「Size Inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a wafer fault inspection device which can inspect the wafer fault at a very high speed regardless of the size, position and pattern of the wafer.例文帳に追加

本発明はウエハ欠陥検査装置に関し、超高速での検査が可能であり、しかもウエハのサイズや位置、パターンに拘らずウエハの欠陥を検査することができるウエハの欠陥検査装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a method and device for correcting an error in a defect coordinate output from an inspection device to make it easy to select a visual field size for defect search of a defect review device and a defect for fine alignment.例文帳に追加

検査装置から出力された欠陥座標の誤差を補正し、欠陥レビュー装置における欠陥探索用の視野サイズ及びファインアライメント用の欠陥を容易に選定することができる方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To light all over the whole of a large size substrate with simple and inexpensive constitution, make foreign matter detecting ability on the substrate excellent, and efficiently carry out visual inspection for the substrate.例文帳に追加

本発明は、簡単且つ低価格な構成で、大型基板全体を斑なく照明できると共に、基板上の異物検出能力に富み、且つ、基板の外観検査を効率よく行なえる外観検査用投光装置を提供する。 - 特許庁

In inspection of the film-attached type semiconductor wafer, a detection size ratio is set relative to each kind of deposit films, to thereby enable to evaluate the semiconductor wafer by classifying accurately the adhering particles from the COP similarly to the case of the bare silicon type semiconductor wafer.例文帳に追加

また、膜付半導体ウエーハの検査において、堆積膜種毎に検出サイズ比を設定することにより、ベアシリコン同様に付着パーティクルとＣＯＰを正確に分類して半導体ウエーハを評価することができる。 - 特許庁

To solve problems in an inspection device such as (1) complication of acceleration/deceleration control of a stage, (2) degradation of throughput and (3) vibration increase (resolution degradation) of a stage support base in stage reverse operation when the size of a semiconductor wafer is increased.例文帳に追加

半導体ウェハが大型化した場合における、検査装置における（１）ステージの加速・減速制御の複雑化、（２）スループット低下、（３）ステージ反転動作時のステージ支持台の振動増大（分解能劣化）等の問題を解決する。 - 特許庁

To provide a scanning type plane shape measuring device which takes highly accurate surface shape measurement of a large-size inspection surface by using an interferometer having a small observation region by reducing the influence of a movement error in scanning.例文帳に追加

走査時の運動誤差の影響を減少させ、観測領域が小さい干渉計を用いて大きなサイズの被検面に対して高精度な面形状測定を行うことができる走査型平面形状測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide an elevator system for further simply performing installation work and maintenance-inspection work, and further enhancing safety without hitching even if a long size object largely vibrates by a long cycle earthquake by surely detecting a position of a car.例文帳に追加

据付作業，保守点検作業をより簡単にすると共に、乗りかごの位置を確実に検出し、長尺物が長周期地震により大きく振動しても引っ掛からない、より安全性を高めたエレベータシステムを得る。 - 特許庁

To obtain desired pump efficiency by satisfactorily maintaining the seal performance of a gear pump, reduce the size and weight of the gear pump and facilitate maintenance and inspection work for the seal performance of the gear pump.例文帳に追加

ギアポンプのシール性能を良好に維持して所望のポンプ効率を得るようにしたものでありながら、ギアポンプの小型、軽量化が達成できるようにし、かつ、ギアポンプのシール性能についての保守、点検作業が容易にできるようにする。 - 特許庁

The reticle is transferred into a pattern defect correcting device and only the black defect on the reticle is extracted and, for example, the defect coordinate data obtained during the reticle pattern inspection and the coordinates within the defective device are opposed, by which a processing size is defined.例文帳に追加

レチクルをパターン欠的修正装置内に搬送し、レチクル上の黒欠陥のみを抽出し、例えば、レチクルパターン検査時に得た欠陥座標データと欠陥装置内の座標とを相対させて、加工サイズを定義する。 - 特許庁

Especially, before welding by irradiation of the laser beam, the size of the gap between the flange part 21 and the joint part 13 is measured by a degree of leak of a leak inspection in such a state that they are pressure welded at a predetermined pressure.例文帳に追加

ここでは特に、レーザ光の照射による溶着に先立ち、フランジ２１と継ぎ手部１３との間の隙間の大きさをそれらを所定の圧力にて圧接した状態でのリーク検査によるリーク度合いをもって計測する。 - 特許庁

To stabilize detection, to simplify maintenance and to reduce the size of equipment in an inspection device wherein the opening and closing states of the lid of a cassette are detected by a lid opening and closing confirming sensor and the existence of the spring for closing the lid is inspected.例文帳に追加

カセット１のリッド２の開閉状態をリッド開閉確認センサ５によって検知し、該リッド２を閉じるためのスプリングの有無を検査する検査装置において、検出の安定化を図り、メンテナンスを簡素化し、設備の小型化を図る。 - 特許庁

To provide an X-ray inspection device and a method capable of identifying a material of an inspected object, using a small number of inexpensive X-ray generators and X-ray detectors, and capable of reducing thereby a size and a cost of the device.例文帳に追加

安価かつ少数のＸ線発生装置とＸ線検出器を用いて、被検査物の材質を識別することができ、これにより装置を小型かつ安価にできるＸ線検査装置とＸ線検査方法を提供する。 - 特許庁

Before measuring magnetic flux density of the multipolar-magnet encoder by using a sensor 10 for inspection, the position (size L) of a magnetic detection element 11 in a resin 12 constituting the sensor 10 is accurately measured by an X-ray CT method.例文帳に追加

多極磁石エンコーダの磁束密度を検査用センサ１０により測定するのに先立って、この検査用センサ１０を構成する樹脂１２中の磁気検知素子１１の位置（寸法Ｌ）を、Ｘ線ＣＴ法により正確に計測する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a laminated rubber support for inspection capable of dispensing with labor-hour for cutting a large-size laminated rubber support, and free from impairing of shear deformation performance caused by damage of a cut face in cutting work.例文帳に追加

大型の積層ゴム支承を切断する手間を省略し得、切断作業による切断面の損傷に起因するせん断変形性能の低下を生じることのない検査用積層ゴム支承の製造方法を提供すること。 - 特許庁

The CD166 is detected in the blood of a cancer patient, and since the amount of detection is fully correlated with the presence or the absence, the size, and the disappearance and growth of tumor for use as an appropriate bodily fluid marker in the inspection/diagnosis of cancer.例文帳に追加

ＣＤ１６６は、癌患者の血液中に検出され、しかも、その検出量は腫瘍の有無・大きさ・消長とよく相関することから、癌の検査・診断における良好な体液性マーカーとして利用できる。 - 特許庁

Under such circumstances, instead of applying the same inspection method across all firms, it is important to take a “risk-based, flexible approach,” which takes into account the size and risk profiles of each business type and of each operator. 例文帳に追加

こうした状況においては、同じ検査手法を一律に適用するのではなく、業態や業者ごとの規模やリスク特性を勘案した、いわゆるリスク・ベースの柔軟なアプローチが証券検査において重要となってきている。 - 金融庁

And, as a general rule, when the cancellation is applied in certain areas, inspections are conducted in multiple places per farm where the cultivation management is conducted. The inspection places are set up by considering the year and places where the bed log was logged, the size of production, and others.例文帳に追加

なお、解除しようとする区域から、原則として栽培管理を実施したほだ場ごとに複数箇所の検査を実施する。検査箇所の設定に当たっては、ほだ木の伐採年・伐採箇所・生産規模等を考慮する。 - 厚生労働省

The problem can be solved by forming an accurate inspection vessel recognition signal by calculating by a general control part various parameters such as the size of an inspection vessel 2 or the distance between the position of an X-ray sensor 6 and the position of an X-ray generation part 3 based on a pulse signal for showing a unit moving distance outputted from a conveyor encoder 13.例文帳に追加

上記課題は、被検査容器２の寸法、Ｘ線センサ６の位置とＸ線発生部３の位置との距離という各種パラメータをコンベアエンコーダ１３から出力される単位移動距離を示すパルス信号を統括制御部が算出することにより、正確な被検査容器認識信号を作り出すことにより解決される。 - 特許庁

A plurality of lens array substrates 20 are integrally formed into a large-size substrate 20' so that a substrate supply device 2000 carries the large-size substrate 20' to an inspection position 2020 in the X-axial direction to detect one lens array substrate 20 and then moves the large substrate 20' in the X-axial or Y-axial direction to inspect another lens array substrate 20.例文帳に追加

レンズアレイ基板２０は大型基板２０′に複数枚、一括して形成されているので、基板供給装置２０００は、大型基板２０′を検査位置２０２０までＸ軸方向に搬送して１つのレンズアレイ基板２０に検査した後、大型基板２０′をＸ軸方向やＹ軸方向にずらして別のレンズアレイ基板２０について検査する。 - 特許庁

Since a defect is extracted by using the reduced image information wherein a frequency component is maintained, while reducing the image size furthermore than an image corresponding to original image information, high-speed defect inspection can be performed by suppressing cost increase.例文帳に追加

元の画像情報に対応した画像よりも画像サイズを縮小する一方で、周波数成分を維持した縮小画像情報を用いて欠陥を抽出するので、コストの増大を抑えて高速に欠陥検査を行うことができる。 - 特許庁

To provide an underwater inspection robot for checking an in-tank film for inspecting the presence or absence or size of the blister of a wall face in a tank without discharging fluid stored in a tank, or constructing any scaffold, or using any crane or the like.例文帳に追加

タンクに貯蔵された液体を排出したり、足場を築いたり、クレーン等を用いたりすることなくタンク内の壁面のブリスタの有無や大きさ等を検査することができるタンク内塗膜点検用水中検査ロボットを提供する。 - 特許庁

To ensure enough regions for TEGs so as to cope with a number of inspection items without being restricted in size of electronic devices to be products by formation of the TEGs, and leave the TEGs with a maker side without damaging them.例文帳に追加

ＴＥＧの形成により製品となる電子デバイスの大きさに制約を受けることがなく、多くの検査項目に対応できるようＴＥＧの領域を十分に確保することができ、ＴＥＧを破損することなくメーカ側に残すこと。 - 特許庁

To adjust an imaging size of laser light while imaging the laser light on an observation object part in the interior of an internal space forming body and insert a laser projection device into the internal space forming body from a narrow inspection hole.例文帳に追加

内部空間形成体内側の観察対象部にレーザ光を結像させつつ、レーザ光の結像サイズを調節可能であるとともに、レーザ投光装置を狭隘な点検穴から内部空間形成体内へ挿入できるようにする。 - 特許庁

To automatically execute a specimen inspection pretreatment process, having complex and various processes and having high possibility of infection, reduce the size and space for installation, and reduce the manufacturing cost and cost of investment.例文帳に追加

複雑で多様な工程を有し且つ感染のおそれが大きい検体検査前処理工程を自動的に実行処理することができ、また小型で設置スペースが僅かで済む上、低コストで製作でき、 設備費も嵩まずにすむ検体検査前処理装置を提供。 - 特許庁

The number of defects on the surface (film forming surface) of a quartz substrate 11 to be used for the manufacture of a photomask blank is measured by use of a surface inspection device to obtain the number of defects having a predetermined size (such as a diameter of 0.1 to 0.5 μm) on the film forming surface.例文帳に追加

フォトマスクブランクの製造に用いる石英基板１１の表面（成膜面）の欠陥数を表面検査装置を用いて計測し、成膜面上の所定のサイズ(例えば、直径０．１〜０．５μｍ)の欠陥数を求める（基板検査工程）。 - 特許庁

To allow constitution of the reduced number of part items with a relatively simple mechanism to attain size reduction and cost reduction, and to efficiently and surely carry out appearance inspection of high level.例文帳に追加

部品点数が少なく、かつ比較的簡易な機構により、構成することができ、小型化及び低価格化を達成し得、しかも高度な外観検査を効率よく確実に行うことができる錠剤の外観検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a probe card and a wafer inspection device, capable of surely attaining necessary electrical connections and capable of surely measuring electrical resistances with high accuracy as expected, even for a wafer having a large number of inspected electrodes having wide area and small size.例文帳に追加

大面積でサイズの小さい多数の被検査電極を有するウエハであっても、所要の電気的接続が確実に達成され、所期の電気抵抗の測定を高い精度で確実に行うことができるプローブカードおよびウエハ検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a tire inspection and method which can position metal sensors easily and with high precision regardless of the size and type of tire and can detect abnormalities in metal wire at a splice part of a belt member embedded in a tire.例文帳に追加

タイヤのサイズや種類にかかわらず容易に精度よく金属センサを位置決めでき、タイヤ内部に埋設されたベルト部材のスプライス部における金属ワイヤの乱れを精度よく検出できるようにしたタイヤの検査装置および方法を提供する。 - 特許庁

The number of pixels, selected for inspection, depends on the image content of the frame in the environment of the block boundary, particularly, on the difference of the pixel values across the block boundary (30) and the size of the quantization step of the transformation coefficients used in the transformation coding of the blocks.例文帳に追加

検査のために選択される画素の数は、ブロック境界周囲のフレームの画像内容、特にブロック境界（３０）を渡る画素の値の差と、ブロックの変換符号化に使用される変換係数の量子化ステップの大きさとに依存する。 - 特許庁

To provide an X-ray foreign matter inspection apparatus for detecting smaller foreign matters as compared with a conventional apparatus and for improving detection sensitivity regarding the size of the foreign matters even if an X-ray line sensor having the same pitch between elements is used.例文帳に追加

素子間のピッチが同じＸ線ラインセンサを用いても、従来の装置に比してより小さい異物を検出することができ、もって異物のサイズに関する検出感度を向上させることのできるＸ線異物検査装置を提供する。 - 特許庁

In the inspection method, when a defect where the measured width is larger than the size of a pixel is not detected, the blightness level of the circuit pattern or the spatial component is analyzed, more in detail, to detect a defect corresponding to an open circuit, a short circuit or a remaining copper foil.例文帳に追加

本発明の検査方法は、画素単位で映像データを獲得し、回路パターン又は空間成分の幅を測定する方向と垂直方向に測定して、測定された幅が基準幅より大きな場合の不良であると、ショートと検出する。 - 特許庁

The plane edge of the inspection gauge is press abutted to the edge of the sheet glass, and the edge position of the colored film and the tip of the protrusion are compared and discriminated whether the width between the edge of the colored film and the edge of the sheet glass is less than or equal to the allowable size.例文帳に追加

この検査ゲージの平面状の端面を板ガラスエッジに押し当て、着色膜のエッジ位置と検査ゲージの凸部の先端とを比較し、着色膜のエッジと板ガラスのエッジとの間の幅が許容寸法以下かどうかを判別する - 特許庁

To solve the problems wherein, when an illuminance distribution in an illumination spot by an actual illumination optical system is not a Gaussian distribution, each accuracy of particle size calculation of a foreign matter or a defect to be detected and coordinate position detection on the inspection object surface is lowered.例文帳に追加

実際の照明光学系による照明スポット内の照度分布がガウス分布になっていない場合には、検出される異物・欠陥の粒径算出および被検査物体表面上での座標位置の検出精度が低下してしまう。 - 特許庁

By set up of categories for layers, one for the information on the joint, one for the lattice data, and one for the inspection results on the flaw, the position, the size, the type of the flaw and the like can be displayed in one development and it is very convenient.例文帳に追加

またレイヤーとして目地情報に関するものと、格子データに関するものと、疵の検査結果に関するものとを設けることにより、疵の位置と疵の大きさ種別等を一つの展開図の中に表示でき、極めて便利である。 - 特許庁

To provide an inspection device for a display panel usable in common even for a display panel having a different size, equipped with a shielding member capable of shielding disturbance light in close proximity of the display panel and changing a shielding domain.例文帳に追加

表示パネル直近で外乱光を遮断できるとともに、遮光領域を変化させることができる遮断部材を備えて、サイズの異なる表示パネルであっても共通して用いることができる、表示パネル用の検査装置を提供する。 - 特許庁

When a plurality of defect candidates are detected by a first automatic inspection, the distance between the defect candidates is calculated, a defect candidate existing within a fixed distance determined by a visual field size and magnification are grouped as a group of defect candidates, and a visual field position is determined for performing a second inspection so that all defect candidates included one group of defect candidates enter one visual field.例文帳に追加

第１の自動検査により欠陥候補が複数検出された際に、欠陥候補間の距離を計算し、視野サイズや倍率から決められる一定距離以内に存在する欠陥候補をひとつの欠陥候補群としてグルーピングし、一の欠陥候補群に含まれる全ての欠陥候補が一視野に入るように視野位置を決めて第２の検査を行うようにする。 - 特許庁

An evaluation part 81 evaluates the presence of the defect in the inspection portion of the infrared cut-off filter 10, based on a digital image obtained therein, and records a state of the defect such as a position and a size a shape of the defect, in an HDD 82, when the defect exists.例文帳に追加

このとき得られるデジタルな画像をもとに、評価部８１は赤外カットフィルタ１０の検査部分に欠陥があるか否かを評価し、欠陥がある場合には、その欠陥の位置、大きさ、形状などの欠陥の状態をＨＤＤ８２に記録する。 - 特許庁

To provide a precoated color nail possible to be surely discriminated in nail size on the basis of color of a nail head part in inspection for confirmation when a building is completed and having remarkably strong joining proof stress in relation to wooden materials and not comprising a harmful material in the precoated color film.例文帳に追加

着色塗装釘として、建物竣工時の確認検査の際に釘頭部の色合いから釘サイズの識別を確実に行え、木材に対する接合耐力が非常に大きく、着色塗膜に有害物質を含まないものを提供する。 - 特許庁

To provide an electromagnetic induction type inspection device and method therefor capable of inspecting and detecting all of the inspecting object regardless of dielectric body and electromagnetic body highly precisely and capable of measuring the object regardless of the size of the object, and capable of easily performing miniaturization.例文帳に追加

誘電体、磁性体を問わずあらゆる検査対象物を高感度、高精度で検査、検出することができ、また被検査物の大きさに関係なく測定でき、小型化を容易にできる電磁誘導型検査装置および検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspecting method for an electrooptical device, which can precisely inspect optical characteristics even when a pixel size becomes narrow and, preferably, facilitates automation of inspection and can physically measure various functional films formed on a substrate.例文帳に追加

画素サイズが狭小化した場合にも光学特性を精度良く実施することができ、好ましくは検査の自動化が容易であり、基板上に形成した各種機能膜の物理的な測定も行うことができる電気光学装置の検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a detector unit for track inspection, mounted with optical displacement sensors and reduced in size and weight to be mounted in a carriage, without making the unit structure rigid and mounted in a general commercial vehicle.例文帳に追加

光学的変位センサを搭載する検出器ユニットを堅牢な構造にしなくても台車に取付けることが可能で一般の営業車両にも取付けることができるように小型軽量化した軌道検測のための検出器ユニットを提供することにある。 - 特許庁

After the components on the substrate are extracted by a difference calculation between the images and a binarizing process of a difference image, the component is identified by comparing a size of the extracted component with a component library registered with standard inspection data of various component.例文帳に追加

そして、これらの画像間の差分演算や差画像の２値化処理により、基板上の各部品を抽出した後、各種部品の標準検査データが登録された部品ライブラリを抽出した部品の大きさにより照合することにより、各部品を特定する。 - 特許庁

The substrate storing container M and the substrate inspection apparatus equipped with the same are individually equipped with a cassette that stores a plurality of substrates S stacked vertically, is loaded vertically to a housing, and matches with the size of a substrate to be inspected.例文帳に追加

本発明による基板収納容器Ｍと、これを具備した基板検査装置は、上下方向に積層された複数の基板Ｓが収納されるカセットがハウジングに対して垂直に積載され、検査対象基板の大きさに適合したカセットを個別に備える。 - 特許庁

From the stage position of a defect detected by a review device, a defect candidate close to that stage position is listed along with the defect information (defect type, defect image, defect size) provided by an inspection device, so that a defect for use in the fine alignment correction can be selected.例文帳に追加

レビュー装置が検出した欠陥のステージ位置から、そのステージ位置に近い欠陥候補を検査装置が提供する欠陥情報（欠陥種別，欠陥画像，欠陥サイズ）とともに一覧表示し、ファインアライメント補正に使用する欠陥を選択できるようにする。 - 特許庁

To provide a glass substrate for imprint, a resist pattern forming method, and a method and an apparatus for inspecting the glass substrate for imprint, with which high-sensitivity, high-inspection speed and high-throughput can be achieved with respect to a pattern and an extraneous substance with ultra fine size.例文帳に追加

本発明は、超微小サイズのパターン及び異物の検査について、高感度、高速及び高スループットを実現できるインプリント用ガラス基板、レジストパターン形成方法、インプリント用ガラス基板の検査方法及び検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁