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「Size Inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索
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Size Inspectionの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 408



例文

To enable inspection with reduced influence of vibration that supports size increase of an object, in an image capturing device in which a deflection part for deflecting the light from an object, in a substantially horizontal direction and an imaging part for receiving the deflected light are supported horizontally.例文帳に追加

被検体からの光を略水平方向に偏向する偏向部と偏向された光を受光する撮像部とが水平支持された画像取込装置において、被検体の大型化に対応し、振動の影響を低減した検査を行うことができるようにする。 - 特許庁

On the basis of an examination result, beam irradiating conditions (for example, beam scanning position, scanning steps, and beam size) are determined, with suppression or the like of a charge-up taken into consideration, and inspection using the SIM or the SEM is carried out by using the determined beam irradiating conditions.例文帳に追加

次いで、この調べた結果をもとに、必要な解像度、チャージアップの抑制等を考慮してビーム照射条件(例えば、ビーム走査位置、走査ステップ、ビームサイズ)を決定し、この決定したビーム照射条件を用いてSIMまたはSEMを用いた検査を行なう。 - 特許庁

Disclosed are: a competitive immunological assay method in which an antigen is immobilized on micro-beads and the size (volume) of a micro-chamber that is a reaction field and the total volume of the micro-beads that are maintained in the micro-chamber are kept in a fixed range; and an inspection disc used in this method.例文帳に追加

抗原をマイクロビーズに固定化し、反応場であるマイクロチャンバーのサイズ(容積)と、該マイクロチャンバーに保持される前記マイクロビーズの総体積を一定の範囲にする競合的免疫学的検定法、およびその方法に使用する検査ディスクを提供する。 - 特許庁

To provide a method and system for manufacturing a semiconductor device, wherein resist size and shape variances caused by exposure process variation are reduced without performing inspection operation in advance in exposure processing for manufacture of the semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイスの製造の露光処理において、事前の点検作業を行うことなく露光プロセス変動によって発生するレジスト寸法および形状ばらつきを低減することができる半導体デバイスの製造方法およびその製造システムを提供する。 - 特許庁

例文

This tool 20 for inspection used for failure diagnosis of a solar cell module 10, 10a having a plurality of solar cells 11 includes a transparent substrate 21 of a size capable of covering the solar cells of inspection objects of the solar cell module, and is characterized in that the transparent substrate includes a plurality of bandpass filters 22 on a predetermined wavelength range basis which is arranged to the arrangement of the solar cells.例文帳に追加

太陽電池セル11を複数有する太陽電池モジュール10、10aの故障診断に用いる検査用治具20であって、 前記太陽電池モジュールの被検査対象の前記太陽電池セルを覆うことができる大きさの透明基板21を有し、 該透明基板は、前記太陽電池セルの配列に合わせて配置された、所定の波長範囲別の複数のバンドパスフィルター22を有することを特徴とする。 - 特許庁


例文

In inspecting the reactor pressure vessel (hereinafter referred to as RPV) or an internal structure attached to the RPV, nondestructive inspection is made from two directions including from the inside of the RPV (inside the reactor) and the outside of the RPV (outside the reactor) to determine whether a fault is present, or to measure a size or a range of the fault.例文帳に追加

原子炉圧力容器(以下RPV)もしくはRPVに付帯する内部構造物の検査において、RPV内側(炉内)からとRPV外側(炉外)からの2方向より非破壊検査を行い、欠陥の有無を判定する、もしくは欠陥の寸法又は範囲を測定する検査手法。 - 特許庁

To provide a relaying substrate that is particularly suitable for interposer for CSP(Chip Size Package) which can use junction by ultrasonic wave junction (USB) and solder paste without use of BGA and enable external inspection of the junction area after mounting to external substrate without excessive enlargement for semiconductor element.例文帳に追加

BGAを利用することなく、超音波接合(USB)やハンダペーストによる接合を利用でき、しかも半導体素子に対して過度に大きくならず、外部基板へ実装した後で接合部の外観検査が可能な、CSP用インターポーザに特に適した中継基板を提供する。 - 特許庁

To provide an actuator device facilitating assembling, maintenance and inspection, and control, having a compact size excellent silence, operating a member to be operated at a high speed, and manually operating the member to be operated like a door, for example, easily and freely even in use.例文帳に追加

組み立てや保守点検や制御が容易であり、コンパクトで静粛性に優れているとともに被操作部材を操作する速度が早く、さらに使用中でも例えば扉のような被操作部材を手動により容易に自由に操作することが可能なアクチュエータ装置を提供することである。 - 特許庁

To provide an endoscopic apparatus which is capable of reducing the operator's fatigue on inspection by the reduction in the size and weight of a control section and is capable of improving insertability by enabling the operator to vary hardness without detaching the hand clamping an insertion portion.例文帳に追加

本発明は、操作部の小型軽量化により操作者の検査疲労を低減するとともに、操作者が挿入部を把持する手を離さずに硬度可変を行えるようにして挿入性の向上を図ることのできる内視鏡装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

例文

At this time, the artificial defect 200 is set to a size capable of surely reflecting the ultrasonic beam B, so that even if an inspection object 100 is the weld part 101 of stainless steel by which the ultrasonic beam B is apt to be scattered or deflected, the reflected wave can be surely caught to generate the driving electric signal S3.例文帳に追加

このとき、人工欠陥200は、超音波ビームBが確実に反射する大きさとし、検査対象物100が、超音波ビームBが散乱、屈折しやすいステンレスの溶接部101であっても、反射波Rを確実に捉え、駆動用電気信号S3を生成できるようにした。 - 特許庁

例文

To realize reduction of an electric wiring area in a PLC (Planar Lightwave Circuit) substrate, reduction of a module size by dispensing with IC mounting substrate, reduction of the number of wire bonding lines between the PLC substrate and an electronic circuit board and simplification of an inspection process in an optical module for controlling output characteristics with electricity.例文帳に追加

電気で出力特性を制御する光モジュールにおいて、PLC基板内の電気配線の面積の低減、IC実装基板が不要になることによる、モジュールサイズの低減、PLC基板と電子回路基板との間のワイヤボンディング本数の低減、検査工程の簡略化を実現する。 - 特許庁

In an optical information recording medium 1 for inspection having a substrate 2 with a guide groove formed concentrically circularly with respect to a rotation center and capable of optically recording information, periodical waviness whose size changes radially with respect to the rotation center is applied to the guide groove.例文帳に追加

案内溝が回転中心に対して同心円状又は螺旋状に形成された基板2を有し、情報を光学的に記録可能な検査用光情報記録媒体1において、前記案内溝に回転中心に対する半径方向で大きさが変化している周期的うねりを加える。 - 特許庁

This device is equipped with an LED1 outputting monochromatic light, a pinhole 2 provided with a hole of nearly the same size as a component dot of an image shown by information recorded on a CGH3, a slot 12 formed in a housing so that an optical card 10 may be inserted, and an inspection hole 11 for viewing a virtual image.例文帳に追加

単色光を出力するLED1と、CGH3に記録された情報の示す像の構成ドットとほぼ同じ大きさの孔が設けられたピンホール2と、光カード10を挿入するために筐体に設けられたスロット12と、虚像を見るための覗き孔11とを備えている。 - 特許庁

To frame and constitute inner frame bodies by inner-frame corner tools from the outsides of the foundation sections of longitudinal and lateral each inner frame material while the trouble of an increase in size more than required in outer frame bodies and the lengthening of the overhanging of the outer overhanging edge of the inner frame bodies is prevented in a ceiling inspection-port.例文帳に追加

天井点検口において、縦横の各内枠材の基壁部の外側から内枠コ−ナ具によって内枠体を容易に枠組み構成すると共に、外枠体が必要以上に大型化したり、あるいは、内枠体の外張出縁の張り出しが長くなる不具合を防止する。 - 特許庁

To provide a temperature-indicating tape usable simply for maintenance or inspection of an especially length-type article, such as, a wire, a cable or a liquid transportation pipe, and to provide a utilization method thereof, whereas a conventional temperature-indicating tape, having only a label type is difficult to be used continuously for a large-size cable, a pipe or the like.例文帳に追加

ラベルタイプしかなかった示温材は大サイズのケーブルやパイプ等へは連続的に使うことが困難であったので、本発明の目的は、電線・ケーブル、液輸送パイプ等の特に長尺タイプのものの保守、点検に対し簡単に使える示温テープおよびその使用方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scale tape used to take pictures of a construction status of reinforcement work under construction which simplifies a confirmation procedure of reinforcing steel intervals during inspection by only displaying a reference interval and size of reinforcing steels contrasted with conventional measuring tapes.例文帳に追加

工事中における鉄筋工事の施工状況の写真撮影時に使用するもので、従来の巻き尺と違い、基準となる鉄筋の間隔と寸法だけを表示することで、検査時の鉄筋間隔の確認を簡略化することを目的とした測定器具に関するものである。 - 特許庁

An argon laser beam which is inspection light is emitted from a light source 11 existing in the lowermost part and is cast to an object 15 to be inspected through an AOM(Acoustic-Optic-Modulation) 13 having a function for scanning with the laser beam and an optical system constitution element 14 having a pixel size changeover section, an objective lens, etc.例文帳に追加

検査光であるアルゴンレーザー光は最下部にある光源11から出射され、レーザー光を走査する機能を有するAOM(Acoustic-Optic-Modulation)13、ピクセルサイズ切り換え部、対物レンズ等を有する光学系構成要素14を通過し、被検査体15に照射される。 - 特許庁

To provide an airtight sealing inspection method which can be applied to any gap in vacuum airtightness, atmospheric airtightness, and pressurized airtightness regardless of the size of an object to be inspected and the presence of heat resistance, allows measurement in a short time to the second, and can be easily incorporated into a production line.例文帳に追加

真空気密、大気圧気密、加圧気密の何れの間隙部でも、又、被検査物の大小、熱に対する耐久性の有無に関係なく適用することができ、更に秒単位の短時間で測定でき、生産ラインにも簡単に組み込むことができる密封封止検査方法を提供すること。 - 特許庁

The historical defect list 8 is created for each wafer 1 and comprises a coordinates position, the number of detects, size, a cluster information, an index information of an image capturing, and the like of each defects for every inspection processes 31, 32, etc., and 3N, and every information in relation to the defects of the wafer.例文帳に追加

この欠陥来歴リスト8は、ウエハ1毎に作成され、各検査工程3_1,3_2,……,3_N毎に分けて夫々の欠陥の座標位置や検出数,大きさ,クラスタ情報,画像取得のインデックス情報などからなり、当該ウエハでの欠陥に関する全ての情報を含んでいる。 - 特許庁

On the other hand, on a wall face (13B) on the opposite side to the wall face on which the plasma generating nozzle of the waveguide (13) is mounted, an inspection port 135 is formed having a size wherein the center conductor 32 held by the holding member 35 is loosely insertable, and fixed by tightening a cap member 136.例文帳に追加

一方、前記導波管(13)のプラズマ発生ノズルが取付けられる壁面とは反対側の壁面(13B)には、前記保持部材35に保持された中心導電体32が遊挿可能な大きさの点検口135を形成しておき、キャップ部材136を締付けることで固定する。 - 特許庁

An inspection window 2 is installed at a position in the side face section and on the axis of a bearing rolling section in a plummer block, and in order to close this window 2, a plug 3 having a cross section of the same size and shape as those of the window 2, which can be attached in a single operation, is manufactured.例文帳に追加

図2に示すように、プランマブロック内の軸受転動部の側面部かつ軸線上に点検窓2を開口し、この点検窓2を塞ぐためにワンタッチで取り付けられる上記点検窓2と同形の大きさおよび形状の断面を持ったプラグ3を作製する。 - 特許庁

To provide a joint inspection method by which the end part of a joint interface of metallic pipes joined by a diffusion joining method, especially the presence or absence of a difference level and a defect on the inner peripheral surface side can be detected in the non-destructive condition and also the size of the difference in level and the defect can be detected with high accuracy.例文帳に追加

拡散接合法により接合された金属管の接合界面の端部、特に、内周面側における段差及び欠陥の有無を非破壊で検出でき、しかも段差及び欠陥の大きさを高い精度で検出することが可能な接合部の検査方法を提供すること。 - 特許庁

To improve a photography efficiency and a diagnosis efficiency, and enhance the number of the photography sheets of an X-ray image without an increase in size and weight of a battery, in an X-ray inspection equipment with a flat panel X-ray detector, driven by electric power supplied from the internal battery.例文帳に追加

フラットパネルX線検出器を用い、内部バッテリから供給される電力によって駆動されるX線検査装置において、バッテリの重量、サイズを増大させることなくX線画像の撮影枚数を向上させるとともに、撮影効率、診断効率を向上させる。 - 特許庁

In the metal form panel 1 which is left in a state of being integrated with a surface of a hardened concrete skeleton even after placing the concrete, a plurality of inspection holes 7 having the same shape and size are arranged at equal intervals p in vertical and lateral directions to inspect the state of filling the concrete.例文帳に追加

コンクリート打設後も硬化したコンクリート躯体の表面に一体化したまま残される金属製型枠パネル1において、コンクリートの充填状況を点検するための同形同寸法の点検孔7を上下左右等間隔pに配置して複数設ける。 - 特許庁

This program is used to perform image inspection by image retrieval by utilizing change itself of a size of an image file in an image of compressed image file and a part of the compressed image file without performing image processing from bit map format requiring image processings and a compressed image.例文帳に追加

本発明はこれらの画像処理が必要なビットマップ形式や圧縮された画像からの画像処理を行うのではなく圧縮画像ファイルや圧縮画像ファイルの一部分の画像における画像ファイルのサイズ変化そのものを利用する画像検索による画像検査を行うプログラム。 - 特許庁

Consequently, even in cases where, for instance, a “divisiondescribed in the Inspection Manual has not been physically established, rather than judging the credit agency as being unsuitable on account of this alone, it should be kept in mind that a verification is necessary of whether problems may exist, from the view points such as whether the adequate compliance function with laws and regulation is equipped, or whether appropriate organizational structure is well established for internal checks and balances, in keeping with the characteristics, size and other attributes of the inspected agency. 例文帳に追加

したがって、検査マニュアルに記載のない事項についても、実際の検査において検査対象先の態勢又は業務の状況の実態を把握するために必要と判断される事項については、適宜、検証を行うこととする。 - 金融庁

According to the medium inspection method of this invention, a magneto-optical signal is detected by irradiating a test reproduction area, which is formed with a random size magnetic domain prepared in the magneto-optical recording medium of non-magnetic field MAMMOS (Magnetic Amplifying Magneto-Optical System) and unprocessed by recording, with a laser beam while changing laser beam intensity.例文帳に追加

本発明の媒体検査方法では、無磁界MAMMOSの光磁気記録媒体に設けられた記録処理されていないランダムサイズの磁区で形成されたテスト再生領域に、レーザー光強度を変化させながらレーザー光を照射して光磁気信号を検出する。 - 特許庁

To provide a method and a device which enable high-speed convolution processing irrelevantly to the size of a mask in consideration of the fact that while the reliability of inspection is higher and higher as the mask for convolution is larger and larger, that can not be actualized because of a processing time.例文帳に追加

畳み込みのためのマスクのサイズが大きいほど検査の信頼性が良くなることに反して、処理時間の問題で現実的に具現できない事情があることに鑑み、マスクのサイズに関係なく、高速の畳み込み処理を可能にした方法及び装置を提供する - 特許庁

Hereby, even if the illuminance distribution in the illumination spot by the actual illumination optical system is not necessarily the Gaussian distribution, each accuracy of the particle size calculation of the foreign matter or the defect to be detected and the coordinate position on the inspection object surface can be improved.例文帳に追加

これにより、実際の照明光学系による照明スポット内の照度分布が必ずしもガウス分布とならない場合においても、検出される異物・欠陥の粒径算出および被検査物体表面上での座標位置の精度を向上させることが可能になる。 - 特許庁

There is provided a method for inspecting variation in grain size of fine particles in an inspection object containing homogeneous fine particles, the method comprising the steps of: using a liquid in which the fine particles are dispersed in a solvent for electrophoresis using a separation medium which serves as a sieve; and inspecting variation in grain size of the fine particles from an electrophoretic pattern after the electrophoresis.例文帳に追加

本発明の方法は、均質な微小粒子を含んでいる検査対象における当該微小粒子が有している粒度のばらつきを検査する方法であって、上記微小粒子が溶媒に分散している液体を、ふるいとして機能する分離媒体を用いた電気泳動に供する工程と、上記電気泳動後の泳動パターンから上記微小粒子の粒度のばらつきを検査する工程とを包含している。 - 特許庁

To provide a self-propelled type pipe inside inspection camera device capable of replacing direct view/side view operations, reduced in size and simplified in constitution by fixing an illumination mechanism and constituted so as to perform proper illumination free from irregularity with respect to the full view direction of a camera.例文帳に追加

直視/側視切り替えを可能にした自走式の管内検査カメラ装置に於いて、照明機構を固定化して小型化並びに構成の簡素化を図るとともに、カメラの全視方向に対して斑のない適正な照明を行うことのできるようにした自走式管内検査カメラ装置を提供する。 - 特許庁

To take a measure so that wafer inspection probes may not contact mutually even when a PAD is arranged in the center section of a semiconductor substrate to raise isolation between circuit blocks by forming rewiring to be short in a package, such as a chip size package, in which rewiring and external connection terminals are formed on a semiconductor substrate.例文帳に追加

チップサイズパッケージのように半導体基板上に再配線と外部接続端子とを形成するパッケージにおいて、再配線を短く形成して、回路ブロック間のアイソレーションを高めるように半導体基板の中央部にPADを配置する場合にも、ウエハ検査プローブが相互に接触することがないように対策する。 - 特許庁

To provide a method for assuring strength of a cast product, which can reliably assure that a cast product is free from internal defects in terms of the size of the product that can cause strength problems to assure the strength of the cast product more accurately than before without increasing the performance of a defect inspection device.例文帳に追加

欠陥検査装置の能力アップを要することなく、鋳造製品に強度上問題となるサイズの内部欠陥が存在しないことを確実に保証することにより、従来よりも高い精度で、鋳造製品の強度を保証することができる鋳造製品の強度保証方法を提供する。 - 特許庁

In step S1, a defect detection processing for extracting the ordinates of a new defect and a detection size by a prescribed process is performed, after a prescribed process by using an area reducing function of an inspection device, and in step S3, existence of a new defect is determined in chip unit by a discrimination condition validating all detected new defects.例文帳に追加

ステップS1で、検査装置の面積縮小機能を用いて所定の工程後に所定の工程による新規欠陥の座標及び検出サイズを抽出する欠陥検出処理を行い、ステップS3で、検出されたすべての新規欠陥を有効とする識別条件で新規欠陥の有無をチップ単位に判定する。 - 特許庁

The polarizing plate bonding precision inspection method includes: an observation step in which all four corners of the polarizing plate 3 bonded to the liquid crystal panel 2 are observed; and a computation step in which observation data obtained in the observation step are used to compute the misalignment amount, size, and perpendicularity of the polarizing plate 3.例文帳に追加

本発明に係る偏光板の貼合精度検査方法は、液晶パネル2に貼合された偏光板3の四隅の全てを観察する観察工程と、上記観察工程で得られた観察データを用いて、偏光板3の貼合ズレ量、寸法および直角度を算出する演算工程とを含む。 - 特許庁

Thus, the cost of adapter die exchange required every time the semiconductor package type changes by removing the adapter used inside the socket or by modifying into a free-size adapter type, or the exchange time of the socket of an interface board is saved and efficiency of a semiconductor package inspection process is improved.例文帳に追加

これにより、ソケット内部で使用するアダプタを除去したり、あるいはフリーサイズアダプタ型に改造したりして、半導体パッケージ形態が変化する度に必ず行わねばならなかったアダプタ金型交替コスト、インターフェースボードのソケット交替時間などを節約して半導体パッケージ検査工程の効率を向上させる。 - 特許庁

I understand that you have said that in relation to the reform of Japan Post, the FSA will review how inspection should be conducted out of consideration of the impact by the reform on small and medium-size financial institutions. Am I correct in understanding that any special consideration will not be given for such financial institutions in any other way? 例文帳に追加

郵政見直しで、中小金融機関に対する影響とその配慮ということで、検査についてあり方を見直すということなのですが、中小金融機関への配慮というのは、検査のあり方以外には特段の配慮は行われないというふうに判断してよろしいのでしょうか。 - 金融庁

To provide an electrochemical detection method of a detection substance, an electrochemical detection method of a test substance, an inspection chip, a detection set, a probe holding substrate and an electrode substrate which can successfully detect the test substance without depending on size of the test substance, and further reuse a working electrode.例文帳に追加

被検物質の大きさによらずに被検物質を良好に検出することができ、さらに作用電極の再利用を再利用することができる、検出物質の電気化学的検出方法、被検物質の電気化学的検出方法、検査チップ、検出セット、プローブ保持基板および電極基板を提供する。 - 特許庁

The liquid drop receiving part 62 is provided with an inspection body 60 formed to a size corresponding to the state when the delivered liquid drop is normally drop-deposited; and a detector 61 connected to the electrode 64a of the inspection body 60 and detecting conductivity at the liquid drop receiving part 62.例文帳に追加

絶縁性の基板Sと、この基板Sに設けられた液滴を受けるための液滴受容部62と、液滴受容部62の内面部に露出した状態に設けられた複数の電極64aとを備え、液滴受容部62を、吐出された液滴が正常に着弾したときの状態に対応した大きさに形成してなる検査体60と、検査体60の電極64aに接続して、液滴受容部62における導電性を検出する検出器61と、を具備している。 - 特許庁

To provide a probe card for using even a chip device having a small electrode size which is a test object, by reducing position deviation of a probe tip, concerning a probe card having a double elastic mechanism having a small-dimension probe used for inspection of an electric characteristic of chip devices integrated in high density on a semiconductor wafer.例文帳に追加

半導体ウェハ上に高密度に集積されたチップデバイスの電気的特性の検査に使用する微小寸法のプローブを有する二重弾性機構のプローブカードにおいて、プローブ先端の位置ずれを小さくすることによって、被試験体であるチップデバイスの電極サイズの小さなものであっても使用できるプローブカードを提供する。 - 特許庁

For the method of inspecting the semiconductor device a relay board 25 is prepared, having substantially the same as the semiconductor device, a slightly larger size than it and a prescribed thickness, mounts the relay board 25 at a mounting position 41 of the circuit board 40, and positions the relay board 25 by a positioning pin 21, by connecting the inspection socket 16 on the relay board 25.例文帳に追加

半導体装置とほぼ同じかそれよりもやや大きな寸法であってしかも所定の厚みの中継基板25を用意し、この中継基板25を回路基板40の実装位置41に実装し、この中継基板25の上に検査用ソケット16を接続して位置決めピン21によって中継基板25に対して位置決めを行なう。 - 特許庁

Also, the MRI system 100 constitutes measurement data comprising the acquired echo signals, and by performing inverse Fresnel transformation to the measurement data on the basis of an imaging parameter, images a desired inspection part in the subject 10 by an image size coefficient α set as the parameter.例文帳に追加

また、このMRI装置100は、取得されたエコー信号から構成される測定データを構成させ、当該測定データに対して、撮像パラメータに基づいて逆フレネル変換を行うことによって、当該パラメータとして設定された画像サイズ係数αにて被検体10における所望の検査部位の画像化を行うようになっている。 - 特許庁

To provide a printing medium inspecting device which enables appropriate measures by quickly and correctly judging abnormalities of a form of a printing medium such as whether or not a slack of an unprintable size is generated at the printing medium or whether or not an ink stay is brought about at the printing medium, and to provide a printer and a printing medium inspection method.例文帳に追加

印刷不可能な大きさの撓みが印刷媒体に生じているか否か、又は、印刷媒体にインク溜まりが生じているか否か等、印刷媒体の形態の異常を迅速且つ正確に判断し、適切な対処を可能とする印刷媒体検査装置及び印刷装置並びに印刷媒体検査方法を提供する。 - 特許庁

The inspection method includes steps in which a suspension liquid including solid primary particles of an average particle size of 20 nm or smaller is sprayed, thereby generating an aggregate particle, the generated aggregate particles is sent upstream air filter, and the aggregate particle leaking downstream the air filter is detected with the use of a particle detector.例文帳に追加

さらに、平均粒子径が20nm以下の固体の1次粒子を含む懸濁液を噴霧することにより、凝集体粒子を発生させ、発生した凝集体粒子をエアフィルターの上流側に投入し、エアフィルターの下流側にリークする凝集体粒子を、粒子検出器を用いて検出することを含んで成るエアフィルターの検査方法である。 - 特許庁

To achieve a lens inspection apparatus capable of easily and intuitively grasping and instantly evaluating the image forming performance (the size of spread of a point image by aberration of a lens, building failure, and diffraction) of a lens to be inspected in a manufacturing field and a product development field, and quantitatively evaluating both of on-axial chromatic aberration and magnification chromatic aberration of the lens to be inspected.例文帳に追加

被検レンズの結像性能(レンズの収差、工作不良及び回折による点像の広がりの大きさ)を、製造現場や製品開発現場において、簡単に直感的に把握、瞬時に評価可能とするとともに、被検レンズの軸上色収差と倍率色収差の両方を定量的に評価可能とするレンズ検査装置を実現する。 - 特許庁

This inspection is targeted at three areas, namely loans to small and medium-size enterprises, loans to middle-ranking and large companies, and housing loans, and it is intended to examine the status of efforts made by financial institutions to facilitate financing in the period leading to the end of the last fiscal year and their status of the provision of credit in the period since the start of the new fiscal year. We are conducting the inspection particularly from the perspective of whether financial institutions are adequately exercising the financial intermediary function that is expected of them and whether they are not engaging in practices that may be construed as inappropriate curbs on new loans and forcible withdrawals of outstanding loans. 例文帳に追加

これは、中小企業向け融資、中堅・大企業向け融資、そして住宅ローンの3つの分野を対象として、年度末金融への取組状況、そして新年度入り後の信用供与の状況について検証を行っているということですが、特に、金融機関が期待される金融仲介機能を十分に発揮しているかどうか、また、貸し渋り・貸し剥がしと受け取られかねない対応がなされていないかといった問題意識を持って集中検査を実施しているところであります - 金融庁

To provide a highly flexible substrate inspection device capable of reducing a cost by remarkable size reduction of an image focusing lens and by simple constitution using a usual compact PSD, capable of realizing a precise measuring system able to cancel an error such as face failure by passing measuring light again through a scan mirror, and capable of changing freely an image formation magnification.例文帳に追加

結像レンズを大幅に小型化し、通常の小型PSDを用いた簡単な構成とすることによりコストを低減し、また測定光を再度走査ミラーに通すことにより面倒れなどの誤差をキャンセルできる高精度な測定系を実現し、さらに結像倍率を自由に変更できる柔軟性の高い基板検査装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

The coated state inspection apparatus includes an imaging apparatus for photographing a coated section of a coating on a workpiece, and an image processor for extracting a coated region of the coating from a photographed image obtained from the imaging apparatus, determining whether the coated region includes an unneeded coated section, and excluding the unneeded coated section the size of which is not more than a prescribed value from the coated region.例文帳に追加

ワーク上における塗布物の塗布部を撮影する撮像装置と、前記撮像装置から得られた撮影画像から前記塗布物の塗布領域を抽出し、前記塗布領域に不要塗布部が含まれているかを判断し、大きさが所定値以下の前記不要塗布部を前記塗布領域から除外する画像処理装置とによって塗布状態検査装置を構成する。 - 特許庁

A tip part of a probe 30 is brought into contact with one end in either one out of the conductive patterns 15a, 15b arrayed regularly, a sensor part 20 having a size astride over a wiring pattern thereof and the adjacent pattern is positioned in a position with a prescribed separate distance from the patterns, and the probe 30 and the sensor part 20 are moved on an inspection objective substrate while synchronized.例文帳に追加

規則的に配列された導電パターン15a,15bのいずれか一つの一方端のみにプローブ30の先端部を接触させるとともに、その配線パターンと隣接パターンに跨る大きさを有するセンサ部20を、それらのパターンから所定距離離間した位置に非接触で位置決めし、それらプローブ30とセンサ部20とを同期させて検査対象基板上を移動させる。 - 特許庁

例文

I have told them that they cannot perform the role of inspectors unless they are capable of judging whether financial institutions are fulfilling their social function, rather than simply determining whether their balance sheet is improving or deteriorating based only on numerical data. From this perspective, it is better to change the practice of requiring the provision of excessively detailed data and explanations. Therefore, I have instructed that at the same time as the review of the inspection of Japan Post's financial businesses is carried out, the inspection of small and medium-size financial institutions should also be reviewed. 例文帳に追加

数字だけ見て、『これは財務体質が悪化している』とか、『良い方向に行っている』とか(ばかりではなく)、社会的責任をちゃんと果たしているかどうかということを、数字だけで判断するのではなくて、それを見抜く力、判断力がないと、検査というのは務まらないのだ」ということを言っているのですけれども、そういう意味からも、あまりにも詳細な資料提供、また、あまりにも詳細過ぎる説明を求めていくというようなことは変えたほうが良いということで、ちょうど、郵政のそういう検査のあり方をどうするかということと絡んで、やはり同時にやるということで、今、指示をしております。 - 金融庁




  
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