「ion lens」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

An inlay lens 109 having a convex lens shape only downward is formed without increasing a distance between an on-chip micro lens 112 and a silicon substrate as a lens formation region, by realizing high refractive index in a metallic ion implantation region alone in a first flattening layer 108 by injecting metallic ion into the first flattening layer 108 of an existing interlaminar film without using an inlay lens material.例文帳に追加

層内レンズ材料を用いずに、既存層間膜の第１平坦化層１０８中に金属イオンを注入することによって、第１平坦化層１０８中の金属イオン注入領域のみ高屈折率化してレンズ形成領域として、オンチップマイクロレンズ１１２とシリコン基板間の距離を増加させることなく、下にのみ凸形状のレンズ形状を持つ層内レンズ１０９を形成する。 - 特許庁

This facilitates dismounting and remounting of the lead wires, when the ion lens 19 is dismounted and remounted for the sake of maintenance or the like.例文帳に追加

これにより、メンテナンス等のためにイオンレンズ１９を取り外し・取り付ける際のリード線の取り外し・取り付けが容易になる。 - 特許庁

The complex device including the FIB lens barrel and the SEM lens barrel has a slit formed into a shape to be worked at an aperture for the FIB, whereby ion beam work is performed by transferring a pattern to a sample surface instead of running a converged ion beam thereon.例文帳に追加

本発明はＦＩＢ鏡筒と、ＳＥＭ鏡筒を備えた複合装置において、ＦＩＢ用のアパーチャに加工形状のスリットを備えることにより、集束したイオンビームの走査ではなく試料面にパターンを転写することによりイオンビーム加工するようにした。 - 特許庁

This invention relates to irradiation of ion beams inclined with respect to an optical axis of the optical system by controlling a diaphragm, tilt deflector, beam scanner, and objective lens in a focused ion beam optical system.例文帳に追加

本発明は、集束イオンビーム光学系における絞り，チルト偏向器，ビームスキャナー、及び対物レンズを制御し、該光学系の光軸に対して傾斜したイオンビームを照射することに関する。 - 特許庁

Furthermore, because the optical microscope 15 is out of a vacuum chamber, when an ion etching process of the sample 6 is carried out, no stain caused by particles dispersed from the sample in the ion etching process is formed on a lens of the optical microscope 15.例文帳に追加

また、試料６のイオンエッチングの際には光学顕微鏡１５が真空チャンバ外にあるので、イオンエッチングによって試料から飛散した粒子で光学顕微鏡１５のレンズが汚れることはない。 - 特許庁

To provide an atmospheric pressure plasma ionizing source mass spectrometer which has an ion deflection lens system that has a high ion transmission efficiency and a simple structure, and further, can be controlled easily.例文帳に追加

高いイオン透過効率を有し、かつ簡単な構造であって、しかも簡単に制御することができるイオン偏向レンズ系を有する大気圧プラズマイオン化源質量分析装置を提供する。 - 特許庁

In this focused ion beam device, an ion beam is deflected by a deflector 5 provided closer to the ionization source side than an electrostatic type objective lens and the sample, and the beam is made incident on the sample obliquely.例文帳に追加

集束イオンビーム装置において、静電型対物レンズ及び試料よりもイオン源側に設けられた偏向器５によりイオンビームを偏向させ、イオンビームを試料に傾斜させて入射させる。 - 特許庁

The complex lens system 21, for example, using two quadrupole lenses and forming a reduced image of the ion source 10, is constructed so as to minimize the range of the angle of ion irradiation.例文帳に追加

複合レンズ系２１は、例えば２個の四重極レンズで構成され、イオン源１０の縮小像を形成するとともに、出射イオンビームの広がり角度が最小となるように構成される。 - 特許庁

The lens array substrate 20 is immersed in a molten salt and the substrate 20 disclosed through the hole pattern of the metallic film 21 is subjected to ion diffusion (D).例文帳に追加

さらに、溶解塩にレンズアレイ基板２０を浸し、金属膜２１の穴パターンから現れているレンズアレイ基板２０を拡散する（Ｄ）。 - 特許庁

The semiconductor substrate 1 is irradiated with focused ion beams 5 to form a convex part 2 acting as a solid immersion lens on a main surface 3a.例文帳に追加

半導体基板１に集束イオンビーム５を照射して、その主面３ａに固浸レンズとして作用する凸部２を形成する。 - 特許庁

To provide an ion implanting apparatus which is installed between a beam scanner and a beam collimator, and capable of electrically correcting a deviation of an orbit in an XZ plane of the ion beam caused by an assembling error and a production error of an electrode constituting a unipotential lens to converge the ion beam in Y-direction in the unipotential lens.例文帳に追加

ビーム走査器とビーム平行化器との間に設けられていて、イオンビームをＹ方向において絞る働きをするユニポテンシャルレンズを構成する電極の組立誤差や製作誤差によって生じるイオンビームのＸＺ平面内での軌道のずれを当該ユニポテンシャルレンズにおいて電気的に修正することができるイオン注入装置を提供する。 - 特許庁

To allow a sample stage to operate with good operability without any erroneous operations in a composite charged-particle processing and observation apparatus having a focused ion beam lens tube and an electron beam lens tube that are arranged orthogonal to each other.例文帳に追加

それぞれ直交に配置された集束イオンビーム鏡筒と電子ビーム鏡筒を有する複合荷電粒子加工観察装置において、試料ステージを、誤操作なく操作性の良い動作をさせる。 - 特許庁

The imaging mass spectrometer 1 comprises: an ion source 10 having a lens system 60; an analyzing section 20; and a detecting section 30.例文帳に追加

本発明にかかるイメージング質量分析装置１は、レンズ系６０を備えるイオン源１０と、分析部２０と、検出部３０とを備えている。 - 特許庁

The varifocal lens has: a lens main body 50 formed of a bag-state transparent flexible film and also filled with transparent liquid inside; and an ion conductive polymer-metal conjugate (IPMC) formed integrally with the lens main body 50, electrically driven from the outside and functioning as an actuator 60 for the lens main body 50.例文帳に追加

袋状の透明な可撓性膜により形成されると共に内部に透明な液体が充填されたレンズ本体５０と、レンズ本体５０に一体的に形成され且つ外部より電気的に駆動可能な、レンズ本体５０用のアクチュエータ６０として機能するイオン導電性高分子・金属接合体（ＩＰＭＣ）とを持つ。 - 特許庁

The ion implanter is provided which has a deceleration lens assembly comprising a plurality of electrodes in which one or more of the apertures of the deceleration electrodes are shaped in a manner which can improve the performance of the ion implanter.例文帳に追加

イオン注入器の性能を向上させることができるように、減速電極の１つ以上の開口部が成形されている複数の電極を備える減速レンズアセンブリを有するイオン注入器が提供される。 - 特許庁

The ion source is provided at least with an ion repeller, an extraction electrode and a lens electrode, and a potential in at least one electrode thereof is made different from that in usual use of the charged-particle beam device.例文帳に追加

また、少なくともイオンリペラーと、引き出し電極と、レンズ電極とを備え、これらのうちの少なくとも１つの電極を、通常の荷電粒子線装置の使用電位とは異なる電位に設定するようにした。 - 特許庁

To provide an ion implantation device which can quickly remove accumulated abnormal negative charges on the negative electrode of Q-lens, and a method for stable ion implantation therewith.例文帳に追加

Ｑレンズの負電極に負電荷の異常蓄積が生じても直ちにこれを除去することができるイオン注入装置およびこれにより安定したイオン注入を行うことができるイオン注入方法を提供する。 - 特許庁

The formed ion beam is converged by an electrostatic lens 21, is accelerated by an after-accelerator 22, is shaped by a quadrupole lens 23, and irradiates a semiconductor wafer W arranged in a process chamber 31.例文帳に追加

生成されたイオンビームは、静電レンズ２１によって収束され、後段加速器２２によって加速され、四重極レンズ２３によって整形されて、処理室３１内に配置された半導体ウエハＷ上に照射される。 - 特許庁

A voltage higher than the voltage, which makes the convergence efficiency of ions the maximum, is impressed to a second lens electrode of a bipolar type ion convergence lens, which condenses the ions passed a quadrupole mass filter.例文帳に追加

四重極質量フィルタを通過したイオンを収束するバイポーラ型のイオン収束レンズの二枚目のレンズ電極に、イオンの収束効率を最大とするような電圧よりも更に高い電圧を印加する。 - 特許庁

By the two quadrupole lenses Q1, Q2 having a convex lens action, all ions outgoing from the ion source 1 fly in parallel to the optical source.例文帳に追加

従って、凸レンズ作用を持つ２つの４重極レンズＱ_1 ，Ｑ_2 により、イオン源１から出射する全てのイオンは光軸に平行に飛行するようになる。 - 特許庁

A terminal unit for applying specified voltage to the electrode plates 31a-34d is provided separately from the imaginary rod multipolar ion lens unit 30.例文帳に追加

また、仮想ロッド多重極イオンレンズユニット３０とは別に、その各電極素板３１ａ〜３４ｄに所定の電圧を印加するためのターミナルユニットを設ける。 - 特許庁

Multiple ions 110 generated from an ion source 114 pass through an upper lens 106 to form a substantially parallel beam 310 which impinges on a mass filter 304.例文帳に追加

イオン源１１４により生成された複数のイオン１１０は、上部レンズ１０６により略平行なビーム３１０となり質量フィルタ３０４に入射する。 - 特許庁

In the lens 13, its height is regulated so as to compensate a sensitivity difference of each color filter 8 through an ion implantation for this organic SOG film.例文帳に追加

レンズ１３は、この有機ＳＯＧ膜に対するイオン注入を通じて、カラーフィルタ８各々の感度差を補償し得るようにその高さが調整される。 - 特許庁

The electrostatic lens 20 is provided with an entrance electrode 22, an intermediate electrode 24, and an exit electrode 26 arranged in a row in advancing direction of ion beams 2.例文帳に追加

この電界レンズ２０は、イオンビーム２の進行方向に並べられた入口電極２２、中間電極２４および出口電極２６を備えている。 - 特許庁

Additionally, by arranging a second scanner so that a deflection center coincides with an incident side focus on a plane vertical to the scanning surface of ion beams composited by the device for making parallelism, the magnetic field type lens 40, or the electrostatic lens, precision in the parallelism in two directions of the ion beams can be improved further.例文帳に追加

また、平行化装置と、磁場型レンズ４０、又は、静電レンズにより合成されるイオンビームの走査面に垂直な平面での入射側焦点に、その偏向中心を一致させるように第２の走査器を配置すると、イオンビームの二方向の平行化精度を一層向上させることができる。 - 特許庁

At the scan measurement time, a control part 50 controls a direct-current voltage source and a high-frequency voltage source included in a voltage generation part 30 following the voltage scanning pattern, synchronously with scanning of an application voltage on the quadruple polar filter 16, and scans the application voltages on the solvent removing tube 18, the first ion lens 19 and the second ion lens 20.例文帳に追加

スキャン測定時には、制御部５０は四重極フィルタ１６への印加電圧の走査と同期して、電圧走査パターンに従って電圧発生部３０に含まれる直流電圧源及び高周波電圧源を制御し、脱溶媒管１８、第１イオンレンズ１９及び第２イオンレンズ２０への印加電圧を走査する。 - 特許庁

A control section 5 controls a lens power supply section 8, so as to temporarily change the voltage applied to an ion lens 2 in with timing at which a quadruple power supply section 7 is controlled so that excessive ions pass through a quadruple filter 3.例文帳に追加

制御部５は、過多イオンが四重極フィルタ３を通過するように四重極電源部７を制御するタイミングに合わせて、イオンレンズ２への印加電圧を一時的に変化させるようにレンズ電源部８を制御する。 - 特許庁

The method includes a lens formation step in which a high refractive index is imparted only to an In ion implantation region by implanting In ions from the surface side of a first planarization layer 11, and a projection-shaped in-layer lens 12 is formed only on the underside.例文帳に追加

第１平坦化層１１の表面側からＩｎイオンを注入することにより、Ｉｎイオンの注入領域のみを高屈折率化して、下にのみ凸形状の層内レンズ１２を形成するレンズ形成工程を有している。 - 特許庁

Thus, the concentration of the boron ions in the center part of the opening 13b increases in the substrate 3 to form a gradient index lens 5 made of the hemispheric distribution of the boron ion concentration.例文帳に追加

基板３において開口部１３ｂの中心部分のボロンイオン濃度が高くなり、半球状のボロンイオン濃度分布からなる屈折率勾配レンズ５が形成される。 - 特許庁

In the imaginary rod multipolar ion lens unit 30, the electrode plates to which the same potential is applied are connected to each other by immobile short lines 36a, 36b.例文帳に追加

仮想ロッド多重極イオンレンズユニット３０内においては、同一電位が印加される電極素板同士を不動のショート線３６ａ、３６ｂにより接続する。 - 特許庁

A lens electrode 50 is composed of plate electrodes 50a-50h of the even number, which are spread in a diameter direction and radially arranged around an ion axis C.例文帳に追加

偶数枚の板状の電極５０ａ〜５０ｈを、イオン光軸Ｃの周囲に径方向に延展させつつ放射状に並べて配置して、レンズ電極５０とする。 - 特許庁

The opening 3a of the shielding plate 3 is opened only at a region on which cluster ions emitted from a cluster ion source 1 are made incident to the lens 4 at an incidence angle of ≤30°.例文帳に追加

遮蔽板３の開口３ａは、クラスターイオン源１から照射されるクラスターイオンが３０度以下の入射角でレンズ４に入射する領域にのみ開口する。 - 特許庁

An electron microscope has: an electron beam lens-barrel 1 in order to irradiate an electron beam 1a to a sample 11; a sample stage 3 to support the sample 11; a scattered electron detector 6 in order to detect backscattered electrons discharged from the sample 11; and a focused ion beam lens-barrel 2 in order to irradiate the sample 11 with a focused ion beam 2b.例文帳に追加

試料１１に電子ビーム１ａを照射するための電子ビーム鏡筒１と、試料１１を支持する試料台３と、試料１１から放出される後方散乱電子を検出するための散乱電子検出器６と、試料１１に集束イオンビーム２ｂを照射するための集束イオンビーム鏡筒２とを有する電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Base materials of an EI ion source 1, a thermionic focusing lens 2, an end-cap electrode 3, a ring electrode 4, an end-cap electrode 5, and a focusing lens 6 are made of copper or copper alloys, at least the inner surface of which is formed of chromium or molybdenum.例文帳に追加

ＥＩイオン源１と、熱電子集束レンズ２と、エンドキャップ電極３と、リング電極４と、エンドキャップ電極５と、集束レンズ６との母材を銅又は銅の合金とし、少なくとも内表面をクロム又はモリブデンにより表面形成する。 - 特許庁

Anodes 311 to 322 of a sputter ion pump P1 for exhausting the inside of an electron beam lens barrel 1 in the electron beam apparatus has a plurality of holes, and the plurality of holes are annularly arranged on the circumference of a vacuum chamber 12 in the electron beam lens barrel 1.例文帳に追加

電子線装置の電子線鏡筒１の内部を排気するためのスパッタイオンポンプＰ１のアノード３１１〜３２２は複数の孔を有し、これら複数の孔が電子線鏡筒１内の真空室１２の周囲に環状に配列される。 - 特許庁

The moisture content of this soft contact lens is within a range of 17.5 to 50%, the coefficient of sodium ion permeation thereof is within a range of 0.2 to 10×10-3 mm2/min and the coefficient of oxygen permeation thereof is ≥30.例文帳に追加

含水率が１７．５〜５０％の範囲内で、ナトリウムイオン透過係数が０．２〜１０×１０^-3ｍｍ^2 ／ｍｉｎの範囲内にあり、酸素透過係数が３０以上である含水ソフトコンタクトレンズ。 - 特許庁

The convex spherical pattern of each resist layer is transferred to the surface of the substrate 10 by a reactive ion etching process using CF_4, as an etching gas, for forming a lens.例文帳に追加

このような状態でＣＦ_４をエッチングガスとする反応性イオンエッチング処理により各レジスト層の凸球面状パターンを基板１０の表面に転写してレンズを形成する。 - 特許庁

To prevent lead wires from changing their positions, when an ion lens is dismounted and remounted for cleaning, etc., and to dispense readjustment of a resonant circuit for supplying a HF voltage.例文帳に追加

清掃等によるイオンレンズの取り外し・取り付けに際してのリード線の位置変化を防止し、それによる高周波電圧供給のための共振回路の再調整を不要とする。 - 特許庁

An objective lens having a built-in ion drawing/einzel pipe lens is used in a laser irradiation section of the flight time mass spectrometer, and a laser beam can be narrowed to several ten μm and radiated on the sample plate, and thus interference between eluant spots is prevented.例文帳に追加

また飛行時間質量分析計のレーザー照射部にイオン引き出し・アインシェルパイプレンズ内臓対物レンズを用い、サンプルプレート上にレーザー光を数１０μｍに絞って照射することが可能で、これにより、溶離液スポット相互間の干渉を防止した。 - 特許庁

To provide a focused ion beam forming device in which downsizing is realized by integrating an accelerator and a focusing lens system and the reduction ratio of the total device is maximized by making the accelerating tube of the accelerator as a part of the focusing lens system to form a nano beam.例文帳に追加

集束イオンビーム形成装置において、加速器と集束レンズ系を一体化とすることにより小型化を実現するとともに、加速器の加速管も集束レンズ系の一部とすることで装置全体の縮小率も最大化することで、ナノビームを形成する。 - 特許庁

A lens 10 includes: a plastic lens base material 1; and a transparent anti-reflection layer 3 formed on the base material 1 through a hard coat layer 2, wherein ion is radiated to the surface of one layer 32 of the anti-reflection layer 3 to introduce oxygen defect and improve the conductivity.例文帳に追加

プラスチックレンズ基材１と、この基材１の上にハードコート層２を介して形成された透光性の反射防止層３とを有し、反射防止層３の１つの層３２の表面にイオンを照射して酸素欠陥を導入して導電性を向上したレンズ１０を提供する。 - 特許庁

Further, the EI ion source 1, the thermionic focusing lens 2, the end cap 3, the ring electrode 4, the end cap 5, and the focusing lens 6 are thermally controlled at optimum temperatures by independent heaters 9, 10, 11, 12, 13 and 14, so that the further improvement of the analytical accuracy is made possible.例文帳に追加

さらに、ＥＩイオン源１、熱電子集束レンズ２、エンドキャップ３、リング電極４、エンドキャップ５、集束レンズ６は、各々独立のヒータ９、１０、１１、１２、１３、１４により、最適温度に加熱制御されるため、分析精度のより一層の向上が可能となる。 - 特許庁

An ion deflector lens includes an incoming-side plate-like electrode, an outgoing-side plate-like electrode, and a tubular electrode disposed between the incoming-side plate-like electrode and the outgoing-side plate-like electrode.例文帳に追加

イオン偏向レンズは、入射側プレート状電極と出射側プレート状電極と、入射側プレート状電極と出射側プレート状電極との間に配置される筒状電極とを具備する。 - 特許庁

To provide an electrostatic lens capable of suppressing reduction of electrons in a drift space and as a result, suppressing dispersion of ion beams due to space charge effect even in the case an intermediate electrode is kept in positive potential.例文帳に追加

中間電極が正電位に保たれるものであっても、ドリフト空間での電子量の減少の抑制、ひいてはイオンビームの空間電荷効果による発散の抑制を行うことができる電界レンズを提供する。 - 特許庁

The arithmetic unit 16 selects the optical conditions of a focusing lens 8, variable multi-aperture 10, beam deflecting electrode 11, and objective lens 12 based on data inputted in the input unit 17, and calculates automatically processing scanning conditions of the focusing ion beam 4 on the test piece 2 corresponding to the optical conditions selected.例文帳に追加

演算装置１６は、入力装置１７に入力されたデータに基づいて、集束レンズ８、可変マルチアパーチャ１０、ビーム偏向電極１１及び対物レンズ１２の光学条件を選択し、かつ選択された光学条件に応じた集束イオンビーム４の試料２上での加工走査条件を自動的に算出する。 - 特許庁