「Size Inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

CHIP SIZE PACKAGE BOARD FOR INSPECTION例文帳に追加

検査用チップサイズパッケージ基板 - 特許庁

SIZE INSPECTION METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加

寸法検査方法およびその装置 - 特許庁

INSPECTION DEVICE AND ADJUSTMENT METHOD OF IRRADIATION BEAM SIZE OF INSPECTION DEVICE例文帳に追加

検査装置および検査装置の照射ビームサイズ調整方法 - 特許庁

However, as mentioned earlier, when conducting an inspection, it is essential that inspectors take a flexible approach that bears in mind the characteristics, size, complexity and other attributes of the inspected agency; and take care to prevent too rigid and uniformed verification of items listed in the Inspection Manual. 例文帳に追加

⑴ 経営方針等 - 金融庁

To provide an inspection device capable of coping with the inspection of a large-size liquid crystal panel.例文帳に追加

大型の液晶パネルの検査に対応する検査装置とする。 - 特許庁

SIZE MEASUREMENT DEVICE, SIZE MEASUREMENT METHOD AND INSPECTION DEVICE FOR ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加

寸法計測装置、寸法計測方法および電子部品の検査装置 - 特許庁

SIZE-CHANGEABLE STAGE AND INSPECTION APPARATUS FOR LIQUID CRYSTAL SUBSTRATE例文帳に追加

サイズ可変ステージ及び液晶基板の検査装置 - 特許庁

To limit an inspection area for use in the inspection of a print head to the minimum necessary size or a size almost equal to the size.例文帳に追加

印刷ヘッドの検査に用いる検査領域を必要最小限の大きさ又はそれに近い大きさに抑えることができる。 - 特許庁

JIG FOR WAFER INSPECTION, INSPECTION DEVICE FOR SEMICONDUCTOR WAFER, AND MANUFACTURING DEVICE FOR WAFER LEVEL CHIP SIZE PACKAGE例文帳に追加

ウェハ検査用治具、半導体ウェハの検査装置及びウェハレベルチップサイズパッケージの製造装置 - 特許庁

To provide a flaw inspection device having a high inspection reliability in spite of a small size.例文帳に追加

小型でありながら、検査の信頼性が高い欠陥検査装置を提供すること。 - 特許庁

To make a contribution to the reduction in the size of a reader for bar code inspection by shortening the inspection time of the bar codes.例文帳に追加

バーコードの検査時間を短縮し、バーコード検査用の読取装置の小型化に寄与する。 - 特許庁

To inspect even a large-size substrate by a small-size substrate inspection device.例文帳に追加

大型の基板であっても小型の基板検査装置で検査が行えるようにすることである。 - 特許庁

To provide an inspection device capable of knowing the content of the particles with a specific particle size contained in an inspection target, and an inspection method.例文帳に追加

被検査体内の特定粒度の粒子の含有量を知ることができる検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inexpensive inspection device which enables inspection of an inspection target in a short time with high accuracy, even when the inspection target different in size is inspected by a single inspection device.例文帳に追加

サイズの異なる検査対象物を一台の検査装置で検査する場合でも、前記検査対象物を高精度で短時間に検査でき、かつ装置コストの安価な検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a macro inspection device which examines the size variation of a rugged pattern of the surface of an inspection object.例文帳に追加

被検査物の表面の凹凸パターンのサイズ変動を検査するマクロ検査装置を提供する。 - 特許庁

To suppress scaling-up of a substrate inspection device that accompanies size enlargement of a substrate, while improving the inspection efficiency.例文帳に追加

基板サイズに伴う基板検査装置の大型化を抑制すると共に、検査効率を向上させる。 - 特許庁

A macro inspection device 100 examines the size variation of a rugged pattern of the surface of an inspection object 2.例文帳に追加

被検査物２の表面の凹凸パターンのサイズ変動を検査するマクロ検査装置１００である。 - 特許庁

In a step S1, a flag in inspection data is decoded, and in a step S2, an inspection area is set according to external shape size values of the inspection data.例文帳に追加

ステップＳ１で、検査データの中のフラグを解読し、ついでステップＳ２で検査データの外形寸法値から検査エリアを設定する。 - 特許庁

To provide a substrate inspection device and substrate inspection method capable of surely suppressing the increase in size of the device accompanied by the increase in size of a substrate.例文帳に追加

基板の大型化に伴う装置の大型化を確実に抑えることができる基板検査装置および基板検査方法を提供する。 - 特許庁

An inspection code is calculated by a file segmenting means 11, the file is segmented into data of a small size and data of large size and the inspection code and information for a request and added.例文帳に追加

ファイル分割手段１１は、検査コードを算出し、サイズの小さいデータと大きいデータとに分割し、検査コードと要求用情報を付加する。 - 特許庁

IMAGE INSPECTION SYSTEM BY IMAGE RETRIEVAL UTILIZING FILE SIZE OF COMPRESSED IMAGE例文帳に追加

圧縮画像のファイルサイズを利用した画像検索による画像検査方式 - 特許庁

The inspection part 3 specifics a defect becoming an inspection target from the defect on the inspection target surface 4a of a substrate 4 so that the inspection coverage related to the defect of the defect size becomes the target inspection coverage of the defect size at each defect size and outputs data related to the specified defect as the inspection result related to the whole of the inspection target surface 4a.例文帳に追加

検査部３は、欠陥サイズごとに、その欠陥サイズの欠陥についての検査カバレッジが、その欠陥サイズの目標検査カバレッジとなるように、基板４の検査対象面４ａ上の欠陥の中から検査対象となる欠陥を特定し、その特定された欠陥についての情報を、検査対象面４ａの全体についての検査結果として出力する。 - 特許庁

After the reduction size of the sign for the inspection reaches the display limit of the receiver, the reduction of the size is stopped.例文帳に追加

検査用標識の縮小サイズが同受像機の表示限界に達した以降は、サイズの縮小を止める。 - 特許庁

The range of extraction is determined so as to enable optimum inspection, from the size information of the semiconductor chip as the inspection object.例文帳に追加

検査対象の半導体チップの大きさ情報から最適検査が行なえるように切り出す範囲を決定する。 - 特許庁

When the simple inspection mode is selected, order acceptance and image inspection are performed using the reduced size image data.例文帳に追加

簡易検定モードが選択されると、縮小画像データを使用して注文受付と画像検定とが行なわれる。 - 特許庁

The setting part 2 sets target inspection coverage showing inspection coverage becoming a target at each predetermined defect size.例文帳に追加

設定部２は、予め定められた欠陥サイズごとに、目標となる検査カバレッジを示す目標検査カバレッジを設定する。 - 特許庁

To provide a visual inspection system and a method of visual inspection reducing the size of a file for images to be stored.例文帳に追加

保存する画像のファイルサイズを小さく抑えることができる外観検査システム、外観検査方法を提供する。 - 特許庁

To carry out printing result inspection with high accuracy, while reducing the size of image printing device.例文帳に追加

画像印刷装置の小型化を図りつつ、高精度での印刷結果検査をする。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus of liquid crystal panel capable of determining an exact inspection region independent of external size of a liquid crystal panel.例文帳に追加

液晶パネルの外形精度には関係なく、正確な検査領域を決定できる液晶パネル検出装置を提供する。 - 特許庁

To provide a picture processor capable of performing picture processing and highly precise inspection at a high speed, and small in size.例文帳に追加

高速に画像処理し高精度の検査を迅速且つ装置を小型化すること。 - 特許庁

To provide a chip-size package capable of stably positioning at the time of an inspection.例文帳に追加

検査の際に位置決めを安定して行うことができるチップサイズパッケージを提供する。 - 特許庁

To provide a size inspection method and its device capable of highly precisely measuring size in a short time.例文帳に追加

高精度の寸法測定を短時間に行なうことができる寸法検査方法およびその装置を目的とするものである。 - 特許庁

To enable objectively accurate size inspection and easy return to the original appropriate size and shape.例文帳に追加

客観的で正確な寸法検査を行うことができ、かつもとの適正な寸法形状に簡単に復帰させることができること。 - 特許庁

To inspect a blow with stable detection precision, regardless of the size of an inspection target in a blow inspection device for detecting the state of the inspection target, by applying blows to the inspection target to detect the vibrating sound of the inspection target caused by this blow, and a blow inspection method.例文帳に追加

被検査品に打撃を加え、これにより生じる該被検査品の振動音を検出することにより該被検査品の状態を検出する打撃検査装置及び方法において、被検査品の大小規模に拘わらず、安定した検出精度のもとでの検査を可能とする。 - 特許庁

To provide an underwater inspection device for easily adjusting buoyancy of a vehicle for inspection while preventing the growth in size of the vehicle.例文帳に追加

検査用ビークルの大型化を抑えつつ、検査用ビークルの浮力を容易に調整することができる水中検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a work inspection and parting device which can carry out the size inspection of a work accurately and securely eliminate a defective.例文帳に追加

ワークの寸法検査を精度よく行い、且つ不良品を確実に排除することのできるワーク検査振分け装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a visual inspection method capable of quantitatively obtaining the size of a burr and efficiently performing a visual inspection.例文帳に追加

カエリの大きさを定量的に把握するとともに、効率的に外観検査を実施することが可能な外観検査方法を提供する。 - 特許庁

To shorten a measuring time required for inspection of a substrate, and to reduce a size of a device main body.例文帳に追加

基板検査に要する測定タクトタイムの短縮化、及び装置本体の小型化を図ること。 - 特許庁

To provide an inspection tool capable of determining the size of a defect of a painted surface speedily and correctly.例文帳に追加

迅速に且つ正確に塗装面の欠陥の大きさを判定できる検査冶具を提供する。 - 特許庁

To provide a product inspection method in which the reliability of the size measurement of sizes A, B, C of a battery 18 is enhanced.例文帳に追加

電池１８の寸法Ａ、Ｂ、Ｃの寸法測定の信頼性を向上させること。 - 特許庁

Then, an inspection system determination part 111 determines the inspection system of the lot as an inspection system with a larger sample size according as the quality points calculated by the quality point calculation part 109 is low.例文帳に追加

そして、検査方式決定部１１１は、品質点数算出部１０９が算出した品質点数が低いほど、ロットの検査方式をサンプルサイズが大きい検査方式に決定する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic inspection device capable of measuring the size of a flaw on an inspection object portion by correcting an error of an ultrasonic beam path length caused by a curvature of the surface of the inspection object.例文帳に追加

被検査体の表面の曲率による超音波ビーム路程の誤差を補正し被検査体部位のきずの大きさを測定できる超音波検査装置を提供することである。 - 特許庁

The pore inspection system is capable of performing a suitable inspection on the size of the hole 1a of the flexible container 1 with simple structure.例文帳に追加

可撓性の孔付容器１の孔１ａの大きさについて適切な検査を簡素な構成によって行うことが可能な孔検査システム。 - 特許庁

To provide a method of inspecting a bead and a bead inspection apparatus for nondestructively calculating the throat thickness of a bead, regardless of the size of an inspection target.例文帳に追加

検査対象の大きさに関わらず、非破壊でビードののど厚を算出可能なビード検査方法及びビード検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for setting determination conditions in a defect inspection device capable of automatically setting and determination size, without having to perform resetting work of the determination size, and to provide the defect inspection device.例文帳に追加

判定サイズの再設定作業を行うこと無く、判定サイズの設定を自動的に行うことが可能な欠陥検査装置における判定条件設定方法及び欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁