「defects inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

A defect inspection part 6 inspects extracted defects and generates inspection results for each of inspection conditions.例文帳に追加

欠陥検査部6は、抽出された欠陥に対して検査を行い、検査条件毎の検査結果を生成する。 - 特許庁

To accurately correct pixel defects of a solid-state imaging device even if there is defects in an inspection target itself.例文帳に追加

検査対象自体の欠陥があっても精確に固体撮像素子の画素欠陥を補正する。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus which detects minute real defects on a photomask while maximally preventing spurious defects from occurring.例文帳に追加

擬似欠陥の発生を最大限抑えながら、フォトマスク上の微細な実欠陥を検出する。 - 特許庁

To provide an inspection device capable of easily inspecting defects of a transparent plate product.例文帳に追加

透明な平板状製品の欠陥を容易に検査する。 - 特許庁

To provide an inspection method for internal defects of a substrate.例文帳に追加

本発明は基板の内部欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

The inspection system is specifically intended and designed for second optical wafer inspection for such defects as metallization defects, such as scratches, voids, corrosion and bridging, as well as diffusion defects, passivation layer defects, scribing defects, glassivation defects, chips and cracks from sawing, solder bump defects, and bond pad region defects.例文帳に追加

この検査システムは、特に、スクラッチ、ボイド、腐食およびブリッジング、などの金属化欠陥、ならびに拡散欠陥、被覆保護層欠陥、書きこみ欠陥、ガラス絶縁欠陥、切込みからのチップおよびクラック、半田隆起欠陥、ボンドパッド領域欠陥、などの欠陥のための第二の光学的ウェハ検査のために意図され、そして設計される。 - 特許庁

The inspection system is specifically intended and designed for a second optical wafer inspection for such defects as metalization defects, such as scratches, voids, corrosion and bridging, as well as diffusion defects, passivation layer defects, scribing defects, glassivation defects, chips and cracks from sawing, solder bump defects, and bond pad area defects.例文帳に追加

この検査システムは、特に、スクラッチ、ボイド、腐食およびブリッジング、などの金属化欠陥、ならびに拡散欠陥、被覆保護層欠陥、書きこみ欠陥、ガラス絶縁欠陥、切込みからのチップおよびクラック、半田隆起欠陥、ボンドパッド領域欠陥、などの欠陥のための第二の光学的ウェハ検査のために意図され、そして設計される。 - 特許庁

The inspection system is specifically intended and designed for a second optical wafer inspection for such defects as metalization defects, such as scratches, voids, corrosion and bridging, as well as diffusion defects, passivation layer defects, scribing defects, glassivation defects, chips and cracks from sawing, solder bump defects, and bond pad area defects.例文帳に追加

この検査システムは、特に、スクラッチ、ボイド、腐食およびブリッジング、などの金属化欠陥、ならびに拡散欠陥、被覆保護層欠陥、書きこみ欠陥、ガラス絶縁欠陥、切込みからのチップおよびクラック、半田隆起欠陥、ボンドパッド領域欠陥、などの欠陥のための第二の光学的ウェハ検査のために意図され、そして設計される。 - 特許庁

To provide a visual inspection device which facilitates checking the positions of defects in an inspection and can reduce the inspection period of time.例文帳に追加

検査時の欠陥の位置確認を容易にし、検査時間を削減することができる外観検査装置を提供する。 - 特許庁

To suppress detection of false defects, and to enlarge an inspection region.例文帳に追加

疑似欠陥の検出を抑制し、且つ検査領域を拡大する。 - 特許庁

Besides, the present invention provide furthermore an inspection device for internal defects of substrate based on the inspection method for internal defects of a substrate.例文帳に追加

このほか、本発明はさらに、上述の基板の内部欠陥検査方法に基づいた、基板の内部欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To decrease the man-hours of inspection by reducing the amount of the pseudo defects to be detected in plate pattern inspection.例文帳に追加

プレートパターン検査において、擬似欠陥の検出量を減らして、検査の工数を減らす。 - 特許庁

A substrate inspection result generating part 10 weights inspection results for each inspection condition, on the basis of information on defects and integrates inspection results for every inspection condition.例文帳に追加

基板検査結果生成部10は、欠陥に関する情報に基づいて検査条件毎の検査結果を重み付けした上で検査条件毎の検査結果を統合する。 - 特許庁

Inspection data is designed to include kinds, kinds difference and dimension of defects.例文帳に追加

検査データは、欠陥の種類、種類の相違、寸法を含むことにした。 - 特許庁

DEFECT CORRELATION DEVICE, SUBSTRATE INSPECTION SYSTEM, AND METHOD OF CORRELATING DEFECTS例文帳に追加

欠陥関連付け装置、基板検査システム、および欠陥関連付け方法 - 特許庁

To facilitate the inspection of internal defects such as casting cavities in a casting.例文帳に追加

鋳造品における鋳巣等の内部欠陥の検査を容易にする。 - 特許庁

Portions that have been judged as defects in the inspection are stored in a storage medium.例文帳に追加

その検査で不良となった箇所を記憶媒体に記憶させる。 - 特許庁

Defects are determined thereby at the same time in the pattern inspection, and a through-put of the inspection is enhanced thereby.例文帳に追加

これにより、パターン検査の欠陥判定を同時に行えるとともに、検査のスループットが向上する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device and a defect inspection method capable of reliably detecting various defects.例文帳に追加

様々な欠陥を確実に検出し得る欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

The inspection device 1 can inspect with high accuracy defects in the inspection object having patterns.例文帳に追加

本検査装置１は、絵柄を有する検査対象の欠陥を、高精度で検査することが可能である。 - 特許庁

To provide a liquid crystal inspection system which detects optical defects, including schlieren defects in a liquid crystal device.例文帳に追加

液晶素子のシュリーレン欠陥を含む光学的欠陥を検出可能な液晶検査装置を提供すること。 - 特許庁

In the stage S5, defect inspection is performed for inspecting whether defects or the like are present or not.例文帳に追加

工程Ｓ５で、欠陥などの有無を検査する欠陥検査を行なう。 - 特許庁

To provide a defect inspection apparatus and a method of inspecting defects for precisely inspecting defects even if an inspection region is not divided in a width direction.例文帳に追加

幅方向に検査領域を分割しなくても精度良く検査することができる欠陥検査装置および欠陥検査方法を提供することにある。 - 特許庁

Thus, the false defects can be accurately determined, the false defects detected in an inspection process are reduced, and hence the accuracy and efficiency of the inspection are improved.例文帳に追加

これにより、擬似欠陥が精度良く判別され、検査過程で検出される擬似欠陥が低減されて、検査の高精度化及び効率化が図られる。 - 特許庁

A defect data analytic method analyzes the defect distribution state based on defect location coordinates detected by the inspection apparatus and categorizes the defect distribution state into one of distribution feature categories including repetitive defects, aggregate defects, circular distribution defects, radial distribution defects, linear distribution defects, ring or cluster distribution defects and random defects.例文帳に追加

検査装置によって検出された欠陥位置座標に基づいて欠陥の分布状態を解析し、繰り返し欠陥、密集欠陥、円弧状分布欠陥、放射状分布欠陥、線状分布欠陥、環・塊状分布欠陥、ランダム欠陥のうちいずれかの分布特徴カテゴリに分類する。 - 特許庁

One method for binning defects includes binning defects into groups based on defect characteristics and the sets of inspection data in which the defects were detected.例文帳に追加

欠陥をビン分類する一方法は、欠陥の特性、及び、これらの欠陥が検出された検査データの組に基づいて、これらの欠陥をグループにビン分類する。 - 特許庁

When a plurality of similar defects are detected at the same positions or close positions of a plurality of sheetlike inspection objects, similarly the defect inspection method also excludes the defects by determining that the defects are not caused by inherent matters of the inspection objects.例文帳に追加

欠陥検査方法も同様に、複数枚の検査対象物に亘って、同一又は近似の位置に同様の欠陥が複数検出された場合に、当該欠陥を検査対象物起因の欠陥でないと判断して除外した。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus capable of effectively inspecting defects on the periphery part of a flat inspection object.例文帳に追加

平板状の検査対象物の周縁部における欠陥を効率よく検査できる検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method and an inspection apparatus of a film which can easily finding minute defects.例文帳に追加

欠点が微小であっても容易に発見することのできるフィルムの検査方法および検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method and an inspection system that securely detect defects such as a crack and a pinhole.例文帳に追加

ラックやピンホールなどの不良を確実に検出することができる検査方法および検査システムを提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of defect inspection even in the case of occurrence of multiple defects.例文帳に追加

多量の欠陥が発生した場合にも欠陥検査を行なうことができる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To reduce the number of over detection of defects while maintaining the inspection accuracy in an automatic optical inspection of a printed circuit board.例文帳に追加

プリント回路板の自動光学式検査において、検査精度を保ちながら欠陥の過検出を低減する。 - 特許庁

To provide a method and a system for automatic inspection, in particular, for analysis of manufacturing defects.例文帳に追加

自動検査、特に、製造欠陥の解析の方法及びシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device capable of outputting the inspection result of the defect related to the whole of an inspection target surface even if there are many defects, and a defect inspection method.例文帳に追加

欠陥が多くても検査対象面の全体についての欠陥の検査結果を出力可能な欠陥検査装置および欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a novel surface defect inspection device and surface defect inspection method for accurately and almost simultaneously detecting small rugged defects and pattern-like defects.例文帳に追加

小さな凹凸欠陥や模様状欠陥を精度良くかつほぼ同時に検出することができる新規な表面欠陥検査装置および表面欠陥検査方法の提供。 - 特許庁

To provide an image inspection device that easily collects limit samples of luminance non-uniformity defects and can remove defects or the like of specific shape before image inspection.例文帳に追加

輝度ムラ欠陥の限度サンプルの収集が容易であり、特定形状の欠陥等を画像検査前に除去することが可能な画像検査装置を実現する。 - 特許庁

To provide a surface inspection method for certainly detecting even minute surface defects.例文帳に追加

微小な表面欠陥であっても確実に検知する表面検査方法を得る。 - 特許庁

To make an efficient and accurate inspection in the process of inspecting piezoelectric ceramics for defects.例文帳に追加

圧電セラミックスの欠陥検査工程において，効率よく，高精度の検査を行う。 - 特許庁

METHOD, SYSTEM, APPARATUS, AND PROGRAM FOR MAKING DEFECTS DATA FOR EVALUATING RETICLE INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

レチクル検査装置評価用欠陥データ作り込み方法、システム、装置、及びプログラム - 特許庁

To provide a means to simplify the inspection of electrode defects or the like.例文帳に追加

電極等の欠陥検査を簡略化することが可能な手段を提供する。 - 特許庁

The defects information is added with the image at the time of inspection, and then is compared with an image at the time of checking defects to correct the location of the defect.例文帳に追加

また、欠陥情報に検査時の画像を付加し、欠陥確認時の画像と照合することで位置を補正する。 - 特許庁

To inspect various defects existing on the display surface of a display such as point defects and plane defects with simple and inexpensive configuration in a short inspection time.例文帳に追加

簡単かつ安価な構成で、しかも短い検査時間で、ディスプレイの表示面すべてに存在する本来の点欠陥や面欠陥等の各種の欠陥を検査する。 - 特許庁

To provide a pattern inspection device and a pattern inspection method capable of detecting finer defects and at a higher speed.例文帳に追加

より微細な欠陥をより高速に検出することができるパターン検査装置及びパターン検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a photomask in which production of pseudo defects during inspection of pattern defects is prevented to carry out inspection with high reliability, and to provide a method for detecting pattern defects in the photomask and a method for forming a pattern by using the same.例文帳に追加

パターン欠陥検査時の擬似欠陥の発生を防止して高い信頼性の検査を行うことができるフォトマスク、そのパターン欠陥検出方法及びそれを用いたパターン形成方法を提供する。 - 特許庁

To provide a visual inspection method and a visual inspection device of color filters performing inspection by improving detection capability of defects in the color filters, especially a void.例文帳に追加

カラーフィルタの欠陥、特に、白抜けの検出能力を向上させて検査することのできるカラーフィルタの外観検査方法、外観検査装置を提供する。 - 特許庁