「Size Inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

To reduce a size of a power supply device for a vehicle while sufficiently securing safety of a worker during inspection work, etc.例文帳に追加

点検作業時等における作業者の安全を十分に確保しつつ、車両用電源装置の小型化を図ることにある。 - 特許庁

To provide an inspection device for semiconductor capable of making the size small with necessary strength held in a beam and forming many probes.例文帳に追加

梁に必要な強度を保持した状態で小型化ができ、多数のプローブを形成可能な半導体検査装置を実現する。 - 特許庁

Excellent correlation exists between a value of relative frequency determined in this way and the size of the particle part determined by the sensual inspection.例文帳に追加

このようにして求めた相対頻度の値と、官能検査による粒子部の大きさとの間には良好な相関が見られる。 - 特許庁

To provide an article inspection device using a common signal processing part even if specifications such as the size or pitch of pixels and the like are different.例文帳に追加

画素のサイズやピッチ等の仕様が異なっても共通の信号処理部を使用することが可能な物品検査装置を得る。 - 特許庁

To provide a defect inspection method capable of inspecting a defect by setting a size determination region having defect detection sensitivity corresponding to the size of a defect part automatically according to the pattern density.例文帳に追加

パターンの密度に応じて自動的に欠陥部分のサイズに応じた欠陥検出感度を有するサイズ判定領域を設定して欠陥検査できる欠陥検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an X-ray defect inspection device for determining normality/abnormality of inspection objects by determining the size or the volume from radiographic images of the inspection objects, capable of accurately inspecting each inspection object, even if the inspection objects are transported, in a state that a plurality of them are in contact with each other or are overlapped, and improving the yield of inspection, without performing special for transportation.例文帳に追加

被検査物のＸ線透過像からその大きさや体積を求め、正常／異常の判定を行うＸ線欠品検査装置において、被検査物が複数個接触した状態で搬送されたり、重なり合った状態で搬送されてきても、個々の被検査物について正しく検査することが可能で、検査の歩留りを向上させ、また、搬送に特別な工夫を施す必要のない装置提供する。 - 特許庁

To obtain a foreign matter inspection device which can detect size information and height information on foreign matter on an inspection surface such as mask or/and wafer surfaces with high precision and the manufacture of a device using it.例文帳に追加

マスク又は／及びウエハー面などの検査面上の異物の大きさ情報と高さ情報を高精度に検出することのできる異物検査装置及びそれを用いたデバイスの製造方法を得ること。 - 特許庁

To provide a device and a method for image processing and inspection which can accurately inspect an object to be inspected even if the size of an inspection object area is different corresponding to the object to be inspected.例文帳に追加

検査対象物に応じて検査対象領域の大きさが異なる場合でも検査対象物の検査を正確に行える画像処理検査装置及び画像処理検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a measuring apparatus for measuring an inspection target surface capable of measuring the inclination angle, shape, diameter size and the like of an inspection target surface composed of a rotationally symmetric ruled surface or a plurality of plane surfaces separated from each other in a short time.例文帳に追加

回転対称な線織面または互いに離間した複数の平面からなる被検面の傾斜角度、形状および径の大きさ等を短時間で測定可能な被検面測定装置を得る。 - 特許庁

In 1506, Soun ordered an inspection of the land around Odawara in order to determine its size and to decide land taxes paid by peasants, considered to be the first such inspection performed by a Sengoku daimyo. 例文帳に追加

永正3年（1506年）に小田原周辺で指出検地（在地領主に土地面積・年貢量を申告させる検地）を実施しているが、これは、戦国大名による検地として最古の事例とされている。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

To narrow a radiation irradiation field to the region of an inspection target part even for the inspection target part whose position and size can not be recognized from the appearance, and to suppress the exposure of a subject to a necessary minimum.例文帳に追加

外観から位置や大きさを把握できない検査対象部位であっても放射線照射野を検査対象部位の領域に絞り込み、被写体の被曝を必要最低限に抑える。 - 特許庁

To realize a charged particle beam device with low cost and high precision, capable of removing stage-repulsion force leading to errors of drawing or inspection without enlarging the size of the device, and performing inspection with a high throughput.例文帳に追加

装置を大形化すことなく、描画誤差、或いは検査誤差に繋がるステージ反力を除去し、安価で高精度な描画、及びスループットの高い検査が可能となる荷電粒子線装置を実現する。 - 特許庁

To improve measurement accuracy of a size necessary for inspection of a product by using CAD data for product design and measuring point group data.例文帳に追加

製品の設計時ＣＡＤデータおよび測定点群データを用いて、製品の検査に必要な寸法の測定の精度を向上する。 - 特許庁

To facilitate assembling works, to reduce size and weight, and to reduce cost required for an inspection and a repair of a wheel bearing unit.例文帳に追加

組立作業の容易化と小型・軽量化とを図ると共に、車輪用軸受ユニット１ａの点検・修理に要するコストを低減する。 - 特許庁

In addition, quality inspection of plane size of the semiconductor package can be easily realized after division using the division recesses 4 as markers.例文帳に追加

また、分割窪み４を目印にすることにより、分割後の半導体パッケージの平面サイズの良否検査を容易に実現できる。 - 特許庁

To efficiently perform a lighting inspection concerning also an electro-optical device in which the size of each connecting terminal and each interval are made highly fine.例文帳に追加

各接続端子のサイズや各々の間隔が高度に微細化された電気光学装置についても効率よく点灯検査を実施する。 - 特許庁

To provide a review apparatus and an inspection apparatus system for easily and visually recognizing a defect regardless of a type and a size of the defect.例文帳に追加

欠陥の種類やサイズにかかわらず、欠陥を容易に視認することのできるレビュー装置および検査装置システムを提供する。 - 特許庁

Information informing the ink end, through visual inspection, can be printed on the ink cartridge 20 while the apparatus size is prevented from increasing.例文帳に追加

装置寸法の増加を招くことなく、目視によりインクエンドであることが分かる情報をインクカートリッジ２０に印刷することができる。 - 特許庁

To provide an image detection device and an inspection apparatus for measuring the actual size (dimension) of an undefined area having damage, foreign substance, etc.例文帳に追加

傷や異物等がある不確定な部位の実際の大きさ（寸法）を測定する画像検出装置および検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device using a microchip, wherein the constitution of a photodetection part is simple, and the device has a small size and low cost, and installation thereof is easy.例文帳に追加

光検出部の構成が簡単で、装置が小型で安価で設置が容易な、マイクロチップを用いる検査装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a substrate inspection device capable of supporting only the end edge of a substrate easily corresponding to the alteration in the size of the substrate.例文帳に追加

基板のサイズの変更に容易に対応して、その基板の端縁のみを支持することが可能な基板検査装置を提供すること。 - 特許庁

To reduce a burden imposed on a worker in an inspection work of an engine in a small-size and light-weight constitution capable of securing the rigidity.例文帳に追加

小型且つ軽量で、しかも剛性を確保できる構造で、エンジンの点検作業時に作業者にかかる負担を軽減する。 - 特許庁

To provide an inspection device for a thin film transistor substrate capable of inspecting the presence of a defect in the thin film transistor substrate, allowing accurate inspection even under a low vacuum condition, capable of coping properly with a change in a size of the thin film transistor substrate, and capable of shortening an inspection time.例文帳に追加

薄膜トランジスター基板の欠陥の有無を検査し、低真空状態でも正確な検査が可能で、薄膜トランジスター基板のサイズの変化に適切に対応することができ、検査時間を短縮させる薄膜トランジスター基板の検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a visual inspection device capable of detecting sufficiently an appearance defect by widening the setting width of an irradiation condition of light irradiated to an inspection object, and having a wide tolerance of the shape, the size and the material of the inspection object and a high utility value.例文帳に追加

被検査物に対して照射する光の照射条件の設定幅を広げることにより、外観不良を十分に検出することができる被検査物の形状，サイズ，材質の許容範囲を広げ、利用価値の高い外観検査装置を提供する。 - 特許庁

According to the underground device inspection structure, an inspection port 20 having a size sufficient for the inspection operator to enter an underfloor space 11, is formed in a floor 13a of an entrance hall 13 of a house 10, at a location immediately above a filter unit 19 of a ventilation device 12 arranged in the underfloor space 11.例文帳に追加

住宅１０の玄関ホール１３の床１３ａに、床下空間１１に配置された換気装置１２のフィルタユニット１９の直上で、点検作業員が床下空間１１に進入可能な大きさを有する点検口２０が形成されている。 - 特許庁

By mounting two calibration samples 453 and 454 on a wafer mounting surface of a wafer chuck 23 to selectively use the two calibration samples 453 and 454 according to a large-size wafer 18a and a small size wafer 18b, the defect inspection of inspection objects having different sizes can be handled.例文帳に追加

ウエハチャック２３のウエハ載置面に校正試料４５３と校正試料４５４の２個、設け、大サイズウエハ１８ａと小サイズウエハ１８ｂに応じて、これら２個の校正試料４５３、４５４を使い分けることにより、サイズの異なる被検査物の欠陥検査に対応するようにしたもの。 - 特許庁

To provide a component inspection apparatus having no need of replacing a rotary table in accordance with the type and size of headed components which are components to be inspected.例文帳に追加

被検査部品である頭付部品の種類、サイズに応じて回転テーブルを取り替える必要のない部品検査装置を提供する。 - 特許庁

A fine air bubble state (size and quantity) in an ACF 3 is quantitatively evaluated and added to decision contents of mounting state inspection.例文帳に追加

ＡＣＦ３内に介在する微小気泡状態（大きさ、数）を定量評価し、それを実装状態検査時の判定内容に追加する。 - 特許庁

To provide a first bonding point inspection method in a wire bonding, in which the position of a ball and the size of the ball can be detected stably.例文帳に追加

ボールの位置やサイズを安定して検出できるワイヤボンディングにおけるファーストボンディング点の検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To fix a landing door in such opening size that there is no risk of fall into an elevator shaft so as to enable shaft inside inspection from the landing in safety.例文帳に追加

昇降路内に転落の恐れの無い開口寸法で乗り場戸を固定し、乗り場からの安全な昇降路内点検を可能とする。 - 特許庁

To properly inspect quality of a wiring pattern without increasing the measuring time, and without enlarging the size of inspection device or increasing the cost.例文帳に追加

測定時間が増えたり、検査装置が大型化・高コスト化したりすることなく配線パターンの良否を適正に検出できるようにする。 - 特許庁

To provide a surface inspection apparatus for detecting the existence of a flaw on the surface of a machined workpiece, and estimating its position and size.例文帳に追加

機械加工が施されたワークの表面の傷の有無を検出し、かつ、その位置、大きさを推定できる表面検査装置を提供する。 - 特許庁

The welding electrode inspection device 1 is for inspecting the size of the tip end surface 51 of a pair of welding electrode tips 5 in a spot welding machines.例文帳に追加

スポット溶接機における一対の溶接電極チップ５の先端面５１の大きさを検査するための溶接電極検査装置１。 - 特許庁

To realize a magnetic shield room capable of improving the openness of wall surfaces therein by relaxing restriction on the size and install ation of an inspection window or a gateway.例文帳に追加

検査窓や出入り口の大きさ及び設置位置の制限を低減して、壁面の開放性を向上可能な磁気シールドルームを実現する。 - 特許庁

Next, a scribing lane is used to connect the PAD (L2) and PAD (U3) capable of stable probing inspection for adjacent chips and the PAD (R1) and PAD (R1) and PAD (D1) of small size.例文帳に追加

次に隣接チップの安定したプロービング検査が可能なサイズのPAD(L2),PAD(U3)と小サイズのPAD（R1）,PAD(D1)間とをスクライブレーンを介して接続する。 - 特許庁

One chip is formed by using two kinds of pad sizes, PAD (L1) and PAD (U1) capable of stable probing inspection and PAD (R1) and PAD (D1) of small size.例文帳に追加

一つのチップ内において、安定したプロービング検査が可能なサイズのPAD(L1),PAD(U1)と、小サイズのPAD(R1),PAD(D1)の2種類のパッドサイズを用いて構成する。 - 特許庁

The inspection method acquires an image signal generated by the solid-state imaging device through emission of an illumination light for inspection to respectively generate a plurality of partial images with respect to a whole image indicated by the image signal by the same image size.例文帳に追加

検査用の照明光の照射によって固体撮像素子が生成する画像信号を取得し、その画像信号が示す全体画像に対する、複数の部分画像をそれぞれ同じ画像サイズで生成する。 - 特許庁

Thereby, it is judged whether a driving command signal is for inspection or for usual operation by comparing the driving command signal, which differs in size depending on a high level or low level set for the inspection or usual operation, with a threshold value.例文帳に追加

これにより、検査用と通常動作用とでハイレベルまたはローレベルの大きさを異ならせた駆動指令信号と閾値とを比較し、駆動指令信号が検査用か通常動作用かを判定している。 - 特許庁

Based on the result of the sensing, the position, the size, or the like, of a land window W1 intended for solder inspection is corrected and, according to the result of the correction, positions for setting other inspection windows W2-W4 are corrected.例文帳に追加

さらにこの検出結果に基づき、はんだ検査用のランドウィンドウＷ１の設定位置やサイズを修正した後、この修正に応じて、他の検査用ウィンドウＷ２〜Ｗ４の設定位置を修正する。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus capable of coping with substrates having any size, capable of being easily incorporated in a manufacturing line, capable of tilling the substrate and capable of reducing the load on an inspector to perform safe inspection.例文帳に追加

様々な大きさの基板に対応ができ、生産ラインに組み込むことが容易であり、基板を傾けることも可能で、検査者の負担が少なく安全に検査を行うことのできる検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a socket for inspection capable of making the center point of a device guide aperture of the inspection socket and the center point of an inspecting device coincide always even if there are variations in the size of the outline of the inspecting devices.例文帳に追加

被検査デバイスの外形の大きさにバラツキがあっても、検査用ソケットのデバイスガイド開口部の中心点と被検査デバイスの中心点とを常に一致させることができる検査用ソケットを提供する。 - 特許庁

Inspection conditions of an inspection apparatus are made proper by creating a sample where a nonconductive contact hole 2 on a wafer through defect position and size thereof, and the thickness of a defect layer are clear, and by evaluating the sample.例文帳に追加

ウエハ上における非導通コンタクト孔２や突抜け欠陥位置と大きさ及び欠陥層の厚さが明確なサンプルを作成し、これを評価することによって、検査装置の検査条件を適正化する。 - 特許庁

To provide a three-dimensional defect inspection apparatus which is an automatic defect inspection apparatus of a color filter substrate and is capable of performing extremely efficient defect inspection of a defect on the color filter substrate by performing not only area size determination of a plane but also simultaneously performing defect determination in a height direction.例文帳に追加

本発明はカラーフィルタ基板の自動欠陥検査装置で、前記カラーフィルタ基板上の欠陥を平面の面積サイズ判定だけでなく、同時に高さ方向の欠陥判定を行うことで、極めて効率のよい欠陥検査が行える立体欠陥検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

Even when the inspection target of different size is inspected, efficient inspection can be performed because all of the CCD cameras are used at the time of inspection; and the processing efficiency of the image taken by the CCD cameras can be enhanced, by uniformizing the image quantities processed by the CCD cameras.例文帳に追加

異なるサイズの検査対象物を検査する場合でも、検査時にはすべての前記ＣＣＤカメラが使用されるために効率よく検査でき、かつ前記ＣＣＤカメラが処理する画像量を均一化することで、前記ＣＣＤカメラが撮像した画像の処理効率を高めることができる。 - 特許庁

To easily evaluate the position or size of a flaw using a master by solving the problem that many objects to be inspected must be inspected in a conventional ultrasonic flaw detection type inspection device and a large number of the obtained inspection data must be accumulated and to enhance the precision reliability of the inspection device.例文帳に追加

従来の超音波探傷方式の検査装置では被検査対象物を数多く検査し、これらのデータを数多く重ねなければならなかったのをマスターを使用することにより欠陥の位置や大きさを容易に評価し、かつ検査装置の精度の信頼性を高める - 特許庁