「inspection object」に関連した英語例文の一覧と使い方(24ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an inspection device, capable of contacting the tip end of a probe needle to an inspection object with substantially uniform pressure, even when the arranged area of the probe needle is wide.例文帳に追加

プローブ針の配置面積が広い場合であっても、プローブ針の先端部を、ほぼ均等な圧力で検査対象物に接触させることができる構成を備えた検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an inspection device, in which ice accumulated on a chain of a conveyor is effectively removed, in an inspection device having a low-temperature vessel and a conveyor conveying an object to be inspected in the low-temperature vessel.例文帳に追加

低温槽と、低温槽内で被検査物を搬送するコンベアを備えている検査装置において、コンベアのチェーンに堆積した氷を効果的に除去することができる検査装置を提供すること。 - 特許庁

In the X-ray inspection device 10, a control computer 20 previously measures a basic physical quantity of the article being the object to be inspected before starting its inspection, based on picture data received from a phototube 17.例文帳に追加

Ｘ線検査装置１０では、制御コンピュータ２０が、光電管１７から受信した映像データに基づいて、検査開始前に予め検査対象となる商品の基準物理量を測定する。 - 特許庁

To provide a chip inspection device and a chip inspection method for a disk-shaped component capable of inspecting a chip in a disk-shaped inspected object quickly and stably, and comprising relatively simple configuration.例文帳に追加

円板形状の被検査物の欠け検査を高速に安定して行うことができ、かつ、比較的簡単な構成からなる円板形状部品の欠け検査装置及び欠け検査方法を得る。 - 特許庁

Since the telephone line for emergency connection penetrates a shielded object and controls a transceiver placed near an inspection area, the attenuation of electromagnetic waves is eliminated and inspection areas to which communication is impossible are eliminated at all.例文帳に追加

遮蔽物を非常時連絡用電話回線が貫通して、点検区域近くに置かれたトランシーバーをコントロールするため、電波の減衰もなくなり、通信不可能な点検区域を皆無にすることができる。 - 特許庁

Thereby, the ultrasonic flaw detection for the inspection object 13 such as a cast iron, the sound speed of which is slower than the steel materials is capable of ultrasonic flaw inspection, especially capable of the flaw detection using surface waves.例文帳に追加

これにより、鋼材に比べて音速が遅い鋳鉄等の検査対象物１３に対しての超音波探傷検査を可能とし、特に表面波を用いた超音波探傷検査を可能とする。 - 特許庁

To provide a weight inspection device easily confirming a weight value of each component contained in an inspection object or the presence/absence of a specific component almost simultaneously with measurement.例文帳に追加

計量を行うのとほぼ同時に、被検査物に含まれる各成分ごとの重量値や特定の成分の存在の有無を容易に確認することが可能な重量検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device of a pressure sensor, capable of raising the temperature of the pressure sensor which is an inspection object up to a prescribed temperature in a short time, and measuring the temperature characteristics of the pressure sensor, in a short time.例文帳に追加

被検査物である圧力センサを短い時間で所定温度にすることができ、圧力センサの温度特性を短時間で測定することができる圧力センサの検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a surface inspection apparatus and a surface inspection system that can extensively and highly precisely inspect a surface of an object to be inspected having all or part of a spherical surface as its surface.例文帳に追加

球面の全部又は一部を表面に有する検査対象物の表面を広範囲に且つ高精度に検査することのできる表面検査装置及び表面検査システムを提供する。 - 特許庁

To execute accurate electric inspection by corresponding properly to a nonlinear change of a surface even if a variation of a thickness, a warp or waviness or the like in the facial direction is generated on an inspection object substrate.例文帳に追加

検査対象基板に面方向の厚さのばらつきや反り、うねり等が生じている場合でも、その表面の非直線的な変化に適切に対応して正確な電気検査を実施する。 - 特許庁

This inspection device is constituted so that an electromagnetic wave generated from an electromagnetic wave generator 1 can be moved relatively and irradiated toward the inspection object 5 at least whose surface comprises a chargeable material.例文帳に追加

検査装置は、少なくとも表面が帯電可能な材料からなる検査物5に対して、電磁波発生器1から発生した電磁波を相対的に移動させて照射できる様に構成される。 - 特許庁

A chip comparison inspection for comparing patterns of two adjoining chips on an inspected object and a repetitive pattern comparison inspection for comparing same patterns with each other in the same pattern repetition part in a chip are carried out in parallel.例文帳に追加

被検査物上の隣接する２チップのパターンを比較するチップ比較検査と、チップ内の同一繰返しパターン部の同一パターンどうしを比較する繰返しパターン比較検査とを並行して実行する。 - 特許庁

To implement seal inspection to an insulator as a test object, loaded to electrical cable so as to cover exposed parts of fibers, without delivering a damage and with a high inspection efficiency.例文帳に追加

検査対象である、芯線が露出した部分を被覆するように電線に装着された絶縁体に対して、ダメージを与えることなく、且つ高い検査効率によってシール検査を行うこと。 - 特許庁

To provide inspection equipment and an inspection method for stably detecting a flaw on the perimeter of a work without performing processing to the work which is an object to be inspected and without attaching other parts to the work.例文帳に追加

被検査対象物であるワークに対して加工したり、他の部位を装着したりすることなく、ワーク全周の疵を安定して検出することが可能な検査装置および検査方法を提供する。 - 特許庁

The visual inspection device 10 projects a second stripe pattern whose brightness changes at a cycle different from the first stripe pattern onto the inspection object in multiple different phases and images multiple second projection images.例文帳に追加

外観検査装置１０は、第１縞パターンとは異なる周期で明るさが変化する第２縞パターンを異なる複数の位相で被検査体に投射して複数の第２投影画像を撮像する。 - 特許庁

The contact points of both these surfaces are connected by a conductive via, and hereby an inspection can be executed by only changing this charger even when the integrated circuit of the inspection object is changed.例文帳に追加

これら両表面の接点は導電ビアで接続されており、これによって検査対象の集積回路が変わった場合でもこの中継挿入器を交換するだけで検査が実施できる。 - 特許庁

Circuits 107-110 for memorizing data in an output signal of an inspection circuit block 100 which is an LSI inspection object are installed, and the signal memorized temporary in the circuits is written in a memory 118 inside the LSI.例文帳に追加

ＬＳＩ検査対象となる検査回路ブロック１００の出力信号にデータを記憶する回路１０７〜１１０を設け、そこで一時記憶された信号をＬＳＩ内部のメモリ１１８に書き込む。 - 特許庁

To provide a contact probe for reducing the initial cost and the production cost, and coping with minimization of the inter-electrode pitch of an inspection object, and to provide an inspection prober equipped with the probe.例文帳に追加

イニシャルコスト及び製造コストの低減化を図るとともに、被検査体の電極間ピッチの極小化に対応することができるコンタクトプローブ及びそれを備えた検査用プローバを提供する。 - 特許庁

If the inspection domain is specified on the same position on the object in a plurality of continuous images among the images successively imaged, the inspection domain is determined to include the prescribed surface state.例文帳に追加

順次撮像した画像のうち、連続した複数の画像において、該検査領域が、対象物上の同じ位置に特定されたならば、該検査領域が所定の表面状態を含むと判定する。 - 特許庁

To drastically enhance inspection precision and reduce time for 100% inspection by automatically inspecting an opaque object such as pottery products and tiles.例文帳に追加

陶器製品、タイルに代表される不透明物体を自動検査することにより、検査精度を飛躍的に向上させるとともに、全数検査を短時間に行うことができるようにすることを目的としている。 - 特許庁

To allow the inspection of a wide variety of circuit boards with the same hardware constitution without changing the hardware of an inspection circuit even when the hardware constitution differs from an object to be inspected in a signal level and a protocol or the like.例文帳に追加

被検査対象との信号レベルやプロトコルが異なる場合等においても、検査回路のハードウェアを変更することなく同一ハードウェア構成で、多品種の回路基板の検査を可能とする。 - 特許庁

The inspection pattern image includes a plurality of positioning patterns corresponding to feature patterns present on the object of inspection, and an adhesion area that is the area where the film medium should be adhered.例文帳に追加

検査用パターン画像は、検査対象物上に存在する特徴的パターンに対応する複数の位置合わせパターン及び前記フィルム状媒体が貼り付けられるべき領域である貼付領域を含む。 - 特許庁

To provide an automatic optical inspection system for automatically inspecting the appearance of the inspection object of film or tape form, formed continuously on the flexible printed circuit substrate unit.例文帳に追加

本発明はフレキシブル印刷回路基板ユニットが連続的に形成されたフィルムまたはテープ形態の検査対象物見掛けを光学的な方式を利用して自動検査する自動光学検査システムに関する。 - 特許庁

To provide an inspection device capable of reducing a time required for collating a defective portion in an inspection object determined as a defective with a displayed defect item, and a PTP packer.例文帳に追加

不良と判定された検査対象における不良箇所と、表示される不良項目との照合に要する時間を低減させることが可能な検査装置、及び、ＰＴＰ包装機を提供する。 - 特許庁

To provide a low-cost, accurate and easy-to-use electric nondestructive inspection system, capable of carrying out inspection on not only one side, but also on both sides of the surface of wall, in which an object to be inspected is buried.例文帳に追加

検査対象が埋設されている壁面の片側でも両側でも検査をすることが出来、低コストでありながら精度が高く、扱い易い電気的な非破壊検査システムを提供する。 - 特許庁

To provide a vehicle maintenance management device which can flexibly cope with the change of an inspection object such as vehicle equipment and can prepare an inspection report without performing any transcription operation, without the need of individual judgement.例文帳に追加

車両装備等の検査対象の変更に柔軟に対応できるとともに、個人の判断を必要とすることなく転記作業なしに検査報告を作成できる車両保守管理装置を得る。 - 特許庁

To provide a radiation foreign matter inspection apparatus for accurately detecting foreign matters mixed into an object to be inspected by preventing the occurrence of erroneous detection, and also to provide a radiation foreign matter inspection method.例文帳に追加

誤検出の発生を防止して、被検査物の中に混入した異物の検出を正確に行うことができる放射線異物検査装置および放射線異物検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a holding device, a conveying device, an IC inspection device, a holding method, a conveying method and an IC inspection method allowing having a held component assuredly followed to an object position when the component is removed and contained.例文帳に追加

部材取り出し時及び収納時に保持した部材を確実に目的の位置に倣わせることが可能な保持装置、搬送装置、ＩＣ検査装置、保持方法、搬送方法及びＩＣ検査方法を得る。 - 特許庁

To provide an X-ray inspection device capable of detecting surely intermingled foreign matter with heightened detection accuracy without leaving an undetected part, when performing radioscopy of an inspection object.例文帳に追加

検査対象物のＸ線透視を行うに際し、未検出部分を生じさせず、また、検出精度を高めて混入異物をより確実に検出することができるＸ線検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method capable of performing the inspection of an object to be inspected using a drawing formed by a CAD system, without using applications necessary for displaying vector data.例文帳に追加

ＣＡＤシステムで作成された図面を用いた検査対象物の検査を、ベクタデータの表示に必要となるアプリケーションを用いなくても良いようにすることのできる検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a probe needle and a probe card for preventing the shift of contact point of needle tip with an electrode due to vibration from the outside and a curve of an inspection object, and an inspection device and method using the probe needle.例文帳に追加

外部からの振動や検査対象物の反りなどによる、電極に対する針先の接触位置のずれを防ぐプローブ針、プローブカード、プローブ針を用いた検査装置及び方法を提供すること。 - 特許庁

A pass/fail decision means 201 inspects the picture configuring components of an inspection object or a source program 101 or a testee operation history 102 according to the inspection content of check items 202, and makes pass/fail decision.例文帳に追加

合否判定手段２０１はチェック項目２０２の検査内容にしたがって検査対象の画面構成部品やソースプログラム１０１や被験者操作履歴１０２を検査し、合否判定を出す。 - 特許庁

POSITRON EMISSION TOMOGRAPH-MAGNETIC RESONANCE TOMOGRAPH COMPOUND APPARATUS, AND IMAGE DISPLAY METHOD FOR INSPECTION OBJECT IN INSPECTION SPACE USING POSITRON EMISSION TOMOGRAPH-MAGNETIC RESONANCE TOMOGRAPH COMPOUND APPARATUS例文帳に追加

陽電子放出断層撮影−磁気共鳴断層撮影複合装置および陽電子放出断層撮影−磁気共鳴断層撮影複合装置による検査空間内の検査対象の画像表示方法 - 特許庁

The Barkhausen noise inspection device has: an exciting coil 3 which magnetizes an inspection object W: and a power supply 8 which supplies AC current for making the excitation coil 3 generate an AC magnetic field for magnetization.例文帳に追加

このバルクハウゼンノイズ検査装置は、検査対象物Ｗを磁化する励磁コイル３と、この励磁コイル３に磁化のための交流磁界を発生させる交流電流を供給する電源８とを有する。 - 特許庁

This test tray storing an inspection object device and conveyed to the inspection position by a handler has pockets positioned and installed to the tray body, and alignment marks added to the tray body.例文帳に追加

検査対象デバイスが格納され、ハンドラによって検査位置へ搬送されるテストトレイにおいて、トレイ本体に対して位置決めされて取り付けられたポケットと、トレイ本体に付加されたアライメントマークとを有する。 - 特許庁

After all kinds of inspection processing are finished, an overall determination part 31 performs overall determination of the object A by combining all kinds of inspection processing, and stores the overall determination result in the storage part 4.例文帳に追加

全ての検査処理が終了した後、総合判定部３１は、全ての検査処理を組み合わせて対象物Ａの総合判定を行ない、総合判定結果を記憶部４に記憶させる。 - 特許庁

A certain amount of the inspection object supplied to an instruction section 25a as a part of the inspection pattern constitution section 25 is absorbed by a holding section 25g formed of many arranged projections by capillarity.例文帳に追加

検査パターン構成部２５の一部である導入部２５ａに供給された検査対象は、そのうちの一定量が、突起を多数配置して成る保持部２５ｇに、毛細管現象により吸収される。 - 特許庁

An inspection processing unit 160 is designed to perform the inspection relating to the object 200 to be inspected based on the incorrect certificate information produced by the incorrect information producing unit 150 by a processing device 980.例文帳に追加

そして、検査処理部１６０は、不正情報生成部１５０が生成した不正証明情報に基づき、上記検査対象物２００に対して検査を処理装置９８０により実施する。 - 特許庁

To improve the efficiency of an inspection and diagnosing based on the inspection and to improve the accuracy of the inspection and the diagnosing based on the inspection by providing gel for a medical use on the body surface of a subject when inspecting the subject to be an inspection object by an ultrasonic diagnostic apparatus or an electrocardiograph or the like or continuously measuring the biological signals of a patient by a biological information monitor.例文帳に追加

超音波診断装置や心電計等によって検査対象となる被検者を検査したり、生体情報モニタによって患者の生体信号を継続的に測定したりする際に、被検者の体表面上に設けられ、検査及び検査に基づく診断の効率化を図ることができると共に検査及び検査に基づく診断の精度の向上を図ること。 - 特許庁

Light advancing to the optical path L3 direction in the near-infrared light diffused and reflected by the inspection object 50 reaches a detection part 20.例文帳に追加

検査対象物５０で拡散反射した近赤外光のうち、光路Ｌ３方向に進む光は、検出部２０へ到達する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic probe capable of converging ultrasonic waves, even to a deep location of an inspection object having surface that is a concave face.例文帳に追加

表面が凹曲面の検査対象物の深い位置にも超音波を集束させることの出来る超音波探触子を提供する。 - 特許庁

Operation results by the means 404 are used as shading correction data to be used for the defect inspection object of this time.例文帳に追加

重み付け演算手段４０４での演算結果を、今回の欠陥検査対象物に対して用いるシェーディング補正データとする。 - 特許庁

To extract information on the surface shape of an inspection object and on a fine structure on the surface.例文帳に追加

本発明は、検査対象の表面形状および表面上の微細構造に関する情報を抽出することを目的とする。 - 特許庁

To provide a quality inspection system capable of inspecting a quality of an object to be inspected without affecting the quality adversely.例文帳に追加

被検査物の品質に悪影響を与えることなくその品質を検査できる品質検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

An X-ray imaging part images an X-ray image displayed on an optical conversion part, by irradiating the inspection object with an X-ray.例文帳に追加

Ｘ線撮像部は、被検査体にＸ線が照射されることにより光学変換部に表示されるＸ線画像を撮像する。 - 特許庁