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「elo」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索
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eloを含む例文一覧と使い方

該当件数 : 28



例文

Tell me that you knowabout elo ...例文帳に追加

エロイーズを知ってると言・・・ - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

GROUP III NITRIDE SEMICONDUCTOR SUBSTRATE FOR ELO例文帳に追加

ELO用III族窒化物半導体基板 - 特許庁

To form a germanium ELO layer without defect.例文帳に追加

欠陥のないゲルマニウムELO層を形成すること。 - 特許庁

To make wiring in ELO dense and improve device characteristic.例文帳に追加

ELOにおける配線の高密度化、デバイス特性の向上を図ること。 - 特許庁

例文

To improve the efficiency of a semiconductor optical element formed through ELO growth.例文帳に追加

ELO成長で形成される半導体光素子の効率を向上させる。 - 特許庁


例文

Then, a GaN layer 5 is grown by an ELO method on the GaN layer 2 (Fig.1c).例文帳に追加

次に、GaN層2上にGaN層5をELO法により成長させる(図1c)。 - 特許庁

To uniformly form recessed parts which realize ELO (epitaxial lateral overgrowth) growth of a GaN-based nitride semiconductor crystal on the main surface of a single crystal sapphire substrate, and to provide a production method suitable for mass production.例文帳に追加

単結晶サファイア基板主面に対して均一にGaN系窒化物半導体結晶をELO成長せしめるような凹部を形成するとともに、量産に適した製造方法を提供する。 - 特許庁

An n- drift layer 21 is formed on the surface of the channel area 15 by epitaxial growth in the horizontal direction (ELO).例文帳に追加

横方向(ELO)エピタキシャル成長によりチャネル領域15の表面からn^−ドリフト層21を形成する。 - 特許庁

The face-emission semiconductor laser 21 is formed by an epitaxial lift-off (ELO) process, and is approximately 10 μm thick.例文帳に追加

面発光半導体レーザ21はエピタキシャルリフトオフ(ELO)プロセスにより形成されたものであり、厚さ約10μmである。 - 特許庁

例文

In such a manner, providing the side wall of the ELO mask 3 with a tilted surface, for example, results in difficulty for voids to be formed above the ELO mask 3, enabling to perfectly suppress the generation of voids near the first starting point from which the transition 4 starts extending.例文帳に追加

例えばこの様にして、ELOマスク3の側壁に傾斜面を設けることにより、ボイドがELOマスク3の上方に形成され難くなり、転位4が伸び始める最初の出発点付近におけるボイドの生成を完全に抑止することも可能である。 - 特許庁

例文

Semiconductor thin layers 12 to 14, at least one of which is formed by ELO growth are laminated on a semiconductor substrate 11 and a metal mirror layer for reflecting light, can be arranged on the inside or in the lower part of an ELO growth mask material layer 15 to be used for the lamination of the semiconductor thin layers 12 to 14.例文帳に追加

半導体基板11上に少なくとも一層はELOで成長が行われる半導体薄層12〜14が積層形成されるが、その際用いられるELO成長マスク材層15の内部あるいは下部に光を反射する金属ミラー層を配置できる。 - 特許庁

According to the method, by improving the typical ELO, it is possible to simplify the gallium nitride substrate and the method for preparing the substrate for growing gallium nitride and reduce process cost.例文帳に追加

これにより、既存のELOを改善して、窒化ガリウム成長用基板及び窒化ガリウム基板の製造工程の単純化及びコストダウンを実現できる。 - 特許庁

To provide a group III nitride semiconductor substrate for ELO form a group III nitride film suppressive in surface roughness without depending on the film thickness.例文帳に追加

膜厚の大小に依存することなく表面粗さを抑制したIII族窒化物膜を作製するための、ELO用III族窒化物半導体基板を提供する。 - 特許庁

The semiconductor crystal 2 is a crystal grown on the crystal growth surface 1a of a crystal growth substrate 1 masked with an ELO mask 3 having so-called dome shaped cross section, and transition 4 extends from about the center of the top of the ELO mask 3 to a crystal growth surface 2a of the semiconductor crystal 2.例文帳に追加

半導体結晶2は所謂ドーム型の断面形状を有するELOマスク3がマスキングされた結晶成長基板1の結晶成長面1a上に成長したものであり、転位4はELOマスク3の上面略中央から半導体結晶2の結晶成長面2aまで伸びている。 - 特許庁

To provide a nitride compound semiconductor crystal epitaxial film which is superior in quality and reduced in transition density without using a process that utilizes a mask material used in a method like an ELO method.例文帳に追加

ELO法のようなマスク材料を用いたプロセスを用いずに転位密度を低減させ、高品質な窒化物系化合物半導体結晶のエピタキシャル膜を得ること。 - 特許庁

The group III nitride semiconductor epitaxial substrate 10 comprises forming an ELO growth layer 4 of the composition of Al_xGa_1-xN (0≤x≤1) on a group III nitride layer 2 formed on a substrates 1, wherein the ELO (Epitaxial Lateral Overgrowth) growth layer 4 is formed using a mask pattern 3 consisting of carbon formed on the group III nitride layer 2.例文帳に追加

基板1上に形成されたIII族窒化物層2上にAl_xGa_1−xN(0≦x≦1)なる組成のELO成長層4が形成されてなり、ELO(Epitaxial Lateral Overgrowth)成長層4は、III族窒化物層2上に形成された炭素からなるマスクパターン3を用いて形成されたIII族窒化物半導体エピタキシャル基板10。 - 特許庁

A lateral selective growth ELO structural layer is the GaInN- ELO structural layer 14 composed of a Ga_xIn_1-xN species crystal 14a provided on the sapphire substrate 12 as a stripe ridge, and a Ga_xIn_1-xN layer 14b grown from the Ga_xIn_1-xN species crystal 14a by lateral growth.例文帳に追加

横方向選択成長ELO構造層は、サファイア基板12上に、ストライプ状リッジとして設けられたGa_x In_1-x N種結晶部14aと、Ga_x In_1-x N種結晶部14aから横方向成長法により成長させたGa_x In_1-x N横方向成長層14bとから構成されているGaInN−ELO構造層14である。 - 特許庁

To provide a high-performance GaN-based compound semiconductor light receiving element that can be used as a fire sensor, by forming a nitride semiconductor substrate layer in which a hetero ELO technique is applied.例文帳に追加

ヘテロELO技術を応用した窒化物半導体基板層上に形成することで、火炎センサとして使用可能な高性能なGaN系化合物半導体受光素子を提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing semiconductor crystal by which a large-area GaN crystal can be manufactured and various problems caused by ELO growth using an ordinary mask layer can be avoided, and then, the manufacturing process of the GaN crystal can be simplified.例文帳に追加

大面積のGaN結晶を得ること、及び通常のマスク層を用いるELO成長に起因する種々の問題を回避し、かつ製造工程の簡略化を図ること。 - 特許庁

To obtain a semiconductor device employing ELO (Epitaxial Lateral Over Growth) in which high breakdown voltage characteristics are realized by growing high purity GaN while suppressing diffusion of Si from a selective mask material.例文帳に追加

ELO(Epitaxial Lateral Over Growth)を用いる半導体装置において、選択マスク材料からSiの拡散を抑えつつ高純度のGaNを成長させて、高耐圧特性を有する半導体素子を実現する。 - 特許庁

The substrate for growing a GaN-based crystal usable in the ELO technology is obtained by forming a mask layer 2 with a pattern which is constituted of mask areas (d) and non-mask areas (e) on the surface of a crystal substrate 1 on which the GaNbased crystal can grow.例文帳に追加

GaN系結晶が成長可能な結晶基板1の該基板面に、マスク領域dと非マスク領域eとが形成されるパターンにてマスク層2を形成し、ELO技術に対応し得るGaN系結晶成長用基板とする。 - 特許庁

Positive hole energy levels (HH1, HH2) of the subbands are adjusted by a voltage pulse applying circuit (10) synchronizing with the ultra short pulse irradiation, so that a difference (ΔE) of exciton oscillation energy of the multiple quantum well is equal to an oscillation energy (ELO) of coherent longitudinal optical phenons.例文帳に追加

この超短パルス照射と同期して電圧パルス印加回路(10)から、量子井戸の励起子振動のエネルギ差ΔEが、コヒーレント縦光学フォノンの振動エネルギ(ELO)と等しくなるように、サブバンドの正孔エネルギ準位(HH1,HH2)を調整する。 - 特許庁

The element has a GaP substrate 1, an active layer 4 which is positioned above the GaP substrate 1 and comprises an n-type AlInGaP layer and a p-type AlInGaP layer, and an ELO layer 3 which is positioned between the GaP substrate 1 and the active layer 4 and is formed by epitaxial lateral growth.例文帳に追加

GaP基板1と、GaP基板1の上方に位置し、n型AlInGaP層とp型AlInGaP層とを含む活性層4と、GaP基板1と活性層4との間に位置し、エピタキシャル横方向成長により形成されたELO層3とを備える。 - 特許庁

To improve crystalline by a ELO method and increase the confinement coefficient to resonator to obtain small mirror loss a resonator having a and align a mask for ridge formation easily.例文帳に追加

ELOG法による結晶性の向上を図り、共振器への光の閉じ込め係数値を大きくできるようにし、また、ミラー損失が少ない共振器端面を形成できるようにし、導波損失が少ない共振器を形成できるようにし、リッジ部形成用のマスクの位置合わせを容易に行なえるようする。 - 特許庁

The method for preparing the substrate for growing gallium nitride includes performing thermal cleaning on a surface of a silicon substrate, forming a Si_3N_4 micro-mask on the surface of the silicon substrate in an in situ manner, and growing a gallium nitride layer through epitaxial lateral overgrowth (ELO) using an opening in the micro-mask.例文帳に追加

シリコン基板の表面をサーマルクリーニングする工程と、基板の表面にインサイチュ方式のSi_3N_4マイクロマスクを形成する工程と、マイクロマスクの開口部を通じるエピタキシャル横方向過度成長(ELO)方法で窒化ガリウム層を成長させる工程と、を含む窒化ガリウム成長用基板の製造方法。 - 特許庁

This is because the semiconductor crystal 2 also can grow laterally along the tilted surface of the ELO mask 3 near the surface, while, as the semiconductor crystal 2 increases, the crystal growth surface 2a of the semiconductor crystal 2 moves upward from the vicinity of the crystal growth surface 1a of the crystal growth substrate 1.例文帳に追加

これは、半導体結晶2の成長に伴って半導体結晶2の結晶成長面2aが結晶成長基板1の結晶成長面1a付近から上方に移動する間にも、半導体結晶2はELOマスク3の傾斜面付近でこの傾斜面に沿って横方向にも成長できるためである。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a semiconductor element whereby warpage of a wafer is reduced to a degree not causing a problem on device characteristics and handling of the wafer when a semiconductor layer is selectively grown on a mask by ELO growth, and a semiconductor laser by which warpage of the wafer is reduced in the case of LD while a dislocation density of a stripe light-emitting part is reduced.例文帳に追加

ELO成長によりマスク上に半導体層を選択成長する場合に、ウェハの反りをデバイス特性やウェハのハンドリングに支障がない程度に小さくし得る半導体発光素子の製法およびLDにする場合にストライプ状発光部の転位密度を小さくしながら、ウェハの反りを抑制する半導体レーザを提供する。 - 特許庁

例文

When a nitride compound semiconductor layer is selectively grown on a wafer substrate by ELO growth and a semiconductor layer is stacked thereon so as to form a light-emitting layer forming part, a mask for selective growth in a horizontal direction is formed such that openings for exposing seeds entirely on the surface of the wafer substrate are not arranged only in a single direction successively.例文帳に追加

ウェハ状基板上にELO成長によりチッ化物系化合物半導体層を選択成長し、その上に発光層形成部を構成するように半導体層を積層する場合に、横方向への選択成長をするためのマスクを、ウェハ状基板の全面でシードを露出する開口部が単一方向に連続するもののみにならないように形成する。 - 特許庁




  
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