「inspection object」に関連した英語例文の一覧と使い方(13ページ目) - Weblio英語例文検索

By the system, a problem can be solved in which the inspection object is deviated from a focus during the inspection and clear images cannot be acquired.例文帳に追加

上述のシステムは、被検査物が検査中の際に焦点から逸脱し、鮮明なイメージが捕捉できない問題を克服することができる。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of acquiring precisely an image of an inspection object, and capable of obtaining sufficient defect detection precision.例文帳に追加

検査対象の画像を高精度で取得することができ、十分な欠陥検出精度を得ることが可能な欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

A near-infrared light L1 outputted from a light source 10 of the food inspection device 1 reaches an irradiation position P1 of an inspection object 40.例文帳に追加

食品検査装置１の光源１０から出力される近赤外光Ｌ１は、検査対象物４０の照射位置Ｐ１に到達する。 - 特許庁

To achieve an inspection correction device for efficiently performing various processing even when defect inspection or a defect correction object substrate is large-sized.例文帳に追加

欠陥検査又は欠陥修正される基板が大型化しても、各種処理を効率よく行うことができる検査修正装置を実現する。 - 特許庁

To improve inspection accuracy by picking up the image of an inspection object always with the constant background without preparing illumination exclusively used for transmission.例文帳に追加

透過専用照明を用意することなく、常に一定の背景の下で検査対象を撮像でき、検査精度を向上できるようにする。 - 特許庁

To provide a defect inspection method and defect inspection device capable of stably detecting a defect occurring on the surface of an inspecting object.例文帳に追加

被検査物の表面上に発生する欠陥を安定して検出することができる欠陥検査方法及び欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a nondestructive inspection method for a semiconductor device, capable of inspecting efficiently an area of an inspection object, without generating a lack.例文帳に追加

検査対象としている領域を効率よく、不備なく検査できる半導体デバイスの非破壊検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

This inspection meter inspects the moisture content of a measuring object by being installed in a dryer or an inspection box, and has an instructive moisture content setting function.例文帳に追加

乾燥設備或いは検測箱に取り付けられて被測定物の水分含有量を検査し、且つ教導性含水率設定機能を有する。 - 特許庁

Whole surface inspection including the center and the center neighborhood of the object to be measured is realized by synthesis of first and second surface inspection results.例文帳に追加

１回目、２回目の表面検査結果の合成により被検査物体の中心及び中心近傍を含む全面検査を実現する。 - 特許庁

This light projector 1 for visual inspection is provided with an illumination optical system for irradiating a glass substrate G of an inspection object with an illumination light.例文帳に追加

外観検査用投光装置１は、検査対象であるガラス基板Ｇへ照明光を照射する照明光学系を備えている。 - 特許庁

To detect an inclination of an inspection object surface in a unit finer than conventional units, without causing increase in cost, or reduction in inspection efficiency.例文帳に追加

コストの増加や検査効率を低下させることなく、被検査面の傾斜角度を従来よりも細かい単位で検出できるようにする。 - 特許庁

To provide a visual inspection apparatus that can perform visual inspection of an object at a plurality of positions by a single imaging means and can be downsized.例文帳に追加

単一の撮像手段により検査対象物の複数箇所の外観検査が可能で、小型化が図れる外観検査装置を提供する。 - 特許庁

A character extraction part 17 is configured to extract the character string stored in the status/character string storage part 15 from inspection information relating to object inspection.例文帳に追加

文字抽出部１７は、対象検査に関する検査情報からステータス／文字列記憶部１５に記憶されている文字列を抽出する。 - 特許庁

The inspection device 1 comprises an environment characteristic extraction part 5 for extracting the characteristic amount from waveform data measured, when driving inspection objects at each inspection object; and an environment change detection part 6 for detecting that the inspection environment is generating, when the characteristic amount extracted at each object of inspection continuously exceeds a prescribed threshold by a plurality of the objects of inspection.例文帳に追加

検査装置１は、検査対象物毎に、検査対象物の駆動時に測定される波形データから特徴量を抽出する環境特徴抽出部５と、検査対象物毎に抽出された特徴量が、複数の検査対象物で連続して所定の閾値を超えると、検査環境が発生していることを検出する環境変化検出部６と、を備えている。 - 特許庁

A vehicle inspection line 5 is divided into a first inspection station 11 for mainly executing a visual inspection, a second inspection station 12 for executing an inspection by a measuring instrument and a third inspection station 13 for executing decomposition, checks and inspections for a lower surrounding part by using a lift along a moving passage 8 of the automobile of the inspection object in the order from its entrance 3 side.例文帳に追加

車両検査ライン５は、検査対象の自動車の移動経路８に沿って、その入口３の側から順に、主として目視による検査を行なう第１の検査ステーション１１と、測定機器による検査を行なう第２の検査ステーション１２と、リフトを用いて下回りの分解、点検検査を行なう第３の検査ステーション１３に区分されている。 - 特許庁

This weight inspection device 1 is equipped with the measuring section 4 having a measuring conveyor 40 for conveying the inspection object TR, for measuring the weight of the inspection object TR conveyed on the measuring conveyor 40; and a pair of rail-like members 50 extending along the conveyance direction of the inspection object TR, to which the measuring section 4 is fixed so that the position can be altered.例文帳に追加

重量検査装置１は、被検査物ＴＲを搬送する計量コンベア４０を有し、当該計量コンベア４０で搬送される被検査物ＴＲの重量を測定する計量部４と、被検査物ＴＲの搬送方向に沿って延在するとともに、計量部４が位置変更可能に取り付けられた一対のレール状部材５０とを備える。 - 特許庁

An appearance inspection system for obtaining an image of an inspection object and inspecting an appearance is provided with an image detector 100 for detecting the image of the inspection object and an information processor 200 for processing the image detected by the image detector 100 and determining the existence of abnormality emerging in the image of the inspection object.例文帳に追加

検査対象の画像を取得して外観検査を行う概観検査システムであって、検査対象の画像を検出する画像検出装置１００と、画像検出装置１００により検出された画像を処理して、当該検査対象の画像に現れる異常の有無を判定する情報処理装置２００と、を備える。 - 特許庁

To provide an inspection method, an inspection device and an inspection program for an image forming state capable of improving the inspection accuracy of the image forming state of an image to be inspected formed on an object.例文帳に追加

対象物に形成された検査対象画像の画像形成状態の検査精度を向上させることが可能な画像形成状態検査方法、画像形成状態検査装置及び画像形成状態検査用プログラムを提供する。 - 特許庁

According to a request content to the received object image data, an inspection business processing host 30 is selected, an inspection job is assigned thereto, and the inspection result provided from the inspection work processing host 30 is transmitted to the client.例文帳に追加

この受信した検査対象画像データに対する依頼内容に応じて検査業務処理ホスト３０を選択して検査ジョブを割当て、検査業務処理ホスト３０により提供される検査結果をクライアントに送信する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic inspection device easily and quickly operated by hand in the field or on the site of a manufacturing process and efficiently and accurately carrying out an ultrasonic inspection of an inspection object, and to provide an ultrasonic probe device and an ultrasonic inspection method.例文帳に追加

フィールドや製造工程の現場で簡単かつ手軽に手動操作でき、検査対象物の超音波検査を効率的よく正確に実施できる超音波検査装置、超音波プローブ装置、超音波検査方法を提供する。 - 特許庁

An inspection processing part 30 of a control part 3 performs a plurality of kinds of inspection processing successively by using the plurality of image stored temporarily in the inspection object memory 2, determines whether the inspection result satisfies the determination condition or not in each inspection processing, and stores the determination result in each inspection processing in a storage part 4.例文帳に追加

制御部３の検査処理部３０は、検査対象メモリ２に一時記憶されている複数の画像データを用いて複数の検査処理を順次行ない、検査処理ごとに検査結果が判定条件を満たすか否かの判定をし、各検査処理の判定結果を記憶部４に記憶させる。 - 特許庁

One inspection step in the function inspection of an object 10 to be inspected is prepared by operating condition setting by using a prescribed condition setting screen displayed on a computer device 30, and plural inspection steps are prepared according to the inspection procedures of the function inspection so that one function inspection program can be obtained.例文帳に追加

コンピュータ装置３０に表示された所定の条件設定画面を用いて条件設定を行うことにより検査対象物１０の機能検査における１つの検査ステップを作成すると共に、この検査ステップを機能検査の検査手順に応じて複数作成して１つの機能検査プログラムとする。 - 特許庁

In the inspection terminal, an inspection object expanding section 17 expands the inspection objects on the input picture of inspection information and an inspection executing section 18 stores the inspection information inputted by an inspector in a storing section 19.例文帳に追加

事務所点検ＰＣは、点検端末選択ＧＵＩ部１１による選択で、通信先設定部１２がデータベース１３の情報から使用する点検端末の特定と通信方法を自動的に確立し、点検オブジェクト生成部１５が自動生成した点検に必要な設備毎の点検オブジェクトを点検端末へ自動的に移動させる。 - 特許庁

Then a rotation center O' is deviated from the center O of the discoidal object to be measured, and second surface inspection including the center O and the neighborhood of the center O of the object to be measured where surface inspection could not be carried out by the first surface inspection is carried out.例文帳に追加

次に、ディスク状の被検査物体の中心Ｏと回転中心Ｏ´をずらして、１回目の表面検査で表面検査が出来なかった被検査物体の中心Ｏ及び中心Ｏの近傍を含む２回目の表面検査を行う。 - 特許庁

The step S4 to step S11 are repeated, and when an inspection object image satisfying a prescribed condition is stored in the storage part, the inspection recipe stored in the storage part is updated based on the recipe including the inspection object image (step S12).例文帳に追加

工程Ｓ４〜Ｓ１１を繰り返し行い、記憶部に所定の条件を満たす検査対象画像が記憶された際、当該検査対象画像を含むレシピに基づいて記憶部に記憶された前記検査レシピを更新する（工程Ｓ１２）。 - 特許庁

A substrate inspection device is provided with a substrate holding part provided rotatably on a substrate holding frame 4 for holding an inspection object substrate so as to expose both front and rear faces of the inspection object substrate 8 and holding the substrate holding frame in horizontal and vertical states.例文帳に追加

検査対象基板８の表裏両面が露出する様、該検査対象基板を保持する基板保持枠４が回転可能に設けられると共に、該基板保持枠が水平な状態と直立な状態に保持可能とした基板保持部を具備する。 - 特許庁

To provide a probe assembly not generating large displacement of an inspection object in the lateral direction, and not damaging a device domain, in electric inspection of the inspection object such as a semiconductor wafer having an asymmetric array pattern.例文帳に追加

非対称配列パターンを有する半導体ウエハのような被検査体の電気的検査において、該被検査体に横方向への大きな変位を生じさせることなく、しかもデバイス領域に損傷を与えることのないプローブ組立体を提供する。 - 特許庁

A defect cycle estimator in single object 32 and a defect cycle estimator in a plurality of objects 34 estimate periodicity of a defect in the object of inspection with statistical hypothesis to defect information based on defect information on features of the individual defects, picture information on the object of inspection and information on the object of inspection.例文帳に追加

単一対象内欠陥周期推定部３２および複数対象内欠陥周期推定部３４は、個々の欠陥の特徴に関する欠陥情報、被検査対象の画像情報、および被検査対象に関する情報に基づいて、被検査対象における欠陥の周期性を、欠陥情報に対する統計的仮説検定により推定する。 - 特許庁

To provide a temperature measuring instrument and its fitting method, which enable a reduction in fitting execution time to an inspection object, and accurate detection of the temperature of the inspection object.例文帳に追加

検査対象への取り付け施工時間を短縮するとともに、検査対象の温度を正確に検出することができる温度計測装置および温度計測装置の取り付け方法を提供する。 - 特許庁

An inspection object 13 is irradiated with an X-ray from an X-ray generation means 17, and the X-ray transmitted through the inspection object 13 is converted into a visible light image by an X-ray imaging tube 27, and the visible light image is photographed by a camera 28.例文帳に追加

被検査物13にＸ線発生手段17からＸ線を照射し、被検査物13を透過したＸ線をＸ線イメージ管27で可視光像に変換し、可視光像をカメラ28で撮影する。 - 特許庁

The line sensor 38 of a third scanning unit 34 scans an image of the inspection object plane of the substrate 2 viewed at an angle tilting to a second direction side at a second angle β from the direction perpendicular to the inspection object plane.例文帳に追加

第３走査ユニット３４のラインセンサ３８は、被検査面と垂直な方向から第２角度βだけ第２方向側に傾いた角度で基板２の被検査面を見た映像を走査する。 - 特許庁

The line sensor 38 of a second scanning unit 32 scans an image of the inspection object plane of the substrate 2 viewed at an angle tilting to a first direction side at a first angle α from the direction perpendicular to the inspection object plane.例文帳に追加

第２走査ユニット３２のラインセンサ３８は、被検査面と垂直な方向から第１角度αだけ第１方向側に傾いた角度で基板２の被検査面を見た映像を走査する。 - 特許庁

To provide an inspection device for a scanning optical element, which can expand the range of an inspection object region in the scanning optical element being an object to be inspected, without lowering the sensitivity of detecting optical defects.例文帳に追加

光学的欠陥に対する検出感度を下げることなく検査対象走査光学素子における検査対象領域の幅を拡げることができる走査光学素子検査装置を、提供する。 - 特許庁

To provide a system and a method for detecting an outline which is able to reduce the stress applied to an inspection object from a mounting base, without deteriorating accuracy of detection for the outline of the inspection object.例文帳に追加

検査対象物の外形の検出精度を悪化させることなく、載置台から検査対象物にかかる応力を軽減できる外形検出装置および外形検出方法を提供する。 - 特許庁

To inspect without fail and in a short time an inspection object board on which small integrated circuits and/or integrated circuits having terminals formed on their bottom faces are mounted, and to provide an inner-layer mounted inspection object board.例文帳に追加

小型の集積回路や底面に端子が形成された集積回路が実装された検査対象基板、および内層実装型の検査対象基板を短時間で確実に検査する。 - 特許庁

A driving device 103 controlled by a control device 107 uniformly heats the inspection object 105 by applying beams to the heated area of the inspection object 105 while scanning the beams of the high-output xenon lamp 101.例文帳に追加

制御装置１０７により制御された駆動装置１０３は、高出力キセノンランプ１０１のビームを走査しながら検査対象１０５の加熱領域にビームを当てて均一に加熱する。 - 特許庁

An inspection object determining part 33 sets measurement points in image data in accordance with an amount of reduction, and determines whether the points are candidate points of an inspection object in accordance with RGB luminance values of the measurement points.例文帳に追加

検査対象判定部３３は、間引き量に応じて画像データに測定点を設定し、それぞれの測定点のＲＧＢの輝度値に応じて検査対象の候補点であるか否かを判定する。 - 特許庁

The Talbot interferometer guides light that is emitted by a light source 1 and passes through an inspection-object optical system L to a sensor part M that includes a diffraction grating 3 and an image pickup device 4 to measure a wave front of the inspection-object optical system.例文帳に追加

トールボット干渉計は、光源１から発せられて被検光学系Ｌを通った光を、回折格子３および撮像素子４を含むセンサ部Ｍに導き、被検光学系の波面を計測する。 - 特許庁

To provide a precise defect-part detection method for an inspection object in which a binarization threshold value dealing with even a fluctuation in a condition (illumination brightness or the like) in an imaging operation of the inspection object is calculated.例文帳に追加

検査対象の撮像時の条件（照明の明るさ等）等の変動にも対応した二値化しきい値を算出し、より正確な検査対象の欠陥部分検出方法を提供する。 - 特許庁

A plurality of measurement regions of an inspection object are set, the direction of the movement of the inspection object inside the respective measurement regions is detected, the change point of the direction of the movement is calculated, and the boundary position of the tissue is estimated.例文帳に追加

検査対象の複数の計測領域を設定し、各計測領域内の検査対象の動きの向きを検出、動きの向きの変化点を算出し、組織の境界位置を推定する。 - 特許庁

This inspection result recording device comprises a touch panel 1 operated by an input pen 9, an arithmetic unit 3 for generating inspection result data showing the inspection result of an object of inspection in response to the performed operation, and a storage device 4 for storing the inspection result data.例文帳に追加

本発明による検査結果記録装置は、入力用ペン（９）により操作が行われるタッチパネル（１）と、行われた操作に応答して、検査対象物の検査結果を示す検査結果データを生成する演算装置（３）と、検査結果データを記憶する記憶装置（４）とを備えている。 - 特許庁

The second high-frequency magnetic field 52 saturating the hydrogen atomic nucleus contained in the artificial object of the inspection portion, e.g. a silicone insertion object, is applied.例文帳に追加

次に、検査部位の人工物、例えばシリコーン挿入物に含まれる水素原子核を飽和させる第二の高周波磁場５２を印加する。 - 特許庁

The surface of an object is scanned by the inspection light 4 converged by an optical system to inspect the flaw present on the surface of the object.例文帳に追加

光学系によって収束された検査光４により物体表面を走査してその表面上に存在する欠陥を検査する。 - 特許庁

To provide an inspection device capable of correctly carrying out an inspection, by suppressing the influence of an intervening object exerted on an image, even if the object is inserted in a part of the optical path for photographing an object to be inspected so as to block the light path.例文帳に追加

検査対象物を撮影するための光路内の一部にその光路を遮るように介在物を挿入しても、その介在物が画像に与える影響を抑えて検査を正確に実施することが可能な検査装置を提供する。 - 特許庁

For example, inspection work is performed by selecting an object mounted through the use of a nozzle having a high failure rate or an object mounted through the use of a feeder which has been used for a long term as an inspection object having a high possibility of failure.例文帳に追加

例えば、装着不良率の高いノズルで行った装着対象、長期使用しているフィーダが関与する装着対象等を、装着不良が発生する可能性の高い対象として検査対象に選定して検査作業を行う。 - 特許庁