「Size Inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an X-ray inspection device including X-ray leakage prevention members capable of optimally preventing an X-ray leakage according to a size of an object to be inspected.例文帳に追加

被検査物の大きさに応じてＸ線の漏洩を最適に防止することができるＸ線漏洩防止部材を備えたＸ線検査装置を提供することである。 - 特許庁

To provide an inverter device-integrated electric compressor with reduced size and weight enabling assembling, inspection, checkup, and repair individually in each of the inverter device and the electric compressor.例文帳に追加

組立・検査、点検・修理をインバータ装置、電動圧縮機それぞれ別個に行え、小型軽量化も図れるインバータ装置一体型電動圧縮機を提供するものである。 - 特許庁

To readily confirm resolution of an image, and to measure the size of defects by using contactless visual inspection method and device thereof.例文帳に追加

本発明の目的は、画像の分解能の確認が簡単に行えると共に、欠陥の寸法測定も行える非接触式目視検査方法および装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a lens barrel unit in which the adjustment and inspection relating to a blur compensation operation can be performed unit by unit and the entire size can be reduced.例文帳に追加

ブレ補正動作に関する調整及び検査をユニット単位で行うことができるとともに、全体を小型にすることができるレンズ鏡筒ユニットを提供する。 - 特許庁

To provide a chuck capable of securely griping various objects, and a wheel inspection machine equipped with the chuck and capable of securely gripping various automobile wheels having different size.例文帳に追加

各種物体を確実に把持できるチャック及び当該チャックを備え、サイズの異なる各種の自動車用ホイールを確実に把持できるホイール検査機を提供する。 - 特許庁

To easily detect visibly an existence of interior defects of a face part of a glass panel and a size and a position in a depth direction using a comparatively simple inspection device.例文帳に追加

比較的簡単な検査装置を用いて、ガラスパネルのフェース部の内部欠陥の有無及び大きさと深さ方向位置とを容易に視認検出することを可能にする。 - 特許庁

This silicon wafer inspection is to inspect the defect that is an aggregate of micro-defects like a colony and the whole defective size is more 0.5 μm or more.例文帳に追加

シリコンウエーハを検査するにあたり、微小欠陥がコロニー状に集合しかつ全体の欠陥サイズが０．５μｍ以上である欠陥を検査することを特徴とする。 - 特許庁

To provide an inspection device for an electronic part, capable of performing inspection and classification required for electronic parts without any increase in size of a turntable for conveying electronic parts and lowering of throughput, and attaching a post-processing means for the electronic parts.例文帳に追加

電子部品を搬送するためのターンテーブルを大型化したり処理能力を落とすことなく、電子部品として必要な検査および分類を行なうことができ、さらに電子部品の後処理手段も付加することができる電子部品の検査装置を得る。 - 特許庁

In particular, it is necessary to conduct a review of the inspection criteria for small and medium-size financial institutions that help to preserve local communities. The review should be made in ways that best match actual circumstances, which is also true to that the review of the inspection criteria for Japan Post Bank and Japan Post Insurance. 例文帳に追加

一つは、ゆうちょ（銀行）、かんぽ（生命保険）に対する検査、監督のあり方と併せて、やはりそうした、特に地域経済を守っている中小の金融機関に対する検査のあり方は、実態に合った形で手直しをする必要があると。 - 金融庁

While a cylindrical thermoplastic resin having a thickness of 10-100 μm and a size of 80-800 μm is used as a mark material for inspection, the mark material for inspection is approached to a hot plate 2 to melt one surface of the resin 1, and the mark material having a melted surface for inspection is stuck to a defective chip of the wafer 3.例文帳に追加

本発明の検査用マーク素材として厚さ１０〜１００μｍ、大きさ８０〜８００μｍ程度の円筒状をした熱可塑性樹脂を用いて、この検査用マーク素材を熱版２に近づけて樹脂１の片側表面を溶融させ、表面を溶融させた検査用マーク素材をウエハ３の不良チップの上に貼付ける。 - 特許庁

Thereby, accuracy for specifying position and size of a defect section can be enhanced regardless of recording capability of the recording medium, and it becomes possible to largely shorten the defect inspection time.例文帳に追加

これにより、記録媒体の記録能力とは無関係に欠陥部分の位置や大きさの特定精度を高めることができ、かつ、欠陥検査時間の大幅な短縮化が可能となる。 - 特許庁

To provide an inspection system stage capable of increasing the size of a supported medium plate and decreasing the sizes of a granite base plate and a gantry as to a test or repair platform.例文帳に追加

試験または修理プラットフォームにおいて、支持される媒体プレートのサイズを大きくでき、岩花崗岩ベース・プレートとガントリのサイズを縮小できる検査システム・ステージを提供すること。 - 特許庁

To provide a magnetic shield room for a magnetic resonance imaging device in which the openess of the wall surfaces of the magnetic shield room is achieved and the limitations of the size and installation position of an inspection window and a gateway are reduced.例文帳に追加

磁気シールドルームの壁面が開放的であり、検査窓や出入り口の大きさや設置位置の制限を低減できる磁気共鳴イメージング装置用の磁気シールドルームを実現する。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus which addresses size reduction of a terminal of an object to be inspected and sufficiently ensures electrical connection to the object to be inspected and internal electrical connection.例文帳に追加

検査対象の端子の狭小化に対応しつつ、検査対象との電気的接続および内部における電気的接続を充分確保可能な検査装置を実現する。 - 特許庁

At an evaluation value calculation part 15, an evaluation value is calculated from pixel information in a circular or ellipsoidal processing region that is predetermined as having a size less than that of an inspection target.例文帳に追加

評価値算出部１５では、検査対象物以下のサイズとしてあらかじめ決定された円または楕円の処理領域内の画素情報から評価値が算出される。 - 特許庁

This manufacturing method has a thin film forming process of forming a lamination film constituting the thin film magnetic head on a substrate, and an inspection process of measuring the size of a predetermined portion of the lamination film.例文帳に追加

薄膜磁気ヘッドを構成する積層膜を基板上に形成する膜形成工程と、積層膜の予め定めた箇所についての寸法を計測する検査工程とを有する。 - 特許庁

To provide an instrument for inspecting a light reflecting object, the same usage and inspection method, capable of examining the light reflecting object, regardless of its size, e.g. a hologram.例文帳に追加

例えば、ホログラムのような光反射体について、その大きさにかかわらず、検査することができる光反射体検査装置とその使用方法、光反射体検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus of a through hole capable of determining whether the size (diameter, area, or the like) or the number of through holes formed at an object to be measured is appropriate by a simple configuration.例文帳に追加

簡易な構成で被測定物に開けられた貫通孔の大きさ（直径や面積等）又は個数の良否を判定することができる貫通孔の検査装置を提供する。 - 特許庁

To inspect a RAM without sacrificing operation speed and to generate timing for inspection being suitable for memory size, in a semiconductor integrated circuit incorporating a RAM.例文帳に追加

ＲＡＭを内蔵した半導体集積回路において、動作速度を犠牲にすることなくＲＡＭの検査を可能にすると共に、メモリサイズに適した検査用タイミングを生成する。 - 特許庁

To surely deliver a large quantity of golf balls by one piece each in a short period of time, to dispense with a small size and a smaller floor area and to make maintenance and inspection easy and handing excellent.例文帳に追加

短時間で大量のゴルフボールを１個毎に確実に送出処理でき、また小型で設置面積も小さくて済み、保守、点検も容易で取扱いに優れたものとする。 - 特許庁

To provide a method and a device for surface inspection, for accurately inspecting an object to be inspected by improving the measuring accuracy regardless of the large or small size of the object to be inspected.例文帳に追加

被検査物の形状の大小に拘わらず測定精度を向上させて被検査物を正確に検査することのできる表面検査方法および表面検査装置を提供する。 - 特許庁

Accordingly, without increasing the chip size, the number of scan chains at the inspection time can be increased by increasing the number of needle applicable pads, thus realizing the shortening of the test time.例文帳に追加

このため、チップサイズの増加なしで、針当て実施可能なパッド数を増やして検査時のスキャンチェーン数を増やすことができるのでテスト時間の短縮を実現することが可能である。 - 特許庁

To provide an ultrasonic inspection device that is reduced in size by using laser light, prevents degradation and deformation of an object to be inspected, and properly inspects in a wide range.例文帳に追加

レーザ光を用いて装置の小型化を図るとともに被検体の劣化、変形を防止し、かつ、広範囲に良好な検査を行いない得る超音波検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device which travels through a liquid metal, such as liquid sodium, has small size and high power and is superior in maitenability, and to provide its carry-in equipment.例文帳に追加

液体ナトリウムなどの液体金属中を航行する検査装置であって、しかも小型で高出力、且つ、メンテナンス性に優れた検査装置及びその搬入装置を提供する。 - 特許庁

Those LED packages 10 are separated into a plurality of LED package groups, for example, for every group supplied with a current of the same size, on the inspection substrate 4.例文帳に追加

また、これら複数のＬＥＤパッケージ１０は、検査用基板４上において、例えば同じ大きさの電流が流されるグループごとに、複数のＬＥＤパッケージ群に分けられる。 - 特許庁

Since adjustment of an optical system or fine correction by signal processing becomes possible, positional accuracy of defect inspection and accuracy of defect level (defect size) can be improved.例文帳に追加

本発明により、光学系の調整や信号処理による微細な補正が可能になるため、欠陥検出の位置精度および欠陥強度（欠陥寸法）の精度を向上させることができる。 - 特許庁

A control unit 14 specifies the non-inspection region being the region on the semiconductor pattern corresponding to the joint on the basis of the field size and the width of the joint received by the input unit 12.例文帳に追加

制御部１４は、入力部１２が受け付けたフィールドサイズおよび継ぎ目の幅に基づいて、その継ぎ目に相当する半導体パターン上の領域である非検査領域を特定する。 - 特許庁

The lighting inspection device 100 of a display panel has a weight detecting part 140 detecting a size of the display panel 103 or a thickness of the substrate provided in connection with a panel retention part 111.例文帳に追加

ディスプレイパネルの点灯検査装置１００は、ディスプレイパネル１０３のサイズまたは基板の厚みを検出する重量検出部１４０が、パネル保持部１１１に接続され設けられている。 - 特許庁

To provide a cut size inspection apparatus which inspects the length of a book in a transfer direction with high precision and does not cause quality defects such as scratches and abrasions in the book.例文帳に追加

本の搬送方向の長さを高精度に検査することが可能で、本へのキズやコスレといった品質不良を引き起こさない断裁寸法検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a multilayer ceramic substrate for an electronic component inspection fixture which is adaptive to microfabrication of electrode terminals of an electronic component and upsizing of an electronic component assembly and has high size precision and high strength.例文帳に追加

電子部品の電極端子の微細化および電子部品集合体の大型化に対応可能な高寸法精度、高強度の電子部品検査治具用多層セラミック基板を得る。 - 特許庁

To provide a fire alarm which is simply installed and easily handled in such as inspection and can guarantee a battery life of at least five years or more by using a battery whose capacity is reasonable in size and cost.例文帳に追加

取り付けが簡単で点検などの取り扱いも容易であり、小型化とコストを満足する容量のバッテリーの使用で、少なくと５年以上のバッテリー寿命を保証する。 - 特許庁

To diminish a size of an inspection region, and vanish a waste time owing to transferring a carriage as much as possible in a nozzle check device of a liquid-ejecting apparatus such as an inkjet printer.例文帳に追加

インクジェットプリンタなどの液体吐出装置のノズルチェック装置において、その検査領域のサイズを縮小すると共にキャリッジの移動に起因する無駄時間を極力無くす。 - 特許庁

To provide a disaster preventive monitor and control board equipped with an opening/closing structure for a small door which facilitates switch operation and eliminates the need to make a board main body large in size even when switches provided in an operation display part for maintenance inspection increase.例文帳に追加

保守点検用の操作表示部に設けるスイッチが増加してもスイッチ操作が容易で盤本体を大型化することのない小扉の開閉構造とする。 - 特許庁

To provide a structure inspection method or the like capable of more accurately obtaining the size and the shape of a pattern with a regular structure depending on the measurement result of diffracted light obtained by making light incident onto the pattern and diffracting the light therein.例文帳に追加

規則的な構造を有するパターンに光を入射し、回折して得られる回折光の測定結果から、より正確にパターンの寸法や形状の評価を行う。 - 特許庁

To provide an ultrasonic inspection apparatus for improving the movement accuracy and speed stability of an ultrasonic accurate positioning apparatus, and for reducing the size and weight of the ultrasonic accurate positioning apparatus.例文帳に追加

超音波精密位置決め装置の移動精度及び速度安定性を高めると共に、超音波精密位置決め装置の小型、軽量化を図った超音波検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display adaptable to narrow pitches between bumps of a recent driver LSI without reducing the size of a conductive pattern, and to provide its inspection method.例文帳に追加

導電性パターン部を小さくすることなく、近年のドライバーＬＳＩのバンプ間の狭ピッチ化に対応可能な液晶表示装置およびその検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a particle size distribution measuring device capable of preparing a sample quickly and accurately by monitoring simultaneously and precisely a transmittance of inspection light belonging to a different wavelength band.例文帳に追加

異なる波長帯域に属する検査光の透過率を同時且つ的確にモニターして、素早く正確に試料調整できるようにした粒子径分布測定装置を提供する。 - 特許庁

To obtain the structure of a probe card, which can make inspection, even when the arranging pattern of pads or the size of a chip is changed and a device and method for inspecting semiconductor device using the probe card.例文帳に追加

パッドの配置パターンやチップサイズが変更された場合でも検査可能なプローブカードの構造、及び該プローブカードを用いた半導体装置の検査装置及び検査方法を得る。 - 特許庁

The exposure mask is provided with a design pattern 3 which forms an actual device and a monitor pattern which possesses a defect having the smallest defect size exceeding a permissible range and further a defect detectable by a defect inspection apparatus and having the defect size within the permissible range together with the design pattern.例文帳に追加

露光マスクに、実デバイス形成用の設計パタン３と共に、許容範囲を越える最小の欠陥サイズを有する欠陥、さらには欠陥検査装置による検出が可能でかつ許容範囲内の欠陥サイズを有する欠陥を備えたモニタパタンとを設ける。 - 特許庁

The particle for inspection is an aggregate particle of primary solid particles of an average particle size of 20 nm or smaller and composed of an aggregate particle of a particle size of 0.05 μm or larger and an aspect ratio (major axis length/minor axis length) of 1.0-1.4.例文帳に追加

平均粒子径が２０ｎｍ以下の固体の１次粒子から構成された凝集体粒子であって、粒子径が０．０５μｍ以上、長短度（長軸長／短軸長）が１．０〜１．４である凝集体粒子から成るエアフィルター検査用粒子である。 - 特許庁

The WWW browser 203 of a client 20 sends a download request for the download file 103 to the WWW server 10, and when the download file 103 is received, a download file confirming part 201 separates it into the download object file 102 and the download inspection data, compares a file size of the download object file 102 with a file size in the download inspection data, and notifies a WWW.例文帳に追加

クライアント２０のＷＷＷブラウザ２０３は、ＷＷＷサーバ１０にダウンロード用ファイル１０３のダウンロード要求を送信し、受信すると、ダウンロードファイル確認部２０１がダウンロード対象ファイル１０２と、ダウンロード用検査データとに分離し、ダウンロード用検査データ内のファイルサイズと、ダウンロード対象ファイル１０２のファイルサイズとの比較を行い、ＷＷＷに通知する。 - 特許庁

The maximum particle size of the inclusion present on the inspection reference area of the metal sample is measured on the basis of the result due to emission spectral analysis and statistical processing based or an extreme value statistical method is performed using the maximum particle size to measure the estimated maximum particle size of the inclusion present on an area for performing the estimation of the metal sample.例文帳に追加

この発光分光分析による結果に基づいて、金属試料の検査基準面積に存在する介在物の最大粒径を測定し、この最大粒径を用いて極値統計法に基づく統計処理を行うことにより、金属試料の予測を行う面積に存在する介在物の推定最大粒径を測定する。 - 特許庁

The host apparatus 100 adds page information to size-complemented page printing data obtained by size-complementing page printing data to a preset size by padding processing, and then inserts CRC inspecting data in each prescribed block data unit and transmits CRC inspection corresponding printing data 116 whose data abnormality can be inspected by a printer 200 to the printer 200.例文帳に追加

ホスト装置１００は、ページ印刷データをパディング処理にて予め設定したサイズにサイズ補完したサイズ補完ページ印刷データにページ情報を付加したのち、所定のブロックデータ単位ごとにＣＲＣ検査用データを挿入付加して、プリンタ２００にてデータ異常の検査が可能なＣＲＣ検査対応印刷データ１１６をプリンタ２００にデータ送信する。 - 特許庁

Then the inspection method applies processing such as inversion or rotation to the partial images so as to unchange the image size and thereafter applies processing such as averaging to the partial images to produce a reference image, and respectively generates inspection images equivalent to differences between the reference image and the plurality of partial images.例文帳に追加

そして、これら部分画像に対し、画像サイズが変わらないように反転、回転等の処理を施してから、これら部分画像を例えば平均化して基準画像を生成後、複数の部分画像に対し、基準画像との差分に相当する検査画像をそれぞれ生成する。 - 特許庁

To provide an apparatus for detailed observation of defects detected by an optical defect inspection apparatus or by an optical visual inspection apparatus capable of placing a defect to be observed into the field of view of an electronic microscope or the like, without fail, and reducing the size of the apparatus.例文帳に追加

光学式欠陥検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を電子顕微鏡等で詳細に観察する装置において、観察対象の欠陥を確実に電子顕微鏡等の視野内に入れることができ、かつ装置規模を小さくできる装置を提供する。 - 特許庁