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「function test」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索
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function testの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 984



例文

To provide an erase function testing method of a semiconductor nonvolatile memory executing the erase function test in sector units in a short time.例文帳に追加

セクタ単位での消去機能の試験を短時間で実行することができる、半導体不揮発性メモリの消去機能試験方法を提供する。 - 特許庁

The PC server is provided with a network (LAN) function, and an inspection process exists even in a production line to execute a test about the function.例文帳に追加

PCサーバはネットワーク(LAN)機能を備えており、生産ラインにおいてもこの機能に関するテストを実施する検査工程が存在している。 - 特許庁

The test circuit K is configured of two test blocks KB (KB1 and KB2), and these test blocks KB1 and KB2 comprise a pseudo-circuits each having a function equal to that of an existing circuit part 11 of the target apparatus M.例文帳に追加

検査回路Kは、二つの検査ブロックKB(KB1,KB2)からなり、これら検査ブロックKB1,KB2は、いずれも対象装置Mの既存回路部11と同等の機能を有する疑似回路からなる。 - 特許庁

To improve test efficiency as a whole by detecting early a defective product in a test process in a test method for a system LSI incorporating a plurality of semiconductor memories each having a redundancy relieving function.例文帳に追加

冗長救済機能を有する複数の半導体メモリを混載したシステムLSIの検査方法において不良品を検査工程にて早期に発見し、全体として検査効率を向上する。 - 特許庁

例文

In this method, an appearance of a test patch which is printed by an image forming system after the test patch is stabilized, is predicted by applying a transfer function to the color of the test patch newly printed.例文帳に追加

本発明による方法は、新たに印刷されたテストパッチのカラーに伝達関数を適用することによって、画像形成システムにより印刷されたテストパッチの安定後の外観を予測する。 - 特許庁


例文

Following to a step (S1) for forming a first interlayer film and making contact holes, a first metallization for inspection mask is formed (S8) and leak current test or function test is conducted by inline test using a probe (S7).例文帳に追加

第1層間膜形成及びコンタクトホール形成工程(S1)後に、検査用マスクの第1金属配線を形成(S8)し、プローブを用いたインライン検査(S7)によりリーク電流検査や機能検査を行う。 - 特許庁

Burn-in of the number of times of burn decided in this number of times deciding test are performed, after that, a function test is performed with the test object device unit, and a burn-in defect rate is monitored (step SP5, SP6).例文帳に追加

この回数決定テストにおいて決定されたバーンイン回数のバーンインを実施し、その後、テスト対象デバイス単位で機能テストを行なって、バーンイン不良率をモニタする(ステップSP5,SP6)。 - 特許庁

The test management device 600 records a function corresponding to data input operation to a test target device 402 into an operation content file, and transmits the operation content file to the test execution device 500.例文帳に追加

試験管理装置600は、試験対象装置402に対するデータ入力操作に対応する関数を操作内容ファイルに記録し、その操作内容ファイルを試験実行装置500へ送信する。 - 特許庁

To provide an anti-robot test system, an anti-robot test method and an anti-robot test server for making it more difficult to execute any troublesome act due to "Bot" having a function which recognizes visible information.例文帳に追加

可視情報を認識する機能を有する「ボット」による迷惑行為の実施をより困難にするアンチロボットテストシステム、アンチロボットテスト方法及びアンチロボットテストサーバを提供することを目的とする。 - 特許庁

例文

By giving a test function to the alarm device like this, the test can be executed automatically inside the dwelling unit without executing the test by an inspector by connecting an external tester from the outside of the dwelling unit.例文帳に追加

このように、警報装置に試験機能を持たせることにより、点検員が住戸外から外部試験器を接続して試験を行うことなく、住戸内で自動的に試験を実施することができる。 - 特許庁

例文

To provide a test case dynamic configuration device, for easily implementing a test even if an unknown function occurs for configuring a test case by receiving information from a plug-in module.例文帳に追加

プラグインモジュールからの情報を受けてテストケースを構築するために未知なる機能が発生したとしても、容易にテストの実施が可能となるテストケース動的構築装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

The PON function processing section 24 comprises return control sections 245, 247 for performing a return test with an OAM function section 244 and a MAC-Client/OAM-Client function section 246 as return points each.例文帳に追加

PON機能処理部24は、OAM機能部244およびMAC-Client/OAM-Client機能部246それぞれを折り返し点として折り返し試験を行う折り返し制御部245,247を備えている。 - 特許庁

To provide a test system for an address multiplexer memory with a serial access function in which an input cycle is simplified.例文帳に追加

入力サイクルが簡素化されるシリアルアクセス機能付きアドレスマルチプレクサメモリのテスト方式を提供する。 - 特許庁

FUNCTION VERIFICATION DEVICE, TEST BENCH, MODEL DESIGNED BY HARDWARE DESCRIPTION LANGUAGE, SIMULATOR PROGRAM AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

機能検証装置、テストベンチ、ハードウェア記述言語により設計されたモデル、シミュレータプログラム及び記憶媒体 - 特許庁

Thus, a test of the partial array self refresh function can be performed without actually entering a self refresh mode.例文帳に追加

これにより、実際にセルフリフレッシュモードにエントリすることなくパーシャルアレイセルフリフレッシュ機能のテストが行える。 - 特許庁

To inspect a phase follow-up function of a CDR circuit in a serial interface circuit by a loopback test.例文帳に追加

シリアルインタフェース回路におけるCDR回路の位相追従機能を、ループバックテストによって検査する。 - 特許庁

To reduce test cost for a communication function of transmission and reception incorporated in a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路に内蔵された送受信の通信機能のテストコストの低減を可能とすること。 - 特許庁

To detect mixing of different products but having a same function in a product test of a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路の製品テスト時に同一機能、異品種の混入を簡単に検出する。 - 特許庁

(a) Knowledge necessary for structure, function, maintenance, remodeling, and test of propeller, propeller accessory, and propeller's command system 例文帳に追加

イ プロペラ、プロペラ補機及びプロペラの指示系統の構造、機能、性能、整備、改造及び試験に必要な知見 - 日本法令外国語訳データベースシステム

The method for assaying the liver function of an equine animal by an expiratory test includes using a ^13C-labeled aromatic amino acid.例文帳に追加

<sup/>^13C標識芳香族アミノ酸を用いて、ウマ科動物の肝機能を呼気試験で検査する方法。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT WITH CIRCUIT FUNCTION OF SELF-DIAGONOSTIC TEST AND TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

自己診断テスト回路機能を備えた半導体集積回路および半導体集積回路のテスト方法 - 特許庁

DATA TRANSMISSION METHOD AND APPARATUS BETWEEN TIMING CONTROLLER AND SOURCE DRIVER WITH ADDITIONAL BIT ERROR RATE TEST FUNCTION例文帳に追加

ビットエラー率テスト機能が追加されたタイミングコントローラとソースドライバの間のデータ伝送方法及び装置 - 特許庁

SIMULTANEOUS CODE CHECKER AND HARDWARE EFFICIENT HIGH-SPEED I/O HAVING BUILT-IN SELF-TEST AND DEBUG FUNCTION例文帳に追加

組込み自己試験及びデバッグ機能を有する同時コードチェッカー及びハードウエア効率的高速I/O - 特許庁

a test in which people are asked to chose a one product from a group of products that perform the same function, based on their reaction to the product itself, without being told the brand name or the manufacturer 例文帳に追加

商品の銘柄や会社名を隠して使用させ,その優劣を判断させるテスト - EDR日英対訳辞書

The test device 20 includes the actuator hammer 100 which generates an actual impact power or the like, a connecting cable 101 which connects the hammer with the control device 10, function test software 23 which monitors operation of the test device 20, and a USB cable 21 which connects the function test software 23 and the control device 10.例文帳に追加

試験装置20は、実際の打撃力等を発生させるアクチュエータハンマー100、該ハンマーを制御装置10と接続する接続ケーブル101、試験装置20の動作を監視する機能試験用ソフトウェア23、及び機能試験用ソフトウェア23と制御装置10とを接続するUSBケーブル21を備える。 - 特許庁

A second data analyzing part 106 performs parameter setting and parameter checking which correspond to the conditions from test data 3, generates a test code that makes processing not included in the test range a stub, and also generates test data for achieving a function of the stub.例文帳に追加

第2のデータ解析部106は、テストデータ3より、条件に応じたパラメータ設定やパラメータチェックを行い、また、試験範囲に含まれない処理をスタブとするテストコードを生成すると共に、スタブの機能を実現するためのテストデータを生成する。 - 特許庁

A test program and a test pattern generating program are downloaded into the CPU cores 2c and 3c of the LSI or the group of LSIs to generate test patterns by the test pattern generating program and diagnose internal function blocks etc.例文帳に追加

そして、上記LSIもしくは上記LSI群のCPUコア2c,3cに試験プログラムおよび試験パターン生成プログラムをダウンロードし、上記試験パターン生成プログラムにより、試験パターンを発生させ、内部の機能ブロック等の診断を行う。 - 特許庁

To eliminate operation for unnecessary simulation, etc., by accurately measuring a description which is not covered by a verification test and preventing an unnecessary test from being generated when the coverage of test data used to test the function of a logic circuit is evaluated.例文帳に追加

論理回路の機能テストをする際に用いられるテストデータのカバレッジを評価する際、検証テストでカバーされていない記述を正確に計測し、不要なテストを作成することを防ぐことによって、不要なシミュレーション等の作業を省略する。 - 特許庁

As a result, when the test timing information of the external pin without signal variation can be made identical to test timing information of other function pattern, test timing information can be carried out in common, so that periods necessary for the LSI test can be reduced.例文帳に追加

したがって、信号変化のない外部ピンのテストタイミング情報を、別のファンクションパターンのテストタイミング情報と同じにすることができる場合には、テストタイミング情報を共通にすることができ、LSIのテストに要する時間を削減することができる。 - 特許庁

To provide an LSI test program generating method and system for realizing optimization by easily changing a series of LSI test programs to be used for an electrical function test, in an LSI tester (probe tester) in matching to a test environment.例文帳に追加

LSIテスタ(プローブテスタ)において電気機能試験に用いられる一連のLSIテストプログラムをテスト環境に合わせて容易に変更でき、最適化を実現できるようにしたLSIテストプログラム生成方法およびそのシステムを提供することにある。 - 特許庁

To provide a cartridge for monitoring the function of a device for testing a blood platelet action, a method for function monitoring, and a method of the use of a test fluid.例文帳に追加

血小板の働きを検査する装置の機能をモニタするためのカートリッジ、機能をモニタする方法および検査流体の使用法の提供。 - 特許庁

To provide a secondary battery pack capable of testing normal operation of protection function of a protection circuit by loading a test circuit for protection function diagnosis on a protection circuit substrate.例文帳に追加

保護回路基板上に、保護機能診断用の試験回路を搭載し、保護回路の保護機能が正常に働くことを試験することを可能にする。 - 特許庁

After the drinking of the preparation (tablet) for two months, when the transition of laboratory test values is examined, the fact that a liver function and a renal function are improved has been found.例文帳に追加

このようにできる調製物(錠)を2ケ月で飲んで、臨床検査値の推移を調べ、肝臓機能および腎臓機能を改善したことに至った。 - 特許庁

Accordingly, the function test can be conducted almost in the final condition by immediately closing the inserted printed circuit boards 10, 20, 30 with the corresponding covers 50A to 50C, and thereby a waste of time for a function test can be eliminated.例文帳に追加

これにより、挿入したプリント基板10・20・30をすぐさま対応するカバー50A〜50Cで閉じて略最終状態で機能検査を行うことができ、機能検査の二度手間を無くすことができる。 - 特許庁

To provide a test device for semiconductor parts which has high speed signal transmitting function, that structure is simplified and expansion in the direction of pin is superior by limiting a function for generating a test pattern by ALPG.例文帳に追加

ALPGによる試験パターンの発生機能を限定することにより、構造を簡略化しかつ高速の信号伝送機能を有し、またピン方向への拡張性に優れた半導体部品の試験装置を提供する。 - 特許庁

The end function,which is called following the test function, is used primarily to destroy any non-cachable server resources used by the test, and to free any memory which was dynamically allocated by the client.例文帳に追加

終了関数は主として、キャッシュできない全てのサーバリソースを破棄し、クライアントに動的に割り当てられた全てのメモリを解放するために使われる。 この終了関数はテスト関数の後に呼び出される。 - XFree86

The augmentation specification specifies: (a) a function to be augmented, (b) the parameter of a function to be tested, (c) a test to be applied to the specified parameter, and (d) modification to be executed to the behavior of the function when the specified test is not satisfied by the specified parameter.例文帳に追加

増補指定は、(a)増補される機能、(b)テストされる機能のパラメータ、(c)指定されたパラメータに適用されるテスト、および(d)指定されたテストが指定されたパラメータによって満足されない場合に機能の挙動に対して実行される変更を指定する。 - 特許庁

This pigmented food for the masticatory function test is formed by containing pigment such as carotene in a food material such as Gumi-jelly which is segmented into a plurality of masticated pieces by the mastication and, in the masticatory function test, provides a masticatory function evaluation value by measuring the concentration of the pigment eluted from the masticated pieces of the food for the masticatory function test after the mastication.例文帳に追加

本発明に係る咀嚼機能検査用色素含有食品は、グミゼリーの如く咀嚼によって複数の咬断片に細分化することが可能な食材にカロチン等の色素を含有したものであって、咀嚼機能の検査においては、咀嚼後の咀嚼機能検査用食品の咬断片から溶出する色素の濃度を測定することにより咀嚼機能評価値を得る。 - 特許庁

A test timing information converting part 8 converts the test timing information of the external pin without signal variation which is detected by the setting part 2 into test timing information of the external pin of other function pattern.例文帳に追加

テストタイミング情報変換部8は、信号変化有無設定部2によって検出された信号変化のない外部ピンのテストタイミング情報を、別のファンクションパターンの当該外部ピンのテストタイミング情報に変換する。 - 特許庁

To provide a system for automatically performing a function test in the production or maintenance of a ultrasonic diagnosing device with high reliability and at high speed and to provide a test method, a test device and the device.例文帳に追加

超音波診断装置の製造上やメンテナンスにおける機能テストを、高速・高信頼性にて自動的に行なうことができるシステム、テスト方法、テスト装置および超音波診断装置を提供すること。 - 特許庁

To reduce a pattern transfer time by minimizing the number of times of test pattern transfer from a buffer memory to a local memory, following a measurement sequence by a test program, and to thereby shorten the measuring time, in a function test of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の機能テストに際して、テストプログラムによる測定シーケンスにしたがうバッファメモリからローカルメモリへのテストパターン転送回数を最小化してパターン転送時間を削減し、測定時間を短縮する。 - 特許庁

A test processing function section 35 extracts station data from a storage medium to start the test scenario for a new communication processing unit and executes a connection test with a new existing communication processing unit on the basis of the station data.例文帳に追加

試験処理機能部35は新規通信処理装置に対し試験シナリオを起動するために記憶媒体32から局データを取り出し、この局データを基に新規既存通信処理装置との接続試験を実施する。 - 特許庁

The BIST circuit 11 has a function in which the prescribed marker signal Ms having the same phase as the test result signal Ts is generated instead of the test result signal Ts prior to generation of the test result signal Ts.例文帳に追加

BIST回路11は、テスト結果信号Tsの生成に先立って、テスト結果信号Tsの代わりにテスト結果信号Tsと同一の位相を有する所定のマーカ信号Msを生成する機能を有する。 - 特許庁

To provide a test method for a semiconductor test device realizing an efficient device test method without testing doubly an address region already tested, in simultaneous measurement of plural DUT(device to be tested) utilizing a matched mode function.例文帳に追加

マッチモード機能を利用した複数DUTの同時測定において、試験済のアドレス領域を重複試験しないで効率的なデバイス試験方法を実現する半導体試験装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

Plural VCs with the same function and mutually different test technique are stored in the VCDB 100, the test technique to minimize the total test cost is selected by weighting a parameter to affect the test cost according to a user's priority order.例文帳に追加

VCDB100には、機能が同じでテスト手法が互いに異なる複数のVCが格納されており、テストコストに影響を与えるパラメータをユーザの優先順位に応じて重み付けを行なって、トータルのテストコストを最小化するテスト手法を選択することができる。 - 特許庁

To provide a function verification device, a test bench, a simulator program, and a storage medium for avoiding unintended register setting in each verification work and allowing a test designer to design a test without taking register competition with the other test into consideration.例文帳に追加

それぞれの検証作業で意図しないレジスタ設定となることを回避することができ、テスト設計者は他のテストとのレジスタ競合を考えることなくテストを設計することができる機能検証装置、テストベンチ、シミュレータプログラム及び記憶媒体を提供する。 - 特許庁

Test auxiliary circuits 5 each of which has a self-diagnosis function for supporting a test of a chip 2, and evaluation auxiliary circuits 6 each of which has a function for self-completing an electrostatic destruction test of the chip 2, are formed on each dicing line 4 between a plurality of chips 2, formed on a wafer 1.例文帳に追加

ウェハ1上に形成された複数のチップ2間のダイシングライン4上に形成され、チップ2の試験を補助する自己診断機能を有するテスト補助回路5およびチップ2の静電気破壊試験を自己完結する機能を有する評価補助回路6を備える。 - 特許庁

TEST METHOD FOR MEDICINE TO MAINTAIN, PREVENT LOSS, OR RECOVER NERVE CELL FUNCTION例文帳に追加

神経細胞機能を維持し、その喪失を防止し、または回復させる活性について薬物を試験する方法 - 特許庁

A function test can be executed for determining which thread experiences a fault.例文帳に追加

本発明に従えば、どのスレッドが障害を経験しているかを決定する機能テストを実行することができる。 - 特許庁

例文

LANGUAGE LISTENING/SPEAKING TRAINING SYSTEM AND METHOD PROVIDED WITH FUNCTION OF RANDOM TEST, APPROPRIATE SHADOWING, AND IMMEDIATE REPHRASING例文帳に追加

ランダムテスト、適切なシャドーイングおよび即座に言い換える機能を備えた言語聴話トレーニングシステムおよび方法 - 特許庁




  
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日本法令外国語訳データベースシステム
※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。
  
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