「Process Inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(13ページ目) - Weblio英語例文検索

At the time of performing gap inspection on a multi-electrode spark plug, the location of the tip of a ground electrode W2 is measured in advance as a reference part location prior to an image pickup process.例文帳に追加

多極スパークプラグのギャップ検査を行う際に、接地電極Ｗ2の先端位置を、撮影工程に先立って基準部位置として予め測定する。 - 特許庁

To provide an inspection system for paper quality for inspecting the watermarking imparted in a papermaking process, watermarking code data and a printing pattern on a papermaking machine.例文帳に追加

抄造工程で付与されるすき入れ、すき入れコード情報及び印刷模様を抄紙機上で検査する用紙品質検査装置を提供する。 - 特許庁

The mass production line of the semiconductor manufacturing process is constituted so that a foreign matter inspection device is downsized and is set on an input port and an output port of processors of semiconductor manufacturing line or a conveyance system between the processors.例文帳に追加

また、半導体製造工程の量産ラインにおいて、大量の不良を未然に防ぎ、歩留りを維持することを可能にする。 - 特許庁

To provide an improved scanning system and process capable of forming a clear and legible binary image requiring no visual inspection of image quality.例文帳に追加

視認画像品質検査の必要のない、明確で判読可能な二値画像を生成することができる改良型走査システム及びプロセスを提供する。 - 特許庁

To provide a chair-shaped massager simplified in the attachment of a lift means and capable of simply performing the inspection of an operation confirming process.例文帳に追加

昇降手段の取り付けが簡単であり、動作確認工程の検査も簡単に行うことができる椅子式マッサージ機を提供することにある。 - 特許庁

To accurately perform correspondence of the positional data of sub-PCB to ID, by performing the ID reading of a radio tag chip in a visual inspection process.例文帳に追加

外観検査工程において無線タグチップのＩＤ読み取りを行うことによりサブＰＣＢの位置情報とＩＤとの対応付けを正確に行う。 - 特許庁

For optimizing the inspection process in the medical diagnosis, data of a plurality of diagnostic systems G1, G2, G3 and G4 are transmitted in real time to a central computer system 31.例文帳に追加

医療診断における検査プロセスを最適化するために、複数の診断装置（Ｇ１，Ｇ２，Ｇ３，Ｇ４）のデータはリアルタイムに中央のコンピュータシステム（３１）に伝送する。 - 特許庁

For the processing liquid head 34L, a defective head which cannot be used as the ink head 34Y in a defective nozzle inspection process is used under prescribed conditions.例文帳に追加

処理液用ヘッド３４Ｌには、不良ノズルの検査工程でインク用ヘッド３４Ｙとして使用できない不良ヘッドを所定条件下で使用する。 - 特許庁

To provide a ball bump wafer inspection device which inspects efficiently the height (including the shape) of the whole ball bump in a ball bump wafer production process.例文帳に追加

本発明は、ボールバンプウエハ生産工程で、全ボールバンプの高さ（形状含む）を効率良く検査するボールバンプウエハ検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus for a sealing agent and its method for rapidly inspecting a sealing agent in a simple process, and to provide a method for manufacturing an electro-optic device.例文帳に追加

簡易な処理で迅速にシール剤の検査を行うことができるシール剤の検査装置およびその方法、電気光学装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To prevent malfunction due to displacement and waste of material in an inspection device used in a manufacturing process of a laminated battery.例文帳に追加

積層電池の製造過程に用いられる検査装置において、位置ズレによる不具合を防止することができるとともに、材料の浪費を防止する。 - 特許庁

To provide a substrate inspection device capable of inspecting a prescribed marking on an objective substrate between each manufacturing process in a short time with a simple structure.例文帳に追加

各製造工程間における対象基板上の所定のマークを、安価な構成により短時間で検査できる基板検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an aging device, an array substrate, and a process for reliability inspection of an array substrate capable of easily and more surely sorting out a panel having a poor reliability.例文帳に追加

容易に信頼性不良パネルをより確実に選別できるエージング装置、アレイ基板、及びアレイ基板の信頼性検査工程を提供する。 - 特許庁

To obtain an accurate position of a region to be inspected on a substrate by eliminating a positional error in a manufacturing process and improving positional accuracy and inspection accuracy.例文帳に追加

製造工程における位置誤差を解消して、位置精度を高め、検査精度を高め、基板上の検査対象領域の正確な位置を取得する。 - 特許庁

To provide a desired liquid jetting head with little dispersion and a manufacturing method that can make a highly accurate inspection in a manufacturing process of the liquid jetting head.例文帳に追加

所望のばらつきの少ない液体噴射ヘッド及び液体噴射ヘッドの製造工程において高精度に検査できる製造方法を提供する。 - 特許庁

High-voltage is applied to the battery power generation element 6 via the bypass terminal 1 without applying voltage to the PTC element 25 at a process of an inspection of insulation.例文帳に追加

絶縁検査の工程では、ＰＴＣ素子２５に電圧を印加することなく、バイパス端子１を介して電池発電要素６に高電圧を印加する。 - 特許庁

To easily find defects also in a manufacturing process, when manufacturing an organic EL element without evaluation and inspection by actual emission.例文帳に追加

実際の発光により評価及び検査をすることなく有機ＥＬ素子を製造するにあたり製造工程においても欠陥の発見を容易に行う。 - 特許庁

After the visual inspection, a wholly molding process is performed and each solder bump 5 is formed at each connecting electrode and a wholly molded portion is cut along a dicing line into single pieces.例文帳に追加

外観検査後、一括モールド部を形成し、接続用電極にはんだバンプ５をそれぞれ形成し、ダイシングラインに沿って一括モールド部を個片化する。 - 特許庁

To provide a cutting device equipped with an inspection means which inspects with high accuracy the shape of a tape after cutting, while performing a cutting process.例文帳に追加

裁断処理を行いながら、裁断後のテープの形状を高精度で検査することのできる検査手段を備えた裁断装置を提供する。 - 特許庁

(ii) For the standard listed in Article 2, paragraph (3), item (ii): The inspection of the production process of the agricultural and forestry product in accordance with MAFF Ordinance 例文帳に追加

二　第二条第三項第二号に掲げる基準　農林水産省令で定めるところにより行う当該農林物資の生産行程についての検査 - 日本法令外国語訳データベースシステム

(iii) For the standard listed in Article 2, paragraph (3), item (iii): The inspection of the distribution process of the agricultural and forestry product in accordance with MAFF Ordinance 例文帳に追加

三　第二条第三項第三号に掲げる基準　農林水産省令で定めるところにより行う当該農林物資の流通行程についての検査 - 日本法令外国語訳データベースシステム

In an inspection process after manufacturing the printed wiring boards 1, the information of the printed wiring boards 1 is registered in the management server 4 and history information such as the shipment, transport and integration into products is transmitted to the management server 4.例文帳に追加

製造後の検査工程で管理サーバ４に登録し、出荷、輸送、製品への組み込みなどの履歴情報を管理サーバ４に送信する。 - 特許庁

To control a solid preparation to a correct posture in an inspection process or the like for the solid preparation.例文帳に追加

固形製剤の検査工程等において、固形製剤を正しい姿勢に制御することができる固形製剤の姿勢制御方法及びその装置を提供すること。 - 特許庁

A system configuration in which a determination process by a special doctor or an inspection engineer is integrated is provided in order to accurately execute data management/precision management.例文帳に追加

データ管理・精度管理を的確に実行するため、専門の医師または検査技師による判断のプロセスを組み込んだシステム構成を提供している。 - 特許庁

To provide a reduction method for power consumption, in which a maximum power consumption is reduced in the inspection process of a scan- designed semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

スキャン設計された半導体集積回路の検査工程における最大消費電力を削減する消費電力削減方法を提供する。 - 特許庁

To simplify the entire process in a fuel cell from inspection of hydrogen leakage up to detection of hydrogen leakage and identification/repair of a leakage position where the hydrogen leakage occurs.例文帳に追加

燃料電池における水素漏れの点検から、水素漏れの検出、水素漏れを起こしたリーク箇所の特定・修理までの工程全体を、簡素化する。 - 特許庁

(b) In particular, it shall be thoroughly confirmed that there are no differences between the parties in regards to the awareness of facts found in the process of on-the-spot inspection. 例文帳に追加

ロ．特に、立入の過程で把握した事実関係については、その内容に両者の間で認識の相違がないことの確認を十分行う。 - 金融庁

We issued a notice of the inspection after the Tokyo Metropolitan Assembly decided to increase the bank’s capital in the process of deciding its budget and the payment of funds for the capital increase became all but certain. 例文帳に追加

議会において予算決定の過程で増資を決め、その増資の払込みが確実になるという段階で（検査の）予告を出したわけでございます。 - 金融庁

Accordingly, work efficiency of electrical characteristic inspection of the semiconductor package is improved, and as a result, productivity of a semiconductor package manufacturing process is improved.例文帳に追加

従って、半導体パッケージの電気的特性検査の作業効率が向上し、その結果、半導体パッケージ製造工程の生産性が向上する。 - 特許庁

When the defectively processed substrate W is detected in an inspection block IB, the process history data regarding the substrate W and a reference data are compared.例文帳に追加

検査ブロックＩＢにて処理不良の基板Ｗが検出されたときには、その基板Ｗについての処理履歴データと基準データとを比較する。 - 特許庁

Since the process of determining the print state can be known, an error can be specified easily at the time of maintenance or inspection.例文帳に追加

これにより、どのような過程で印刷状態が決定されたかを知ることができるため、保守点検等の際にエラーの特定を容易に行えるようになる。 - 特許庁

To quickly fill a test gas into an electric component and to quickly transport the electric component to an inspection device, by automating a process of filing the gas and transporting the device.例文帳に追加

電子部品へテスト用ガスを充填して検査装置へ移送する過程を自動化し、テスト用ガスの充填と検査装置への移送を速やかに行う。 - 特許庁

To provide a foreign-body inspection apparatus by which defects in large quantities can be prevented and by which a yield is maintained in the mass-production line of a semiconductor production process.例文帳に追加

半導体製造工程の量産ラインにおいて、大量の不良を未然に防ぎ、歩留りを維持させるための異物検査装置を提供する。 - 特許庁

In the defect detection method, a captured image creating process S1 of an inspection region captures an image of a to-be-inspected object and creates a captured image.例文帳に追加

本発明の欠陥検出方法において、検査領域の撮像画像作成工程Ｓ１は、検査対象物を撮像し、撮像画像を作成する。 - 特許庁

The respective equipment on the manufacturing line 2 transmit serial data of substrates 4a and 5a and a component 9, and process data such as assembly and inspection executed in the process to the external management apparatus 3 in real time.例文帳に追加

製造ライン２の各設備は、該当する工程で使用した基板４ａ，５ａ及び部品９のシリアルデータ、並びに、該工程で実行された組付や検査などの工程データを、外部管理装置３にリアルタイムで送信する。 - 特許庁

In a manufacturing process of an automaker, or a tire store, a private car inspection site, etc., a comparatively high-pressure carbon dioxide gas prepared beforehand is supplied into the inside of a tire by pressing in a process for expanding tires.例文帳に追加

自動車メーカーの製造工程で、あるいはタイヤ販売店、民間車検場などで、あらかじめ準備された比較的高圧の二酸化炭素ガスを、タイヤをふくらます工程中で、タイヤ内部に圧入する。 - 特許庁

To provide a direct connection molding vulcanizing system which can immediately feed back a tire inspection result to a molding process for assembling raw tires without deteriorating labor environment caused by heat to be generated in the vulcanizing process.例文帳に追加

タイヤの検査結果を、生タイヤを組み立てる成形工程に直ちにフィードバックすることができ、また、加硫工程で発生する熱により、労働環境を悪化させることのない、直結成形加硫システムを提供する。 - 特許庁

To provide a press-fitting state determination method for an annular seal member usable in one process simultaneously with a press-fitting operation without requiring an inspection in another process and a seal installation device using the determination method.例文帳に追加

別工程での検査等を必要とせず、圧入作業と同時に一工程で行うことのできる環状シール部材の圧入状態判定方法と、この判定方法を備えるシール組込装置を提供する。 - 特許庁

To provide a thin film transistor array substrate, which can be manufactured through an easy process while preventing a failure caused by static electricity generated in a manufacturing process, and which is suitable for inspection while maintaining thin film transistor characteristics.例文帳に追加

製造工程中に生じる静電気に起因する不良を防止しつつ、簡便なプロセスで製造可能であり、かつ、薄膜トランジスタ特性を維持しつつ検査に適した薄膜トランジスタアレイ基板を提供する。 - 特許庁

A nondestructive inspection process of a butt welding part of the pipe to be performed after a welding process for welding the pipe which is attempted to be newly connected to the end of the already connected pipe by butting is performed while moving the facility ship forward.例文帳に追加

既に接続した管の端部に新たに接続しようとする管を突き合わせて溶接する溶接工程の後に行う、管の突き合わせ溶接部の非破壊検査工程を、敷設船を前進させながら行う。 - 特許庁

To provide a visual inspection apparatus capable of relatively simply masking a part of an imaging region during an inspection of appearance defectiveness in a PTP sheet manufacturing process and capable of suppressing a smear phenomenon, and to provide a PTP sheet manufacturing apparatus.例文帳に追加

ＰＴＰシートの製造過程における外観不良の検査に際し、撮像領域の一部を比較的簡単にマスクすることができ、スミア現象を抑制可能な外観検査装置、及び、ＰＴＰシートの製造装置を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device realizing high resolution and an increase in an inspection speed in a technology for inspecting a pattern defect, foreign matter, residue, a step and the like on a wafer in a production process of a semiconductor by an electron beam.例文帳に追加

半導体装置の製造過程にあるウェハ上パターンの欠陥、異物、残渣および段差等を電子ビームにより検査する技術において、高分解能で、かつ検査速度の高速化を実現する欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

A first inspection 1 having a plate thickness T2 being equivalent to the allowable maximum value, and a first inspection section C1 having a plate thickness T1 being equivalent to the allowable minimum value of a punch depth, are formed first at the end section of a workpiece 1 in a preliminary process.例文帳に追加

本発明では、先ず予備工程でワーク１の端部に、穿孔深さの許容最小値相当の板厚Ｔ１をもつ第一検査部Ｃ１と、許容最大値相当の板厚Ｔ２をもつ第二検査部Ｃ２とを形成しておく。 - 特許庁

To provide a flaw inspection device capable of rapidly and accurately inspecting what process of a plurality of sample manufacturing processes a flaw or stain is caused in without relying on the discretion of a worker, and a flaw inspection method.例文帳に追加

基板を製造する複数の工程の内どの工程に起因するキズあるいは汚れであるか、作業者の裁量に任せずに、迅速かつ正確な検査が可能な欠陥検査装置及び欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

The determination step is to determine characteristic defects, caused in manufacturing process carried out in units of a plurality of semiconductor devices, among the characteristic defects of the semiconductor devices based upon a result of the re-inspection in the second wafer inspection step.例文帳に追加

判定工程は、第２ウエハ検査工程による再検査の結果に基づいて、半導体装置の特性不良のうち、複数個の半導体装置単位で行われる製造処理において生じる特性不良を判定する。 - 特許庁