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「function test」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索
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function testの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 984



例文

To reduce obstacles such as paper jamming brought about at the time of an operation test in relation to the presence or absence of a predetermined function.例文帳に追加

所定の機能の有無に関係して動作テスト時に発生時する紙ジャムなどの障害を低減する。 - 特許庁

In a test for accessing an external storage device 200, some of pins 10 function as a bus pin.例文帳に追加

外部記憶装置200との間でアクセスするテスト時において、複数のピン10の一部はバスピンとして機能する。 - 特許庁

To test an overcurrent interrupting function of a circuit breaker, in a state with the supply of a load current maintained.例文帳に追加

負荷電流の供給を維持した状態で、配線用遮断器の過電流遮断機能試験を実施する。 - 特許庁

To provide a board performing a function test of a semiconductor device having an output buffer with large delay at a high-speed.例文帳に追加

遅延が大きい出力バッファを有する半導体装置の機能試験を、高速に行うボードを提供する。 - 特許庁

例文

To provide more information to individuals of participants by improving lecture support by a questionnaire/test function.例文帳に追加

アンケート/テスト機能による講義支援を向上させ、参加者個々に対してより多くの情報を提供する。 - 特許庁


例文

To provide a urine autoanalyzer with a function capable of correctly taking out test paper even if a cassette is replaced halfway.例文帳に追加

途中でカセットを交換されても正確に試験紙を取り出せる機能を持つ尿自動分析装置の提供。 - 特許庁

In GPIIN setting 32, on/off of a test, a polarity, a function and a parameter are set for each input part.例文帳に追加

GPIIN設定32では、入力部毎に、テストのON/OFF、極性、機能及びパラメータの設定がされる。 - 特許庁

(a) Knowledge necessary for structure, function, maintenance, remodeling, and test of machine instrument, electric instrument, gyroscopic instrument, and electronic instrument 例文帳に追加

イ 機械計器、電気計器、ジャイロ計器及び電子計器の構造、機能、整備、改造及び試験に必要な知見 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To move a staple at the head after loading the staple without using a test sheet, in a sheet processing device with staple function.例文帳に追加

ステープル機能付きシート処理装置において、針補充後の針頭出しを、テストシートを用いることなく行う。 - 特許庁

例文

function to actually test whether a given wide character has the property. 例文帳に追加

関数に渡すことによって、与えられたワイド文字がその属性を持つかどうかを実際にテストすることができる。 - JM

例文

To provide an inexpensive and small WDM type optical fiber gyro with self-test function.例文帳に追加

低価格、小型で、しかもセルフテスト機能を有するセルフテスト機能付きWDM方式光ファイバジャイロを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit for supporting co-debugging function and a semiconductor integrated circuit test system.例文帳に追加

コ−デバッギング機能を支援する半導体集積回路および半導体集積回路テストシステムを提供する。 - 特許庁

The automatic mode makes sense in cases where you want to quickly test a fixed portion of code like a script or a single function. 例文帳に追加

自動モードは、スクリプト全体や特定の関数など、決まった部分をお手軽にテストしたい場合に便利です。 - PEAR

In a state where the automatic recovery function is in use, the movable member 14 is automatically displaced downward; and since the test plug insertion opening 4 is closed, insertion of the test plug is prevented.例文帳に追加

また、自動復旧機能が使用状態のときには、自動的に可動部材14が下方に変位して、テストプラグ挿入口4が閉鎖され、テストプラグの挿入が阻止される。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit verifying device which speedily verifies the function of a device to be tested and a test pattern used for its test fast without using the actual device and a tester.例文帳に追加

被試験デバイスの機能やその試験に用いるためのテストパターンを実際のデバイスやテスタを用いずに高速に検証する半導体集積回路検証装置の提供。 - 特許庁

To provide a transmission signal generating circuit that can test each function block of a reception circuit in detail without the need for provision of a special test device other than a transmitter-receiver.例文帳に追加

送受信装置以外に特別な試験装置を用意することなく、受信回路の詳細な機能ブロック毎の試験を可能にする送信信号生成回路を提供する。 - 特許庁

To reduce the man-hours for test and to secure collected/stored data in a verification test of a measurement data collecting function of a monitor system which collects and stores measurement data.例文帳に追加

計測データを収集・蓄積する監視システムの計測データ収集機能検証試験において、試験工数の短縮と、収集・蓄積データの保証とを可能とする。 - 特許庁

To provide a unit test support device and a program therefor achieved in a function to automatically generate a minimum required test program when a stub is replaced with an actual program.例文帳に追加

スタブを実プログラムに置き換えた際に最低限必要となるテストプログラムを自動生成する機能を実現した単体テスト支援装置およびそのプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a gas meter equipped with a test shutoff function for performing test shutoff in a short period of time, resisting to shock and vibration, and being operable from a distant place.例文帳に追加

テスト遮断の機能を備えたガスメータにおいて、テスト遮断を短時間に行うことができ、また衝撃や震動に強く、離れた場所からも操作できるようにする。 - 特許庁

To solve the problem that it has been difficult to determine whether test vectors are as sufficient as they need to be or not in a method for verifying semiconductor integrated circuits for performing function simulation through the use of test vectors.例文帳に追加

テストベクタを用いて機能シミュレーションを行う半導体集積回路の検証方法では、テストベクタが必要十分であるかの判断が困難である。 - 特許庁

In the test substance immunomodulatory function evaluating method, the test substance is cultured with peripheral blood mononuclear cells, and granulysin in a culture supernatant is detected.例文帳に追加

被検物質を末梢血単核球とともに培養し、培養上清のグラニュライシンを検出することを特徴とする、被検物質の免疫賦活能評価方法。 - 特許庁

To provide an antenna coupler capable of conducting a radio performance test and a connection function test in a stable coupling state even when a model or a manufacturer of a mobile phone differs.例文帳に追加

携携帯電話の機種やメーカーが異なっても安定した結合状態で無線性能試験や接続機能試験を行うことができるアンテナカプラを提供する。 - 特許庁

To provide a test plan preparation device capable of preparing and changing the test plan of software in which a release schedule of each function is different with little labor and time.例文帳に追加

機能毎のリリース日程が異なるソフトウエアのテスト計画を、少ない労力と時間で作成および変更することができるテスト計画作成装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device which can reduce a circuit size by simplifying a constitution concerning test function while keeping advantages such as a real time test.例文帳に追加

リアルタイムテストなどの利点を維持しながら、テスト機能に係る構成を簡略化して回路規模を縮小することができる半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

To provide a pile driver equipped with a dynamic load test device capable of performing a load test within a short time and improving efficiency as well as the reduction of a cost by using a function of a pile driver body.例文帳に追加

杭打ち機本体の機能の利用により、載荷試験を短時間に行い、能率向上とコストダウンを図った動的載荷試験装置を備えた杭打ち機の提供。 - 特許庁

To provide a method, capable of performing an input level test by one function test and capable of inspecting an electronic circuit, without being affected by hysteresis characteristics.例文帳に追加

1回のファンクションテストで入力レベルテストを行うことができ、しかもヒステリシス特性に影響されないで電子回路を検査することができる方法等を提供する - 特許庁

To carry out a radio transmission characteristics test with constant transmission power without providing a mobile terminal apparatus with a function only required for the radio transmission characteristics test.例文帳に追加

無線送信特性試験のためだけに必要な機能を移動端末装置に実装しなくても一定の送信電力で無線送信特性試験を行うこと。 - 特許庁

A communication test signal is output to the output terminal, read by the diagnostic device 3, and is compared with a tolerance bandwidth transition so as to test a communication function.例文帳に追加

通信検査信号が出力端子へ出力され診断装置3によって読み込まれて、通信の機能を検査するため許容差帯域推移と比較される。 - 特許庁

To provide a function test apparatus for an HDD with reduced test time and memory resources used, by increasing a transfer volume for one command.例文帳に追加

一回のコマンドでの転送量を大きくすることによって試験時間が短くし、かつ使用するメモリ資源を少ないHDDの機能試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test printing control device which can shorten a working time by raising the efficiencies of test print preparing and executing work for confirming the function of a printing device.例文帳に追加

印刷装置の機能を確認するテスト印刷の準備および実施の作業を効率化して、作業時間を短縮することができるテスト印刷制御装置を提供する。 - 特許庁

In this test atmosphere construction system, a function block specification information storing part 111 stores information showing a function block that operates in connection with specification information of a prescribed function block while associated with the specification information.例文帳に追加

発明の試験環境構築システムは、機能ブロック仕様情報記憶部111は、所定の機能ブロックの仕様情報に対応させて関連して動作する機能ブロックを示す情報を記憶する。 - 特許庁

A test circuit for extracting a function included in a circuit from a circuit topology or function descriptions, and for inputting a verification vector corresponding to the extracted circuit function is generated, and a verification result is obtained.例文帳に追加

回路トポロジや機能記述から、その回路に含まれる機能を抽出し、抽出された回路機能に応じた検証ベクタを入力可能なテスト回路を生成し、検証を行って結果を得る。 - 特許庁

Visual function testing equipment capable of testing a plurality of visual functions displays a first image on a liquid crystal display portion 1B, with a resolution capable of a visual function test performed with a first eyesight and displays a second image on a dome-shaped screen 1A, with a resolution capable of a visual function test performed with a second eyesight.例文帳に追加

複数の視機能を検査可能な視機能検査装置であって、液晶ディスプレイ部1Bに対して第1映像を第1視力にて視機能検査ができる分解能で表示し、ドーム型スクリーン1Aに対して第2映像を第2視力にて視機能検査ができる分解能で表示する。 - 特許庁

When there exists a macro function (read_bit_01) for calculating variables x related with the conditional expression (x==0) of a branch included in a test target source file, the CUP of a computer device which executes the test of a program rewrites the macro function into external variables "dummy_BIT_A_1".例文帳に追加

プログラムのテストを実行するコンピュータ装置のCPUは、テスト対象のソースファイルに含まれる分岐の条件式(x==0)に関する変数xを求めるマクロ関数(read_bit_01)がある場合には、外部変数「dummy_BIT_A_1」に書き換える。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing system for calling a generic function included in a test program generated by using language for generating a test program without especially generating for the general argument of the generic function.例文帳に追加

テスト・プログラム作成用言語を用いて作成されたテスト・プログラムに含まれる汎用関数を、その汎用関数の汎用引数について特別な準備をすることなく呼び出すことができる半導体試験システムを提供する。 - 特許庁

An automatic grip chuck device 4 with a ruptured sample removal function of this invention comprises upper, lower automatic grip chuck parts 4A, 4B for gripping automatically and respectively both end sides of the test sample 12 performed tensile test and for performing the tensile test of the test sample 12.例文帳に追加

本発明の破断サンプル除去機能付き自動把持チャック装置4は、引張り試験を行う試験サンプル12の両端側をそれぞれ自動的に把持するとともに、該試験サンプル12の引張り試験を行うための上部,下部自動把持チャック部4A,4Bを備えている。 - 特許庁

To shift to a test mode without providing a terminal for the exclusive use of a test and to prevent shifting erroneously to a test mode at the time of normal operation in a semiconductor memory provided with a test function and a circuit substrate mounting a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

本発明は、試験機能を備えた半導体記憶装置およびこの半導体集積回路を搭載した回路基板に関し、試験専用の端子を設けることなく試験モードに移行し、かつ通常動作時に誤って試験モードに移行することを防止することを目的とする。 - 特許庁

When the evaluation test is executed (S204), the operation PC processes the resultant data of the evaluation test by the evaluation function (S206), extracts two test conditions obtained by changing the condition value (S208), and a three-dimensional graph is created by two extracted test conditions and the control performance (S210).例文帳に追加

評価試験を実行すると(S204)、オペレーションPCは、評価試験の結果データを評価関数により処理し(S206)、条件値を変化させた試験条件を2個抽出し(S208)、抽出した2個の試験条件と制御性能とで3次元グラフを作成する(S210)。 - 特許庁

To provide a test script processing program, which converts a test script according to a corrected content without abolishing an existing test script even in a case in which a program correction such as function extension or failure correction is caused in an operation object application in correction of the existing test script.例文帳に追加

既存テストスクリプトの修正において、操作対象アプリケーションに機能拡張や不良修正などのプログラム修正が生じた場合でも、既存のテストスクリプトを破棄することなく、修正された内容に従ってテストスクリプトを変換するテストスクリプト処理プログラムを提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device capable of securing the freedom of expected values in a function evaluation test and incorporating a self-diagnosis function capable of simplifying a device configuration.例文帳に追加

機能評価テストにおける期待値の自由度を確保し、且つ、装置構成を簡略化することができる自己診断機能を内蔵する半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

A test plan execution part 36 confirms operation of the option function indicated by the acquired option constitution information, and determines whether the function is executed normally or not.例文帳に追加

また、試験プラン実行部36は、取得したオプション構成情報が示すオプション機能の動作確認を行い、正常にその機能が実行されたか否かを判断する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of improving a function to prevent probe card warpage, while keeping a moving function of a top plate, by improving a test head side holding structure.例文帳に追加

テストヘッド側保持構造を改良して、トッププレートの移動機能を保持したまま、プローブカード反り防止機能が向上された半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

The test machine 4 determines the quality of the function of the electronic control device 2 for the vehicle based on the execution result of the function tests transmitted from the electronic control device 2 for the vehicle.例文帳に追加

試験機4が、車両用電子制御装置2から送信された機能検査の実行結果に基づいて、車両用電子制御装置2の機能の良否を判定する。 - 特許庁

To provide a function which makes a test circuit or a function switching circuit that can be operated from the outside before shipment unoperable after shipment in a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路において、出荷前には外部から操作可能なテスト回路や機能切替え回路を出荷後には外部から操作不可能にする機能を提供する。 - 特許庁

(3) The server of the specified test institution has a function of registering the application form uploaded in data format as the database and a function of automatically giving an examinee's number.例文帳に追加

(3)指定試験機関のサ−バは、デ−タ形式でアップロ−ドされた申請用紙を、デ−タベ−スとして登録及び、受験番号の自動採番機能を有する。 - 特許庁

Now a change in the requirements for the function may add a test to the calculation that detects an error condition and can return prematurely from the function.例文帳に追加

さて、関数の要求仕様を変更して、計算に対するテストを追加すると、エラー条件を検出し、関数の途中で処理を戻すようになるかもしれません。 - Python

To support verification of consistency of a function mounted in software and an expected function based on design information, and to allow visual grasp of a test result.例文帳に追加

ソフトウェアに実装されている機能と設計情報に基づく期待される機能との整合性の検証を支援し、試験結果の視覚的な把握を可能にする。 - 特許庁

To solve the problem that since a first stage gate of a test interface circuit becomes a floating state and pass-through current flows therein and state of gates on and after the next stage is made unstable, the test and evaluation of a read-data mask function at setting of test mode cannot be performed.例文帳に追加

テストインターフェイス回路の初段ゲートがフローティング状態になり貫通電流が流れ、さらに次段以降のゲートのステートが不定となるため、テストモード設定時のリードデータマスク機能の検査および評価ができない。 - 特許庁

To provide a technique for verifying function operation of a virtual tape device under a test operation environment by operating a test program on a host computer that is a host control device and a test program on a monitoring terminal.例文帳に追加

上位制御装置であるホストコンピュータ上の試験用プログラムと監視端末の試験プログラムとを稼働させることによって、この試験運用環境下における仮想テープ装置の機能動作を検証する技術を提供する。 - 特許庁

例文

The test circuit adds only minimal area and complexity to the row drive function, providing a high degree of test coverage at a low cost, with minimal possibility of test circuit-induced failures.例文帳に追加

テスト回路は、行ドライバーの機能に対して最小の面積と複雑さを加えるだけであるので、テスト回路によって誘引される故障の可能性は最小の状態で、広いテスト適用範囲を低コストで提供することができる。 - 特許庁




  
日本法令外国語訳データベースシステム
※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。
  
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