「ion lens」に関連した英語例文の一覧と使い方

イオン注入装置１０１は、イオンビームＩＢを発生、引き出すイオン源１１、マグネット（電磁石）を有する質量分析器１２、イオンビームを加速する加速器１３、静電レンズ、Ｑレンズ（４極レンズ）等のビーム収束部１４、そして、イオン源１１と質量分析器１２１の間、好ましくは静電レンズ１４１の後段にイオンビームエミッタンス測定機構１５が設けられる。 - 特許庁

DRIVE UNIT, LENS MODULE, IMAGE PICKUP UNIT, FUEL CELL, AND ION EXCHANGE RESIN例文帳に追加

駆動装置、レンズモジュール、撮像装置、燃料電池およびイオン交換樹脂 - 特許庁

Since the ion beam device is optimally operated in the presence of a magnetic field from the SEM objective lens, the objective lens does not stop during the operation of the ion beam.例文帳に追加

イオン・ビーム装置がＳＥＭ対物レンズからの磁界の存在下で最適に動作するようにされるので、対物レンズはイオン・ビームの動作中に停止しない。 - 特許庁

The ion beam system is adapted to operate optimally in the presence of the magnetic field from the SEM objective lens, so that the objective lens is not turned off during operation of the ion beam.例文帳に追加

The monovalent ion concentration in the TiO_2 layer (first layer) in contact with the lens surface is ≤10% (in terms of the relative concentration to the monovalent ion concentration in the lens 1).例文帳に追加

そして、レンズ表面に接するＴiＯ2層（第１層）中の１価イオン濃度（レンズ１中の１価イオン濃度に対する相対濃度）は１０％以下となっている。 - 特許庁

The distance between an extraction electrode 1 of the liquid metal ion source and a lens electrode 3B of a condenser lens 3 is set ≤6 mm.例文帳に追加

液体金属イオン源の引出電極１とコンデンサレンズ３のレンズ電極３Ｂとの間隔を６ミリメートル以下とする。 - 特許庁

The focused ion beam device comprises the ion source 2, focusing lens 4 to finely focus the ion beam generated from the ion source 2 on the material 3 to be processed, a deflector 5 for secondary scanning on the sample by means of the ion beam and so forth.例文帳に追加

イオン源２、イオン源２から発生したイオンビームを被加工材料３上に細く集束するための集束レンズ４、及び、イオンビームにより被加工材料３上を二次元的に走査するための偏向器５等を備える。 - 特許庁

To provide an ion implantation apparatus which achieves ion implantation of low COO into a glass substrate without using a collimator lens.例文帳に追加

平行化レンズを用いずに、ガラス基板に対してのイオン注入を実現するＣООに優れたイオン注入装置を提供する。 - 特許庁

The ion produced in this way is taken out through an interface 4 and focused by an ion lens 6, and introduced into an ion-trap type mass analysis part 7.例文帳に追加

そのようにして生成されたイオンはインタ−フエ−ス４を介して取り出され、さらにイオンレンズ６によって収束されてイオントラップタイプの質量分析部７に導入される。 - 特許庁

In the focusing ion beam device, a convergent lens is arranged on the subsequent stage of the liquid metal ion source, and a beam limiting device is provided on the subsequent stage of the liquid metal ion source.例文帳に追加

液体金属イオン源の後段に収束レンズを配置し、かつ前記収束レンズの後段にビーム制限絞りを設けたことを特徴とする集束イオンビーム装置。 - 特許庁

The graded index-type lens is obtained by subjecting the glass composition to an ion exchange treatment.例文帳に追加

またこのガラス組成物にイオン交換処理を施した屈折率分布型レンズである。 - 特許庁

To provide a hybrid ion transmitting device for enhancing transmission efficiency of an RF ion transmitting tube to which a gate valve is attached by using an electrostatic lens.例文帳に追加

静電レンズを用いてゲート弁を取り付けたＲＦイオン伝送管の伝送効率を高める混成イオン伝送装置を提供する。 - 特許庁

Then, when a route of the ribbon-shaped ion beam is seen from a treatment room side, the second uniformizing lens, the accelerating and decelerating device, and the first uniformizing lens are arranged in this order along the route of the ion beam.例文帳に追加

そして、処理室側からリボン状のイオンビームの経路を見た時、第２の均一化レンズ、加減速器、第１の均一化レンズの順に、イオンビームの経路に沿って配置している。 - 特許庁

A reducing lens system 20 for ion beam, composed of a complex lens system 21 and slit plates 28, 29 put at front side and back side thereof, is arranged between an ion source 10 and a mass dispersion system 30.例文帳に追加

イオン源１０と質量分散系３０との間に、複合レンズ系２１及びその前後にスリット板２８，２９を備えるイオンビーム用像縮小レンズ系２０が配置される。 - 特許庁

A zoom lens system 41 and a sextupole pole lens 42 are arranged between the mass spectrometer and a fixed ion detector 50, and a sextupole pole lens 43 is arranged between the ion source 10 and the mass dispersion system 30.例文帳に追加

また、質量分散系３０と、固定されたイオン検出器５０との間に、ズームレンズ系４１及び六重極レンズ４２が配置され、イオン源１０と質量分散系３０との間に六重極レンズ４３が配置される。 - 特許庁

To provide a plasma ion source mass spectrometer with an ion deflector lens having an improved removal ratio of photons and neutral particles as compared with the prior art while an ion transmittance is maintained.例文帳に追加

イオン透過率を維持しつつ、光子および中性粒子の除去率が従来に比べて向上したイオン偏向レンズを備えるプラズマイオン源質量分析装置の提供 - 特許庁

The beam system includes an ion beam device and a scanning electron microscope with a magnetic objective lens.例文帳に追加

二重ビーム装置はイオン・ビーム装置および磁気対物レンズを備える走査電子顕微鏡を含む。 - 特許庁

Ions produced on the two sample plates are focused toward a detector 113 by an ion lens.例文帳に追加

２個の試料皿で生成されたイオンは、イオンレンズにより検出器１１３に向けて収束される。 - 特許庁

The apparatus includes an SEM having an ion beam device and a magnetic objective lens.例文帳に追加

二重ビーム装置はイオン・ビーム装置および磁気対物レンズを備える走査電子顕微鏡を含む。 - 特許庁

To facilitate assembly in manufacturing an imaginary rod multipolar ion lens, and adjustment in manufacturing and use.例文帳に追加

仮想ロッド多重極イオンレンズ製造時の組み立て及び製造・使用時の調整を容易にする。 - 特許庁

The ion beams are made incident to an inner cavity of the beam line, and the incident ion beams are made to converge with electrostatic lens arranged in the inner cavity.例文帳に追加

このイオンビームをビームラインの内部空洞に入射し、入射したイオンビームを、その内部空洞内に配置された静電レンズで収束させる。 - 特許庁

At the ion source 10, a broad range of the sample is ionized at a time and the ion image of the sample is extracted as it is through the lens system 60.例文帳に追加

イオン源１０では、試料の広い範囲を同時にイオン化し、上記レンズ系６０を用いて、上記試料のイオン像をそのまま引き出す。 - 特許庁

The ion implanter 1 forms an ion beam X having a spreading angle through an ion source 10, an ion analyzer 12 and a multipole lens 14, and also, the ion beam X is made into an near-parallel beam to be a wide-shape ion beam by suppressing a spread in a width direction of the ion beam X formed by a quadrupolar device 16.例文帳に追加

イオン注入装置１は、イオン源１０、イオン分析器１２及び多極子レンズ１４を介して拡がり角度を有するイオンビームＸを生成するとともに、生成されたイオンビームＸの幅方向の拡がりを４重極子デバイス１６により抑制することにより、イオンビームＸを略平行ビームにして幅広形状のイオンビームとする。 - 特許庁

The electron bombarded ion source comprises a source magnet that deflects a part of generated ions from the center axis direction of the ion reserve, and at the rear stage of the electron bombarded ion source, an electrostatic lens that further assists the deflection of ion by the source magnet and a differential discharge slit for cutting off the deflected ion are provided.例文帳に追加

電子衝撃イオン源は、発生したイオンの一部を、イオン溜の中心軸方向から偏向させるソースマグネットを備え、電子衝撃イオン源の後段には、ソースマグネットによるイオンの偏向を更に助長する静電レンズと、偏向されたイオンを遮断する差動排気スリットとを備えた。 - 特許庁

The lens element 40 is set so that the current density distribution of the ion beam can be adjusted in a region near a focusing position 52 of the ion beam.例文帳に追加

レンズ要素４０は、イオンビームの収束位置５２の近傍の領域で、イオンビームの電流密度分布が調整されるようにレンズ要素４０が設けられている。 - 特許庁

To provide a plasma ion source mass spectrometer or a liquid chromatograph/mass spectrometer with an ion lens which reduces noise that comes from an ion source, prevents reduction in a signal amount, and improves maintenance characteristics.例文帳に追加

プラズマイオン源質量分析計や液体クロマトグラフ／質量分析計において、イオン源に起因するノイズを低減させるとともに、シグナル量の低下を抑え、メンテナンス性を改善したイオンレンズを提供する。 - 特許庁

Application voltages on a solvent removing tube 18, a first ion lens 19 and a second ion lens 20 for optimizing the ion passing efficiency are searched relative to each mass number by analyzing preliminary a reference sample including components having different mass numbers.例文帳に追加

異なる質量数を持つ成分を含有する標準試料を予備的に分析することにより、イオンの通過効率が最適となるような、脱溶媒管１８、第１イオンレンズ１９及び第２イオンレンズ２０への印加電圧を各質量数に対し調べる。 - 特許庁

A microscope system 200 comprises: a He ion source; a first lens 216; axis adjusting deflectors 220 and 222; a diaphragm 224; scanning deflectors 219 and 221; an ion optical device 130 including a second lens 226; and a sample chamber.例文帳に追加

顕微鏡システム２００は、Ｈｅイオン源、第一レンズ２１６、軸合せ偏向器２２０及び２２２、絞り２２４、走査偏向器２１９及び２２１、第二レンズ２２６を含むイオン光学機器１３０、並びに試料室を有する。 - 特許庁

The lens has a balance of oxygen permeability and ion or water permeability, with the ion or water permeability being sufficient to provide good on-eye movement, such that a good tear exchange occurs between the lens and the eye.例文帳に追加

このレンズは、酸素透過性及びイオン又は水透過性が調和しており、イオン又は水透過性は、良好な眼球の動きをもたらすに十分であり、それにより良好な涙交換がレンズと目の間に生じる。 - 特許庁

Channel doping ion implantation is done by converging an ion beam 22 passed through a filter FL with multiple fine openings OP regularly arranged by a lens 26 and by irradiating a semiconductor wafer 1W with the ion beam.例文帳に追加

規則的に配列した複数の微細な開口部ＯＰを有するフィルタＦＬを通過したイオンビーム２２をレンズ２６で収束して半導体ウエハ１Ｗに照射することにより、チャネルドープイオン注入を行なう。 - 特許庁

To provide a dual beam system capable of operating an ion beam while feeding a current into a scanning electron microscope (SEM) lens.例文帳に追加

ＳＥＭレンズに電流を流しながらイオン・ビームを操作することのできる二重ビーム装置を提供すること。 - 特許庁

This ion current moves along a line of magnetic force made by an objective lens 3, and finally reaches a sample surface.例文帳に追加

このイオン流は、対物レンズ３の作る磁力線に沿って移動し、最終的に試料面に到達する。 - 特許庁

To provide a double beam apparatus for operating an ion beam while feeding a current into a scanning electron microscope (SEM) lens.例文帳に追加

ＳＥＭレンズに電流を流しながらイオン・ビームを操作することができる二重ビーム装置を提供すること。 - 特許庁

The ion milling apparatus is provided with an ion beam source for emitting ion beams and a testpiece holder for fixing the testpiece, and a mask is provided for shielding a part of the testpiece, and a non-axially symmetric lens is arranged between the ion beam source and the mask, and the ion beam is deformed to meet a desired range for processing the testpiece.例文帳に追加

イオンビームを照射するイオンビーム源と、試料を固定する試料ホルダを備えたイオンミリング装置において、試料の一部を遮蔽するマスクを備え、イオンビーム源とマスクとの間に非軸対称レンズを配置し、試料の加工の希望範囲に合わせてイオンビームを変形させるようにした構成のイオンミリング装置を提供する。 - 特許庁

That is, the hybrid ion transmitting device has a structure in which the electrostatic lens for transmitting injected ions and applying a voltage so that the ions can be focused on the center of the ion transmitting direction axis and the RF ion transmitting tube connected to the electrostatic lens to pass the ions focused on the center of the ion transmitting direction axis are connected through the gate valve.例文帳に追加