fine dimensionとは 意味・読み方・使い方

To provide a metal foil polyimide laminate which can form fine wiring, and can obtain a low rate of a dimension change.例文帳に追加

微細配線を形成でき、低寸法変化率を実現できる金属箔ポリイミド積層体を提供すること。 - 特許庁

A metal catalyst particle 1 is made by using a fine seed crystal 2 having excellent dispersibility to prepare only a fine carbon fiber 4 having the same degree of dimension.例文帳に追加

分散性の良い微細な種結晶２を用いて金属触媒粒子１を作成することで、同程度の寸法の微細な炭素繊維４のみを作成する。 - 特許庁

To provide a flexible forming die capable of easily and inexpensively manufacturing a fine structure including a fine mesh projection pattern or its similar projection pattern formed on the surface with high dimension accuracy and good yield, and simultaneously satisfying high dimension accuracy and good dimension stability, in particular good dimension stability with respect to humidity change.例文帳に追加

微細な格子状突起パターンあるいはそれに類似の突起パターンを表面に有する微細構造体を簡便かつ安価に、しかも高い寸法精度で歩留まりよく製造できるとともに、高い寸法精度及び良好な寸法安定性、特に湿度変化に対する良好な寸法安定性を同時に満足させ得るような可とう性成形型を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for pattern formation that can form a pattern which renders the dimension of a trench pattern or a hole pattern, effectively fine, without producing any scum.例文帳に追加

トレンチパターンやホールパターンの寸法を実効的に微細化したパターンをスカムを発生させずに形成する方法の提供。 - 特許庁

To provide an etching processing apparatus and an etching processing method for fine-adjusting the etching process conditions so as to attain a desired finished dimension while suppressing variations in the pattern finish dimensions.例文帳に追加

エッチング処理条件を微調整して、パターン完成寸法のばらつきを押さえつつ所望の完成寸法を得る。 - 特許庁

Thus, the fine dimension of the cap film 32 such as the polycrystal silicon film is easily controlled rather than a conventional film poring method.例文帳に追加

従来の膜を開孔する方法よりも、多結晶シリコン膜等のキャップ膜３２の微細な寸法を制御が容易である。 - 特許庁

Thereby a desired upper part dimension and an inter-wiring gap are easily acquired even in the wiring pattern of the fine pitch.例文帳に追加

これにより微細ピッチの配線パタ−ンでも容易に所望の上部寸法と配線間ギャップを確保することが可能となる。 - 特許庁

To make the shape observation and dimension inspection of very fine pattern possible in an electron beam inspection device of a scanning electron microscope for example.例文帳に追加

走査形電子顕微鏡などの電子ビーム検査装置において、微細なパターンの形状観察や寸法検査を可能とする。 - 特許庁