「function test」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

To accurately perform assessment without using a stop watch in an oral cavity function assessment test.例文帳に追加

口腔機能評価テストにおいて、ストップウォッチを使用せずに正確に評価を行えるようにする。 - 特許庁

A function library storage memory 212 stores calculation expressions corresponding to each of algorithms of a memory test.例文帳に追加

関数ライブラリ格納メモリ２１２は、メモリ試験の各アルゴリズムに対応する各計算式を記憶する。 - 特許庁

To materialize a semiconductor test device provided with a self diagnosis function capable of confirming operation margin.例文帳に追加

動作マージンの確認ができる自己診断機能を備えた半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a test image display device for inspecting a customer stratum recognizing function of a vending machine.例文帳に追加

自動販売機の客層認識機能を検査できるテスト画像表示装置を提供する。 - 特許庁

In the test mode, whether or not a signal input/output function of the control unit 10 is good is inspected.例文帳に追加

そして、そのテストモードで制御ユニット１０の信号入出力機能の良否を検査する。 - 特許庁

To provide a test circuit capable of facilitating testing of a standby function of an interface block.例文帳に追加

インターフェースブロックのスタンバイ機能を容易にテストすることが可能なテスト回路を提供すること。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT FOR SUPPORTING CO-DEBUGGING FUNCTION AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TEST SYSTEM例文帳に追加

コ−デバッギング機能を支援する半導体集積回路および半導体集積回路テストシステム - 特許庁

POLISHING JIG FOR CONTACT PIN OF SEMICONDUCTOR IC TEST SOCKET AND SEMICONDUCTOR DEVICE WITH POLISHING FUNCTION例文帳に追加

半導体ＩＣテスト用ソケットのコンタクトピンの研磨治具および研磨機能付き半導体装置 - 特許庁

To enhance productivity of creation of test bench for circuit having an access function to a memory.例文帳に追加

メモリに対するアクセス機能を有する回路用のテストベンチ作成の生産性を向上させる。 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT TEST SYSTEM WITH LOG FUNCTION, LOG INFORMATION ANALYSIS METHOD AND LOG INFORMATION ANALYSIS PROGRAM例文帳に追加

ログ機能付き集積回路試験システム、ログ情報解析方法及びログ情報解析プログラム - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT HAVING FUNCTION TESTING MEMORY USING VOLTAGE FOR STRESS AND ITS MEMORY TEST METHOD例文帳に追加

ストレス用電圧を用いてメモリをテストする機能を有する集積回路及びそのメモリテスト方法 - 特許庁

To provide a technique for optimizing a program by reusing an execution result of a subclass test function.例文帳に追加

サブクラステスト関数の実行結果を再利用してプログラムを最適化する技術を提供する。 - 特許庁

To enhance the detection rate of a delay trouble in a dynamic function test, to reduce the number of generating test patterns therein, and to shorten the processing time therein.例文帳に追加

動的機能テストにおける遅延故障の検出率向上化、生成テストパターン数の縮小化及び処理時間の短縮化を図る。 - 特許庁

Since the function (6W/2W conversion circuit 32) of the repeater system is incorporated in the test telephone set 20, an efficient test is made possible.例文帳に追加

試験用電話機２０にレピータ装置の機能（６Ｗ／２Ｗ変換回路３２）が内蔵されているので、効率的な試験が可能となる。 - 特許庁

The output of the LSI 11 in response to the test pattern, together with the output of the window comparator 12, is processed by a function test result determination part 23.例文帳に追加

そのテストパターンに対するＬＳＩ１１の出力は、ウィンドウコンパレータ１２の出力とともにファンクションテスト結果判定部２３で処理される。 - 特許庁

To conduct a test of an emergency notice terminal in each stage of development, manufacturing and actual use without providing a test function to a center.例文帳に追加

開発、製造、実使用の各段階における緊急通報端末の試験を、センターに試験機能を設けることなく、行えるようにする。 - 特許庁

To provide a portable train monitor test apparatus capable of carrying out a transmission function test of a monitoring device necessitating no train radio command station without dismounting the monitoring device from a train.例文帳に追加

モニタリング装置を列車から降ろさず、列車無線指令局を必要としないモニタリング装置の伝送機能試験を実施可能とする。 - 特許庁

To attain the function verification of a logic circuit and the test of a semiconductor device specialized in a stack failure test by using common hardware.例文帳に追加

共通のハードウェアを用いて論理回路の機能検証とスタック故障テストに特化した半導体デバイスのテストとが行えるようにすること。 - 特許庁

To provide a test circuit on a delay circuit for facilitating a function test for a system including the delay circuit by stabilizing latency of the delay circuit.例文帳に追加

遅延回路のレイテンシを安定化させ、遅延回路を含むシステムのファンクションテストを容易化できる遅延回路のテスト回路を提供する。 - 特許庁

To perform a function test and a DC test without requiring a new performance board and without increasing the number of terminals.例文帳に追加

新たなパフォーマンスボードを必要とすることなく、また端子数を増大させることなく、ファンクション試験およびＤＣ試験を実施可能にする。 - 特許庁

To provide a time counter with additional functions and its test method, which easily test both a time counter part and an additional function part in a short time.例文帳に追加

タイマカウンタ部および付加機能部の両方のテストが容易で且つ短時間にできる付加機能付きタイマカウンタとテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a pneumoconiosis diagnosis supporting device and a pneumoconiosis diagnostic supporting program for generally supporting a pulmonary function test and an X-ray photograph test.例文帳に追加

肺機能検査およびエックス線写真検査を総合的に支援するじん肺診断支援装置およびじん肺診断支援プログラムの提供。 - 特許庁

Thus, a load is added upon a routing control part and transfer function diagnostic test of the routing function is executed by a single inter-network connecting device.例文帳に追加

これにより、ルーティング制御部に負荷をかけ、ネットワーク間接続装置単体でルーティング機能の転送機能診断テストを実施する。 - 特許庁

To provide a food and a masticatory function test method capable of simply testing the masticatory function at a sufficiently high accuracy.例文帳に追加

十分に高い精度で且つ簡便に咀嚼機能を検査することが出来る食品及び咀嚼機能検査方法を提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE PROVIDED WITH TEMPERATURE DETECTION FUNCTION AND TEST METHOD, AND CONTROL METHOD FOR SEMICONDUCTOR MEMORY PROVIDED WITH TEMPERATURE DETECTION FUNCTION例文帳に追加

温度検出機能を備えた半導体装置、試験方法、及び温度検出機能を備えた半導体記憶装置のリフレッシュ制御方法 - 特許庁

A test pattern compressing function by repeating a test pattern reactivating technique in a test pattern creating process and a test pattern compressing function by discriminating a test pattern which detects the largest number of undetected failures from among a plurality of test patterns used in the repeated process are simultaneously made compatible at a high speed by using a PPPF failure simulation technique.例文帳に追加

テストパタンの再活性化手法をテストパタン生成工程において繰り返すことによるテストパタン圧縮機能、及び当該繰り返し工程において用いられる複数のテストパタンの中から最も多くの未検出故障を検出するテストパタンを識別することによるテストパタン圧縮機能を、ＰＰＰＦ故障シミュレーション手法を用いることで同時に高速に両立する。 - 特許庁

To provide an ATM unit and a cell continuity test method mounting an SAR function that can attain a cell continuity test so as to extend and application route range of the cell continuity test and to increase the transmission band of cells for continuity test without employing an exclusive test unit to send/receive the continuity test cells.例文帳に追加

ＳＡＲ機能を搭載したＡＴＭ装置及びセル導通試験方法に関し、導通試験用セルを送受信する専用の試験装置を用いることなく、セル導通試験を可能とし、セル導通試験の適用ルート範囲の拡大化、導通試験用セルの伝送帯域の増大化を可能にする。 - 特許庁

In the structure, an IC tag is provided with an IC chip provided with both a memory function for storing items required as a freshly mixed concrete test specimen material and the function of controlling transmission and reception of the items; an antenna function electrically connected to the chip; and a coil function, and the IC tag is embedded in the concrete test specimen.例文帳に追加

生コン供試材としての必要事項を記憶させるメモリー機能と該事項の送受信制御機能を備えたＩＣチップと該チップに電気的に接続されたアンテナ機能とコイル機能を備えたＩＣダグをコンクリート供試体に埋入した構造からなることを特徴とする。 - 特許庁

To provide a reducing valve having a bypass mechanism capable of suppressing a pressure reduction function at the time of a pressure proof test, and of guaranteeing to operate a normal pressure reduction function after the pressure proof test.例文帳に追加

耐圧試験時に減圧機能を抑制することができるバイパス機構を有し、耐圧試験後において、正常な減圧機能動作を保証することができる減圧弁を提供すること。 - 特許庁

A terminal 13 provided with the I/F of the network having the test function transmits the character of a previously specified error to a terminal 11 by generating a test packet 12.例文帳に追加

テスト機能を有するネットワークのＩ／Ｆを設けた端末１３は、予め特定のエラーの性質をテストパケット１２を生成して端末１１へ送信する。 - 特許庁

To minimize wirings used exclusively to test between the physical layers, when designing a test circuit for a single unit of function blocks to be built, in an integrated semiconductor circuit.例文帳に追加

半導体集積回路に内蔵する機能ブロックの単体テストのテスト回路設計において、物理階層間のテスト専用配線数を最小にする。 - 特許庁

To avoid the generation of a timing violation, and to dispense with setting of an expectation in a burn-in test determination device of a semiconductor integrated circuit having a scan test function.例文帳に追加

スキャンテスト機能を有する半導体集積回路のバーンインテスト判定装置において、タイミング違反の発生を回避し、期待値の設定を不要にする。 - 特許庁

To automate a unit test and a function test, and to enhance reliability of incorporated software and development efficiency.例文帳に追加

単体テスト，機能テストの自動化を実現し、組み込みソフトウェアの信頼性および開発効率を向上することができる組み込みソフトウェアのテストシステムを提供する。 - 特許庁

After a function test process, dummy test data is supplied to the semiconductor integrated circuit device to perform a post-processing process, at which a clock speed is gradually reduced.例文帳に追加

機能試験手順の後、半導体集積回路装置にダミーテストデータを供給して後処理手順を行い、その際クロック速度を徐々に低下させる。 - 特許庁

To provide a disk storage which can realize a magnetization test function which automatically performs a test mode to detect the magnetized state of a write head.例文帳に追加

ライトヘッドの帯磁状態を検出するテストモードを自動的に実行する帯磁テスト機能を実現できるディスク記憶装置を提供することにある。 - 特許庁

To test plural logic circuits at the same time to shorten a test time, when the plural logic circuits having the same function in an integrated circuit are tested.例文帳に追加

集積回路内の同一機能を持った複数の論理回路をテストする際、これ等の複数の論理回路を同時にテストして、テスト時間を短縮する。 - 特許庁

In the first place, the in-circuit test is executed relative to only the specific circuit part, and, in the case of no defective part, shift to the function test of the whole board is executed.例文帳に追加

まず特定回路部分のみについてインサーキットテストを実行し、不良箇所がないときは、ボード全部についてのファンクションテストに移行する。 - 特許庁

METHOD FOR RESISTANCE VALUE COMPENSATION, CIRCUIT HAVING RESISTANCE VALUE COMPENSATION FUNCTION, TEST METHOD OF RESISTANCE VALUE OF CIRCUIT, RESISTANCE VALUE COMPENSATION PROGRAM, TEST PROGRAM OF RESISTANCE VALUE OF CIRCUIT, AND SYSTEM例文帳に追加

抵抗値補償方法、抵抗値補償機能を有する回路、回路の抵抗値試験方法、抵抗値補償プログラム、回路の抵抗値試験プログラム及びシステム - 特許庁

To realize a subscriber circuit by which a test result high in accuracy can be obtained even with a circuit configuration to which a medium test function is added.例文帳に追加

媒体試験機能を付加した回路構成であっても従来よりも高精度の試験結果を得ることのできる加入者回路を実現する。 - 特許庁

A minute test piece 3 is pinched between an installation stand 2 and an indenter 4, and compressive force is made to function as a load locally on the test piece 3 through the indenter 4.例文帳に追加

設置台２とインデンタ４との間に微小の試験体３を挟み、インデンタ４を介して試験体に局部的に負荷として圧縮力を作用させる。 - 特許庁

To provide a mobile phone tester provided with a function of finding out the abnormity of a test purpose coaxial cable by minimizing a connection change from the connection for an ordinary test.例文帳に追加

常試験からの接続変更を最小限にとどめてテスト用同軸ケーブルの異常を発見する機能を備えた携帯電話機テスタを提供する。 - 特許庁

To provide a terminal tester capable of efficiently performing a function test and a packet communication performance test of a mobile communication terminal without generating a processing delay.例文帳に追加

処理遅れを発生することなく、移動体通信端末の機能試験及びパケット通信性能試験を効率的に行える端末テスタを提供する。 - 特許庁

Thus, it is possible to automatically acquire test data by using a program for test execution by removing any arithmetic expression when the macro function is developed.例文帳に追加

マクロ関数が展開された場合の演算式などがなくなるので、テスト実行用プログラムを用いてテストデータを自動的に取得することが可能となる。 - 特許庁

In a first data compression test mode for invalidating the error correction function, first test data TWD1 is written in a first regular memory block MB1.例文帳に追加

誤り訂正機能を無効にする第１データ圧縮試験モード中に、第１試験データＴＷＤ１は、第１レギュラーメモリブロックＭＢ１に書き込まれる。 - 特許庁

To provide a compact integrated circuit in which a data storing function (or a latch function), a level shifting function, and a decoding function are integrated, and also to provide a source driver apparatus having a small-sized chip and reducing the time of a reliability test.例文帳に追加

データ保存機能（またはラッチ機能）、レベルシフト機能、およびデコード機能が統合されたコンパクトな集積回路を提供し、チップサイズが小さく信頼性テストの時間を減らすことができるソースドライバ装置を提供する。 - 特許庁