「Size Inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a display device including an inspection circuit for disconnection etc. forming a thin film transistor for inspection with a sufficiently large size in a limited space.例文帳に追加

制約されたスペースで、検査用薄膜トランジスタを充分大きなサイズで形成し得る断線等検査回路を備える表示装置を提供する。 - 特許庁

To provide a welding electrode inspection device having a simple constitution, achieving a low cost and a small size, and a welding electrode inspection method using the same.例文帳に追加

簡易な構成で、低コスト化、小型化を実現した溶接電極検査装置及びこれを用いた溶接電極検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a developing blade inspection method and the inspection apparatus for efficiently and accurately determining the size of ruggedness on the surface of a developing blade.例文帳に追加

現像ブレード表面の凹凸の大小を効率的に、かつ、精度よく判定することのできる現像ブレードの検査方法とその装置を提供する。 - 特許庁

To provide a macro inspection apparatus for a sample such as a semiconductor wafer having a pattern formed therein, the macro inspection apparatus being capable of detecting abnormalities in dimension and size with high sensitivity.例文帳に追加

半導体ウェハなどのパターンが形成された試料のマクロ検査装置において、寸法・形状の異常を高感度で検出可能にする。 - 特許庁

To provide an inspection port structure of a bathroom floor for securing the sufficient size of an inspection port even if the height of the bathroom floor is low.例文帳に追加

浴室用フロアの高さが低くなっても、点検口の大きさを十分に確保することができる浴室用フロアの点検口構造を提供すること。 - 特許庁

To provide a visual inspection method of a semiconductor chip having high inspection accuracy regardless of size dispersion or positional deviation in manufacture of an electrode portion or a mesa-etched portion, in visual inspection of the semiconductor chip.例文帳に追加

半導体チップの外観検査において、電極部やメサエッチ部の製造上の大きさのばらつきや位置ずれに拘わらず、検査精度の高い半導体チップの外観検査方法を提供する。 - 特許庁

Since the inspection holes 7 have the same shape and size and are arranged at the equal intervals p in vertical and lateral directions, the pressure of the concrete is applied to each of the inspection holes 7 whereby correct inspection results can be obtained.例文帳に追加

各点検孔７が同形同寸法であり、かつ上下左右等間隔ｐに配置することにより、コンクリートの圧力が各点検孔７に加わるので、正確な点検結果が得られる。 - 特許庁

The inspection pad TP is formed into small area of 5-10 square μm, while the inspection bump TB is formed in a size suitable for inspection with an EDS probe 15.例文帳に追加

検査用パッドＴＰは、５μｍ角〜１０μｍ角の小面積に形成されているのに対して、検査用バンプＴＢは、ＥＤＳプローブ１５による検査が良好に行える大きさに形成されている。 - 特許庁

Further, the size of the vibrator 14 is held to the size almost same to that of a conventional vibrator turned in a single direction to reduce an inspection impossible region.例文帳に追加

また、振動子１４の大きさを、従来の単一の方向を向いた振動子と略同じ大きさに維持し、これにより検査不能領域を小さくする。 - 特許庁

The inspection unit blocks are all the same size and area, and their size is determined so it can be covered by performance of defect inspecting devices used in a manufacturing line of the device.例文帳に追加

また、検査単位ブロックは全て同じ寸法面積で、その大きさはデバイスの製造ラインで使用される欠陥検査装置の性能が及ぶ程度にされる。 - 特許庁

To provide the holding jig for inspection of a glass substrate capable of easily inspecting the glass substrate having a larger size than the size of a fifth generation mother glass.例文帳に追加

第５世代のマザーガラスの大きさ以上の大きさを有するガラス基板を容易に検査することのできるガラス基板の検査用保持冶具を提供する。 - 特許庁

An image processing section 24 determines whether a defect exists, whose size allows to make a defect decision by visual inspection, based on information representing the size of the defect.例文帳に追加

画像処理部２４は、欠陥の大きさを示す情報に基づいて、目視によって欠陥の判断が可能な大きさの欠陥があるかどうかを判断する。 - 特許庁

Since the beam size is several ten micrometers by several millimeters, a micro-flaw with the size in the degree of several ten micrometers existing on a large inspection object can be detected at high speed.例文帳に追加

さらにビームサイズが数十μm×数mmであることから、大きな被検査物に存在する数十μm程度の微小傷を高速で検知できる。 - 特許庁

To provide a cap inspection apparatus easily responding even when the size of a container to be inspected is varied.例文帳に追加

検査対象の容器の大きさが異なる場合でも容易に対応可能なキャップ検査装置を提供する。 - 特許庁

To quickly apply marking for a defect portion on an inspection object, and to reduce the size of a device.例文帳に追加

検査対象物上の欠陥箇所に対するマーキングを迅速に行うとともに、装置の小型化を図る。 - 特許庁

To provide a non-destructive inspection device constituted so as to arbitrarily select the size of an apparatus and the easiness to see of a result display.例文帳に追加

装置の大きさと結果表示の見易さを任意に選択できる非破壊検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a substrate-inspecting device achieving size reduction and enabling high-accuracy inspection for defects on a target substrate with high efficiency.例文帳に追加

小型化を実現できるとともに、被検査基板に対し精度の高い欠陥検査を効率よく行なうこと。 - 特許庁

To provide an inspection method for inspecting a part (10), which executes both of dynamic convergence and dynamic aperture size prescription.例文帳に追加

動的集束と、動的アパーチャサイズ規定の双方を実行し、部品（１０）を検査する検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a lighting system for inspection capable of reducing a size while securing an advantage in a cost.例文帳に追加

コスト面において有利にしながらも、小型化を図ることができる検査用照明装置を提供する点にある。 - 特許庁

To provide a crankshaft direct-coupled rotating electric machine for vehicle capable of attaining easy inspection, repair and replacement and reductions in size and weight.例文帳に追加

点検修理や交換で小型軽量なクランク軸直結式車両用回転電機を提供すること。 - 特許庁

To perform size and shape measurement and inspection by displaying overall pickup images of workpieces in a focused state.例文帳に追加

加工物等の全体撮像画像を合焦状態で表示して寸法形状測定および検査を行う。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus capable of reducing or avoiding error input of data on the size of articles to be inspected.例文帳に追加

検査対象物品の寸法に関するデータの誤入力を低減又は回避し得る検査装置を得る。 - 特許庁

To provide an inspection method for foreign matter and a device capable of detecting fine foreign matter on the surface, even if a sheet-shaped inspection object has a large width size or comprises a non-translucent material, and of preventing dispersion of a detection sensitivity or a detection minimum size in the width direction of the inspection object.例文帳に追加

シート状の被検査物について、幅寸法が大きかったり、材質が非透光性であっても、表面の微小異物の検出が可能で、また被検査物幅方向における検出感度や検出最小サイズがばらつかない異物検査方法、装置を提供する。 - 特許庁

This inspection device is equipped with plural simple visual inspection means 2, 3 equipped with magnifying lenses having different imaging powers, according to the size of loaded parts on the board 4 to be inspected, and a general control means for selecting and controlling the optimum visual inspection means for imaging the size of the loaded parts on the board to be inspected.例文帳に追加

被検査基板４の搭載部品のサイズに合わせて、異なる撮像倍率の拡大レンズを具備した複数台のシンプルな目視検査手段２、３と、被検査基板の搭載部品のサイズの撮像に最適な目視検査手段を選択制御する統括制御手段１とを備えた。 - 特許庁

To provide an airtight inspection apparatus and an airtight inspection method for performing an airtight inspection by blocking the opening of an object easily and reliably without increasing the size of the apparatus and installation costs.例文帳に追加

装置の大型化や設備コストの増大を伴うことなく、対象物の開口部を容易かつ確実に閉塞して気密検査を行うことが可能な気密検査装置および気密検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method of a color irregularity flaw for inspecting color irregularity with high precision regardless of the shape or size of color irregularity, and an inspection device of the color irregularity flaw.例文帳に追加

本発明の課題は、色ムラの形状や大きさに関係なく高精度に色ムラを検査する色ムラ欠陥検査方法および装置を提供することである。 - 特許庁

To provide a review station and a visual inspection device, wherein the increase in size of the entire inspection device that follows increase in diameter of a wafer is prevented, while the drop in staging accuracy is prevented.例文帳に追加

ウェハの大径化に伴う検査装置全体のサイズの巨大化を防ぐと共にステージ精度の低下を防ぐレビューステーション及び外観検査装置を提供する。 - 特許庁

Further, the X-ray inspection is carried out for the inspection coupon comprising the dedicated conductor and lands, so the shape and size of the lands can be freely designed.例文帳に追加

しかもＸ線検査は専用の導電体とランドからなる検査クーポンに対して行うものであるので、ランドの形状や大きさは自由に設計することができる。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for inspection of an image reading apparatus, capable of achieving a sensitive color deviation measurement without making a size of a device larger, more complicate, and an inefficiency of an inspection time by scanning.例文帳に追加

装置の大型化や複雑化、スキャンによる検査時間の非効率化がなく、精度良い色ズレ測定を可能とする画像読取装置の検査方法および装置。 - 特許庁

To provide an ultrasonic inspection method capable of accurately detecting the size of a defect in an inspection section near a fillet weld region of an object to be inspected.例文帳に追加

被検査体のスミ肉溶接部の近傍の検査部位に対して、精度良く欠陥の大きさを検出することができる超音波検査方法を提供することである。 - 特許庁

To provide a leakage inspection method and a leakage inspection device which are highly reliable, and enable reliable detection of leakage from a gap having a size which is difficult to confirm by the eye.例文帳に追加

目視では確認しづらい寸法の隙間からのリークを確実に発見できる信頼性の高い容器のリーク検査方法とリーク検査装置を提供しようとする。 - 特許庁

To provide a device and method for defect inspection, capable of ensuring the size of an image block processable by a PE (Processor Element) used in image processing in defect inspection.例文帳に追加

欠陥検査の画像処理に用いるＰＥの処理可能な画像ブロックのサイズを確保することができる欠陥検査装置および欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

Local positional deviation or size dispersion carried by the prescribed LED chip 10 to be inspected is reflected to the inspection pattern, to thereby heighten visual inspection accuracy.例文帳に追加

検査パターンは、検査すべき所定のＬＥＤチップ１０が有する局所的な位置ずれや大きさのばらつきが反映されたものとなり、外観検査精度が高められる。 - 特許庁

To provide an inexpensive wafer surface inspection method and wafer surface inspection device capable of measuring accurately a size of a foreign matter particle in a short measuring time.例文帳に追加

異物粒子の大きさが正確に測定できて、しかも測定時間が短く、低価格のウェーハ表面検査方法及びウェーハ表面検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an exposure mask, an inspection method for an exposure mask and an inspection device for an exposure mask capable of estimating a size of foreign matter on an exposure mask with high accuracy.例文帳に追加

露光用マスク上の異物の大きさを精度良く推定することができる露光用マスク、露光用マスクの検査方法、及び露光用マスクの検査装置を提供すること。 - 特許庁

To reduce the size of a visual examination device as a whole and to inspect the inside and outside of an inspection target in a short time in the case that the inside and outside of the inspection target are inspected.例文帳に追加

外部検査装置全体を小さくするとともに、検査対象物の表裏を検査する場合に、短時間で検査対象物の表裏検査ができるようにする。 - 特許庁

This wire harness outward appearance inspection device has a touch screen 13 placed on a full-size drawing 11 wherein a harness full-size drawing 11b is displayed in the outward appearance inspecting process of a wire harness.例文帳に追加

ワイヤハーネスの外観検査工程でハーネス原寸図１１ｂを表示する原寸図面１１の上にタッチスクリーン１３を載せるワイヤハーネス外観検査装置を使用している。 - 特許庁

To stably manufacture a semiconductor device by measuring the size of a gate electrode on the activation region of a circuit pattern or a QC pattern, with high accuracy in a size inspection stage.例文帳に追加

寸法検査工程において、回路パターンまたはＱＣパターンの活性化領域上のゲート電極寸法を高精度に計測し、半導体装置を安定して製造する。 - 特許庁

To easily perform setting input of a product size or the seal width of a sealed part of an inspection object using a non-transparent packed article.例文帳に追加

非透明の包装物を用いた被検査物の製品サイズやシール部のシール幅の設定入力を容易に行う。 - 特許庁

A plurality of partial domains BLK^(1), BLK^(2), etc, BLK^(m) having each different size are extracted from an inspection image IMG.例文帳に追加

検査画像ＩＭＧから、大きさの異なる複数の部分領域ＢＬＫ^（１），ＢＬＫ^（２），・・・，ＢＬＫ^（ｍ）を抽出する。 - 特許庁

To provide a marking apparatus for efficiently marking defective parts after the inspection with respect to substrates having various size.例文帳に追加

多様なサイズのサブストレート基板に対して検査後に不良箇所に効率良くマーキングできるマーキング装置を提供する。 - 特許庁

To shorten an inspection time by detecting the presence of a deep machining mark to estimate the position and size thereof.例文帳に追加

深い機械加工痕の有無を検出し、また、その位置、大きさを推定可能とし、以って、検査時間を短縮可能とする。 - 特許庁

To reduce cost and save space by dispensing with components for inspection, thereby reducing the size of a unit.例文帳に追加

検出用の特別な部品を不要としてコストダウンを可能にするとともに、省スペース化も可能にしてユニットを小型化する。 - 特許庁

To provide an inspection method and an inspection device for continuously non-contact-inspecting twist, short circuit, and break of each conductor strand directly before a laminate tape covering process of a tape electric wire, and surely conduct quality assurance of a constant size or long size tape electric wire.例文帳に追加

テープ電線のラミネートテープ被覆工程直前において各導体素線のねじれ、短絡、断線を連続して非接触検査し、定寸又は長尺のテープ電線の品質保証が確実に実施できる検査方法と検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a visual inspection device and a visual inspection method for electronic component capable of reducing the size (saving space) of a facility and inspecting the outline of an electronic component more accurately.例文帳に追加

設備サイズを小型化（省スペース）が可能であり、かつ、より正確に電子部品の最外形を検査することができる電子部品の外観検査装置および外観検査方法を提供する。 - 特許庁