例文 (813件) |
inspection directionの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 813件
To provide a sheet inspection system and method corresponding to changes of transmitted light and specular reflected light produced in a sheet flow direction.例文帳に追加
本発明の目的は、シートの流れ方向に生じる透過光や正反射光の変化に対応したシート検査システムおよび方法を提供することにある。 - 特許庁
To provide a wind power generator capable of easily performing work in maintenance and inspection by lowering a wind turbine down to a low position along the length direction of a column.例文帳に追加
保守・点検の際、風車を支柱の長さ方向に沿って低い位置まで下げ、作業を行ないやすくした風力発電装置を提供する。 - 特許庁
The solder visual inspection portion 19 has a tapered form, enlarging in a direction of separating away distant from the mounting component upward (with the substrate being on the lower side).例文帳に追加
半田視認部19は、上方(基板側を下方とした場合に)に向かうにつれて、実装部品から離れる方向に広がるテーパ形状である。 - 特許庁
That is, in this inspection device, an X-Y stage 2 mounting and holding a semiconductor wafer 4 is arranged in the direction vertical and longitudinal to a vibration-proof table 1.例文帳に追加
即ち、本発明のインスペクション装置は、半導体ウェハ4を載置保持するX−Yステージ2を、防振台1に対して垂直、縦方向に配置している。 - 特許庁
To provide a capacitance type level gauge for easily adjusting the direction of a lead extracting hole of a case at assembling time and easily performing maintenance and inspection after installation.例文帳に追加
組立て時等にケースのリード引出し孔の方向調整が容易で、取り付け後の保守、点検も容易に行える静電容量式レベル計を提供する。 - 特許庁
The position data of the height direction of each imaged data undergoing the subtraction processing is arranged in the imaging order based on predetermined color tone reference, thereby preparing an image for inspection.例文帳に追加
また、減算処理された各撮像データの高さ方向の位置データを所定の色調基準に基づき撮像順に並べて検査用画像を作成する。 - 特許庁
To provide an inspection method of a piezoelectric vibrator capable of accurately inspecting the mounting state in the height direction of a piezoelectric vibration piece to a package base.例文帳に追加
パッケージベースに対する圧電振動片の高さ方向の実装状態を精度良く検査することを可能とする圧電振動子の検査方法を提供する。 - 特許庁
The surface of a web W having light perviousness being an inspection target is irradiated with white light from a direction of an angle θ using a white-light source 22.例文帳に追加
検査対象物である光透過性を有したウェブWの上面に角度θの方向から白色光源22を用いて白色光を照射する。 - 特許庁
The inspection part 9 inspects the face of the workpiece W stored in the second hole 4b in the outer rim direction of the conveyance table 2.例文帳に追加
検査部9は第2孔4b内に収納されたワークWのうち搬送テーブル2の外縁方向を向く面に対して特性検査が行なわれる。 - 特許庁
To provide an X-ray inspection device capable of accurately calculating the position in an X-ray optical axis direction of a noticeable region to calculate the accurate value of a fluoroscopic magnification ratio.例文帳に追加
注目部位のX線光軸方向の位置を正確に求め、透視拡大率の正確な値を求めることができるX線検査装置を提供する。 - 特許庁
To illuminate an object to be inspected from the entire periphery of the side surface thereof and to perform proper inspection regardless of the direction placing the object.例文帳に追加
被検査物の側面全周方向から照明することができ、被検査物を載置する方向に拘わらず、適正な検査が行えるようにする。 - 特許庁
At the time of the inspection of an optical disk, an access control circuit 28 is controlled to displace the optical disk 4 in an entire recording area in the radial direction of the optical disk.例文帳に追加
光ディスクの検査時にアクセス制御回路28を制御して光ディスクの径方向における記録領域全域に渡って光学ヘッド4を変位させる。 - 特許庁
The inspection tool 6, with its upper end swingably supported, is followingly displaceable in a radial direction in accordance with the displacement of the boss part B of the workpiece W.例文帳に追加
内側検査治具6は上端が揺動可能に支持されており、ワークWのボス部Bの変位に応じて径方向に追従変位可能としてある。 - 特許庁
A drive 39 moves the second illumination system 31b in a Z-direction to make the irradiation position of the inspection light L2 corresponding to the height of the pericle P variable.例文帳に追加
駆動装置39は、第2照明系31bをZ方向に移動させてペリクルPのペリクル高さに応じて検査光L2の照射位置を可変する。 - 特許庁
A unit 7 provided with an inspection pipe 6 is moved in a direction from a use position to a nonuse position with respect to a casing 4 of an X-ray irradiating device 1.例文帳に追加
X線照射装置1の筐体4に対し、検査パイプ6を備えたユニット7を使用位置から非使用位置に外す方向に移動する。 - 特許庁
An image, when the inspection object is lighted from a direction oblique to the front face by an oblique light source 4 is imaged by the imaging device 1.例文帳に追加
また、斜方光源4によって検査対象を正面に対して斜め方向から照明したときの画像を撮像装置1により撮像する。 - 特許庁
To provide a TFT array inspection device capable of miniaturizing a main chamber (MC), heightening moving speed in the Z-direction of a glass substrate, and acquiring an excellent throughput.例文帳に追加
TFTアレイ検査装置において、メインチャンバ(MC)を小型化すると共に、ガラス基板のZ方向に移動速度を高め、良好なスループットを得る。 - 特許庁
To propose an inspection method which can measure the change of the thickness in the length direction of a lengthy sheet-shaped extrusion- molded article precisely in real time.例文帳に追加
長尺シート状の押出成型品の、長さ方向の厚さの変化をリアルタイムかつ高精度で測定することのできる検査方法を提案する。 - 特許庁
A control element 7 controls the direction of the current flowing through a plated inspection terminal 6 for inspecting the action circuit section 14 and the action circuit section 14.例文帳に追加
制御素子7は、動作回路部14を検査するためのメッキされた検査用端子6と、動作回路部14との間を流れる電流の向きを制御する。 - 特許庁
To provide a new fender which allows the easy and intuitive checking of a position, a direction and the like at night, etc., and dispenses with frequent maintenance and inspection.例文帳に追加
夜間等に位置や向きなどを容易かつ直感的に確認することができる上、頻繁な保守、点検が不要な、新規な防舷材を提供する。 - 特許庁
To provide a connector inspection device with a water-proof plug assembling function to which the water-proof plug having a tendency of shift toward the peripheral direction can be easily and surely loaded.例文帳に追加
周方向に方向性のある防水栓を容易かつ確実に装着することのできる防水栓機能付コネクタ検査装置を提供する。 - 特許庁
This core wire inspection device 10 includes a laser light irradiation means for irradiating laser light in the vertical direction, in the oblique forward direction, and in the oblique backward direction, toward the core 2 of the wire 1 extending in the right and left directions and simultaneously moving in the forward and backward directions.例文帳に追加
本発明の芯線検査装置10は、左右方向に延びつつ前後方向に移動する電線1の芯線2に向けて、上下方向、斜め前方向および斜め後方向にそれぞれレーザー光を照射するレーザー光照射手段を備える。 - 特許庁
To provide a printed board inspection device constituted to make a defect appear clearly on a photographed image, as to the defect with a length direction thereof near to a moving direction of a printed board in the same direction, out of the defects such as flaws existing on a surface of the printed board.例文帳に追加
プリント基板の表面に存在する傷など欠陥のうち、その欠陥の長さ方向がプリント基板の移動方向と同一方向に近似するものについて、その欠陥が撮影画像上に明確に表れるようにしたプリント基板検査装置の提供 - 特許庁
The inspection device 15 of the rolling roll flaw is installed on a run-out table behind a cooling zone 12 between the final stand of the finish rolling machine 11 of a hot rolling line and the pinch roll 13 before a down coil 14 and its floodlight projection part emits light to the surface to be inspected by an inspection target obliquely in the width direction of the inspection target.例文帳に追加
熱延ラインの仕上げ圧延機11の最終スタンドとダウンコイラ14前のピンチロール13との間の、冷却帯12の後のランナウトテーブル上に、圧延性ロール疵検出装置15を設置し、その投光部は、被検査体の幅方向斜めより被検査体の検査対象面上に光を照射する - 特許庁
In the pressure loading step, the honeycomb structure is applied with the inspection pressure so that the peak (s) of the inspection pressure distribution X in the axial direction on the outer surface of the skin layer of the honeycomb structure becomes two or more and the inspection pressure in the valley t2 between the peaks (s) becomes the guaranteed pressure P0 or higher.例文帳に追加
圧力負荷工程では、ハニカム構造体のスキン層の外表面上での軸方向における検査圧力分布Xのピークsが2つ以上となり、かつ、ピークs間の谷部t2における検査圧力が保証圧力P0以上となるように、ハニカム構造体に対して検査圧力を負荷する。 - 特許庁
To provide a front plate with a peeling film capable of nondestructive defect inspection of a front plate which is used as a component of a display and equipped with at least a substrate, an electrode, and a display material displaying image according to whether a voltage is applied or not or the direction of an applied voltage and to provide its inspection method and its inspection device.例文帳に追加
ディスプレイの部品として用いられ、少なくとも基板と、電極と、電圧の印加の有無又印加されたは電圧の方向により画像を表示する表示材料とを具備する前面板の欠陥検査を非破壊で行うことが可能な剥離フィルム付き前面板、及びその検査方法、検査装置を提供すること。 - 特許庁
The change operation is equivalent to an operation (an operation for diversely changing the visual recognition direction to an end face 2a of the metal ring 2) in visual inspection, so that an empirical rule of visual inspection is applied (luster marks on the end face 2a can be found easily by visual inspection while changing the angle of the metal ring 2).例文帳に追加
この変更操作は、目視検査における操作(金属リング2の端面2aに対する視認方向を様々に変える操作)に相当するため、目視検査の経験則(金属リング2の角度を変えながら目視検査を行えば、端面2aの光沢痕を見つけやすい。)を応用して、本発明の課題を達成できる。 - 特許庁
The electronic device 6 to be adopted as an acceleration sensor or an inclination angle sensor is supplied to an implement 7 held by a turntable 5, and the implement 7 supplied with the electronic device 6 is conveyed in the sequence of a normal temperature inspection unit 10, a low temperature inspection unit 11, and a high temperature inspection unit 12 by the turntable 5 rotated in a prescribed direction.例文帳に追加
ターンテーブル5に保持された治具7に加速度センサーや傾斜角度センサーとして採用される電子デバイス6を供給し、電子デバイス6の供給された治具7を一定方向に回転されるターンテーブル5によって、常温検査ユニット10、低温検査ユニット11、高温検査ユニット12の順に搬送する。 - 特許庁
The substrate inspection device is equipped with a stage 1 for supporting a substrate A being an inspection target, a plurality of gate shaped arms 3A and 3B provided so as to leave an interval in the feed direction of the substrate A so as to straddle the substrate A on the stage and the inspection parts 5 respectively provided to a plurality of the gate shaped arms to inspect the substrate A.例文帳に追加
被検査対象である基板Aを支持するステージ1と、ステージ上に支持された基板を跨ぐように基板の搬送方向に互いに間隔をあけて設けられた複数の門型アーム3A、3Bと、複数の門型アームにそれぞれ設けられて基板を検査する検査部5とを備える。 - 特許庁
By moving the inspection object 10 in a perpendicular direction to the optical scan direction, the laser beams L1r, L2r and L3r, reflected from the inspection object surface 11, are detected with photodetectors 16a and 16b, the electrical signals output by the photodetectors 16a and 16b are converted into height signals by arithmetic units 17 and 18.例文帳に追加
被検査物10を光走査方向に対して直角方向に移動させながら、被検査物表面11から反射するレーザ光L1r、L2r、L3rを光検出器16a、16bにより検出し、光検出器16a、16bが出力する電気信号を演算装置17、18で高さ信号に変換する。 - 特許庁
To provide a substrate inspection device for enhancing flaw detecting sensitivity with respect to a flaw being unstable in flaw detecting sensitivity by an observation direction of a focus matching defective flaw or the like in the observation of the diffracted light of a substrate wherein any one side of a substrate pattern is parallel to a feed direction, and a substrate inspection program.例文帳に追加
基板パターンの何れか一辺が搬送方向と平行となっている基板の回折光観察において、合焦不良欠陥などの観察方向によって欠陥検出感度が不安定である欠陥に対して、欠陥検出感度を向上させるための基板検査装置および基板検査プログラムを提供すること。 - 特許庁
The inspection probe 200 includes a substrate 210, and a wiring portion 300 which is extended on the substrate 210 corresponding to the inspection terminal array layer 26 in the direction orthogonal to the lead-out direction of the data lines 22 and comes into contact with the signal input terminals when pressed from above the data lines 22 in a state orthogonal to the data lines 22.例文帳に追加
検査プローブ200は、基板210と、基板210上においてデータ線22の引き出し方向に直交する方向で検査用端子配列層26に対応して延設されデータ線22と直交する状態でデータ線22の上から圧接された際に信号入力端子に接触する配線部300を備える。 - 特許庁
Then, the light-receiving sensor array is configured by arranging a plurality of light-receiving sensors 19 like an array, in a vertical direction to the conveyance direction of the inspection target medium 15 to be conveyed on the conveyance face of the conveyance board to receive the rays of light emitted from a light source 21, and reflected from the inspection target medium.例文帳に追加
そして、受光センサアレイは、複数の受光センサ19が、搬送板の搬送面上を搬送される被検査媒体15の搬送方向に対して、垂直方向にアレイ状に配列されて構成されており、かつ光源21から出射され被検査媒体から反射された光を受光する。 - 特許庁
This pattern defect inspection device detects a defect by comparing a detection image acquired by scanning patterns, which are sequentially arranged in the line direction at equal intervals on the object under inspection and provided with the same shape, by means of an image sensor with a reference image acquired by scanning the patterns arranged adjacently in the line direction and provided with the same shape.例文帳に追加
被検査物体上に行列方向に等間隔で連続的に配列された同一形状を有するパターンをイメージセンサを走査して得られる検出画像とその行列方向に隣接する同一形状のパターンを走査して得られる参照画像とを比較して欠陥を検出するパターン欠陥検査装置である。 - 特許庁
In this device for applying marking to a detect portion of the lengthy sheet-like product carried in the longitudinal direction, which is detected by the inspection device, on the downstream side in the carrying direction from the inspection device, the marking is performed by use of a solid coloring material or pressure ballpoint pen.例文帳に追加
長さ方向に搬送される長尺のシート状製品の欠陥を検査装置により検出し、該検査装置より搬送方向の下流側において検出された欠陥部分にマーキングを施す装置において、固体の着色材料又は加圧ボールペンによりマーキングを施すことを特徴とする欠陥マーキング装置。 - 特許庁
To provide a protective film having direction confirmation marks formed not to obstruct a member inspection from the top of the protective film when laminated on a member, while the direction of the protective film is confirmed.例文帳に追加
保護フィルムの方向は確認できるが、部材に張り合わせた時には、保護フィルムの上からの部材検査に邪魔にならないような方向確認用マークを有する保護フィルムを提供することを課題とする。 - 特許庁
Under this state, when the front surface inspection body 23 is turned in the direction shown by arrow B to a reference position which is set in advance, a length in the circumferential direction between a claw 36A and the end side suction head 47A becomes L.例文帳に追加
この状態で、表面検査胴23を矢印B方向に予め設定した基準位置まで回動させると、爪36Aと尻側吸着ヘッド47Aのとの間の円周方向の長さがLになる。 - 特許庁
The cylindrical lens 4 has a convex lens action in the direction parallel to the sheet surface of (a), and in this direction, an image of a light irradiated face (inspection line) of the inspected body 3 is formed on the surface of a linear ray sensor 5.例文帳に追加
シリンドリカルレンズ4は、(a)の紙面に平行な方向で凸レンズ作用を有し、(a)の紙面に平行な方向では、被検査体3の光照射面(検査線)の像を、リニアアレイセンサ5の表面に結像するようになっている。 - 特許庁
The scanners 24a, 24b are guided by guide rails 22a, 22b and are moved in the circumferential direction of the annular gap 17 so that the inspection head 28 moves in the circumferential direction of the annular gap 17.例文帳に追加
また、スキャナ部24a、24bがガイドレール22a、22bに案内されて円環状狭隘空間17の周方向に移動して検査ヘッド28を円環状狭隘空間17の周方向に移動させる。 - 特許庁
To facilitate visual inspection of an object's state by maintaining a posture of a monitoring part linked with rotation of a camera part in the case of changing a photographic direction by rotating the camera part to a main body part while photographing the front direction with a video camera.例文帳に追加
ビデオカメラで正面方向を撮影中、カメラ部を本体部に対し回転させて撮影方向を変更する際、カメラ部の回転に連動してモニタ部の姿勢を維持し、被写体の状況を視認しやすくする。 - 特許庁
(1) Where the Commissioner has given a direction under section 9(1) of the Act prohibiting or restricting the publication of a design, the representation or specimen of the design shall not be open to public inspection while the direction remains in force.例文帳に追加
(1) 局長が法第9条(1)に基づき意匠の公表を禁止又は制限する指令を発した場合は,その意匠の表示又は見本は,当該指令の有効期間中,公衆の閲覧に供してはならない。 - 特許庁
To provide a surface inspection device and a method having a function for determining an abnormality of optical arrangement by simultaneous determination of a plurality of cameras in a metal belt width direction and by angle determination in a camera width direction.例文帳に追加
金属帯幅方向の複数台カメラの同時判定およびカメラ幅方向角度判定により光学配置の異常を判断する機能を有する表面検査装置および方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
The whole surface of the cassette type strainer is cleaned, and cleaning and inspection up to the tip part of a pyramid type cassette can be performed, by repeating movement in the circumferential direction and movement in the axial direction of the movable stand 4 on the ring frame 1.例文帳に追加
そして、リングフレーム1上の可動台4を円周方向移動と軸方向の移動を繰返すことで、カセット型ストレーナの全面を清掃し、かつ角錐形カセットの先端部まで清掃と点検を可能にした。 - 特許庁
A transmitting-light-type inspection section D is provided with a first tensile force giving device 43 which bends a tape 1 in the direction of thickness and with a second tensile force giving device 44 which gives the tape a tensile force in the direction of length.例文帳に追加
透過光式検査部Dにテープ1の厚さ方向に湾曲させる第1の張力付与装置43と、テープの長手方向に張力を付与する第2の張力付与装置44を配設する。 - 特許庁
In the inspection method, video data are acquired in pixel units, and the widths of a circuit pattern or spatial component are measured in a direction perpendicular to a measurement direction, to detect short circuit, when the measured width is larger than the reference width.例文帳に追加
本発明の製造方法は、光学検査工程で回路パターンの良否及びオープン又はショート不良を検出して、製造工程を減らすことができ、後続工程での収率を向上させることができる。 - 特許庁
While the probe makes one revolution in the circumferential direction on the side part, the probe is simultaneously adjusted to make a round trip in the axial direction, and this operation is repeated in a prescribed condition by setting an offset quantity on the inspection starting position.例文帳に追加
探触子が側面部を円周方向に一回転するとき同時に探触子を軸方向に一往復させ、これを検査開始位置についてオフセット量を設定することにより所定条件で繰返す。 - 特許庁
The inspection wire 53 linearly extends in the x-direction where a plurality of wires of the device to be inspected are arranged, and overlaps the inner peripheral edge positioned in the x-direction, of the through-hole 56 of the covering member 55.例文帳に追加
検査配線53は、被検査装置の複数の配線が配列するx方向に沿って直線状に延在し、被覆部材55の貫通孔56のうちx方向に位置する内周縁と重なり合う。 - 特許庁
The substrate 15 is conveyed by a conveyance means 11 and 13, and the deformation in the thickness direction over the width direction of the substrate is suppressed by a conveyance guiding means 20 in the inspection regions by line sensors 16 and 18.例文帳に追加
搬送手段11、13により基板15を搬送し、ラインセンサ16、18による検査領域で、搬送案内手段20により当該基板の幅方向に亘り肉厚方向の変位を抑制する。 - 特許庁
The flaw inspection device of the wire rope 1 is constituted of a magnetizer 2 for magnetizing the wire rope 1 in its longitudinal direction, a plurality of magnetic detection means 3a-3p arranged in the circumferential direction of the wire rope 1, a comparator 6 and an arithmetic part 7.例文帳に追加
ワイヤーロープ1を長手方向に磁化する磁化器2、ワイヤーロープの円周方向に配置された複数個の磁気検出手段3a〜3p、比較器6、演算部7を含んでワイヤーロープの探傷装置を構成する。 - 特許庁
The inspection vehicle is constituted so that the inspection vehicle includes chassis clearance or road clearance sufficient for traveling exceeding a plurality of obstacles existing on the outer peripheral surface of the cylindrical object which should be inspected, projecting in the radial direction from the surface of the cylindrical object to extend in the peripheral surface direction, especially, a plurality of seal strips projecting in the radial direction without a trouble.例文帳に追加
検査すべき円筒状の対象物の外周面に存在し、当該円筒状対象物の表面から半径方向に突出して周面方向で複数延在している障害物を、特に半径方向に突出している複数のシールストリップを支障なく越えて走行するのに十分なシャーシクリアランス乃至ロードクリアランスを前記検査車両が備えるように構成する。 - 特許庁
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