.例文帳に追加

被検査物の形状や大きさにかかわらず、より利便に融着部に沿って融着状況を検査することができる超音波検査装置を提供する。 - 特許庁

An inspection region forming unit 16 forms an inspection region from an indicated focused region of a gray scale image of an object to be inspected, an article G.例文帳に追加

検査領域生成部16は、検査対象である物品Gの濃淡画像について指定した着目領域から検査領域を生成する。 - 特許庁

例文

Furthermore, the inspection device is provided with a light-shielding means for blocking a peripheral region, positioned at the circumference of the image display region in the electro-optical panel of the inspection object.例文帳に追加

更に、検査対象の電気光学パネルにおける、画像表示領域の周辺に位置する周辺領域を遮光する遮光手段を備える。 - 特許庁

例文

To provide an inspection device capable of adjusting a rotation angle of a holder for holding an inspection object holding pair without stopping rotation of a first rotor.例文帳に追加

第一回転体の回転を止めなくても検査対象保持対を保持した保持体の回転角度を調整できる検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device for accurate and simple grasp of a state of an inspection object upon inspection of a structure such as bridge.例文帳に追加

本発明は橋梁等の構造物の点検に際し、点検対象物の状態を正確かつ簡便に把握する装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

A transmission type lattice track T1 of the scale 10, which is an inspection object, is read by a detection part 26 for inspection including a plurality of detection parts 2.例文帳に追加

複数の検出部2を含んでなる検査用検出部26によって検査対象のスケール10の透過型格子トラックT1を読み取る。 - 特許庁

To form a nozzle inspection pattern for inspecting inferiority of inkjetting of a nozzle for an object of inspection on a transparent medium so as to easily be visually recognized by a user.例文帳に追加

検査対象ノズルのインク噴射不良を検査するためのノズル検査パターンを、透明色の媒体に、ユーザに視認され易くなるように形成する。 - 特許庁

To provide a surface inspection device capable of simultaneously inspecting a surface state of a shape and a color of an inspection object, such as a car body of an automobile.例文帳に追加

自動車の車体のような検査対象物の形状及び色彩に関する表面状態を同時に検査できる表面検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a probe unit capable of being aligned highly accurately with an electronic device which is an inspection object, its manufacturing method, and an inspection method of the electronic device.例文帳に追加

検査対象である電子デバイスと高精度に位置合わせできるプローブユニット及びその製造方法並びに電子デバイスの検査方法を提供する。 - 特許庁

In the incorrect collating inspection, the fold section image in the same image pickup area as the registered image is determined as an object of inspection and collated with the registered image.例文帳に追加

そして乱丁検査時には、登録画像と同じ撮像領域の折丁画像を検査対象として求めて登録画像と照合する。 - 特許庁

To provide a shielding-type article inspection device capable of inspecting a test object accurately without being influenced by outside light, and capable of executing highly precise inspection.例文帳に追加

外光の影響を受けることなく、被検査物を正確に検査することができ、精度の高い検査が行える遮光式物品検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a nondestructive inspection apparatus that can measure the depth of any flaw in an inspection object without using a sample in which a plurality of defects differing in depth are made.例文帳に追加

深さの異なる複数の欠陥が設けられたサンプルを用いることなく、検査対象物の傷の深さを測定できる非破壊検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a leakage inspection apparatus with which the prescribed pressure difference inside and outside of the inspection object can be held and the structure of the apparatus can be simplified.例文帳に追加

被検査物内外の所定圧力差を保持することができ、かつ、装置の構成を簡素化することが可能な漏れ検査装置を提供すること。 - 特許庁

To perform highly accurate visual inspection without using a positioning device for an inspection object and without performing matching processing using a large amount of templates.例文帳に追加

検査対象の位置決めの装置を用いずに,また多量のテンプレートを用いたマッチング処理を行わずに,精度の高い外観検査を実現する。 - 特許庁

To provide an article inspection device capable of certainly performing check by a first measurement and by a second measurement of each inspection object W with one device.例文帳に追加

個々の被検査物Wについて最初の測定と2回目の測定によるチェックを1台の装置で確実に行なえる物品検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a lighting system and an inspection device for inspecting surface defects and pin holes of an object to be imaged by one inspection unit.例文帳に追加

撮像対象物の表面欠陥検査とピンホール検査を1つの検査ユニットで実現することができる照明装置と検査装置を提供する。 - 特許庁

An engaging member 2 engages a battery 3 which is the inspection object for gas leakage inspection, and forms a gas passage 4 for passing the leakage gas.例文帳に追加

係合部材2は、ガス漏れ検査の検査対象物である電池3を係合し、その漏出ガスを流通させるガス流路4を形成している。 - 特許庁

To provide a conveying device and a conveyed object inspection device capable of performing accurate image inspection and preventing shavings of conveyed objects.例文帳に追加

正確な画像検査を行うことができ、搬送物の削り屑の発生を防ぐことができる搬送装置および搬送物検査装置を提供する。 - 特許庁

A surface in parallel with an inspection stand 30, including the irradiation position P1 of the inspection object 40 irradiated with the near-infrared light L1 is used as an irradiation surface S.例文帳に追加

近赤外光L1が照射する検査対象物40の照射位置P1を含み、検査台30に平行な面を照射面Sとする。 - 特許庁

To direct each light from all LEDs to an inspection line by mounting many LEDs on a mounting substrate, when irradiating light to an inspection object.例文帳に追加

検査対象物に光を照射する場合に、実装基板に多くのLEDを取り付けて、すべてのLEDからの光を検査ラインに向けられるようにする。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus method capable of simultaneously acquiring property values, such as, the thickness and physical properties of an object, without contact or their distributions and an inspection.例文帳に追加

非接触で物体の厚さ、物性などの性状の値、或いはそれらの分布を同時に取得できる検査装置、検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a visual inspection apparatus and a visual inspection method, capable of accurately inspecting an object to be inspected which is held by other plate-like member.例文帳に追加

他の板状部材に保持された被検査物に対して、正確な検査を行うことのできる外観検査装置および外観検査方法を提供する。 - 特許庁

To improve inspection accuracy of foreign matter, in an X-ray foreign matter inspection device treating foreign matter of 2 mm or larger as one of main detection object foreign matters.例文帳に追加

2mm以上の異物が主たる検出対象異物の1つであるX線異物検査装置において、異物の検査精度を向上させる。 - 特許庁

The appearance inspection stations ST1-ST5 rotate the object P to be inspected by a rotary mechanism 30 through the rotary chucks 40 to perform inspection processing.例文帳に追加

外観検査ステーションST1〜ST5は、回転機構30により回転チャック40を介して被検査物Pを回転して各検査処理を行う。 - 特許庁

Diffusion light is emitted toward an inspection objective area 41 on a surface of the inspection object 40 by a light source 15 having prescribed spreading.例文帳に追加

所定の広がりを有する光源15により、検査対象物40表面上の検査対象領域41に向かって拡散光を照射する。 - 特許庁

REFERENCE POSITION CALIBRATION TOOL, CONTOUR MEASURING INSTRUMENT, VISUAL INSPECTION DEVICE, MEASURING OBJECT HOLDING DEVICE, REFERENCE POSITION CALIBRATION METHOD, CONTOUR MEASURING METHOD, AND VISUAL INSPECTION METHOD例文帳に追加

基準位置校正治具、外形測定装置、外観検査装置、測定対象物保持装置、基準位置校正方法、外形測定方法、及び外観検査方法 - 特許庁

To provide a relay inspection device that enables accurate quality decision, by confirming minimum operating voltage of contact for a relay as an object of inspection.例文帳に追加

検査対象リレーの接点の最小動作電圧を確認することにより正確な良否判定を可能にしたリレー点検装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a visual inspection device for a cylindrical member capable of inspecting an outer circumferential face and an end face side of a cylindrical inspection object in the same station.例文帳に追加

同一のステーションで円筒状検査対象物の外周面側や端面側の検査を可能とした筒状部材外観検査装置を提供する。 - 特許庁

Inspection record regarding an inspection object is read from a form (4) in which a format is preliminarily described by an image reader (3) and image data corresponding to the inspection record is generated.例文帳に追加

本発明は、画像読取装置(3)により、書式が予め記載された帳票(4)から検査対象物に係る検査記録が読み取られ、且つ、検査記録に対応するイメージデータが生成される。 - 特許庁

To provide an inspection device capable of acquiring accurately a surface image of an inspection object having a three-dimensional shape by using one camera device, and performing precise inspection.例文帳に追加

一台のカメラ装置を用いながら、三次元形状をなす検査対象物の表面画像を正確に取得でき、精密な検査を行うことのできる検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

In an arithmetic unit 5, a cluster determination unit 52 inputs the inspection data to the learnt neural network 1 to determine the conditions of the inspection object A from the position of the inspection data on the clustering map.例文帳に追加

演算部5のクラスタ判定部52は、検査データを学習済みのニューラルネットワーク1に入力して上記検査データのクラスタリングマップ上での位置から検査対象Aの状態を判定する。 - 特許庁

To provide a substrate or panel inspection method, a substrate or panel inspection program and a substrate or panel inspection device which can improve the performance of detecting defects in an object to be inspected.例文帳に追加

検査対象物の欠陥を検出する性能を向上させることのできる基板またはパネル検査方法と基板またはパネル検査プログラムと基板またはパネル検査装置とを提供しようとする。 - 特許庁

To provide an efficient defect inspection device that does not require a preparation process for special region detection for an inspection object conveyed continuously in a manufacture line, and can greatly shorten an inspection time.例文帳に追加

製造ラインを連続して搬送される被検査物に対して、特殊領域検出のために準備工程を必要とせず、検査時間の大幅な短縮が可能な、効率の良い検査装置を提供する。 - 特許庁

The inspection system 100 electrically connects an inspection device 10 having a variable resistor 1 to an ECU 50, which is an inspection object, and adjusts a resistance of the variable resistor 1 according to the kind of ECU 50.例文帳に追加

検査システム100は,可変抵抗器1を備えた検査装置10と被検体であるECU50とを電気的に接続し,ECU50の種類ごとに可変抵抗器1の抵抗値を調節する。 - 特許庁

The matching process matches the position of the object to be inspected in the inspection image after the Gaussian filtering with the position of a standard inspection body in a standard image by checking the inspection image after the Gaussian filtration with the standard image.例文帳に追加

マッチング処理は、ガウスフィルタリング後の検査画像を基準画像と照合し、ガウスフィルタリング後の検査画像における被検査体の位置を基準画像における基準検査体の位置に位置合わせする。 - 特許庁

In a process for executing continuously the print inspection to a plurality of substrates, inspection execution control is performed, while it is determined whether an inspection object exists or not in each group on the basis of the execution data.例文帳に追加

複数の基板に対して印刷検査を連続実行する過程においては、実行用データに基づいて各グループについて検査対象か否かを判断しながら、検査実行制御を行う。 - 特許庁

To provide an irregularity inspection device and an irregularity inspection method of a color filter substrate for inspecting accurately and stably surface irregularities of a colored layer which is an inspection object on the color filter substrate.例文帳に追加

カラーフィルタ基板の検査対象の着色層の表面ムラを精度良く、かつ安定に検査するためのカラーフィルタ基板のムラ検査装置及びムラ検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

CALCULATING METHOD FOR QUANTITY OF OBJECT FOR INSPECTION AND ACCEPTANCE OF INTERMEDIATE WORK INCLUDING PART NOT GUARANTEEING QUALITY例文帳に追加

品質保証対象外部分を含む中間加工品に対する検収対象量の算定方法 - 特許庁

Ultrasonic flaw detection is performed by pressing the bag body 3 onto an inspection object 7 as shown in Fig.(a) in this state.例文帳に追加

この状態で、(a)に示すように、袋体3を被検体7に押し付けて超音波探傷を行う。 - 特許庁

A light-emitting part 15 irradiates the surface of the inspection object 1 with laser light, while scanning is carried out in the width direction.例文帳に追加

発光部15は、被検査物1の表面にレーザ光を幅方向に走査しながら照射する。 - 特許庁

To provide a microchamber array device having an electrical function capable of analyzing an inspection object by means of a simple device in which electrodes used for inspection object manipulation (DEP and EP) are integrated in a single device microwell used for partitioning and by means of a method using the device; and an inspection object analysis method using the microchamber array device.例文帳に追加

区画化用の単一デバイスマイクロウェルに検査対象物操作(DEPおよびEP)用の電極を統合することにより、簡便な装置とそれを用いた方法で検査対象物解析を行うことができる電気的機能を持つマイクロチャンバーアレイ装置およびそれを用いた検査対象物解析方法を提供する。 - 特許庁

To solve a problem wherein measurement accuracy is lowered and the sufficient measurement accuracy cannot be ensured when an inspection object becomes small.例文帳に追加

検査対象が小さくなると測定精度が低下し、十分な測定精度が確保できない。 - 特許庁

例文

A mask image is produced on the basis of each inspection target object itself during actual flaw inspecting process.例文帳に追加

マスク画像を,実際の欠陥検査処理の中で各検査対象物そのものに基づいて生成する。 - 特許庁




  
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