例文 (813件) |
inspection directionの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 813件
In this method, an X-Y table 2 moves toward linear direction and right-angled Y-direction of 1st and 2nd imaging areas of the inspection workpiece 1.例文帳に追加
X−Yテーブル2は、検査ワーク1の第1、第2の撮像領域の線方向と直角のY方向に移動する。 - 特許庁
Then, the wafer is moved in the Y direction just for an inspection area S and stopped, and this time, the wafer is moved in the negative X-axis direction and photographed.例文帳に追加
そして,Y方向に検査エリアS分だけ移動して,停止し,今度はX軸負方向に移動して撮影する。 - 特許庁
A defect inspection device 21 and a dimension inspection device 31 are arrayed along the moving direction of a mount 11 so that the blade 1 is relatively moved continuously to the defect inspection device 21 and to the dimension inspection device 31.例文帳に追加
欠陥検査装置21および寸法検査装置31は、ブレード1が欠陥検査装置21および寸法検査装置31に対して連続的に相対移動されるように取付台11の移動方向に沿って配列されている。 - 特許庁
The upper placing type eddy current flaw detection probe 2 is moved in the direction shown by an arrow X3 along the inspection surface 11 (flaw) of an inspection target 1 to perform flaw detection.例文帳に追加
上置型渦電流探傷プローブ2は、被検査体1の検査面(11はキズ)に沿って矢印X3方向へ移動して探傷する。 - 特許庁
An inspection light generating mechanism 122 irradiates an inspection light Lin2 in parallel with a tangent direction of the wafer 10 and immediately above the portion P1.例文帳に追加
検査光発生機構122は、ウェハ10に対する接線方向と平行にかつ検査箇所P1直上に検査光Lin2を照射する。 - 特許庁
To provide an inspection device and inspection method on a semiconductor for acquiring information on an inspected position in a height direction, and a semiconductor device including its use.例文帳に追加
検査箇所の高さ方向の情報が得られる半導体検査装置及び検査方法、その利用を含む半導体装置を提供する。 - 特許庁
Comparing pitch and comparing direction are altered during a series of inspection operations where a semiconductor wafer is scanned with an electron beam by specifying regions A and B in the inspection file of a visual comparative inspection equipment and inputting the comparing pitch (first comparison pitch d1, second comparison pitch d2) and the comparing direction (X direction, Y direction) of respective regions A and B into the inspection file.例文帳に追加
外観比較検査装置の検査ファイルに、領域A,Bを指定し、さらに領域A,Bの各々の比較ピッチ(第1の比較ピッチd1,第2の比較ピッチd2)および比較方向(Y方向,X方向)を検査ファイルに入力することにより、半導体ウエハ上を電子ビームで走査する1回の一連の検査動作中に、比較ピッチおよび比較方向を変更する。 - 特許庁
To conduct the continuity inspection of a plurality of male terminal fittings in which tip positions of tabs are different in the fitting direction.例文帳に追加
タブの先端位置が嵌合方向に異なる複数の雄端子金具の導通検査を行う。 - 特許庁
Devices (16 and 23) requiring visual confirmation or inspection are installed on one side of the car width direction of the car body (3).例文帳に追加
車体(3)の車幅方向一方側に、視認又は点検を要する装置(16,23)を設置する。 - 特許庁
In the electron beam inspection device, when an inspection object has two or more of discontinuous inspection areas divided in a stage shifting direction and in a vertical direction, an electron beam scanning control means control a scanning width of irradiation electron beam so that the electron beam scanning means does not irradiate a non inspection area between the inspection areas.例文帳に追加
本発明による電子線検査装置では、検査対象物がステージ移動方向と垂直な方向に分割された非連続な2つ以上の検査領域を有する場合、電子線走査制御手段は、電子線走査手段が検査領域に挟まれた非検査領域に照射電子線を照射しないように、照射電子線の走査幅を制御する。 - 特許庁
This inspection device includes the inspection stage for receiving a display panel, a base stand for supporting the inspection stage, the first rotating mechanism for rotating the inspection stage around the first axis extending in the vertical direction relative to the base stand, and the second rotating mechanism for rotating the inspection stage around the second axis extending in the horizontal direction relative to the base stand.例文帳に追加
検査装置は、表示用パネルを受ける検査ステージと、該検査ステージを支持するベース台と、検査ステージを前記ベース台に対し上下方向へ伸びる第1の軸線の周りに回転させる第1の回転機構と、検査ステージをベース台に対し水平方向へ伸びる第2の軸線の周りに回転させる第2の回転機構とを含む。 - 特許庁
A direction value image forming unit 14 forms a direction value image, in which a direction value corresponding to the density gradient of a pixel included in the inspection region is the pixel value of each of the pixels.例文帳に追加
方向値画像生成部14は、検査領域に含まれる画素の濃度勾配に対応付けた方向値を各画素の画素値とする方向値画像を生成する。 - 特許庁
A direction value image formation unit 14 forms a direction value image in which a direction value corresponding to the concentration gradient of a pixel included in the inspection region is the pixel value of each of the pixels.例文帳に追加
方向値画像生成部14は、検査領域に含まれる画素の濃度勾配に対応付けた方向値を各画素の画素値とする方向値画像を生成する。 - 特許庁
Thus, by confirming the rotational direction of the joint 5 through the inspection window 4, the rotational direction of the drum 9 can be confirmed.例文帳に追加
この点検窓を通して継手5の回転方向を確認することにより、ドラム9の回転方向を確認することができる。 - 特許庁
Here, the bonding wire inspecting device 100 images the inspection work 1 while an XY stage 2 is shifted in the line direction (Y direction).例文帳に追加
このとき,ボンディングワイヤ検査装置100は,XYステージ2をライン方向(Y方向)に移動させながら検査ワーク1を撮像する。 - 特許庁
To provide an inspection apparatus for glass containers capable of distinguishing a "crack" in a vertical direction, horizontal direction, and other directions from a "blister".例文帳に追加
垂直、水平及びその他の角度のクラック(“亀裂”)を“膨れ”から区別することができるガラス容器の検査装置を提供すること。 - 特許庁
A receiver 4 observes observation signals respectively, while scanning on the surface of an inspection object 2 in the x-direction and in the y-direction.例文帳に追加
受波子4は、検査対象1の表面上をx方向及びy方向に走査しながら、観測信号をそれぞれ観測する。 - 特許庁
A photographing part is provided to acquire fluoroscopic images from a vertical direction and a horizontal direction for the inspection object.例文帳に追加
検査対象物に対して、垂直方向と水平方向とから透視画像を得ることができるように、設置された撮影部を設ける。 - 特許庁
The bottle is supported in the vertical direction on an inspection position, and a camera having an image region is arranged below the bottle in the vertical direction.例文帳に追加
ボトルは検査位置で垂直方向に支持され、画像領域を有するカメラがそのボトルの垂直方向下方に配置されている。 - 特許庁
The inspection area AX1 is moved based on a moving pattern of a specified moving direction M1 for guiding a sight line of the inspection person, in the moving step.例文帳に追加
移動ステップでは、検査員の視線を誘導する特定の移動方向M1の移動パターンに基づいて検査領域AX1を移動させる。 - 特許庁
To provide a tire inspection method and inspection device measuring a rotating direction angle of a point of a tire in respect to a tire reference point without requiring time and labor.例文帳に追加
時間と労力を要せずにタイヤの特異点のタイヤ基準点に対する回転方向角度を測定するタイヤ検査方法及び検査装置を供する。 - 特許庁
To provide a defect inspection apparatus and a method of inspecting defects for precisely inspecting defects even if an inspection region is not divided in a width direction.例文帳に追加
幅方向に検査領域を分割しなくても精度良く検査することができる欠陥検査装置および欠陥検査方法を提供することにある。 - 特許庁
To provide inspection technique for improving inspection precision of the direction of an electronic component in a tray at a low cost without limiting the number of stacked trays.例文帳に追加
トレイ内の電子部品の向きの検査精度を向上させる検査技術を、低コストでトレイの段積み数を制限することなく実現できるようにする。 - 特許庁
The substrate center with respect to the reference position, and the notch position in a rotational direction are extracted from an image acquired in the surface inspection or the reverse face inspection.例文帳に追加
表面検査又は裏面検査で取得した画像からは、基準位置に対する基板中心と、回転方向におけるノッチ位置を抽出する。 - 特許庁
To provide a lighting inspection device for a plasma display panel which carries out stable inspection to narrow pitch of electrodes (address electrodes) in a column direction.例文帳に追加
列方向の電極(アドレス電極)の狭ピッチ化に対して安定した検査を行なうことができる、プラズマディスプレイパネルの点灯検査装置を実現する。 - 特許庁
The reference image and the inspection image corresponding to an inspection location are compared with each other, and as a result, a shear amount of a field connection part in the X direction is detected.例文帳に追加
検査箇所に対応した基準画像と検査画像とが、画像比較され、その結果、X方向のフィールド接続部のずれの量が検出される。 - 特許庁
To provide an inclination measuring device and an inclination measuring method to measure the degree of inclination of an inspection object surface in relation to another inspection object surface as reference of each inspection object surface when the plurality of inspection object surfaces are arranged along a predetermined direction.例文帳に追加
所定方向に沿って複数の被検査面が配置される場合に、各被検査面のうち基準となる被検査面に対する他の被検査面の傾斜度合いを測定できる傾斜測定装置及び傾斜測定方法を提供する。 - 特許庁
The line sensor 38 of a third scanning unit 34 scans an image of the inspection object plane of the substrate 2 viewed at an angle tilting to a second direction side at a second angle β from the direction perpendicular to the inspection object plane.例文帳に追加
第3走査ユニット34のラインセンサ38は、被検査面と垂直な方向から第2角度βだけ第2方向側に傾いた角度で基板2の被検査面を見た映像を走査する。 - 特許庁
The line sensor 38 of a second scanning unit 32 scans an image of the inspection object plane of the substrate 2 viewed at an angle tilting to a first direction side at a first angle α from the direction perpendicular to the inspection object plane.例文帳に追加
第2走査ユニット32のラインセンサ38は、被検査面と垂直な方向から第1角度αだけ第1方向側に傾いた角度で基板2の被検査面を見た映像を走査する。 - 特許庁
A plurality of measurement regions of an inspection object are set, the direction of the movement of the inspection object inside the respective measurement regions is detected, the change point of the direction of the movement is calculated, and the boundary position of the tissue is estimated.例文帳に追加
検査対象の複数の計測領域を設定し、各計測領域内の検査対象の動きの向きを検出、動きの向きの変化点を算出し、組織の境界位置を推定する。 - 特許庁
The inspection light 40 is projected from the projector 41 in the direction orthogonal to the carrying direction of the substrate 4 carried by the carrying belt 26 so that the light path of the inspection light 40 includes both end parts in the width direction of the carrying belt 26, and the receiver 42 receives the inspection light 40 passed through upper and lower regions of the carrying belt 26 in the width direction.例文帳に追加
検査光40は搬送ベルト26により搬送される基板4の搬送方向と直交する方向に、かつ、その光路中に搬送ベルト26の幅方向の両端部を含むように投光器41から投光され、受光器42は搬送ベルト26の上下の領域をその幅方向に通過した検査光を受光する。 - 特許庁
In inspection of the pipe having lining on the inner surface of a pipe body, an infrared camera movable in the pipe axial direction and in the circumferential direction is arranged on the inner surface of the pipe, and an ultrasonic inspection transducer movable in the pipe axial direction and in the circumferential direction is arranged on the outer surface of the pipe.例文帳に追加
管本体の内面にライニングを有する配管の検査において、配管の内面に配管軸方向および周方向に移動可能な赤外線カメラを配置し、配管外面に配管軸方向および周方向に移動可能な超音波探傷トランスジューサを配置する。 - 特許庁
A probe 16 is arranged outside the side part of the rotor inspection object 11 or the like, and as relative position relation between the inspection object and the probe, the probe is moved in the circumferential direction of the inspection object, and simultaneously moved in the axial direction thereof, to thereby execute flaw detection inside the peripheral side part of the inspection object or the like.例文帳に追加
回転体被検査物11の側面部の外側等に探触16を配置し、被検査物と探触子との相対的な位置関係として探触子を被検査物の円周方向に移動させながらその軸方向に移動させることによって被検査物の周囲側面部の内部等を探傷する。 - 特許庁
A stage 10 having a substrate 1 mounted thereon is provided with a plurality of blocks 12 supporting a bottom surface of the substrate 1 at a predetermined distance in a direction perpendicular to a scanning direction of inspection light, thereby forming grooves in the scanning direction of the inspection light among the blocks 12.例文帳に追加
基板1を搭載するステージ10に、基板1の下面を支持するブロック12を検査光の走査方向と直交する方向に所定の間隔で複数設けて、ブロック12間に検査光の走査方向の溝を形成する。 - 特許庁
A light-emitting part 15 irradiates the surface of the inspection object 1 with laser light, while scanning is carried out in the width direction.例文帳に追加
発光部15は、被検査物1の表面にレーザ光を幅方向に走査しながら照射する。 - 特許庁
The rise 22a of the upper inspection hole 22 is inclined in the opposite direction of the inflow port 14.例文帳に追加
この上部点検口22の立ち上がり22aを流入口14と反対方向へ傾斜させる。 - 特許庁
After magnetization of a sample, a cancel magnetic field in the reverse direction by which magnetization of the inspection material is vanished exactly is applied.例文帳に追加
試料を着磁後、検査材の磁化が丁度消失する逆方向のキャンセル磁場を印加する。 - 特許庁
DIRECTION DIVERTER VALVE, DISCHARGE INSPECTION METHOD THEREBY FOR FIRE HYDRANT AND FIRE HYDRANT PROVIDED WITH IT例文帳に追加
方向切換弁、それによる消火栓装置の放出点検方法及びそれを備えた消火栓装置 - 特許庁
A light-receiving part 16, extending in the width direction, receives reflected light from the surface of the inspection object 1.例文帳に追加
幅方向に延設された受光部16は、被検査物1の表面からの反射光を受光する。 - 特許庁
The defect inspection apparatus is characterized by the direction of a pattern; the direction of the projection of illumination light to a sample, and the polarization of the illumination light.例文帳に追加
本発明の特徴は、パターンの方向と、照明光の試料への射影の方向と照明光の偏光に着目したことにある。 - 特許庁
There is used an eddy current flaw detection probe in which the arrangement direction of an exciting coil 1A and a detection coil 1B is the same as the direction of the curved surface of an inspection surface.例文帳に追加
励磁コイル1Aと検出コイル1Bの並び方向が検査面の曲面方向と同じ渦電流探傷プローブを用いる。 - 特許庁
In the second inspection mode, the shirring direction of the differential interference optical system is set in not parallel with the extending direction of the step bunching.例文帳に追加
また、第2の検査モードでは、微分干渉光学系のシャーリング方向をステップバンチングの延在方向と平行から外れた状態に設定する。 - 特許庁
In the inspection station provided at the supporting column of the cableway, the inspection stand is constituted so as to turn to an uprising state where the floor surface of the inspection stand is erected in an approximately vertical direction, and a sideways state where the floor surface is horizontal.例文帳に追加
索道線路中の支柱に設けられる点検台において、点検台の床面がほぼ鉛直方向に直立した起立状態と、床面が水平となる横倒状態とに回動するように構成する。 - 特許庁
At this time, a direction to reciprocate the irradiation spot of the laser within the micro range is, for example, orthogonal to a main direction in which the light shielding film pattern is extended (step S1, inspection in a 0° direction).例文帳に追加
その際、微小範囲でレーザーの照射スポットを往復させる方向を、遮光膜のパターンが伸びる主たる方向に対して、例えば、直交させる(ステップS1、0°の向きでの検査)。 - 特許庁
The TAB tape 1, wherein a plurality of devices 2 are arranged on the tape in the width direction, is driven in its longitudinal direction, whereby the plurality of devices 2 arranged on the tape in the width direction are conveyed to an inspection position.例文帳に追加
テープの幅方向に複数のデバイス2が配置されたTABテープ1を長手方向に駆動し、テープの幅方向に配置された複数のデバイス2を検査位置に搬送する。 - 特許庁
The first sector scanning by an ultrasonic wave emitted from the vibrators is performed in the thickness direction of an inspection object, and the second sector scanning by the ultrasonic wave is performed in the direction orthogonal to the thickness direction.例文帳に追加
振動子から発する超音波による第1セクタ走査を被検査体の厚み方向で行い、超音波による第2セクタ走査をその厚み方向と交差する方向で行う。 - 特許庁
The image acquisition device 11 for irregularity inspection is characterized in that the distance between the irradiation part 3 and inspection surface 91 in a direction along an optical axis J1 is equal to or larger than 100 mm.例文帳に追加
ムラ検査用画像取得装置11では、照射部3と検査表面91との間の光軸J1に沿う方向における距離が100mm以上である。 - 特許庁
To provide an inspection apparatus capable of quickly and efficiently inspecting the RF-ID media sequentially carried in a prescribed direction by communication while avoiding wasteful communication inspection.例文帳に追加
所定方向に沿って順次搬送されるRF−IDメディアを、無駄な通信検査を行うことなく迅速に且つ効率的に通信検査することのできる検査装置。 - 特許庁
To provide a remote communication system and a method for remotely controlling an inspection vehicle or an inspection robot, regardless of the length of an extending direction of the inner space of a structural body.例文帳に追加
構造物の内部空間の延在方向の長さによらず点検車や点検ロボットの遠隔制御が可能な遠隔通信システムおよび方法を提供する。 - 特許庁
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