例文 (538件) |
inspection functionの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 538件
Since the inspection circuit 110 is made up of the plurality of MIS transistors 111 to 114 whose gate electrode directions are made mutually different, manufacturing errors of the function circuits can be inspected in a plurality of directions.例文帳に追加
この検査回路110は、ゲート電極の突出方向が相互に相違する複数のMISトランジスタ111〜114からなるので、機能回路の製造誤差を複数の方向で検査することができる。 - 特許庁
To provide a neutrophil function inspection system capable of inspecting migration ability and active oxygen production ability of neutrophil simultaneously by a simple operation without requiring previous separation of the neutrophil from whole blood.例文帳に追加
全血から好中球を予め分離することを必要とせず、簡便な操作で好中球の遊走能と活性酸素産生能を同時に検査することのできる好中球機能検査システムを提供する。 - 特許庁
Data shown on the figure are sampled while varying the speed V of an inspection pig and the relation between flux density B and sensor output x is held in the form of an approximate function B=B(x, V) or a table.例文帳に追加
図のようなデータを検査ピグの速度Vを変えて採取し、磁束密度Bとセンサ出力xとの関係式を、B=B(x,V)とする近似関数又はテーブルの形で保有しておく。 - 特許庁
In the loss deriviation unit 34, this calculation formula is multiplied by the deteriorated function, then integrated by the time for one year from the time of inspection, for example, to obtain an estimated amount of steam leakage for one year.例文帳に追加
損失導出部34は、この演算式に上記劣化関数を乗じて、点検時から例えば向こう1年間の時間で積分すると、この1年間の予想蒸気漏れ量が算出される。 - 特許庁
Further, after the operation unit is operated and performs function inspection whether or not the detection means is normally operated, the operation unit is moved to a predetermined position other than the fixed position and stops, for example, at a position in packaging.例文帳に追加
そして、稼動ユニットを稼動して検知手段が正常に作動するか否かの機能検査を行って後に、稼動ユニットを、定位置以外の所定位置に移動して、例えば梱包時の位置で停止する。 - 特許庁
This component mounting substrate inspection device equipped with the mean value acquisition function has a mean value calculation function for storing numerical data of thresholds in image data acquired by solder print inspection such as a solder print area, a solder print width or a solder print position after printing the solder on electric circuit patterns on a plurality of component mounting substrates, and determining the mean value thereof.例文帳に追加
本発明の一実施例の基準値の平均値取得機能を備えた部品実装基板検査装置は、複数の部品実装基板の電気回路パターンに半田を印刷した後のそれら半田の印刷面積、半田の印刷幅、半田の印刷位置などの半田印刷検査で得た画像データにおける閾値の数値データを記憶し、それらの平均値を求める平均算出機能を有することを特徴とする。 - 特許庁
The inspection position P on the surface of a semiconductor wafer 1 to be inspected is irradiated with pulse beam from a pulse laser 2 and scattered light generated by scattering when the inspection position P is an abnormal place due to refuse or a flaw is detected by a photodetector 3 using detection gate function.例文帳に追加
パルスレーザ2からのパルス光を照射光として検査対象である半導体ウエハ1の表面上の検査位置Pに照射し、検査位置Pがゴミまたはキズによる異常箇所であった場合に散乱によって生じる散乱光を検出ゲート機能を有する光検出器3によって検出する。 - 特許庁
To provide a pump gate allowing inspection and protection of a gate pump by easy work without removing a cut-off gate door body from a sluice column, exhibiting an original function of the gate even during inspection of the gate pump, and securing a complete water sealing condition when an outflow discharging opening part is closed by means of the cut-off gate door body.例文帳に追加
止水ゲート扉体を水門柱から取り外すことなく、簡単な作業によりゲートポンプの点検および保護を図り、ゲートポンプの点検中であってもゲート本来の機能を発揮し、止水ゲート扉体で放流用開口部を閉じた場合に、完全止水状態を得ることができるポンプゲートを提供する。 - 特許庁
The intermediate part 20 includes an intermediate authentication means 22 for collating the correlation of the packet information included in the received operation inspection value with an expectation value and also collating the array order or the like of the function number with the expectation value, adds a collated result and the individual inspection value to the data signals, and transmits them to the peripheral part 30.例文帳に追加
中間部20は、受信した動作検査値に含まれるパケット情報の相関関係を期待値と照合するとともに機能番号の配列順等を期待値と照合する中間認証手段22を備え、照合結果と個体検査値とをデータ信号に付加して周辺部30に送信する。 - 特許庁
To provide an inspection system provided with a small, high-hardness transparent disk and a function for inspecting the bottom surface of electronic devices, and capable of preventing the electronic devices inspected from hitting the disk and being damaged, reducing interference phenomena when obtaining images, and enhancing inspection accuracy.例文帳に追加
小さい透明ディスクを備え、電子デバイスの底面を検査する機能を達成すると共に、該ディスクは、高硬度の性質を有し、検査すべき電子デバイスがディスクにぶつかって傷付けてしまうことを避け、画像取得する際の干渉現象を減少し、検査の正確度を向上させる検査システムを提供する。 - 特許庁
The defect inspection apparatus is provided with various optical functions according to the type (shapes, materials, close patterns, etc.) of defects to be inspected, accumulates the difference in shade between defects desired to be detected and pseudo-defects desired to be not detected for each optical function, and efficiently selects conditions advantageous for highly sensitive and low-pseudo-rate inspection.例文帳に追加
検査対象となる欠陥種(形状,材料,近接するパターンなど)に対応して、多様な光学機能を備えており、各光学機能別に検出したい欠陥及び検出したくない擬似欠陥の濃淡差などを蓄積し、高感度、低擬似率検査に有利な条件を効率的に選択する。 - 特許庁
To provide an automatic chemical analyzer reducing a delay of inspection due to a simple error and improving efficiency and speed of data submission of an inspection department by providing a function storing the whole reaction process during an analysis, applied to a concentration calculation of a random sample by a random calibration result and recalculating it.例文帳に追加
分析時の全反応過程を記憶しておき、任意のキャリブレーション結果により任意の試料の濃度計算に適用し、再計算する機能を有することにより、単純ミスによる検査の遅れが減少し、検査室のデータ提出スピードアップ化や効率向上が図れる自動化学分析装置を実現する。 - 特許庁
The one chip microcomputer 10 has a starting register 18 starting a test operation and a built-in self test starting pattern generator 19 setting initial values in test control circuits (a pseudo random number generator 14, a logic circuit inspection compressor 15, a pattern generator 16 and a memory inspection compressor 17) for a built-in self test function.例文帳に追加
1チップマイクロコンピュータ10は、組み込み自己検査機能のために、テスト動作を起動する起動レジスタ18と、テスト制御回路(疑似乱数発生器14、論理回路検査用圧縮器15、パターン発生器16、メモリ検査用圧縮器17)に初期値を設定する組み込み自己検査起動パターン発生器19とを備えている。 - 特許庁
In inspecting a semiconductor device, the forward voltage of a protection diode formed in the semiconductor chip contained in the semiconductor device is measured before and after (S3) and (S5) of an inspection process (S4) composed of a plurality of inspection items for inspecting function and performance, for judging breakage of the semiconductor device (S6).例文帳に追加
半導体装置における検査において、半導体装置の中に入っている半導体チップ内に形成された保護ダイオードの順方向電圧の測定を複数の検査項目からなる機能及び性能を検査する検査工程(S4)の前後(S3)(S5)に実施して、半導体装置の破壊を判定(S6)する。 - 特許庁
To provide a device capable of easily detecting an oil leak from a pipe connection part of a centralized lubrication device for supplying lubricating oil to a plurality of sections through a distributor, dispensing with periodic inspection work for oil leak of a machine tool having a high function, and reducing work burden required for maintenance and inspection of the machine tool.例文帳に追加
潤滑油を分配器を介して複数箇所に給油する集中潤滑装置の配管接続部からの油漏れを簡易に検出可能にした装置に関し、高機能化した工作機械の定期的な油漏れの点検作業を不要にし、機械の保守点検に要する作業負担を軽減する。 - 特許庁
To provide a machine security system and a sensor inspecting method with a function to detect an abnormality such as a fire, intrusion and to transmit an abnormality signal and a sensor inspection mode to easily perform inspection of an operating state of a burglar sensor to detect an intruder, etc., by one security guard in charge.例文帳に追加
本発明は、火災、侵入等の異常を検出して異常信号を送信する機能を有し、侵入者等の検知を行う防犯用センサの動作状況の点検を担当の警備員が一人で容易に行うためのセンサ点検モードを有する機械警備システム及びセンサ点検方法を提供することを課題とする。 - 特許庁
A function control section 54 instructs the execution of inspection to the inspection section 48 in response to the first operation input of a multifunctional switch 20 accepted in an operation reception section 52, makes the voice output section 50 output the first voice message based on the inspection result and makes the voice output section 50 output the second voice message in response to the second operation input accepted in the operation reception section 52.例文帳に追加
機能制御部54は操作受付部52で受け付けた多機能スイッチ20の第1の操作の入力に対応して点検部48に点検の実行を指示すると共に点検結果に基づき音声出力部50に第1の音声メッセージを出力させ、操作受付部52で受け付けた第2の操作の入力に対応して音声出力部50に第2の音声メッセージを出力させる。 - 特許庁
A summed-up value calculating means for calculating a summed-up value of a content file related to digital contents to be monitored by a unidirectional function, is provided, a summed-up value at the reference time and that at the inspection time are compared with each other.例文帳に追加
監視対象となるデジタルコンテンツに係るコンテンツファイルの、一方向関数による要約値を算出する要約値算出手段を設定し、基準時に係る要約値と検査時に係る要約値とを比較する。 - 特許庁
To provide a member for overhead line which is applied easily even to an existing overhead line constructed on insulators of a pole, or the like and having no black light emitting function, and can utilize an inspection method by black light available.例文帳に追加
電柱などの支持物に既に架設されているブラックライト発光機能を有しない既存の架空線にも容易に適用してブラックライトによる点検法を利用可能とする架空線用部材を提供すること。 - 特許庁
An inspection display device 26 emits a signal about a failure in the braking function when the output value of a motor rotating speed sensor 16 after the elapse of the specified time from the energization of the motor 3 exceeds the specified value.例文帳に追加
そして、電動機3の付勢から所定時間経過後における電動機回転速度検出器16の出力値が所定値を超えたときに、検定表示装置26が制動機能異常を出力する。 - 特許庁
Next, the actually measured values L00 or the like are corrected by a theory of trigonometric function in consideration of angles θ1 and θ2 of inclination and heights H0 and H1 to calculate L0-L3 and R0-R3 of inspection objects.例文帳に追加
次に、傾き角度θ1、θ2及び高さH0、H1を考慮して三角関数の原理で上記各実測値L00等補正することで、検査対象であるL0〜L3、R0〜R3を算出する。 - 特許庁
In this condition, testing and inspection are performed in real time by setting a circuit, which is so integrated as to make the packet transmitting pattern and the packet receiving function (for confirming the filtering) be a pair, to each of the FPGAs of both the transmitting and receiving sides.例文帳に追加
この状況で、パケット送出パターンとパケット受信機能(フィルタリングの確認用)を一対になるように統合した回路を送受信双方のFPGAにセットして、リアルタイムでの試験検査を行なう。 - 特許庁
To provide a cleaning sheet of a substrate processor a transportation member with a cleaning function, and a method of cleaning which have an aversion to foreign matters, such as a manufacturing equipment and an inspection equipment for semiconductors, flat panel displays, and printed boards.例文帳に追加
本発明は、例えば、半導体、フラットパネルディスプレイ、プリント基板などの製造装置や検査装置など、異物を嫌う基板処理装置のクリーニングシート、クリーニング機能付き搬送部材、及びクリーニング方法を提供する。 - 特許庁
To provide a surface inspection device and a method having a function for determining an abnormality of optical arrangement by simultaneous determination of a plurality of cameras in a metal belt width direction and by angle determination in a camera width direction.例文帳に追加
金属帯幅方向の複数台カメラの同時判定およびカメラ幅方向角度判定により光学配置の異常を判断する機能を有する表面検査装置および方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide a method for readily and specifically distinguishing for detecting transient abnormalities in liver function inspection, due to thyroid-gland poisoning and drug hepatopathy caused by an anti-thyroid agent by using a blood test.例文帳に追加
甲状腺中毒症による一過的な肝機能検査異常と、抗甲状腺剤による薬剤性肝障害とを、血液検査などにより、簡便にかつ特異的に区別して検出する方法を提供する。 - 特許庁
To provide an elevator device with a mechanism for basically restricting the movement of a cage to increase safety during inspection work and an interlock mechanism for preventing the function invalidating operation of the mechanism in error.例文帳に追加
点検作業時の安全を増すために乗りかごの動きを根本的に制限する機構と、この機構の機能を誤って無効にしてしまう操作を防止するインターロック機能とを備えたエレベータ装置を提供する。 - 特許庁
To provide a lock device for locking a manhole cover to a manhole frame, provided with a pressure release function without incursion of rainwater or the like, preventing useless lock releasing, and facilitating maintenance and inspection with simple structure.例文帳に追加
マンホール蓋をマンホール枠に係止するロック装置に関し、雨水等の浸入がなく、圧力開放機能を備え、無用なロック解除を防止でき、構造が簡単で保守点検の容易なロック装置を提供する。 - 特許庁
To provide a sliding door device having a self-closing function, a simple structure, and substantially the same design of a doorway on an inspection side (indoor side) and a fixed side (outdoor side) to improve the aesthetic appearance of the whole device.例文帳に追加
自閉機能を有する引戸装置に関し、簡単な構造で、出入口の意匠が点検側(室内側)と固定側(室外側)でほぼ同じ意匠となって、全体の美観の向上が図れる引戸装置を提供する。 - 特許庁
A CPU 36 includes a function of a monitoring control part 62 for determining a fire from a detection signal of the sensor part, outputting alarm, and confirming alarm operation on the basis of an operation signal from the inspection switch 52.例文帳に追加
CPU36は、センサ部の検出信号から火災を判断して警報を出力させると共に、点検スイッチ52からの操作信号に基づいて警報動作を確認する監視制御部62の機能を備える。 - 特許庁
To solve the problem that cost rises when requiring a constituent part for inspecting the state of a printed image such as an image reading part and an inspection charging device in a printer 100 having a charging function by as much as requirement of the constituent part.例文帳に追加
課金機能を備えたプリンタ100において、画像読取部や検査課金装置等の印刷画像の状態を検査するための構成部分が必要であると、装置に対しその分コストが高くなる。 - 特許庁
To enable function test or the AC test for every series data signal for facilitating inspection of a semiconductor integrated circuit for transferring or latching a plurality of series data signals synchronously with the same clock signal.例文帳に追加
同一のクロック信号に同期して複数系統のデータ信号の転送又はラッチを行う半導体集積回路において、データ信号の系統毎にファンクションテスト又はACテストを可能として検査を容易にする。 - 特許庁
To provide an inspection program generation device that expands a function to perform boundary test on a program including calculating an address of a memory to be accessed by optional integer calculation.例文帳に追加
メモリアクセス先のアドレスを任意の整数演算により算出する処理を含むプログラムに対しても境界検査を実施することができるように機能を拡張することができる検査用プログラム生成装置を提供する。 - 特許庁
To provide a fire alarm system provided with an inspection function which can recognize whether a fire receiver normally operates or not by hearing the ringing pattern of an area sound device in a building of a large scale.例文帳に追加
大規模な建物においても、地区音響装置の鳴動パターンを聞くことで、火災受信機が正常に動作しているかを確認することができる点検機能を備えた火災報知システムを提供する。 - 特許庁
To smoothly transfer work from function inspection of a detection means to subsequent work such as packaging at the final stage of a manufacturing step without reducing manufacturing efficiency by increase of the manufacturing step.例文帳に追加
製造工程が増加して製造効率が低下することなく、製造工程の最終段階で、検知手段の機能検査から梱包等の次作業へとスムーズに移行できるようにした記録材搬送装置を提供する。 - 特許庁
To track an operation log on an inspection server even when the operation log is stored in an unretrievable external backup medium by leaving a retrieval index of the operation log determined to have high confidentiality behind on the inspection server having a retrieval function when data is backuped or erased on a system having a function for specifying the leak source of confidential information leaked from a recorded operation log when a user performs printout.例文帳に追加
ユーザが印刷出力を行なった際に記録された操作ログから漏洩した機密情報の流出元を特定する機能を持つシステム上で、データがバックアップまたは削除される際に、機密度が高いと判断された操作ログの検索インデックスを検索機能を持つ監査サーバ上に残すことで操作ログが検索不能な外部バックアップメディアに格納された場合でも監査サーバ上で追跡することが可能になる。 - 特許庁
The image and information processor is characterized by providing a radiographic image reader, a function for inputting patient information and photograph information and a function for performing a prescribed image processing to the read images and also by having a configuration to reserve photographing with two or more pieces of photographing information concerning one patient inputted by the input function as one inspection.例文帳に追加
放射線画像読取装置と、患者情報および撮影情報入力機能,読み取られた画像に対し所定の画像処理を施す機能を有する画像および情報および処理装置であって、前記入力機能により入力された一人の患者に関する複数の撮影情報を一つの検査として撮影予約可能に構成したことを特徴とする画像および情報処理装置。 - 特許庁
The SEM-type inspection apparatus for repeatedly scanning a sample with electron beams, generating inspection images and reference images based on secondary electrons or reflection electrons generated from the sample, and obtaining a defective section from the differential image has a function for varying the number of pixels in the repeated scanning direction of the electron beams in the images generated.例文帳に追加
試料に電子線ビームを繰り返し走査させ、試料から発生する2次電子または反射電子に基づき検査画像および参照画像を生成し、それらの差分画像から欠陥部を求めるSEM式検査装置において、生成画像における電子線ビームの繰り返し走査方向の画素数を可変にする機能を備える。 - 特許庁
To provide a substrate for a display provided with a satisfactory protecting function from static electricity and capable of reducing inspection time and performing highly accurate inspection and to provide a liquid crystal display using the same, in the substrate for the display and the liquid crystal display provided with scanning lines, data lines and switching elements on the substrate.例文帳に追加
本発明は、基板上に走査線、データ線及びスイッチング素子を備えた表示装置用基板及びそれを用いた液晶表示装置に関し、静電気に対して十分な保護機能を備え、検査時間を短縮でき、精度の高い検査を行うことができる表示装置用基板及びそれを用いた液晶表示装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
Since a control unit 25 controls each of the drive units, 21, 27 to 33 based on such optimal positions in correspondence with the inspection items stored in the storage 49, an image intensifier and the table top can be relatively moved to the most desired position automatically, by simply selecting one inspection item, even if the apparatus has the function of posing limitations on the performance to prevent interference.例文帳に追加
制御部25はメモリ49に記憶されている検査項目に対応する最適化位置に基づき各駆動ユニット21,27〜33を制御するので、干渉を防止する動作制限の機能を備えている場合であっても、検査項目を選ぶだけで撮影しやすい位置にイメージインテンシファイアと天板を自動的に相対移動させることができる。 - 特許庁
In an optical element 1 having optical function surfaces 7, 8 including optically effective regions 10, 11, there are provided comparison standard parts 12, 14 for the visual inspection, that become comparison references when performing the visual inspection of surface defect of the optically effective regions 10, 11 based on their appearances, outside the optically effective regions 10, 11.例文帳に追加
光学有効領域10、11を含む光学機能面7、8を有する光学素子1において、前記光学有効領域10、11の外側に、前記光学有効領域10、11の表面欠陥を外観に基づいて検査する外観検査を行う際の比較基準となる外観検査用比較基準部12、14を有すること。 - 特許庁
To impart the function of a wash-line pole required for daily life to an escape ladder unnecessary excepting the case of emergency, to solve the trouble of storage by usage at all times and to provide such a convenience that usual inspection and management are also practicable.例文帳に追加
非常時以外不要となっている避難梯子に、日常生活に必要な物干し竿の機能も併有させ、常時使用することにより、格納の煩わしさも解消し、かつ、日頃の点検管理も出来るような利を提供する。 - 特許庁
By the above, a multiple function, such as local plasma processing, and inspection, analysis, fine processing using charged particle beam or the like, is realized.例文帳に追加
荷電粒子線装置内にプラズマのガス供給源とプラズマ電源に繋がった電極を所望領域近傍に設置できる構成とし、局所的なプラズマ加工と荷電粒子線による検査、解析、微細加工等の複合機能を実現する。 - 特許庁
The device and method for automatically inspecting and recovering the printed circuit board is provided with an inspection function part for automatically inspecting the printed circuit board, and providing a display which is machine-readable on the region requiring recovery.例文帳に追加
プリント回路基板を自動的に検査及び修復するための装置及び方法は、プリント回路基板を自動的に検査するとともに、修復を必要とする領域の機械読み取り可能な表示を提供する検査機能部を備える。 - 特許庁
A function inspection for a DRAM part is performed in a step 101, the soundness of the DRAM part is discriminated in a step 102 from the result, and redundancy reduction is performed in a step 104 if it is good while trimming is performed in a step 105 if defective.例文帳に追加
ステップ101でDRAM部の機能検査を行い、その結果からステップ102でDRAM部の良否を判別し、良品ならばステップ104で冗長救済処理を行い、不良品ならばステップ105でトリミング処理を行う。 - 特許庁
To provide a semiconductor device allowing suppression of influence imparted to an inspection result of a function of an internal circuit even if variation is present in a resistance value of an internal resistance while sharing a testing terminal with another terminal.例文帳に追加
本発明は、テスト用端子を他の端子と共用しつつ、内部抵抗の抵抗値にばらつきがあっても、内部回路の機能の検査結果に与える影響を抑えることができる、半導体装置の提供を目的とする。 - 特許庁
To enable changing the setting of a scramble circuit in an inspection process of a semiconductor device with a real time in a data storage device which are suitable for analyzing a semiconductor device in which plural function blocks are incorporated.例文帳に追加
本発明は複数の機能ブロックが搭載された半導体装置の解析に適したデータ記憶装置に関し、スクランブル回路の設定を半導体装置の検査過程でリアルタイムに変更できるようにすることを目的とする。 - 特許庁
To provide an ultrasonic image diagnostic apparatus with the function to display thumbnail images, where to display thumbnail images can not disturb an operator concentrating on the observation or inspection of main images, and he or she can easily search for or access to thumbnail images.例文帳に追加
メイン画像を観察する操作者に、サムネイル画像の表示が検査への集中の妨げにならず、サムネイル画像の検索、アクセスなどを容易にできるサムネイル画像表示の超音波画像診断装置を提供すること。 - 特許庁
To provide a method for inspecting a PLL (phase-locked loop) circuit, which can quickly and easily inspect a leak (leakage) of a lowpass filter (LPF) in the PLL circuit included in a semiconductor integrated circuit, and the PLL circuit with an inspection function.例文帳に追加
半導体集積回路に内蔵されるPLL(フェーズロックドループ)回路中のローパスフィルタ(LPF)のリーク(漏洩)を迅速簡単に検査できるPLL回路の検査方法及びその検査機能つきPLL回路を提供する。 - 特許庁
To make a defective portion easily narrowed, when setting various potential states to execute IDDQ inspection, using a scan chain, in a CMOS integrated circuit provided with a scan test function and constituted of a plurality of logic blocks.例文帳に追加
スキャンテスト機能を備え複数の論理ブロックから構成されたCMOS集積回路において、スキャンチェーンを用いて内部の様々な電位状態を設定してIDDQ検査を実施する際に、不良箇所の絞り込みを容易にする。 - 特許庁
Thus, it is not necessary to set the color extract filter by teaching every time the kind of an electronic part as an inspection object is switched so as to effect a loading state inspecting device for an electronic part excellent in operability and inspecting function.例文帳に追加
これにより、検査対象の電子部品の品種が切り替わる度に色抽出フィルタをティーチングにより設定する必要がなく、操作性や検査機能に優れた電子部品の搭載状態検査装置が実現できる。 - 特許庁
例文 (538件) |
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