「function test」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

The function test by a comparison determination part 3 is carried out in parallel to the inclined waveform test by the analytical part 6.例文帳に追加

また、比較判定部３によるファンクションテストと、解析部６による傾斜波形テストとを並列して行なうことができる。 - 特許庁

To reduce a test cost of a whole function test performed for a semiconductor memory provided with a security circuit.例文帳に追加

セキュリティ回路を備える半導体メモリに対して実行する全体機能テストのテストコストを低減させることを課題とする。 - 特許庁

A function definition 4 is a file which defines a test function of software 300 and includes test items to be executed predetermined for each item type and typical data effective for confirming execution results of the test items concerned.例文帳に追加

機能定義４は、ソフトウェア３００のテストの機能を定義するファイルであって、項目タイプ毎に予め定められた実施すべきテスト項目及び当該テスト項目の実施結果の確認に有効な典型データを含む。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device in which a test time is shortened without increasing the number of terminals when a write-in mask function test is performed using a memory test (DMA).例文帳に追加

メモリテスト（ＤＭＡ）を使用して書き込みマスク機能テストを行う際に、端子数を増加させずテスト時間を短縮した半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test circuit of a semiconductor device for entering into a test mode for testing a mounted function without a dedicated test terminal.例文帳に追加

搭載された機能をテストするためのテストモードへの移行を専用のテスト端子を用いることなく行うことができるようにする半導体装置のテスト回路を提供する。 - 特許庁

To provide a pad unit having a test logic circuit for a chain test having a noise reduction function, and a method of driving a system with the usage of the pad unit having the test logic circuit.例文帳に追加

ノイズ除去機能を有する鎖テストのためのテストロジック回路が付加されたパッドおよびテストロジック回路が付加されたパッドを用いるシステムの駆動方法を提供する。 - 特許庁

The test rate is corrected and shortened corresponding to this calculated degree of the allowance, and thereafter the function test for the semiconductor device is done using the test rate normally corrected.例文帳に追加

この算出された余裕度に応じてテストレートを修正、短縮化し、その後、通常通り前記修正されたテストレートを用いて半導体デバイスのファンクションテストを行なう。 - 特許庁

To prevent omission of a function coverage item in the logic circuit function verification function of a system LSI using a random test pattern and a function coverage and the overlook of any failure accompanying the omission.例文帳に追加

ランダムなテストパターンと機能カバレッジを利用したシステムＬＳＩの論理回路機能検証機能における機能カバレッジアイテムの抜け、また、これに伴う不具合の看過を防止する。 - 特許庁

A stub function generation part 5 generates the stub function mounted with the interface of the input/output between the lower function and the function of the test target based on an extraction analysis result of the I/F.例文帳に追加

スタブ関数生成部５は、Ｉ／Ｆの抽出分析結果に基づいて、下位関数と試験対象の関数との間の入出力のインターフェースを実装したスタブ関数を生成する。 - 特許庁

A normal function of the second water supply valve 5 can be confirmed by means of the second test switch 13.例文帳に追加

第２のテストスイッチ13で第２の給水弁５の正常な機能が確認できる。 - 特許庁

A normal function of the first water supply valve 4 can be confirmed by means of the first test switch 12.例文帳に追加

第１のテストスイッチ12で第１の給水弁４の正常な機能が確認できる。 - 特許庁

To efficiently make evaluation test for a reproducing function of an optical disk device.例文帳に追加

光ディスク装置の再生機能の評価試験を効率的に行うことができるようにする。 - 特許庁

To provide a printer with a digital camera direct printing function, which allows a single body to make a connection test.例文帳に追加

単体で接続テストが可能なデジタルカメラダイレクト印刷機能付きプリンタを提供する。 - 特許庁

test of thyroid function in which the patient is given an oral dose of radioactive iodine-131 例文帳に追加

甲状腺の機能の試験で、患者は放射性ヨウ素131の経口量が与えられる - 日本語WordNet

AUTOMATIC COMMUNICATION PROTOCOL TEST SYSTEM HAVING MESSAGE/SEQUENCE COMPILATION FUNCTION AND TET METHOD例文帳に追加

メッセ—ジ／シ—ケンス編集機能を有する自動通信プロトコル試験システムおよび試験方法 - 特許庁

To reduce a load on a gas turbine by an operation confirmation test of an excessive speed prevention function.例文帳に追加

過速度防止機能の動作確認試験によるガスタービンへの負担を軽減すること。 - 特許庁

TEST SIGNAL GENERATION CIRCUIT, FUNCTION ADDITION CIRCUIT MODULE AND INSPECTION SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

テスト信号発生回路、機能追加回路モジュール、および、半導体デバイスの検査システム - 特許庁

The test function, in most cases, simply executes the stored photoflo for a specified number of repetitions.例文帳に追加

テスト関数はほとんどの場合、格納された photoplo を単に指定された回数だけ実行する。 - XFree86

To provide a voltage margin test circuit capable of operating an electronic device under test as a primary device function, capable of controlling it from a voltage margin test means at the time of a test, and provided with a deterioration preventing structure on the test means itself.例文帳に追加

試験される電子装置が本来の装置機能として動作できると共に、試験時には電圧マージン試験手段から制御可能とし、かつ試験手段そのものが劣化防止構造を備えた電圧マージン試験回路と劣化診断装置。 - 特許庁

Characteristic configuration technique to be constituted by passing a test procedure manual creating means 4 to create a test procedure manual 5 to indicate test procedures about a 'processing function A', a 'processing function B' by inputting function pattern tables 2', 3 to express the 'processing function A', the 'processing function B', etc., described in program specifications 1 of a testing object by standardized patterns is adopted.例文帳に追加

試験対象物のプログラム設計書１に記載された［処理機能Ａ］，［処理機能Ｂ］などを、標準化したパターンで現した機能パターン表２’，３が入力されることで、当該［処理機能Ａ］，［処理機能Ｂ］についての試験手順を示す試験手順書５を作成する試験手順書作成手段４を経てなる特徴的構成手法の採用。 - 特許庁

CARTRIDGE FOR MONITORING FUNCTION OF DEVICE FOR TESTING BLOOD PLATELET ACTION, METHOD FOR FUNCTION MONITORING, AND USE OF TEST FLUID例文帳に追加

血小板の働きを検査する装置の機能をモニタするためのカートリッジ、機能をモニタする方法および検査流体の使用 - 特許庁

The hardware portion has a hardware function which generates a test pattern and conducts an operation verification by inputting the test pattern to the circuit to be tested.例文帳に追加

ハードウェア部は、テストパタンを生成し、テストパタンを被テスト回路に入力することによって動作検証を行うハードウェア機能を有する。 - 特許庁

To perform a load test without using a network test tool (load tester), in a repeater provided with a load testing function.例文帳に追加

負荷試験機能を備えた中継装置に関し、ネットワークテストツール（負荷試験機）を用いることなく、負荷試験を行うことを可能にする。 - 特許庁

To provide an exchange function test system that can easily conduct a simulation test and can easily deal with a new-model communication terminal.例文帳に追加

シミュレーション試験を容易に行うことができ且つ新型の通信端末にも対応しやすい交換機能試験システムを提供する。 - 特許庁

To provide a videophone test method whereby one terminal can realize a videophone so as to be able to test its own videophone function without the need for an opposite terminal.例文帳に追加

対向端末を必要とせず、１台の端末でのテレビ電話を実現し、被試験端末のテレビ電話機能の試験を可能にする。 - 特許庁

The setUp function can access the test globals as the globs attribute of the test passed.Optional argument globs is a dictionary containing the initial global variables for the tests.例文帳に追加

tearDown ははglobs 属性を介してテストのグローバル変数にアクセスできます。 オプション引数 globs は辞書で、テストのグローバル変数の初期値が入ります。 - Python

The manufacturing equipment is equipped with a test container 10 for inspecting the function of the processing unit and a detecting unit for detecting the test container 10.例文帳に追加

製造設備は、処理装置の機能を検査するためのテスト容器１０と、テスト容器１０を検出する検出ユニットとを備える。 - 特許庁

The function blocks 10a-10C copy the test cell, separates the copied test cell from the original test cell, writes data denoting a loopback to the LBF-x fields of the separated test cell and inserts the resulting cell to a cell transmission line 15.例文帳に追加

各機能ブロック１０ａ〜１０ｃは、試験セルをコピーし、コピーした試験セルをもとの試験セルから分離し、分離した試験セルのＬＢＦ_xフィールドに折返しを示すデータを書き込んでセル伝送路１５に挿入する。 - 特許庁

In the test board for the semiconductor tester, signal wiring suitable for each method for a DC test and a function test is used and the signal wiring is switched, in response to a test method by providing a switching circuit.例文帳に追加

半導体テスター用テストボードにおいて、DCテストとファンクションテストのそれぞれの手法に適した信号配線を用い、切り替え回路を備えることにより、テスト手法に応じ信号配線の切り替えを行う。 - 特許庁

To efficiently test a case that a branching operation to an address outside a range of an on-chip memory is generated, in an LSI to perform a self-test by a built-in test function based on a test program to be stored in the on-chip memory.例文帳に追加

オンチップメモリに格納されるテストプログラムに基づき、ビルトインテスト機能によりセルフテストを行うＬＳＩにおいて、オンチップメモリの範囲外のアドレスへの分岐動作が発生するケースを効率よくテストする。 - 特許庁

An update processing function section 29 executes updating the in-operation station data stored in a storage medium when the test result from the test processing function section 35 indicates a successful result.例文帳に追加

更新処理機能部２９は試験処理機能部３５からの試験結果が良好の場合には記憶媒体３３に格納されている稼働中局データに対する更新を実施する。 - 特許庁

Whether advancing a Z-test function above the shader engine for early Z-testing is possible or whether the Z-test function should be deferred until after shading operation for late Z-testing, is determined.例文帳に追加

アーリーＺテストのためにシェーダエンジンよりＺテスト機能を先行させることが可能であるか、又は、レイトＺテストのためにシェーディングオペレーション後まで延期されるべきであるかを決定する。 - 特許庁

In the Web application function test terminal 1, a function test part 15 sends user event information in scenario information in one scenario recorded in a scenario recording part 13 to a plurality of Web browsers 11.例文帳に追加

Webアプリケーション機能試験端末１では、機能試験部１５が、シナリオ記録部１３に記録された１つのシナリオのシナリオ情報のユーザイベント情報を複数のWebブラウザ１１に送信する。 - 特許庁

The IC tester is acquired by improving the IC tester wherein a tester controller in which a test program is operated is communicated with a card on which a hardware function for executing a test by accessing a test object device is mounted, and a test command is transmitted from the tester controller to a firmware for controlling the hardware function in the card.例文帳に追加

テストプログラムが稼動するテスタコントローラと、テスト対象デバイスにアクセスしてテストを実行するハードウェア機能が実装されたカードとが通信し、カード内のハードウェア機能を制御するファームウェアに対してテスタコントローラよりテスト指令が送信されるＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

The multivariable test function generation system 1 is provided with: a data for training recording means 2 for recording data for training; a multivariable test function generation means 3 for correcting classification data, based on the data for training, and for generating multivariable test functions, based on the corrected classification data; and a multivariable test function recording means 4 for recording the generated multivariable test functions.例文帳に追加

多変数テスト関数生成システム１は、訓練用データを記録する訓練用データ記録手段２と、訓練用データに基づいて分類データの修正を行い、修正された分類データに基づいて多変数テスト関数を生成する多変数テスト関数生成手段３と、生成された多変数テスト関数を記録する多変数テスト関数記録手段４とを備えている。 - 特許庁

To provide a test circuit for a LCD driver and controller capable of measuring resistance of built-in bias resistors and preventing test failure caused by an external factor during a function test.例文帳に追加

内蔵バイアス抵抗のそれぞれの抵抗値を測定できると共に、ファンクションテストの際に、外部要因によるテスト不良を防ぐことのできるＬＣＤドライバ／コントローラのテスト回路を提供する。 - 特許庁

To provide a test apparatus for a network apparatus capable of carrying out a performance/function evaluation test of the network apparatus having many communication ports by using a few test communication ports.例文帳に追加

少数の試験通信ポートを用いて多数の通信ポートを有するネットワーク装置の性能・機能評価試験を行うことができるネットワーク装置用試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test circuit for a semiconductor memory and a semiconductor memory device having an operation verifying function of a built-in self- test circuit (BIST circuit) or a built-out self-test circuit (BOST).例文帳に追加

内臓自己テスト回路（ＢＩＳＴ回路）または外付自己テスト回路（ＢＯＳＴ回路）の動作検証機能を持った半導体メモリのテスト回路および半導体メモリデバイスを提案する。 - 特許庁

To provide a maintenance testing device for a guiding indicator panel that is provided with a maintenance test function which performs a test without undergoing the restriction of an external system and which is for quickly performing a confirmation test after a failure.例文帳に追加

外部システムの制約を受けずに試験を行え、故障後の確認試験を迅速に行うための保守試験機能を備えた案内表示盤の保守試験装置を提供する。 - 特許庁

To automatically, inexpensively and accurately grasp the number of test vehicles entering a test course by using the function of vehicle terminal equipment mounted on a test vehicle for various purposes.例文帳に追加

試験車両に種々の目的で搭載された車両端末機の機能を利用してテストコースに入場している試験車両の台数を無人で自動的に、安価で正確に把握する。 - 特許庁

To perform an accurate vibration test by offsetting vibration coupled to the test vibration in an active vibration isolation device having a function of applying the test vibration to a supporting object.例文帳に追加

被支持体へ試験振動を付加する機能を有するアクティブ除振装置において、その試験振動に連成する振動を相殺し、正確な振動試験を行えるようにする。 - 特許庁

To provide the test circuit of a semiconductor device capable of dispensing with a specific test terminal or a specific circuit and a manufacturing method for setting the mode of the test circuit of a mounted function core.例文帳に追加

搭載された機能コアのテスト回路のモード設定のために特別なテスト端子、もしくは特殊な回路や製造方法を必要としない半導体装置のテスト回路を提供する。 - 特許庁

To provide a substrate inspection device simple in constitution capable of performing inspection (in-circuit test or function test) using a contact pin and inspection (communication test) using a communication cable at the same time.例文帳に追加

コンタクトピンを用いた検査（インサーキットテストやファンクションテスト）と通信ケーブルを用いた検査（通信テスト）とを同時に実行することの可能な簡易な構成の基板検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test circuit and test method for semiconductor devices capable of function tests and d-c tests and enable an LSI tester with a few of pins to test.例文帳に追加

機能試験と直流試験を行うことができるとともに、少ないピン数のＬＳＩテスタで試験することができる半導体装置のテスト回路及びテスト方法の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide an LSI test device which can reduce periods necessary for an LSI test by reducing the frequency for setting test timing information contained in a function pattern, in an LSI tester.例文帳に追加

ファンクションパターンに含まれるテストタイミング情報をＬＳＩテスタに設定する回数を減らして、ＬＳＩのテストに要する時間を削減することが可能なＬＳＩテスト装置を提供すること。 - 特許庁