「inspection object」に関連した英語例文の一覧と使い方(50ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a surface inspection method and apparatus which enable judgment of an object to be inspected based on the scattering intensity and range of each scattered light by admitting first and second light fluxes different in feature at different angles to separate the scattered light of the first and second light fluxes in terms of wavelength or by polarization.例文帳に追加

異なる特徴を有する第１及び第２光束を異なる角度で入射し、各角度で入射した第１及び第２光束の散乱光を、波長によって又は偏光によって分離して、各散乱光の散乱強度及び散乱光の範囲に基づき検査対象の判別を行う表面検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁

This inspection method of the hollow fibers in the hollow fiber array object 1 includes the process (1) of immersing the hollow fibers in the water dispensed in the wells of a microwell plate 2, the process (2) of introducing water into the hollow parts of the hollow fibers and the process (3) of measuring the amount of the water introduced into the hollow fibers or the amount of the water remaining in the wells.例文帳に追加

中空繊維配列体における中空繊維の検査方法であって、以下の工程；１）マイクロウェルプレートのウェルに分注した水に中空繊維を浸漬する工程、２）前記水を中空繊維の中空部に導入する工程、及び３）中空繊維に導入された水量又はウェルに残存した水量を測定する工程を含む前記方法。 - 特許庁

In an inspection/adjustment process in a factory, an image range information acquiring means 30 identifies an image range corresponding to a read object R in a pickup image and an image range corresponding to the section of a main body case, and stores the corresponding relation of each image range and a pixel data signal to be output by an image sensor 16 in a memory 29.例文帳に追加

工場での検査・調整工程において、画像範囲情報取得手段３０は、撮像画像において読取対象Ｒに対応した画像範囲と本体ケースの部分に対応した画像範囲とを識別し、各画像範囲とイメージセンサ１６が出力する画素データ信号との対応関係をメモリ２９に記憶する。 - 特許庁

The device is also provided with a belt conveyor which transports the object, an X-Y driving mechanism integrated with the belt conveyor, an X-ray source, and an X-ray detector; and is characterized in that a stamping mechanism which marks defective parts of the object to be inspected is provided in the X-ray inspection chamber.例文帳に追加

Ｘ線の漏洩防止を施した（Ｘ線遮蔽材を施した）筐体と、この筐体に検査物（例えば、プリント基板）を搬入する搬入口と、前記筐体から検査物（例えば、プリント基板）を搬出する搬出口と、検査物（例えば、プリント基板）を搬送するベルトコンベアと、このベルトコンベアと一体化されたＸ-Ｙ駆動機構と、Ｘ線源と、Ｘ線検出器を備えたＸ線検査装置において、前記検査物の部品の不良部品にマーキングするスタンプ機構をＸ線検査室内に備えたことを特徴とする。 - 特許庁

This system is provided with an illumination means 1 having a prescribed light emission angle, the first lens 2 for focusing a light from the illumination means 1 to be converted into a parallel light, and the second lens 5 for condensing the light after the parallel light from the first lens 2 is passed through a penetrated through hole formed in an inspection object 3, to be guided into an imaging means 4.例文帳に追加

所定の照射角を有する照明手段１と、前記照明手段１からの光を集光させて平行光に変換する第１レンズ２と、前記第１レンズ２からの平行光が検査対象物３に形成の貫通孔を通過した後の光を集光させて撮像手段４に取り込み可能とするための第２レンズ５とを備えている。 - 特許庁

A large current flows from the circuit of an inspection object circuit board 1 to the signal line short-circuiting transistor Q11 via the input/output signal line, increasing the resistance value of a positive temperature coefficient thermistor T of the input/output signal line while reducing the current flowing into the collector of the signal line short-circuiting transistor Q11 to protect a large current from continuing to flow.例文帳に追加

検査対象回路基板１の回路から入出力信号線を介して信号線短絡用トランジスタＱ１１に大きな電流が流れるが、その電流によって、入出力信号線の正温度係数サーミスタＴの抵抗値が増大し、信号線短絡用トランジスタＱ１１のコレクタに流れ込む電流が減少し、大電流が流れ続けることを防止できる。 - 特許庁

This inspection device 1 is constituted to inspect the shape of the external lead, using the electronic component as an object to be inspected, and is provided with a laser beam irradiating means 11 for irradiating lead groups 4 arrayed with the external leads 2 by a laser beam, and a mirror 10 for reflecting the transmission beam transmitted through the lead groups 4 to a direction different from a package part 3.例文帳に追加

検査装置１は、電子部品を被検査対象として外部リードの形状検査を行うよう構成されており、外部リード２が列設されたリード群４に対してレーザ光を照射するレーザ光照射手段１１と、リード群４を通過した通過光をパッケージ部３とは異なる方向に反射させるミラー１０が設けられた構成をなしている。 - 特許庁

The apparatus for inspecting character blur is provided with a binary image generating means for generating a binary image by binarizing an inspection object image by a predetermined threshold, an independent region counting means for counting the number of independent regions in the binary image, and a judging means for judging that it is a character blur defect when the number exceeds a criterion number.例文帳に追加

検査対象画像を所定のしきい値で２値化し２値化画像を生成する２値化画像生成手段と、前記２値化画像における独立領域の個数を計数する独立領域計数手段と、前記個数が判定基準個数を超えているときに文字カスレ不良であると判定する良否判定手段とを具備するようにした文字カスレ検査装置。 - 特許庁

The illumination apparatus for inspection is provided with an illumination means 1 with a predetermined angle of illumination, a first lens 2 for condensing and converting light from the illumination means 1 into parallel light, and a second lens 5 for condensing light after the parallel light from the first lens 2 has passed through a through hole formed in an object to be inspected 3 and capturing the light in an image pickup means 4.例文帳に追加

所定の照射角を有する照明手段１と、前記照明手段１からの光を集光させて平行光に変換する第１レンズ２と、前記第１レンズ２からの平行光が検査対象物３に形成の貫通孔を通過した後の光を集光させて撮像手段４に取り込み可能とするための第２レンズ５とを備えている。 - 特許庁

To provide a surface inspection device and its method capable of discriminating a scratch having a various shape generated on the surface from adhering foreign matter and inspecting it, when polishing or grinding such as CMP or the like is performed onto a machining object (for example, an insulating film on a semiconductor substrate) in semiconductor production or magnetic head production.例文帳に追加

半導体製造や磁気ヘッド製造において、被加工対象物（例えば、半導体基板上の絶縁膜）に対してＣＭＰなどの研磨または研削加工を施した際、その表面に生じる様々な形状を有するスクラッチと付着する異物とを弁別して検査することができるようにした表面検査装置およびその方法を提供することにある。 - 特許庁

The electric inspection apparatus (1) has a tester (2) (prober) for inspecting the electric component to be inspected (39), especially for inspecting a wafer (40), into which a contact device (3) is inserted/insertable for the contact of the object (39).例文帳に追加

本発明は、被験電気部品(39)、特にウェハ(40)の検査用の、前記被験体(39)の有接点式の接触のために利用される接触装置(3)が挿入されている/挿入可能な検査機(2)(プローバ)を有する電気検査装置(1)に関しており、接触装置(3)と検査機(2)とを互いに対して心出しするための、半径方向の温度補償運動だけを許容するセンタリング装置(24)が備えられる。 - 特許庁

To easily and surely detect a coating defect of an insulation film coated on an inner circumferential side face of a pipe or tubular container, without using an electrolyte requiring complicated and troublesome work, and a conductive brush or the like having the tendency that the detection of the coating defect is unsure, and having the possibility of damaging a surface of the inside of an inspection object.例文帳に追加

煩雑な作業が必要となる電解質や被覆欠陥の検知が不確実になりやすくかつ検査対象の内部の表面を損傷するおそれのある導電性ブラシなどを用いることなく、管または管状の容器の内周側面にコーティングされた絶縁膜の被覆欠陥を簡易かつ確実に検知する検査装置および検査方法を提供する。 - 特許庁

In this method of measuring the loss of the optical fiber, a multiplexer/demultiplexer 3 having wavelength dependency is connected to one end of the optical fiber 1 that is a measuring object, OTDR circuits 4a and 4b are connected to the multiplexer/demultiplexer 3, and inspection lights of wavelengths λ1 and λ2 which belong to different wavelength bands are emitted from the OTDR circuits 4a and 4b.例文帳に追加

本発明の光ファイバの測定方法では、測定対象である光ファイバ１の一端に、波長依存性を有する合分波器３を接続するとともに、光合分波器３に、ＯＴＤＲ回路４ａ，４ｂをそれぞれ接続し、それぞれのＯＴＤＲ回路４ａ，４ｂから異なる波長帯に属する波長λ１，λ２の検査光を出射する。 - 特許庁

In this inspection method for the presence of flaws, a projection object or the like on the external surface of the hose, the hose 1 to be inspected and a chamber 2 for enclosing a gas or a liquid with a fixed pressure are provided.例文帳に追加

外表面の傷や突起物の有無を検出する被検査ホ−スと、気体若しくは液体を一定の圧力をもって封入するチャンバーとを備え、チャンバー内に気密下にホ−スを挿入し、両者を相対的にスライドさせる工程、チャンバ−内の圧力を測定する工程、傷の存在による圧力降下を電気的若しくは機械的に検出する工程、からなることを特徴とするホース外表面の傷や突起物等の有無の検査方法。 - 特許庁

To provide a sheet-like probe for stably maintaining a good electric connection state by surely preventing displacement between an electrode structure and an electrode to be inspected due to temperature change even when an inspection object is a circuit device in which the diameter of a wafer of a large area is 8 inches or larger and the pitch of the electrode to be inspected is very small, and to provide its manufacturing method and its application.例文帳に追加

検査対象が、直径が８インチ以上の大面積のウエハや被検査電極のピッチが極めて小さい回路装置であっても、温度変化による電極構造体と被検査電極との位置ずれを確実に防止することができ、従って、良好な電気的接続状態を安定に維持することができるシート状プローブおよびその製造方法並びにその応用を提供すること。 - 特許庁

This spike reduction circuit for inspecting the organic EL panel inputs a signal from the each pixel of the organic EL panel driven by an inspection driving pattern, limits an upper limit value and/or a lower limit value of the signal to reduce a spike portion included in the signal, and restrains only the spike component without affecting the signal component of the measuring object, by outputting the signal component as it is.例文帳に追加

有機ＥＬパネル検査用スパイク低減回路は、検査用駆動パターンによって駆動される有機ＥＬパネルの各ピクセルからの信号を入力し、当該信号の上限値及び／又は下限値を制限して信号に含まれるスパイク分を低減し、信号成分はそのまま出力することで、測定対象である信号成分に影響を与えることなくスパイク成分のみを抑制する。 - 特許庁

There is provided a method for inspecting variation in grain size of fine particles in an inspection object containing homogeneous fine particles, the method comprising the steps of: using a liquid in which the fine particles are dispersed in a solvent for electrophoresis using a separation medium which serves as a sieve; and inspecting variation in grain size of the fine particles from an electrophoretic pattern after the electrophoresis.例文帳に追加

本発明の方法は、均質な微小粒子を含んでいる検査対象における当該微小粒子が有している粒度のばらつきを検査する方法であって、上記微小粒子が溶媒に分散している液体を、ふるいとして機能する分離媒体を用いた電気泳動に供する工程と、上記電気泳動後の泳動パターンから上記微小粒子の粒度のばらつきを検査する工程とを包含している。 - 特許庁

In this case, inspection light is allowed to be incident on the incident window (incident part) 26 on the measuring cell 3 to be allowed to traverse light path length (a) with respect to the object to be inspected, and transmitted through the transmission window (transmission part) 16 on the measuring cell 3 to detect the intensity of transmitted light.例文帳に追加

測定セル（検査容器）３内部のオゾン水等の被検査体に検査光を入射し、該被検査体を透過した検査光を検出して前記被検査体の性質を検査する検査方法において、測定セル３上の入射窓（入射部）２６に検査光を入射し、検査光を被検査体に対して光路長ａ横断させてから測定セル３上の透過窓（透過部）１６から透過させて透過光の強度を検出する。 - 特許庁

When a pulse rising time of an inverter pulse testing power source used when inspecting or diagnosing a motor is different from a rising time of a surge voltage observed in a motor terminal of an inspection diagnosis object at an inverter driving time, the magnitude ΔV of the surge voltage of the inverter pulse testing power source is heightened or lowered as much as a value necessary for applying a peak voltage Vm generated at the inverter driving time between motor winding turns.例文帳に追加

モータを検査又は診断する際に用いるインバータパルス試験電源のパルス立ち上がり時間が、インバータ駆動時に検査診断対象のモータ端子で観測されるサージ電圧の立ち上がり時間と異なる際には、モータ巻線ターン間にインバータ駆動時に発生するピーク電圧Ｖｍを印加するのに必要な値だけ、前記インバータパルス試験電源のサージ電圧の大きさΔＶを高くあるいは低くすることを特徴とする。 - 特許庁

To provide a failure line inspection system in an ADSL system which transmits an analog voice signal and a high-speed digital data signal through one subscriber line, that can simply and quickly conduct a work while maintaining the transmission of the analog voice signal through the subscriber line being a detection object and inspect a failure line of the ADSL system without giving any hindrance on other subscriber lines.例文帳に追加

アナログ音声信号と高速デジタルデータ信号とを１つの加入者回線で伝送するＡＤＳＬシステムにおいて、検知対象となる加入者回線のアナログ音声信号の伝送を維持した状態で、簡便かつ迅速に作業することができると共に、他の加入者回線に対しては何等の支障も及ぼすことなくＡＤＳＬシステムの故障回線の検査を行うことができるＡＤＳＬシステムにおける故障回線検査方式の提供。 - 特許庁

A radiographic inspection apparatus comprises; an imaging device which includes a plurality of radiation detectors for detecting radiation from a test object and where a second radiation detector for detecting the radiation having passed through a first radiation detector is provided; and a signal processor which is connected to each radiation detector and which obtains a ratio of the radiation including plural kinds of energy detected by the radiation detectors.例文帳に追加

撮像装置を備え、撮像装置は被検体からの放射線を検出する複数の放射線検出器を有し、第１の前記放射線検出器を通った放射線を検出する第２の前記放射線検出器が設けられ、前記放射線検出器にそれぞれ接続され、前記放射線検出器によって検出された複数のエネルギーを含む放射線の比率を求める信号処理装置を備えていることを特徴とする放射線検査装置。 - 特許庁

An automatic inspection device is composed of a photoelectric converter for converting image information of an object to be inspected to electric signals, a processor for processing the electric signals from the photoelectric converter so as to improve the signals and an arithmetic unit provided with a contention type neural network performing identification and evaluation to learned data and un-learned data on the basis of a specified standard, for which output from the processor is input.例文帳に追加

本発明は、被検査物の画像情報を電気信号に変換する光電変換装置と、前記光電変換装置からの電気信号を改良するためにその信号を処理する処理装置と、前記処理装置からの出力を入力とし特定基準に基づいて学習データと未学習データに対する識別と評価とを行う競合型ニューラルネットワークを有する演算装置とよりなる自動検査装置を提供するもので、上記のような課題を解決した。 - 特許庁

(1) A person who, with sufficient degree of certainty, uses a patented invention in contravention of Sections 9 to 13 can be sued by the right-holder or by another authorized party for production of a document or inspection of an object which is at said person’s disposal, or inspection of a process that is the subject matter of the patent, if this is required to substantiate the right holder's or other authorized party's claims. If there is sufficient certainty of an infringement committed on a commercial scale, the claim shall also extend to the production of bank, financial or commercial documents. Should the presumed infringer assert that the information is confidential, the court shall take the necessary steps to ensure the proper protection in the specific case. 例文帳に追加

(1) 第9条から第13条までの規定に違反して特許発明を実施していることが十分に確実であると思われる者に対し，権利所有者又は他の権利者は，当該人の管理下にある書類の提供若しくは物品の査察，又は特許の対象である方法の査察を請求することができるが，ただし，これが権利所有者又は他の権利者の主張を実証するために必要であることを条件とする。商業的規模での権利侵害が行われていることが十分な程度に確実であるときは，この請求権は，銀行，財務又は営業の書類の提供も対象とする。侵害者と思われる者が，その情報については秘密が保持されるべきことを主張する場合は，裁判所は，その特定の事件に関して適切な保護を確保するために必要な措置をとらなければならない。 - 特許庁