「inspection object」に関連した英語例文の一覧と使い方(21ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a multi-coil type probe of an eddy current flaw detector capable of heightening inspection accuracy by reducing to the utmost dispersion of an interval between each flaw detection coil and an inspection object surface.例文帳に追加

各探傷コイルと検査対象面の間隔のばらつきを可及的に少なくして、検査精度の向上を図ることのできる渦流探傷装置のマルチコイル式プローブを提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device, capable of surely detecting the surface defects of the inspection object at the inspecting of the internal surface of a cylinder, such as a cylinder bore of vehicle.例文帳に追加

車両のシリンダボア等の筒状内壁面を検査する際に、被検査対象の表面欠陥を確実に検出することができる検査装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To classify a defect detected by a SEM type appearance inspection into an electric defect (VC defect: Voltage Contrast) inside an inspection object and a surface defect.例文帳に追加

ＳＥＭ式外観検査において，検出した欠陥を、検査対象内部の電気的欠陥（ＶＣ欠陥：Ｖｏｌｔａｇｅ Ｃｏｎｔｒａｓｔ）と表面欠陥とに分類する。 - 特許庁

An inspection for measuring the number density of voids (number/mm^2) which is the number per unit area of creep voids on the outer surface of the high-strength steel weld zone which is an inspection object is performed (S101).例文帳に追加

検査対象の高強度鋼溶接部の外表面のクリープボイドの単位面積当りの数であるボイド個数密度（個／ｍｍ^2）を計測する検査を行なう（Ｓ１０１）。 - 特許庁

To provide a surface appearance inspection apparatus capable of surely detecting only a defect, even when both a density variation and the defect coexist on the surface of an inspection object.例文帳に追加

検査対象物の表面において濃淡ばらつきと欠陥とが混在する場合であっても、欠陥のみを確実に検出することができる表面外観検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a light source set value adjustment method, an inspection method, and an inspection device, appropriately adjusting a light source set value of a light source device even when a target object contains a foreign matter.例文帳に追加

検査対象に異物がある場合でも光源装置の光源設定値を適切に調整可能な光源設定値調整方法、検査方法および検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an image inspection device capable of avoiding the deterioration of quality of an inspection while reducing a useless denial to be generated by deterioration of quality ratio of a character to be printed on an object.例文帳に追加

対象物に印字される文字の品質率が低下することにより生じる無駄はねを低減しながらも、検査の質が低下することを回避できる画像検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an image inspection device capable of inspecting a glossy distribution of an object to be measured with high accuracy, and to provide an image-forming apparatus, an image inspection method, a program and a recording medium having the same.例文帳に追加

被計測対象物の光沢分布を高精度で検査可能な画像検査装置、これを備えた画像形成装置、画像検査方法、プログラム、及び記録媒体を提供すること。 - 特許庁

To provide a socket for inspecting semiconductor chip which a plunger bringing a contact pad of an inspection object into contact is coupled stably in a fixed position of a conductive sheet, and improves reliability of inspection.例文帳に追加

検査対象物の接触パッドが接触するプランジャが導電性シートの定位置に安定に結合して検査の信頼性が向上する半導体チップ検査用ソケットを提供する。 - 特許庁

To provide a print system in which print inspection process can be carried out under the conditions which differ depending on the image regions having different characteristics from others in the image data as the object of inspection.例文帳に追加

検版対象となった画像データにおいて異なる特徴を有する画像領域ごとに、異なる条件で検版処理を行うことができる印刷システムを提供する。 - 特許庁

To provide a method and device for discriminating an inspection object permitting efficient, low-cost and accurate discrimination of an inspection, such as being good or defective by the presence of a crack or internal oxidization.例文帳に追加

割れや内部酸化の有無による良品、不良品等の検査を高効率、低コストで、また高精度で判別可能な検査対象物判別方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method for foreign matter and a device capable of inspecting fine foreign matter on the surface, even if an inspection object is a non-transparent body, without being influenced by the reflected light from a background.例文帳に追加

バックグランドからの反射光の影響を受けず、被検査物が非透明体であってもその表面の微小な異物の検査が可能な異物検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁

An inspection system 1 is provided with an image pickup device 2 which obtains an image of the object to be inspected, an inspecting and classifying device 4 which performs inspection and automatic classification of defects, and a host computer 5.例文帳に追加

検査システム１に、検査対象の画像を取得する撮像装置２、検査および欠陥の自動分類を行う検査・分類装置４、および、ホストコンピュータ５を設ける。 - 特許庁

One of the space of a surrounded space 4a between the inner face of the housing 4 and the inspection object 6 and the inspection space 6a is evacuated through a vacuum path 20 by a vacuum source 2.例文帳に追加

筺体４の内面と検査対象物６との間の囲繞空間４ａと検査空間６ａとのうち、一方の空間を真空路２０を介して真空源２によって真空引きする。 - 特許庁

To provide an electric characteristic inspection apparatus and method capable of applying a uniform load to an object to be inspected and shortening an inspection time.例文帳に追加

被検査体に対して均一な荷重を掛けることができると共に、検査時間を短縮することができる電気的特性検査装置及び電気的特性検査方法を提供すること。 - 特許庁

To inspect the mounting quality of a circuit component without using a mechanical contact, while averting increase in the manufacturing cost of a circuit board inspection apparatus and damage to an inspection object.例文帳に追加

回路基板検査装置の製造コストの高騰および検査対象体の傷付きを回避しつつ、機械的な接点を用いることなく回路部品の実装良否を検査する。 - 特許庁

To provide a radiation inspection device capable of accurately performing calibration even when an inspection object etc. is arranged between a radiation source and a linear detector.例文帳に追加

放射線源とライン型検出器との間に検査対象物等が配置されている状態であっても精度良く校正を行うことが可能な放射線検査装置を提供する。 - 特許庁

The maintenance management server specifies an apparatus with the cumulative operating hours within a certain period from a periodic inspection exceeding an overhaul period as an overhaul object apparatus from periodic inspection objective apparatuses 12.例文帳に追加

メンテナンス管理サーバは，定期点検対象の機器(12)のうち，定期点検時から一定の期間内で累計運転時間がオーバーホール時間を超える機器をオーバーホール対象機器と特定する。 - 特許庁

To replace a probe before an inspection result gets unsure, in a probing test method for measuring an electric characteristic by bringing the probe into contact with a terminal of an inspection object.例文帳に追加

検査対象の端子にプローブを接触させて電気的特性を測定するプロービングテスト法において、検査結果が不正確なものとなる前にプローブを交換できるようにする。 - 特許庁

To dispense with getting a detail specification of the inspected face of an inspection object, in advance, and to reduce the labor and time of setting a portion that is unsuitable for inspection ability out of the inspected face.例文帳に追加

検査対象物の被検面の詳細な仕様を事前に把握する必要なく、被検面から検査能力に適さない部分を設定する手間を軽減することである。 - 特許庁

To provide a surface inspecting method for an object to be measured capable of realizing surface inspection of a center and a center neighborhood where surface inspection is impossible in a constant scanning line system.例文帳に追加

走査線速度一定方式において、表面検査不能であった中心及び中心近傍の表面検査を実現できる被検査物体の表面検査方法を提供する。 - 特許庁

After calculation of the expected consumption time, the error from the periodical inspection time is calculated by the difference between the expected consumption time and the periodical inspection time, and the error is recorded as a margin degree when being within an object period.例文帳に追加

消耗予定時期が計算できたら、定期点検時期との差より、定期点検時期との誤差を計算し、誤差が対象期間内の場合、これを余裕度として記録する。 - 特許庁

To obtain a bur detecting method and its detector, by which burrs are easily and correctly recognized by fixed reference when they exist on an inspection object end surface and to evade the performing of a dimension inspection while the burrs exist on the end surface by correctly recognizing the existence of the burrs.例文帳に追加

検査対象端面にバリが存在している場合、それを容易且つ一定の基準で正確に認識可能とするバリ検知方法及びバリ検知器を得る。 - 特許庁

To extract a boundary in a cut sheet film of an inspection object from an inspection area to be recognized automatically, and to inspect a dimension and a defect within an recognized area.例文帳に追加

検査領域から検査対象である断裁された枚葉フィルムの境界を抽出して自動的に認識し認識された領域内部に対して寸法検査、欠陥検査を実行する。 - 特許庁

In the case of night, the moving object is detected in the inspection image, based on the difference of the binarization result between the reference image and the inspection image.例文帳に追加

夜と判定されたときには、第２の移動物体検出部により基準画像と検査画像との二値化結果の相違に基づき検査画像中から移動物体を検出する。 - 特許庁

This inspection device 1 divides an inspection object image into small regions, designates one small domain image, and extracts a similar small region image having close correlation with the small region image.例文帳に追加

検査装置１は検査対象画像を小領域に分割し、１つの小領域画像を指定し、当該小領域画像と相関の高い類似小領域画像を抽出する。 - 特許庁

The reference position calibration method, the contour measuring method, and the visual inspection method use the reference position calibration tool, the contour measuring instrument, the visual inspection device and the measuring object holding device.例文帳に追加

基準位置校正方法、外形測定方法、及び外観検査方法は、これらの基準位置校正治具、外形測定装置、外観検査装置、又は測定対象物保持装置を用いる。 - 特許庁

To provide an inspection parameter calculation device and an inspection device which is capable of setting a parameter for inspecting an object to be inspected by image processing to a proper value based on an image.例文帳に追加

画像に基づいて被検査物を画像処理により検査するためのパラメータを、適正値に定めることができる検査用パラメータ算出装置、及び検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an X-ray inspection device and an X-ray inspection program, capable of carrying out precise calibration to inspect accurately an inspected object, irrespective of a condition of a carrying conveyer.例文帳に追加

搬送コンベアの状態に関わらず、高精度なキャリブレーションを実施して被検査物の検査を正確に行うことが可能なＸ線検査装置およびＸ線検査プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a shape inspection device and a shape inspection method capable of inspecting a surface shape by an optical interference measurement method, even if an object to be inspected is large in size or has large concavity and convexity.例文帳に追加

サイズや凹凸が大きい被検物体であっても光干渉計測法により表面形状を検査することが可能な形状検査装置及び形状検査方法を提供する。 - 特許庁

Thereafter, a chip to be inspected as the inspection object is selected, the probe is in contact with the chip to be inspected, and a voltage is applied to the pad to execute electric inspection for the chip to be inspected.例文帳に追加

その後、複数のチップのうち、検査対象となる検査チップを選択し、検査チップのパッドにプローブを接触させて、パッドに電圧をかけ、検査チップの電気的な検査を行う。 - 特許庁

A reproduction inspection program 100 specifies a character string which matches between an inspection object document acquired from a user terminal 300 and basic documents acquired from a document-providing device 200.例文帳に追加

転載検査装置１００は、ユーザ端末３００から取得した被験文書と、文書提供装置２００から取得した基礎文書との間で合致する文字列を特定する。 - 特許庁

To provide a design drawing inspection program for shortening an inspection time for detecting contradictory information described in a plurality of design drawings which show a design object.例文帳に追加

設計対象物を示す複数の設計図面に記載されている矛盾する情報を検出するための検査時間を短縮することができる設計図面検査プログラムを提供する。 - 特許庁

The electric characteristic inspection apparatus includes a pressing mechanism for pressing the object to be inspected against an inspection apparatus with equal pressing force at a plurality of points and a conveying mechanism for sucking the object to be inspected in a direction where it is pressed by the pressing mechanism and holding and conveying it.例文帳に追加

電気的特性検査装置は、被検査体を検査装置に対して複数の点で同等の押圧力で押圧する押圧機構と、押圧機構によって押圧される方向から被検査体を吸着保持して搬送する搬送機構と、を備える。 - 特許庁

A surface of a work W of an inspection object is imaged by individually or concurrently driving illumination parts 2A, 2B, under illumination thereof, using the workpiece W of configuration with the transparent coating layer formed on a surface of a workpiece body formed of a colored resin, as the inspection object.例文帳に追加

着色樹脂により成形されたワーク本体の表面に透明のコーティング層が形成された構成のワークＷを検査対象として、照明部２Ａ，２Ｂを個別または同時に駆動して、その照明下で撮像を実行する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic inspection method and ultrasonic inspection device for accurately inspecting the joint state of a joint surface to be inspected in an inspecting object, by eliminating the influence of an uneven shape of the outline of the inspecting object.例文帳に追加

検査対象物の外形の凹凸形状の影響を排除して，検査対象物における検査対象となる接合面の接合状態を精度よく検査することができる超音波検査方法および超音波検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an appearance inspection method and apparatus of a long inspecting object for correctly and surely determining whether there is an abnormality on the entire outer periphery of the long inspecting object, and improving the inspection accuracy.例文帳に追加

この発明は、長尺状の被検査部の外面全周に異常が有るか否かを正確且つ確実に判定することができ、検査精度の向上を図ることができる被検査物の外観検査方法及びその外観検査装置の提供を目的とする。 - 特許庁

An abnormality detection device 100 first extracts inspection object imaging pixels, obtains an average of spectral intensity for each wavelength in the inspection object imaging pixels, calculates an average reflection spectrum, and determines presence/absence of abnormality by using the average reflection spectrum.例文帳に追加

異状判定装置１００では、まず対象物撮像画素を抽出した後に、この対象物撮像画素における各波長に対するスペクトル強度の平均を求め、平均反射スペクトルを算出し、これを用いて異状の有無を判定する。 - 特許庁

The characteristic impedance inspection apparatus inspects an object to be inspected while winding off the object, winds up to a reel form after the inspection, and provides the manufacturing process for the feedback of the identification of failure causes or the information to adjust the manufacturing conditions based on the obtained product information.例文帳に追加

被検査物を巻き出しながら検査し、検査後にリール形態に巻き取り、検査によって得た製品情報をもとにして、不良原因の特定、或いは製造条件を調整する情報を製造工程へフィードバックすること。 - 特許庁

A flaw-evaluating device 26 is provided, which compares the phase angle difference between both flaw signals of the reference flaw, with a phase angle difference between both flaw signals of the flaw of the inspection object whose flaw depth is unknown, and estimates whether the flaw of the inspection object is shallow or deep, in comparison with the reference flaw.例文帳に追加

キズ評価装置２６は、基準キズにおける両キズ信号の位相角差と被検査体の未知の深さのキズにおける両キズ信号の位相角差とを比較して、被検査体のキズが基準キズより浅いか深いかを推定する。 - 特許庁

To provide a surface inspection system and a surface inspection method which can detect flaws on the surface of an object to be inspected, such as a pipe assembly with high accuracy and decide the quality of the object to be inspected, on the basis of the detection result with high accuracy.例文帳に追加

パイプＡＳＳＹなどの検査対象物の表面についた傷を精度良く検出し、その検出結果に基づいて検査対象物の良否を精度良く判定できる表面検査装置及び表面検査方法を提供する。 - 特許庁

Each light emitted from the first, second and third light source parts 38, 40, 42 is transmitted through the transmissive reflector plate 32, and irradiated to an inspection object 2 in the intersected state with a virtual plane passing the inspection object 2 at first, second and third angles θ1, θ2, θ3.例文帳に追加

第１、第２、第３の光源部３８、４０、４２から発せされた光は、透過性反射板３２を透過して被検査物２を通る仮想平面に対して第１、第２、第３の角度θ１、θ２、θ３で交差して被検査物２を照射する。 - 特許庁

To provide an edge detecting device which is used in an image reader and is capable of detecting an edge of an inspection object with high accuracy irrespective of a position of the edge of the inspection object, and an edge detecting method.例文帳に追加

本発明の目的は、画像を読み取る装置に用いられ、検査対象物の端部の位置にかかわらず、検査対象物の端部を精度よく検出することができる端部検出装置及び端部検出方法を提供することにある。 - 特許庁

The Lissajous waveform of the inspection object which is beforehand known to be free of flaw is set as a reference waveform, and it is determined whether or not there is a flaw by whether the Lissajous waveform drawn by the inspection object and the reference waveform are within a predetermined error.例文帳に追加

予め無傷であることがわかっている被検査物のリサージュ波形を基準波形として設定しておき、被検査物の描くリサージュ波形と、基準波形とが一定の誤差内に収まっているか否かで有傷又は無傷を判定する。 - 特許庁

If the inspection object 11 is mounted in the tapered part 1c through the opening part 1a with the X-ray intensity adjusting body 1 arranged between an X-ray area camera 3 and an X-ray source 2, the inspection object 11 is easily inspected.例文帳に追加

Ｘ線強度調整体１をＸ線エリアカメラ３とＸ線源２との間に配置した状態で、開口部１ａを介してテーパ部１ｃに被検査物１１を載置することにより、容易に、被検査物１１を検査可能にすることができる。 - 特許庁