「inspection object」に関連した英語例文の一覧と使い方(49ページ目) - Weblio英語例文検索

In addition, in the abnormality determination, since a waveform coefficient Ki is calculated from the total value Pt of the amplitude values in one process of an inspection object and the subtotal value Ps and the waveform abnormality is detected by the waveform coefficient Ki, even if the ambient temperature is fluctuated, the waveform abnormality can be detected without being influenced thereby.例文帳に追加

さらに、異常判定を検査対象物の１工程中の振幅値の合計値Ｐｔと前記小計値Ｐｓとから波形係数Ｋｉを算出し、この波形係数Ｋｉにより波形異常を検出しているため、周囲温度の変動があっても、その影響を受けることなく、波形異常を検出することができる。 - 特許庁

When it is judged that the image for reference exists, the shared object concerning the specified inspection or series is generated ex-post facto by series unit, for example, through the use of the image for reference and at least one kind of information among a photographing condition, a photographing range, and a key image position, in the incidental information.例文帳に追加

リファレンス用画像が存在すると判定された場合、リファレンス用画像と、付帯情報のうちの撮影条件、撮影範囲、及びキー画像位置のうちの少なくとも一つの情報とを用いて、特定の検査又はシリーズについての共有オブジェクトを、例えばシリーズ単位で事後的に生成することができる。 - 特許庁

To provide a surface defect inspection device usable for detecting a surface defect such as micro-unevenness and a protrusion in an inspected object and for detecting and inspecting a defect accompanied by a concentration change on a surface, and capable of detecting easily and precisely the surface defects in the inspected objects having a plurality of kinds of diameters and lengths.例文帳に追加

被検査物の微小な凹凸、突起等の表面の欠陥の検出、さらに併せて表面の濃度変化を伴う欠陥の検出・検査に利用することができ、複数種類の直径や長さの被検査物の表面欠陥を精度よく容易に検出できる表面欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

A pressure received when the contact part 10 is brought into contact with an inspection object is dispersed in a pair of arm parts 12a (12b) to offset a parallel component of a repulsive force of the elastically deformed arm part 12a (12b) so as to suppress a scrubbing amount of the contact part 10.例文帳に追加

このため、コンタクト部１０を検査対象物に接触させることによって受ける圧力を一対のアーム部１２ａ（１２ｂ）に分散させ、弾性変形したアーム部１２ａ（１２ｂ）の反発力のうち、ガイド板３（４）に平行な成分を打ち消すことにより、コンタクト部１０のスクラブ量を抑制することができる。 - 特許庁

On the other hand, when receiving an instruction for inspection or adjustment from the outside, the transmission signal is generated and transmitted after enlarging the ratio of the frequency difference to the period, and the azimuth angle of the object is measured based on the transmitted transmission signal and the reflected signal to the transmission signal.例文帳に追加

一方、外部から検査、又は調整をする指示が与えられたときは、前述の期間に対する前述の周波数差の比を大きくしてから送信信号を生成して送信し、送信された送信信号と、当該送信信号に対する反射信号に基づいて対象物の方位角を測定する。 - 特許庁

In the substrate inspection method, phase data classified by a plurality of projection parts in relation to the substrate is acquired by successively irradiating the substrate having the measuring object formed through the plurality of projection parts with pattern illumination, and height data classified by the projection parts in relation to the substrate is extracted by using the acquired phase data classified by the projection parts.例文帳に追加

本発明の基板検査方法によると、複数の投影部を通して測定対象物が形成された基板にパターン照明を順に照射して基板に対する投影部別位相データを取得し、取得された投影部別位相データを用いて基板に対する投影部別高さデータを抽出する。 - 特許庁

The user is able to find easily the area of high concentration, by indicating the concentration, and a condition such as the combination of the feature quantity and the parameter optimum to the waveform data acquired from the inspection object is easily found by observing the combination of the feature quantity and the parameter corresponding to the area.例文帳に追加

濃度で示すことで、ユーザはより濃度の濃い領域を簡単に見つけることができ、その領域に対応する特徴量、パラメータの組み合わせを見ることにより、検査対象から取得した波形データにとって最適な特徴量およびパラメータの組み合わせなどの条件を容易に見つけることができる。 - 特許庁

The processing means acquires information indicating operation conditions or the information for collation from the game machine 10 or the monitoring and controlling devices 20 and 30 through the communication mechanism, judges the consistency of the acquired information and the information held by itself and discriminates whether or not the device to be the inspection object is proper by the judged result.例文帳に追加

処理手段は、遊技機１０又は監視制御装置２０、３０から動作状況を表す情報又は照合用情報を通信機構を通じて取得し、取得した情報と自己が保持する情報との整合性を判定して、この判定結果により、検査対象となる装置が正当かどうかを判別する。 - 特許庁

When inspecting an inspection object device equipped with three output ports 4, 6, 8 for outputting gradation data (digital data) in each color of R, G, B, output voltages in each of three output terminals for outputting data of the same bit from each output port are combined, and the synthesized voltage is measured in three times.例文帳に追加

Ｒ，Ｇ，Ｂの各色毎に階調データ（デジタルデータ）を出力する３つの出力ポート４、６、８を備えた検査対象機器を検査する際には、各出力ポートで同一ビットのデータを出力する３つの出力端子毎に出力電圧を合成し、その合成電圧を３回測定する。 - 特許庁

In this shape-measuring method and this device for the optical element and its type, a three-dimensional coordinate measuring means 30 for measuring the three-dimensional coordinates of the optical element which is an inspection object or its type O is used, and processing for applying measurement data acquired by the three-dimensional coordinate measuring means 30 to a function for expressing the shape is carried out.例文帳に追加

被検物たる光学素子あるいはその型Ｏの３次元座標を測定する３次元座標測定手段３０を用い、３次元座標測定手段３０により得られた測定データを形状を表わす関数にあてはめる処理を行う光学素子及びその型の形状測定方法と装置。 - 特許庁

The capacity of the waste liquid reservoir part 31 excluding the volume of the support ribs 32-34 is volume larger than 21 μl assuming that a reagent is injected into the reagent introduction part 40 by 10 μl, a reagent is injected into the cleaning liquid introduction part 23 by 10 μl, and an antigen is injected from the inspection object introduction part 35 by 1 μl.例文帳に追加

試薬導入部４０に注入される試薬が１０μｌ、洗浄液導入部２３に注入される試薬が１０μｌ、検査対象導入部３５から注入される抗原が１μｌならば、支持用リブ３２〜３４の体積を引いた廃液溜部３１の容積は、２１μｌより大きい体積とする。 - 特許庁

Particularly for a high-contrast part where the difference becomes large and a wrong detection (false report) is easy to occur even when a positional deviation is minute, generation of the false report is reduced and a high-sensitivity inspection is realized by a single low threshold to the whole of a test object region by a means for especially strongly matching brightnesses of images upon necessities.例文帳に追加

特に、微小な位置ずれであっても、その差異が大きくなり、誤検出（虚報）が生じやすい高コントラスト部分では、必要に応じて画像間の明るさを特に強く合わせ込む手段により、検査対象領域全体に対して唯一の低しきい値で虚報の発生低減と高感度検査を実現する。 - 特許庁

This probe for exchange held by a probe hand mechanism when exchanging the probe is constituted of a mounting part to be mounted on an electrode of a probe card; an arm part extending from the mounting part; a tip part provided on the tip of the arm part, to be in contact with an electrode which is an inspection object, and a handling plate held by the probe hand mechanism.例文帳に追加

プローブ交換の際にプローブハンド機構に保持される交換用プローブであって、プローブカードの電極に実装される実装部、上記実装部から延在するアーム部、上記アーム部の先端に設けられ被検査対象物の電極に接触する先端部、プローブハンド機構に保持されるハンドリングプレートから構成される。 - 特許庁

The device changes conditions of authenticity determination and carries out the inspection again without returning the bills to the user when the predetermined conditions for reinspection are satisfied, for example, when the ratio of rejected bills among the entered bills is high, or when the account, which is the object of transaction, corresponds to a predetermined suspicious account.例文帳に追加

入金された紙幣中のリジェクト券の比率が高い場合、取引対象となる口座が予め設定された要注意口座に該当する場合など、所定の再鑑別条件を満たす場合には、紙幣をユーザに返却することなく、鑑別条件を変えて紙幣の再鑑別を実行する。 - 特許庁

If the line to be complemented becomes an object to be recorded by the other operation nozzle in any one of main scanning in the overlap printing operation after the inspection, the pixel position to be complemented is added as a pixel position where the operation nozzle is in charge of recording and, the operation nozzle records on the line to be complemented in a complement operation.例文帳に追加

そして、補完対象ラインが、検査後のオーバーラップ印刷動作におけるいずれかの主走査において他の動作ノズルの記録対象となる場合に、その動作ノズルが記録を担当する画素位置として補完対象画素位置を追加し、その動作ノズルで補完対象ライン上の記録を行う補完動作を実行する。 - 特許庁

In a white light interferometer using a time-domain correlation image sensor (camera 10), an interference range of a temporally incoherent light source is determined in conformity with a workpiece, a correlation image obtained by the white light interferometer is binarized, and the inspection of the presence of the object within the interference range is performed by the binarized image.例文帳に追加

時間相関イメージセンサ（カメラ１０）を使用した白色干渉計において、時間的にインコヒーレントな光源の干渉範囲を検査対象に合わせて決定し、前記白色干渉計で得られる相関画像を２値化して、該２値化された画像により、前記干渉範囲内の対象物有無検査を実施する。 - 特許庁

To provide a device and method for surface inspection, capable of inspecting a surface defect such as a flaw on a surface and delamination of painting with high precision and speed at a low cost with a simple structure even if an object to be measured produces rough specular reflection due to glossy painting of a vehicle and parts thereof provided.例文帳に追加

自動車やその部品などの光沢塗装が施されるなどして鏡面反射が酷い計測対象物であっても、簡単な構造により低コストで高精度かつ高速に表面の傷や塗装の剥がれなどの表面欠陥を検査することが可能な表面検査装置および表面検査方法の提供。 - 特許庁

When an inspection object is altered to the narrow TAB tape 12, eight drum pieces 61 constituting the cylindrical drum 60 are expanded and subsequently moved forward until the width of the control groove 63 becomes equal to that of the altered TAB tape 12 while keeping the expanded state of the drum pieces 61 before contracted.例文帳に追加

検査対象を幅の狭いＴＡＢテープ１２に変更する際には、筒状ドラム６０を構成する８つのドラム片６１が拡開され、当該拡開状態が維持されたまま、規制溝６３の幅が変更するＴＡＢテープ１２の幅と等しくなるまで装置前方へとドラム片６１を移動し、その後縮閉する。 - 特許庁

The plurality of detection parts are arranged so as to detect the electromagnetic wave irradiated from the electromagnetic wave generation/irradiation means and transmitted through or reflected by different sites of the inspection object 11 interactively, and are constructed so as to detect the electromagnetic wave from the different sites in each different detection time or detection frequency, respectively.例文帳に追加

複数の検出部は、電磁波発生・照射手段で発せられ検査対象物１１の異なる部位と相互作用して透過または反射した電磁波を検出する様に配置され、且つ異なる部位からの電磁波を夫々異なる検出時間或いは検出周波数で検出する様に構成される。 - 特許庁

The shape of the inspection object observed by an eye is calculated by a shape factor calculating part 5, a heat-radiation energy amount reaching to the eye is calculated by a heat- radiation calculating part 6, using the shape coefficient, and a correlation between the heat-radiation energy amount, and the visibility is found by a neural network 7 based on a subject experiment.例文帳に追加

そして、形態係数計算部５で目から見た検査対象物の形態係数を計算し、この形態計数を用い、熱放射計算部６で目に到達する熱放射エネルギー量を計算し、ニューラルネットワーク７で被験者実験により熱放射エネルギー量と視認性との相関関係を求める。 - 特許庁

Assuming that the reagent injected into the reagent introduction part 40 is 10 μl, the reagent injected into the cleaning liquid introduction part 23 is 10 μl, and an antigen injected from the inspection object introduction part 35 is 1 μl, the volume of the waste liquid storage part 31 from which the volume of the support ribs 32-34 is subtracted is a larger volume than 21 μl.例文帳に追加

試薬導入部４０に注入される試薬が１０μｌ、洗浄液導入部２３に注入される試薬が１０μｌ、検査対象導入部３５から注入される抗原が１μｌならば、支持用リブ３２〜３４の体積を引いた廃液溜部３１の容積は、２１μｌより大きい体積とする。 - 特許庁

To achieve an electron microscope or an X-ray analysis apparatus, and a sample analysis method for precisely and speedily performing an element analysis with high precision by X rays being generated from a sample by applying electron rays being a foreign object element inspection required for improving a manufacturing yield in a semiconductor element or the like.例文帳に追加

半導体素子等の製造歩留まり向上のために必要な異物元素検査である電子線を照射して試料から発生するＸ線による元素分析を、高精度、高分解能、高速に実施できる電子顕微鏡またはＸ線分析装置及び試料の分析方法を実現することを目的とする。 - 特許庁

This length inspection device for the optical component applying an irradiation light 11 to a sample optical component 25 or an inspection object, measuring the wave length characteristics of the sample optical component 25 after the irradiation, and inspecting the sample optical component is characterized of measuring the wave length characteristics with the sample optical component 25 set in an environment approximately similar to the irradiation of the irradiation light 11.例文帳に追加

被検査対象であるサンプル光学部品２５に照射光１１を照射し、照射後のサンプル光学部品２５の波長に対する特性を測定して、サンプル光学部品２５の検査を行なう光学部品の波長特性検査装置において、照射光１１を照射後、サンプル光学部品２５を照射光１１の照射時と略同一の環境内においた状態で、波長特性の測定を行なえるようにしたことを特徴とする光学部品の波長特性検査装置。 - 特許庁

To provide a probe card for using even a chip device having a small electrode size which is a test object, by reducing position deviation of a probe tip, concerning a probe card having a double elastic mechanism having a small-dimension probe used for inspection of an electric characteristic of chip devices integrated in high density on a semiconductor wafer.例文帳に追加

半導体ウェハ上に高密度に集積されたチップデバイスの電気的特性の検査に使用する微小寸法のプローブを有する二重弾性機構のプローブカードにおいて、プローブ先端の位置ずれを小さくすることによって、被試験体であるチップデバイスの電極サイズの小さなものであっても使用できるプローブカードを提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device for inspecting the diameter of a crankpin of a crankshaft during machining by a grinding machine, having a measuring device and a reference device linked therewith, engageable with the crankpin, the inspected object, during its orbital motion and capable of holding the engaged state during the orbital motion of the crankpin.例文帳に追加

研削盤による機械加工中にクランクシャフトのクランクピンの直径を検査する装置であって、測定装置及びこれと連携していて、検査対象のクランクピンが軌道を描いて運動しているときにこのクランクピンに係合でき、しかもクランクピンの軌道運動中に係合状態を保つことができる基準装置を有する検査装置を提供する。 - 特許庁

This tire visual inspection method includes: a step of detecting a specific shape periodically appearing in the pickup image of a tire surface picked up along a tire circumferential direction from the pickup image; a step of creating a mask image by using the specific shape as a removal object shape; and a step of rotating the mask image so that the mask image can be matched with the specific shape.例文帳に追加

タイヤ円周方向に沿って撮像されたタイヤ表面の撮像画像に周期的に現れる特定形状を当該撮像画像から検出するステップと、特定形状を除去対象形状としてマスク画像を作成するステップと、特定形状に対してマスク画像が一致するように当該マスク画像を回転するステップとを含むようにした。 - 特許庁

A probe card includes a force terminal 105 to which first supply voltage is supplied, a probe needle 101 which supplies voltage based on the first supply voltage to a semiconductor integrated circuit being an inspection object, and the fuse 102 which is connected in series on a signal line connecting the force terminal 105 and the probe needle 101.例文帳に追加

本発明にかかるプローブカードは、第１の電源電圧が供給されるフォース端子１０５と、検査対象である半導体集積回路に対し第１の電源電圧に基づいた電圧を供給するプローブ針１０１と、フォース端子１０５とプローブ針１０１とを接続する信号線上に直列に接続されたヒューズ１０２と、を備える。 - 特許庁

The organism inspection apparatus 50 includes an irradiation part 11 for irradiating organisms with the irradiation light, a light-receiving part 12 for receiving transmitted light, irradiation light transmitted through the organisms, and a determination part 30 for determining which of a plurality of classifications, including conforming items and nonconforming items the object to be inspected belongs, on the basis of the waveform of a spectrum Ds of the transmitted light.例文帳に追加

本生物検査装置５０は、生物に照射光を照射する照射部１１と、照射光が生物を透過した光である透過光を受光する受光部１２と、透過光のスペクトルＤｓの波形に基づいて良品と不良品とを含む複数の分類のいずれであるかを判定する判定部３０と、を備える。 - 特許庁

The irradiation position of the electron beam and the mounting base are relatively moved, data obtained by relating the detection result of the emitted secondary electrons to the irradiation position of the electron beam on the wafer W in the entire inspection object region of the wafer W are acquired, and presence of a defect where a part that should be a conductive part becomes an insulation part is inspected based on the data.例文帳に追加

電子線の照射位置と載置台とを相対的に移動させて、ウエハＷの検査対象領域全体において、放出された２次電子の検出結果と、ウエハＷ上の電子線の照射位置とを対応付けたデータを取得し、このデータに基づいて、導電部であるべき部位が絶縁部となっている欠陥の有無を検査する。 - 特許庁

Determination as to whether a food is a good quality one or a poor quality one is made by utilizing a difference in tendency of waveform data of transmission spectrum obtained by irradiating a good quality one and a poor quality one of foods to be inspected with light, based on whether a transmission spectrum obtained by irradiating an inspection object food with the same light has the tendency of the waveform data of the good quality one.例文帳に追加

検査対象品である食品の良品と不良品に光を照射したときに得られるその透過分光スペクトルの波形データの傾向の違いを利用し、検査対象品に同じ光を照射したときに得られるその透過分光スペクトルが良品の波形データの傾向を備えているか否かで、良品か不良品かの判定を行う。 - 特許庁

To provide a reagent composition for immunochromatography or a sample dilution liquid capable of suppressing a nonspecific reaction in comparison with a conventional technology for detecting a detection object by using an immuno-chromatographic device, and to provide a high-performance high-sensitivity immuno-chromatographic device using the reagent composition or sample dilution liquid, and a detection kit capable of performing quick and simple inspection.例文帳に追加

免疫クロマトグラフィー装置を用いて検出対象物を検出する従来技術に比して、非特異的反応を抑制することができるイムノクロマトグラフィー用試薬組成物、もしくは試料希釈液の提供、およびそれを用いた、高性能、高感度な免疫クロマトグラフィー装置ならびに迅速、簡便な検査ができる検出キットを提供する。 - 特許庁

To provide an eddy current flaw detector and a display capable of eliminating a noise component, even if noise component is superimposed on detection signal data by a difference of a surface shape of an inspection object or fluctuations of lift-off, and accurately comparing a premeasured reference detection signal with a detected signal of characteristic change, and the like, including material changes.例文帳に追加

検査対象物の表面形状の違いやリフトオフの変動によって検出信号データにノイズ成分が重畳しても、そのノイズ成分を除去し、かつ予め測定している基準検出信号と、材質変化等の特性変化などの検出信号とを正確に比較することが可能な渦電流探傷装置および表示装置を提供する。 - 特許庁

To provide a liquid leakage inspection system capable of improving detection accuracy for a liquid leakage, of facilitating cleaning and recovery, and of improving degrees of freedom for setting of an insulation substrate, as well as detecting a trace of liquid leakage from an object to be inspected with no bad effect thereon by bringing a detection electrode into contact therewith.例文帳に追加

液漏れの検出精度を向上でき、かつ、清掃復旧作業を容易にできると共に、絶縁基板の設置の自由度を向上でき、被検査物に悪影響を及ぼすことなく、検出電極と被検査物との接触により被検査物の極微量の液漏れを検出することができる液漏れ検査システムを提供する。 - 特許庁

An inspection engine 30 receives a sequence program being an object to be inspected from a sequence program file 12, comment from a comment file 16, knowledge information for deciding the past number of hierarchies to be inspected from a knowledge information file 20, and time chart information indicating the timing of an input contact from a time chart information file 10.例文帳に追加

検証エンジン３０は、シーケンスプログラムファイル１２から検証の対象となるシーケンスプログラムを、コメントファイル１６からコメントを、知識情報ファイル２０から何階層遡って検証するかを決定するための知識情報を、タイムチャート情報ファイル１０から入力接点のタイミングを示すタイムチャート情報をそれぞれ入力する。 - 特許庁

To provide a clock frequency biasing device which automatically set an object reception channel of beat shifting and makes a beat shift of a clock frequency according to set channel information when the reception channel is selected during use by a user instead of manual inspection of the beat shift, and to provide a method thereof and radio communication equipment in which same is incorporated.例文帳に追加

人手によるビートシフトの検査に替わって、自動的にビートシフトすべき受信チャネルが設定され、ユーザの使用時にその受信チャネルが選択されると、設定されたチャネル情報に従ってクロック周波数のビートシフトが行われるクロック周波数偏倚装置とその方法およびそれを組み込んだ無線通信機を提供する。 - 特許庁

To provide a support device of a glass substrate for liquid crystal, which is capable of reducing costs and shortening a manufacturing period to quicken a delivery date and is capable of improving maintainability against breakage, by allowing a transmissive support table to be manufactured by combination of simple transparent structure members to cope with enlargement of the glass substrate being an object of processing like inspection.例文帳に追加

検査等の処理対象となるガラス基板の大型化に対して、簡単な透明な構造材の組み合わせで透過型支持テーブルの製造を可能とし、その結果、低コスト化、製造納期の短縮化を図ることが可能であると共に、破損時のメンテナンス性を向上させることが可能な液晶用ガラス基板の支持装置を提供する。 - 特許庁

An identification code 91 imparted to the general purpose engine 10 is read out by an identification code reader 102, and an engine basic specification data of the general purpose engine of an inspection object and an equipment correspondence engine specification data based on equipment mounted with the general purpose engine are automatically read from a database DB in a complete survey machine 104, based on the identification code.例文帳に追加

汎用エンジン１０に付されている識別コード９１を識別コード読取り機１０２で読み取り、識別コードに基づいて、データベースＤＢから検査対象の汎用エンジンのエンジン基本仕様データ及びこの汎用エンジンが搭載される機器に基づく機器対応エンジン仕様データを、完成検査機１０４に自動的に取り込む。 - 特許庁

When the solenoid is driven, the hammer shaft and the hammer head advance together with the actuator shaft, and after a moving core and the actuator shaft has reached the advance end, the hammer shaft and the hammer head advance furthermore; while compressing the compression coil spring, collide with an inspection object, generate a hammering sound, and returns to the initial position by a repulsive force at collision.例文帳に追加

ソレノイドを駆動すると、ハンマーシャフトとハンマーヘッドはアクチュエータシャフトと一体に前進し、可動鉄心及びアクチュエータシャフトが前進端に達した後にハンマーシャフトとハンマーヘッドは圧縮コイルバネ15を圧縮しつつさらに前進し、検査対象物に衝突して打音を発生させ、衝突時の反撥力によって初期位置へ戻る。 - 特許庁

A light beam is radiated to the inspected surface F from the image object 21 having a plurality of substantially linear light beam radiation sections 21a, 21a, etc arranged in substantially parallel so as to form a circular arc surrounding an inspection surface radially about the inspected surface F as a substantially center, thereby forming a bright section and dark section on the inspected surface F.例文帳に追加

被検査面Ｆを略中心として放射状に、且つ、併せて検査面を包囲する円弧を成すように、複数が略平行に配列されている略直線状の光線照射部２１ａ・２１ａ・・・を備えた像対象物２１から、被検査面Ｆに光線束を照射することによって、該被検査面Ｆに明部と暗部とを形成する。 - 特許庁

To provide a safe and inexpensive thickness continuous measuring apparatus which highly accurately and continuously performs fabric inspection on large quantities, without using a complicated and large-scale measuring apparatus, even if an object to be inspected has a black or dark color such as a felt long body or if the surface of the body to be inspected has irregularities which reflect laser light in a irregular manner.例文帳に追加

フェルト長尺体などのように、被検体の色が黒色若しくは濃色であっても、被検体の表面にレーザー光を乱反射させる凹凸があっても、複雑で大がかりな測定装置を使用することなく、安全に、安価で、大量に且つ高精度に連続検反できる厚さの連続測定装置を提供する。 - 特許庁

According to this invention, in a pixel defect correcting device provided with an inspection means by a CCD video camera 20, etc., and a correcting means by a laser oscillator 22 for a liquid crystal panel 1, a warm wind feeder 40 is arranged for the liquid crystal panel 1 which is a correction object installed on a X-Y stage.例文帳に追加

本発明では、液晶パネル１に対して、ＣＣＤビデオカメラ２０等による検査のための手段と、レーザ発振器２２等による修正のための手段を備えている画素欠陥修正装置において、ＸＹステージ２上に設置された被修正対象である液晶パネル１に対して、温風供給器４０が設けられている。 - 特許庁

In this case, energy of γ-rays radiated by the γ-ray source 1 is adjusted to be higher than threshold energy to the (γ,n) reaction by deuterium and to be lower than threshold energy to the (γ,n) reaction of a material constituting the inspection object 4, and photoneutrons generated from the (γ,n) reaction by deuterium are measured by the neutron detector 6.例文帳に追加

ここで、γ線源１が照射するγ線のエネルギーを、重水素の（γ，ｎ）反応に対するしきいエネルギーよりも高く、被検査体４を構成している物質の（γ，ｎ）反応に対するしきいエネルギーよりも低いエネルギーとし、重水素の（γ，ｎ）反応により発生する光中性子を中性子検出器６で計測する。 - 特許庁

This device has the array probe 1 having a plurality of ultrasonic vibrators, a control part for controlling electronically scanning, an angle and a focal point of transmission/reception of an ultrasonic beam 3 emitted from the array probe 1, and a screen display part for performing flaw detection of an inspection object by the controlled ultrasonic beam 3 and displaying the result on the A scope 23 and B scope 18.例文帳に追加

複数の超音波振動子を有するアレイプローブ１と、該アレイプローブ１から発せられる超音波ビーム３の送受信における走査、角度及び焦点を電子的に制御する制御部と、該制御された超音波ビーム３によって被検査体を探傷しその結果をＡスコープ２３及びＢスコープ１８に表示するする画面表示部を有する。 - 特許庁

In the diagnostic method, the oscillation or noise measuring function of the A/T inspection device 7, having both a sensor part 71 for collecting oscillations or noise generated from an object to be measured 80 and outputting it as a collection signal D1 and an operation part 72 for arithmetically processing the collection signal D1 and outputting an output signal D2, is diagnosed.例文帳に追加

被測定物８０から生じる振動又は騒音を採取して採取信号Ｄ１として出力するセンサ部７１と，採取信号Ｄ１に演算処理を加えて出力信号Ｄ２を出力する演算部７２とを有するＡ／Ｔ検査装置７における，振動又は騒音の測定機能を診断する診断方法である。 - 特許庁

Upon detecting the input-output characteristics of a plurality of LD elements, the input-output characteristics of a plurality of n pieces of LD elements are detected by one cycle substantially through a plurality of n sets of reference current pulse series signals IPref corresponding to the LD element number n of an inspection object, in which an input current is increased stepwise to the predetermined maximum value.例文帳に追加

複数のＬＤ素子の入出力特性を検出するにあたり、入力電流が所定の最大値まで段階的に増大する、検査対象のＬＤ素子数Ｎに見合った複数Ｎの基準電流パルス列信号ＩＰrefにより、実質的に１サイクルをもって複数Ｎ個のＬＤ素子の入出力特性を検出する。 - 特許庁