「Size Inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a circuit configuration and an inspection method thereof in which a digital circuit is packaged in a wafer-state system LSI, a fault in a digital circuit part to most become a critical path therein is easily verified, an inspection time is shortened and further, a die size is reduced.例文帳に追加

ウエハ状態でのシステムＬＳＩにおいて、デジタル回路を搭載し、その中でも最もクリティカルパスとなるデジタル回路部の故障検証を容易に実施し、かつ検査時間の短縮化を図り、加えてダイサイズの縮小化を可能にする回路構成とその検査方法を提供すること。 - 特許庁

A TEG chip 10 as a semiconductor element for inspection, which is originally for use in wafer test, has a size equal to that of a chip other than the TEG chip formed on the same wafer, and has a small number of bumps 10b for peeling inspection at a peripheral part.例文帳に追加

本発明に係る検査用半導体素子であるＴＥＧチップ１０は、元々がウェハテストを行うためのものであって、同一ウェハに形成されたＴＥＧチップではないチップとその寸法を同一とし、少数の引き剥がし検査用バンプ１０ｂを周縁部分に備えている。 - 特許庁

To provide a quality inspection method of a coil capable of knowing the size and distance of the damage of the coil for clearing the acceptance standard of partial discharge start voltage and capable of setting a control standard in consideration of the correlation, and a quality inspection device of the coil.例文帳に追加

部分放電開始電圧の合格基準をクリアするためのコイル傷の大きさ・距離を知見すること、及び、上記相関関係を考慮した管理基準を設定することを可能とする検査方法と、この検査方法を実施するための検査装置を提案する。 - 特許庁

To provide a wiring board used for an electronic component inspection device, which is used for the electronic component inspection device such as a prove card, capable of inspecting accurately and surely an electric characteristic, even in the case of, for example, electronic components formed in great numbers on a large-size Si wafer; and its manufacturing method.例文帳に追加

プローブカードなどの電子部品検査装置に用いられ、例えば大径のＳｉウェハに多数形成された電子部品であっても、その電気的特性を正確且つ確実に検査できる電子部品検査装置に用いる配線基板およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

An infrared signal is input and analyzed in the infrared image signal processing part 22 to find a temperature distribution of the inspection object 20, and the presence of the defect in the inspection object 20 and a size thereof are detected based on the temperature distribution.例文帳に追加

さらにこの赤外線映像信号処理部２２において赤外線の信号を入力して解析することにより検査対象物２０の温度分布を求め、この温度分布に基づいて検査対象物２０の欠陥の有無並びに大きさを検出するように構成される。 - 特許庁

According to algorithm for discriminating the kind of defect on a wafer, if the size of defect measured with a wafer inspection device containing a plurality of dark field part detectors is smaller than a limit value indicating the maximum size of COPs, the kind of defect is decided as being not particles.例文帳に追加

ウェーハ上の欠陥の種類を判別するためのアルゴリズムによれば、複数の暗視野部検出器を含むウェーハ検査装置によって測定されたウェーハ上の欠陥のサイズがＣＯＰの最大サイズを表わす限界値よりも小さければ前記欠陥の種類がパーチクルでないと判定する。 - 特許庁

To provide a method of determining a defect size of an evaluation pattern for evaluating defect detection sensitivity capable of accurately determining the defect size of the evaluation pattern formed on an evaluation mask used to evaluate the defect detection sensitivity of mask defect inspection systems, and a method of creating a sensitivity mask.例文帳に追加

マスク欠陥検査装置の欠陥検出感度を評価するために用いられる評価用マスクに作り込まれた評価用パターンの欠陥サイズを精度良く算出することが可能な欠陥検出感度評価用パターンの欠陥サイズ算出方法及び感度マスクの作成方法を提供する。 - 特許庁

The method for inspecting the presence or the absence of a metal element-containing foreign material adhering to the substrate used for the liquid crystal display includes: a first inspection step of detecting the size and position of the foreign material adhering to the substrate; and a second inspection step of inspecting whether the foreign material contains a metal element, through the alignment with the position detected in the first inspection step.例文帳に追加

液晶表示装置用の基板に付着した金属元素含有異物の有無を検査する方法であって、前記基板に付着した異物の大きさと位置とを検出する第１検査ステップと、第１検査ステップで検出された位置に位置合わせして、その異物が金属元素を含有するか否かについて検査する第２検査ステップとを備えることを特徴とする検査方法。 - 特許庁

To provide a heat insulation device at a floor inspection hole having such an assemblable and disaassemblable structure that can be installed by a simple construction and enabling an effectively usable opening to be increased in size.例文帳に追加

簡単な工事で設置することができる組立分解可能な構造を有すると共に、有効利用できる開口を大きくすることができる床点検口における断熱装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a maintenance-free light source device, for inspection, of a long life and a reduced size capable of preventing missing in a spectral distribution, having a uniform illuminance distribution, and capable of switching quickly colors and luminous energy levels.例文帳に追加

分光分布に抜けがなく、均一な照度分分布を有し、高速に光量や色の切替が可能で、メンテナンスの不要な長寿命であって、小型化した検査用光源装置を実現する。 - 特許庁

For example, in an electric conduction inspection device in which a sheet-like conductive rubber is arranged between a device of arbitrary size to be tested and a sensor part, this pressure device can be used for applying the pressure to the conductive rubber.例文帳に追加

例えば、任意の大きさの被テストデバイスとセンサ部の間にシート状の導電性ゴムが配置される電気導通検査装置において、導電性ゴムの加圧にこの加圧装置を使用することができる。 - 特許庁

To provide an inspection device which suppresses an increase in its size and cost though equipped with a discharge device and is capable of easily performing the replacement of a fluid serving as a discharge target.例文帳に追加

吐出装置を備えるにもかかわらず、装置の大型化及びコストの増大化を抑制し、且つ、吐出対象物となる流動物の交換も容易に行え得る、検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a power conversion device which is suitable for device size reduction by improving the cooling efficiency, does not cause increase in the time necessary for installation and maintenance/inspection, and is suitable for an elevator control device.例文帳に追加

冷却効率を向上して装置の小形化に適し、かつ、据付及び保守点検に要する時間を増大させることないエレベータ制御装置に適した電力変換装置を提供する。 - 特許庁

To provide a learning-type defect detection device, method and program, capable of maintaining the accuracy of defect detection regardless of the size of a defect generated in an inspection object.例文帳に追加

検査対象物に発生する欠陥の大きさにかかわらず欠陥の検出精度を維持可能な学習型の欠陥検出装置、欠陥検出方法および欠陥検出プログラムを提供する。 - 特許庁

To allow electrical characteristic inspection for a semiconductor integrated circuit using a Kelvin contact method to be conducted in a pre-process without obstructing the reduction in size of a semiconductor chip nor complicating circuit design.例文帳に追加

半導体チップの小型化を妨げたり、回路設計を煩雑にしたりすることなく、前工程においてケルビンコンタクト法を用いた半導体集積回路の電気特性検査を行うことを可能とする。 - 特許庁

An inspection head (CCD camera) 9 is moved together with a laser beam welding head 8 at the initial stage on a lot production of the tailored blanks to observe the size of the gap at the welding parts (abutting parts Q).例文帳に追加

テーラードブランク材のロット生産の初期段階で検査ヘッド（ＣＣＤカメラ）９をレーザ溶接ヘッド８とともに動かして、溶接部Ｗ（突き合わせ部Ｑ）での隙間の大きさを監視する。 - 特許庁

The long body 20 is wound around the drum 30 to make the inspection device small in size when housed by winding the long body 20 around the drum 30 to be freely extractable, the long body can be pulled out of the drum 30 to be used when used.例文帳に追加

長尺体20をドラム30に巻き取って引き出し自在とすることで、収納時はドラム30に巻き取って点検具のサイズを小さくし、使用時はドラム30から引き出して利用することができる。 - 特許庁

To provide a clutch mechanism for a transmission case that can avoid the undesired size enlargement of the machine body, in addition and has easy detachability, improved machine-assembling properties in the production and maintainability in inspection in a riding type rice transplanter.例文帳に追加

乗用田植機において、機体の大型化を回避すると共に、容易に着脱可能で、製造時の組み立て性、点検時のメンテナンス性をよくした、ミッションケースのクラッチ機構を提供する。 - 特許庁

To provide a circuit breaker for wiring, reducing the time and effort for machine adjustment and size inspection in the manufacturing a spring by reducing assembling man hours and preventing omission in assembling for the spring.例文帳に追加

バネの組み付け工数の削減と組み付け漏れの防止を図ることができ、バネ製造時の機械調整及び寸法検査の手間を削減することができる配線用遮断器を提供する。 - 特許庁

To provide a needle assembly for a probe card for stable characteristic inspection for an ultra-small-size and highly integrated semiconductor device.例文帳に追加

極小形化及び高集積化される半導体デバイスに適切に対応することにより安定した特性検査を行い得る、半導体デバイスの特性検査のためのプローブカードのニードルアセンブリを提供する。 - 特許庁

To provide a substrate inspection method capable of detecting even a recess formed on an end face of a pair of glass substrates, and capable of detecting abnormality of an outer shape irrespective of a size of the pair of glass substrates.例文帳に追加

一対のガラス基板の端面に形成された凹部をも検出することができ、一対のガラス基板の大きさによらず外形の異常を検出可能な基板検査方法を提供する。 - 特許庁

To recognize securely an inspection object, and to simplify configuration and reduce the size, in an image reading apparatus in which a guide pipe is projected so as to surround a view field of a camera from an apparatus main body.例文帳に追加

装置本体からカメラの視野を囲むようにガイドパイプが突出する画像読取装置において、検査対象を正確に認識できるようにすると共に、構造を簡単にし、小型化する。 - 特許庁

To realize the shortening of a test time to inspect an IC chip formed on a wafer not by increasing its chip size but by increasing the number of scan chains at the inspection time by increasing the number of needle applicable pads.例文帳に追加

ウェハに形成されたＩＣチップの検査をチップサイズの増加なしで、針当て実施可能なパッド数を増やして検査時のスキャンチェーン数を増やすことでテスト時間の短縮を実現する。 - 特許庁

Thus apparatus is reduced in size, the fixed containers 21 are cleaned and used repeatedly as high-accuracy containers, and the disposable containers 22 are used separately as throwaway low-cost containers, according to the inspection items.例文帳に追加

これにより、装置のコンパクト化を図りつつ、固定容器２１を洗浄して使い回す高精度の容器とし、ディスポーザブル容器２２を使い捨ての低コストの容器として検査項目に応じて使い分けられる。 - 特許庁

To provide an illumination auxiliary device using efficiently a light beam emitted from a lighting system, irrespective of a size of an effective diameter in an opening diaphragm, and to provide an inspection device using the illumination auxiliary device.例文帳に追加

開口絞りの有効径の大きさに拘わらず、照明装置から出射される光線を効率よく利用する照明補助装置及びこの照明補助装置を用いた検査装置を提供する。 - 特許庁

To realize a process in which what size of an image which is currently displayed as an index image is printed out by only the visual inspection of the index image which is list-displayed.例文帳に追加

一覧表示したインデックス画像を視認するだけで、インデックス画像として表示されている画像が具体的にどの程度の大きさでプリントアウトされるのかまでを実感することができるようにする。 - 特許庁

37. Inspection would be conducted on an as-required basis in a timely and appropriate fashion by taking into account the size and profile of a financial institution, at which time rating results obtained thereby should also be reflected in the degree of subsequent inspections. 例文帳に追加

37．検査は、金融機関の規模や業況等を勘案し、必要に応じて、適時適切に 実施するものであるが、その際、評定結果も、その後の検査の濃淡に反映させていくものとする。 - 金融庁

To provide a sample inspection device capable of securing sufficient analytical precision even when attaining fineness and high density in a reaction field, capable of reducing a size easily, and allowing repeated use, and a manufacturing method therefor.例文帳に追加

反応場の微細化、高密度化を図る場合であっても十分な分析精度を確保することができ、小型化が容易で、繰り返し使用の可能な試料検査装置及びその製造方法の提供。 - 特許庁

To provide an ultrasonic inspection method in which the position and the size of partial defects existing unevenly in the circumferential direction due to corrosion or pitting can be specified for a rod-like or planar metallic member.例文帳に追加

棒状、板状金属部材に対して、腐食、孔食などにより周方向に不均一に存在する部分的欠損の位置および大きさを特定できる超音波検査方法の提供。 - 特許庁

To provide a hot air apparatus having a long-size and large-capacity radiation heater without changing the basic dimension of a body shell, having a decorative grill with a favorable attachment/detachment performance, and facilitating maintenance and an inspection.例文帳に追加

本体外殻の基本的大きさを変えることなく、長尺の大容量の輻射ヒーターを具備させることができ、化粧グリルの着脱性も良く、保守点検し易い温風装置を得る。 - 特許庁

Each inspection region is formed into a size so that the whole can be photographed by moving the electro-optical device with a moving device a plurality of times and performing imaging with an imaging device each time the electro-optical device is moved.例文帳に追加

検査領域は、それぞれ、移動装置にて電気光学装置を複数回移動させてその移動される毎に撮像装置にて撮像することで全体が撮影可能な大きさに形成されている。 - 特許庁

To provide an elevator without a machine room, capable of installation and a maintenance/inspection in a necessary minimum hoistway dimension to a size of a car, while securing an effective space more above and below the car.例文帳に追加

乗りかご上下に有効なスペースをより多く確保するとともに、乗りかごのサイズに対して必要最小限の昇降路寸法で据付や保守・点検が可能な機械室レスエレベーターを提供する。 - 特許庁

To provide a polarizing plate bonding precision inspection method and a bonding precision inspection device capable of inspecting the bonding misalignment amount of a polarizing plate formed by being bonded to a liquid crystal panel while cutting off a long master polarizing plate and simultaneously inspecting the size and the perpendicularity of the polarizing plate.例文帳に追加

長尺の偏光板原反を切断しながら液晶パネルに貼合した偏光板について、偏光板の貼合ズレ量と同時に、偏光板の寸法および直角度を検査することができる、偏光板の貼合精度検査方法および偏光板の貼合精度検査装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a stick bar defect inspection device, capable of stably executing inspection over long times, even if object stick bars are inputted continuously at a high speed, and inspecting accurately defective parts comprising fine split, chip, irregularities, crack, breakage, dirt, non-standard width size, or the like of the object stick bar.例文帳に追加

対象スティックバーが連続して高速に送り込まれた場合でも、長時間安定して検査が行うことができ、しかも対象スティックバーにおけるささくれ、欠け、凹凸、ひび、割れ、汚れ、幅寸法規格外等からなる不良部分を正確に検査することができるスティックバー不良検査装置を提供する。 - 特許庁

Each imaging object domain R determined on a work W which is an inspection object is irradiated with a diffused light, having a size capable of illuminating the whole inspection object domain in the domain R, and a camera 1 and a light source 2 are aligned so that the light reflected regularly from the work W can be imaged.例文帳に追加

検査対象のワークＷに定められた撮像対象領域Ｒ毎に、その領域Ｒ内の検査対象領域全体を照明できる大きさの拡散光を照射するとともに、ワークＷからの正反射光を撮像できるように、カメラ１および光源２を位置合わせする。 - 特許庁

To provide a flaw inspection device by an AC electromagnetic field measuring method capable of reducing the effect of noise or a false signal even when there is a structural change part such as a welding excess metal part or a T-shaped joint part in the vicinity of an inspection place and capable of easily and certainly calculating the position, size and depth of a flaw or the like.例文帳に追加

検査箇所近傍に溶接余盛部やＴ型接合部等の構造変化部がある場合でも、ノイズや擬似信号の影響を低減することができ、傷等の位置とその大きさ及び深さを容易かつ確実に求めることができる交流電磁場測定法による探傷検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a board printing system which, when there occurs a board rejected for poor printing, can continue printing and inspection to other boards for increased productivity, reduce a size of a board production line, and carry the boards once ejected from a printing inspection unit back into the line again for improved yield.例文帳に追加

印刷状態が良好でない不合格基板が発生したときに他の基板への印刷および検査を継続して生産性を高め、基板生産ラインをコンパクトにでき、印刷検査装置から一旦払い出された基板を再度搬入して基板の歩留りを向上できる基板印刷システムを提供する。 - 特許庁

A step between a reflection portion which reflects EUV light and an absorption portion which absorbs the EUV light is adjusted to a size which is an odd multiple of a 1/4 wavelength of the inspection light used for defect inspection that is carried out utilizing edge light shield effect by a phase difference between reflected light from the reflection portion and reflected light from the absorption portion when a reflection-type mask blank is irradiated perpendicularly with the inspection light.例文帳に追加

ＥＵＶ光を反射する反射部とＥＵＶ光を吸収する吸収部との段差を、欠陥検査に使用する検査光の１／４波長の奇数倍の大きさに調整し、検査光を垂直に照射した際の、反射部からの反射光と、吸収部からの反射光の位相差によるエッジ遮光効果を利用して欠陥検査を行うことにより、上記課題を解決する。 - 特許庁

The measuring means comprises a translucent mounting member on which the sampled micro spheres are dispersed, an illuminating means which forms inspection images of the micro spheres dispersed on the mounting member, an imaging means which takes the inspection images of the micro spheres, and a calculation means which calculates the size of the micro spheres based on the inspection images taken by the imaging means.例文帳に追加

前記計測手段は、前記採取された微小球体が分散した状態で載置される透光性を有する載置部材と、前記載置部材に載置された微小球体の検査像を形成する照明手段と、前記微小球体の検査像を撮像する撮像手段と、前記撮像手段で撮像された検査像に基いて前記微小球体の大きさを算出する演算手段とを備える。 - 特許庁

Consequently, safety of a machine operator can be ensured properly in the inspection or check work when a machine trouble occurs even on an electronic part mounting line constituted by coupling a plurality of thin devices of small size.例文帳に追加

これにより、小サイズ・薄型の設備を複数連結して構成された電子部品実装ラインにおいても、マシントラブル発生時などの点検・確認作業におけるマシンオペレータの安全を適正に確保することができる。 - 特許庁

By forming a lens from which interference part is removed, the aperture size of the lens can be made larger than 10b and the flaw inspection capacity and the lens performance are improved simultaneously while the low elevation angle α2 is kept.例文帳に追加

干渉部分を削除したレンズの創作により低仰角α２を保持してレンズの開口寸法を１０ｂより大とすることができ欠陥検出能力の向上とレンズ性能の向上が同時に成立する。 - 特許庁

For the expansion display of an inspection width in this device, a user generates the upper limit value and lower limit value of an effective image size in the depth direction for each shift distance of an ultrasonic probe in advance and stores them in memories 223, 224, respectively.例文帳に追加

被検幅拡大表示を行なうために、超音波プローブ移動距離ごとに深さ方向に有効な画像サイズである上限値、下限値をあらかじめ使用者が作成し、それぞれメモリ223、224に保存する。 - 特許庁

To obtain an apparatus and a method, for the inspection of a pattern, in which even abnormality of size can be recognized, irrespective of the problem of the number of measuring elements and in which the defect of a graphic to be inspected can be detected with high accuracy.例文帳に追加

計測子の数の問題と無関係に，かつ，寸法の異常についても認識でき，高精度に被検図形の欠陥を検出できるパターン検査装置およびパターン検査方法を提供すること。 - 特許庁

The inspection of pattern is carried out materially by measuring the deviation between both data through the comparison of the profile of pattern with the design data of CAD or the like or by operating the size or the like of the circuit pattern from the profile of pattern.例文帳に追加

パターン検査は、具体的には、パターンの輪郭とＣＡＤ等の設計データとを比較して両者のずれを計測したり、パターン輪郭から回路パターンの寸法等を算出することにより実行される。 - 特許庁

Then, the size of the external form of the frame body is made to coincide with that of each of the water conveyance panels, and the frame bodys are arranged instead of some of a large number of water conveyance panels arranged on the mat slab to set the inspection holes on them.例文帳に追加

枠体の外形寸法を導水パネルの外形寸法に合致させ、マットスラブ上に敷き並べられる多数の導水パネルのいずれかに代えて枠体を配置してそこに点検口を設置する。 - 特許庁