「flaw inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(12ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a jig that facilitates performing the insertion of a probe into a magnetic pipe and the taking out of the probe from the magnetic pipe in the inspection of the flaw of the magnetic pipe using the probe, and to provide a method of inspecting the flaw of the magnetic pipe.例文帳に追加

プローブを用いた磁性体管の欠陥検査において、プローブの磁性体管への挿入、および磁性体管からの取出しを容易に行うための治具および磁性体管の欠陥検査方法を提供すること。 - 特許庁

In this ultrasonic flaw detector 20A, ultrasonic vibrators 42a and 42b contact a flaw detection surface 21a of the inspection object material 21, and time delay circuits 41 give time delay values to a signal processing system 45 and pulse generators 26 and 27.例文帳に追加

超音波探傷装置２０Ａにおいて、超音波振動子４２ａ，４２ｂは被検査材２１の探傷面２１ａに接し、時間遅延回路４１は時間遅延の値を信号処理系４５およびパルス発生器２６、２７に与える。 - 特許庁

To provide an ultrasonic inspection device capable of removing deficiency of a conventional device, concerning flaw detection in a screw tooth flank in which an ultrasonic wave can be emitted only in the device axial center direction and flaw detection of the test object circumference is difficult.例文帳に追加

超音波を装置軸心方向にしか発射できず、被検体外周の欠陥検出が難しいネジ歯面内欠陥検出に関して、従来装置の不具合を解消できる超音波探傷装置を提供する。 - 特許庁

A flaw detection result diagnostic device 14 performs arithmetic processing for identifying a defect signal and a virtual image signal by taking a correlation between a plurality of guide wave inspection images to a different frequency, imaged by the flaw detection result imaging device 13.例文帳に追加

探傷結果診断装置１４は、探傷結果映像化装置１３により映像化された、異なる周波数に対する複数のガイド波検査映像の相関を取り、欠陥信号と虚像信号とを識別する演算処理を行う。 - 特許庁

An expansion support arm 15 is installed in the groove part 12 of the stage 3 to discharge a part of the substrate 2 of which the flaw is discovered by inspection to a base stand 6 from the stage.例文帳に追加

ステージ３の溝部１２に伸縮支持アーム１５を設けて、検査で欠陥を発見した一部の基板２をステージから基台６に排出する。 - 特許庁

To certainly detect a flaw while avoiding the erroneous detection caused by an image sampling error in the inspection of a pattern due to a comparing method using a multivalued image.例文帳に追加

多値画像を用いた比較法によるパターン検査において、画像サンプリング誤差に起因する誤検出を回避しつつ欠陥を確実に検出する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic flaw inspection method which enables the efficient detection of flaws within the wide range, in a region to be inspected.例文帳に追加

被検査領域内の広い範囲において欠陥を効率よく検出することができる超音波探傷方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide an ultrasonic flaw detection device capable of highly accurately and continuously capturing fine signals inside an inspection target structure without enlarging the device.例文帳に追加

装置を大型化することなく、被検査構造物内の微細信号を高精度に連続して捉えることの可能な超音波探傷装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method of a substrate for an electrooptical device capable of easily detecting the flaw of the substrate, and a manufacturing method of the electrooptical device.例文帳に追加

基板の欠陥を容易に検出することが可能な電気光学装置用基板の検査方法及び電気光学装置の製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a flaw detecting method which enables the execution of accurate visual examination regardless of the size of an angle of inclination of the inspection surface of a sheet.例文帳に追加

板状体の検査面の傾き角度の大きさにかかわらず正確な外観検査を行うことを可能にする欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

To realize a surface flaw inspection device capable of accurately setting a space filter in a short time and capable of also preventing the lowering of detection sensitivity.例文帳に追加

正確に、かつ短時間に空間フィルタの設定を行なうことができ、検出感度の低下防止も可能な表面欠陥検査装置を実現する。 - 特許庁

To determine a binarization threshold, coping with a brightness fluctuation in various magnetic particle flaw inspection images, reduce misdetections, and attain a high defect detection rate.例文帳に追加

様々な磁粉探傷画像の輝度変動に対応可能な２値化のしきい値の決定して、誤検出を少なくすると共に高い欠陥検出率を実現する。 - 特許庁

To provide a flaw inspection system capable of accurately grasping the correspondence relation on the two-dimensional coordinates of the pixel of an imaging element with the pixel of a display surface.例文帳に追加

撮像素子の画素と、前記表示面の画素との２次元座標上の対応関係を正確に把握できる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To detect the degradation amount with high accuracy in quantitative detection of the degradation condition of an inspection target using an eddy current flaw sensor.例文帳に追加

渦電流探傷センサーを用いた検査対象物の劣化状況の定量的検出において、劣化量の検出を高い精度で行うことを可能にする。 - 特許庁

To evaluate a defect signal from data in flaw detection tests directly and easily, and to reduce inspection time without being affected by noise generated in lift-off.例文帳に追加

探傷試験時のデータから直接簡便に欠陥信号を評価し、リフトオフ時に生ずるノイズに影響されず、かつ、検査時間の短縮を実現する。 - 特許庁

To provide a rope flaw detection unit capable of shortening a rope inspection work time, and improving safety performance and work efficiency.例文帳に追加

ロープの点検作業時間を短縮することができ、また、安全性および作業性を良好なものとすることができるロープ探傷ユニットを提供する。 - 特許庁

To realize the accurate inspection of a flaw without being affected by the positional change of each coil with respect to an insulated wire and the magnetic field of an insulated wire of other phase.例文帳に追加

絶縁電線に対する各コイルの位置変動及び他相の絶縁電線の磁界に影響されることなく正確な欠陥検査を実現する。 - 特許庁

To provide a surface inspection device increasing a light quantity for quickly inspecting a wide range in detecting a minute rugged flaw by irradiation with parallel light.例文帳に追加

平行光を照射して微小凹凸性疵を検出する際に、光量を増大させ、広範囲を高速に検査可能な装置を提供する。 - 特許庁

To prevent the lowering of inspection precision due to the vertical movement and inclination movement, at the scanning of a probe in ultrasonic flaw detection that uses aperture synthesis technique.例文帳に追加

開口合成手法を用いた超音波探傷において、探触子の走査時における上下動及び傾斜動などによる、検査精度の低下。 - 特許庁

Scattered light is detected by the sensor 24 arranged so as to surround the entire periphery of the object of inspection 20 at the position P to detect the surface flaw.例文帳に追加

位置Ｐにおいて検査対象物２０を囲むように全周的に配置されたセンサ２４で散乱光を検出して表面欠陥を検出する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic flaw detection method for detecting defects precisely without being affected by the contamination and inclination of the surface of an inspection body.例文帳に追加

検査体表面の汚れや傾きに影響されることなく欠陥を高精度で検出することができる超音波探傷方法を提供する。 - 特許庁

To restrain lift-off noise from being generated even when an unevenness exists on a surface of an inspected object, in non-contact inspection using a multi-coil for eddy current flaw detection.例文帳に追加

渦電流探傷用マルチコイルを用いた非破壊検査において、被検査体の表面に凹凸があってもリフトオフノイズの発生を抑制することにある。 - 特許庁

To provide a food safety management method capable of accurately predicting an accident based on an inspection result and of promoting rapid and precise improvement of flaw.例文帳に追加

検査結果に基づく事故予測を正確に行うことができ、迅速的確な不備の改善を促すことができる食品安全管理方法を提供する。 - 特許庁

A flaw detector 10 transmits ultrasonic pulse signals to a rolling roll RO which is an inspection object, sequentially from plural piezoelectric transducers 42-1, 42-2,..., 42-4.例文帳に追加

探傷器１０は、複数の振動子４２−１，４２−２，…，４２−４から、順次超音波パルス信号を検査対象である圧延ロールＲＯに送信する。 - 特許庁

Since the beam size is several ten micrometers by several millimeters, a micro-flaw with the size in the degree of several ten micrometers existing on a large inspection object can be detected at high speed.例文帳に追加

さらにビームサイズが数十μm×数mmであることから、大きな被検査物に存在する数十μm程度の微小傷を高速で検知できる。 - 特許庁

To provide an inspection device for plate glass or the like capable of detecting simply an edge and capable of detecting accurately a defect such as a flaw or a stain.例文帳に追加

エッジの検出を簡便に行うことができ、傷、汚れなどの欠点の検出を正確に行うことができる板ガラスなどの検査装置を提供する。 - 特許庁

To enhance inspection precision by discriminating whether a signal waveform is caused by the flaw of an object to be inspected being a measuring target or noise.例文帳に追加

信号波形が測定対象の被検体の傷に起因するものか、或いは、ノイズに起因するものかを判別して検査精度の向上を図ること。 - 特許庁

To provide an image quality inspecting device capable of stably calculating the intensity of flaw of a two-dimensional image with high accuracy, to provide and an image quality inspection method.例文帳に追加

二次元画像の欠陥強度を高精度かつ安定に算出することのできる画質検査装置および画質検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a flaw inspection apparatus for a steel plate, by which all kinds of flaws can be detected with a simple constitution and without being restricted by an installation place.例文帳に追加

簡略な構成により、設置場所の制約等を受けることなく、全種類の疵を検出することが可能な鋼板の疵検査装置を提供すること。 - 特許庁

A probe 16 is arranged outside the side part of the rotor inspection object 11 or the like, and as relative position relation between the inspection object and the probe, the probe is moved in the circumferential direction of the inspection object, and simultaneously moved in the axial direction thereof, to thereby execute flaw detection inside the peripheral side part of the inspection object or the like.例文帳に追加

回転体被検査物１１の側面部の外側等に探触１６を配置し、被検査物と探触子との相対的な位置関係として探触子を被検査物の円周方向に移動させながらその軸方向に移動させることによって被検査物の周囲側面部の内部等を探傷する。 - 特許庁

The flaw inspection device is provided with a photographing device unit 10, which is constituted of a distribution optical system 15, the photographing device 11 serving as a reference, and one or more photographing devices 12, 13 and 14 turned at an arbitrary angle, an image layout device 20, a flaw detector 21, and a flaw position output device 22.例文帳に追加

欠陥検査装置において分配光学系１５と、基準となる撮像装置１１と、任意角度を回転させた１以上の撮像装置１２、１３、１４とから構成される撮像装置部１０、画像割付装置２０、欠陥検出装置２１、欠陥位置出力装置２２を具備すること。 - 特許庁

To provide a flaw inspection device performing flaw control of high reliability, by realizing the discrimination between the harmful actual flaw of a transparent sheet-like article and the foreign matter adhered to the surface of the transparent sheet-like article on the basis of the relatively simple collation of detection data by an apparatus constituted of one floodlight projection part and two light-detecting parts.例文帳に追加

透明体シート状物の有害な実欠陥と表面に付着した異物との判別を、１つの投光部と２つの受光部から構成された装置によって、比較的単純な検出データの照合で実現し、信頼性の高い欠陥管理を行う欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an in-pipe insertion ultrasonic flaw inspection apparatus smoothly moved in a pipe by a water stream pressure only without use of a cable for supplying power to an ultrasonic probe and transmitting/receiving a signal to/from the ultrasonic probe and a cable using a coil spring for transferring an ultrasonic flaw inspection apparatus in the pipe.例文帳に追加

超音波探触子への電源供給や信号の送受のためのケーブルと、超音波探傷検査装置の管内移送のためのコイルバネ等を用いたケーブルを用いることなく、水流圧だけでスムーズに管内を移動できるようにした管内挿入式超音波探傷検査装置を提供する。 - 特許庁

At this time, probes 11 and 12 are brought into contact with the respective members, to make ultrasonic waves incident on the respective members from the first prove 11, the returned ultrasonic waves are received by the first probe 11 to perform creeping flaw inspection, ultrasonic waves are made incident from one probe 11, while received by the other probe 12 and performs TOFD flaw inspection.例文帳に追加

この際、探触子１１，１２を各部材に接触させて、第１探触子１１から超音波を入射させ、戻された超音波を第１探触子１１で受信せしめてクリーピング探傷し、一方の探触子１１から超音波を入射し他方の探触子１２でこれを受信してＴＯＦＤ探傷する。 - 特許庁

To provide a flaw inspection device by an AC electromagnetic field measuring method capable of reducing the effect of noise or a false signal even when there is a structural change part such as a welding excess metal part or a T-shaped joint part in the vicinity of an inspection place and capable of easily and certainly calculating the position, size and depth of a flaw or the like.例文帳に追加

検査箇所近傍に溶接余盛部やＴ型接合部等の構造変化部がある場合でも、ノイズや擬似信号の影響を低減することができ、傷等の位置とその大きさ及び深さを容易かつ確実に求めることができる交流電磁場測定法による探傷検査装置を提供する。 - 特許庁

To detect a region, where fine uneveness parts on the surface of an inspection target crowd, as flaws or in proportion to the flaw, while excluding the possibility that the fine uneveness parts on the surface of the inspection target are detected independently as flaws.例文帳に追加

被検査物の表面の微小な凹凸等を単独で欠陥として検出されるおそれを排除しつつ、その微小な凹凸等が密集している領域を欠陥又は欠陥に準じて検出する。 - 特許庁

This pipe magnetic powder flaw detector 10 comprises an inspection liquid tank 20, a pipe vertical moving device 30 and an electrode moving device 40, and magnetizes the pipe 1 in an inspection liquid to form a magnetic powder pattern at a weld defect part.例文帳に追加

パイプ磁粉探傷装置１０であって、検査液槽２０と、パイプ上下移動装置３０と、電極移動装置４０とからなり、パイプ１を検査液中で磁化し、溶接欠陥部に磁粉模様を形成させるもの。 - 特許庁

To provide an endoscope capable of facilitating the replacement of an inspection probe and adjusting the positional relation between the detection coil of the inspection probe and a metal surface of subject to the best state to perform a precise flaw detection.例文帳に追加

検査用プローブの交換を容易に行え、検査用プローブの検出コイルと被検体金属面との位置関係を最良の状態に調整して、高精度の探傷検査を行える内視鏡装置を提供すること - 特許庁

To provide a rail flaw detection auxiliary tool adapted to an inspection in a factory before a shipment and a rail after installation in the field, having a convenient structure and excellent in the inspection accuracy, position accuracy and working efficiency.例文帳に追加

工場内の出荷前検査のみならず、現場に施設した後のレールに対しても適用でき、構造が簡便であり、かつ検査精度、位置精度及び作業効率の高いレール探傷補助具を提供すること。 - 特許庁

To certainly detect a flaw by combining the merits of a plurality of inspection systems in a substrate inspection apparatus for inspecting a substrate for a semiconductor circuit element, a liquid crystal display element, or the like.例文帳に追加

本発明は、半導体回路素子や液晶表示素子等の基板を検査する基板検査装置に関し、複数の検査方式の長所を組み合わせて欠陥検出を確実に行うことを目的とする。 - 特許庁

To provide an inspection method and an inspection device for inspecting quickly a defect such as a cavity, a flaw and a stain, even when a machining oil or a cleaning liquid is deposited on an inner face of an inspected cylindrical object such as an engine cylinder.例文帳に追加

エンジンシリンダなどの被検査円筒物体の内面に加工油や洗浄液が付着していたりしても、高速で、鋳巣、傷、汚れ等の欠陥を検査できるようにした欠陥検査装置及びその方法。 - 特許庁

To provide a visual inspection system for a semiconductor capable of specifying the flaw having increased or disappeared before and after a predetermined process of a semiconductor manufacturing process; a visual inspection method; and a semiconductor manufacturing apparatus.例文帳に追加

半導体製造工程の所定の工程の前後で増加又は消失した欠陥を特定することが可能な半導体外観検査装置、外観検査方法及び半導体製造装置を提供する。 - 特許庁

To well detect the flaw caused in the repeated pattern, which is composed of unit patterns having a complicated shape, on the surface of an inspection target and to facilitate an apparatus constitution including the stage for supporting the inspection target.例文帳に追加

被検査体の表面の、複雑な形状の単位パターンからなる繰り返しパターンに生じた欠陥を良好に検出できると共に、被検査体を支持するステージを含む装置構成を容易化できること。 - 特許庁

To rapidly and certainly detect a flaw by combining the merits of a plurality of inspection systems in a substrate inspection apparatus for inspecting a substrate for a semiconductor circuit element, a liquid crystal display element, or the like.例文帳に追加

本発明は、半導体回路素子や液晶表示素子等の基板を検査する基板検査装置に関し、複数の検査方式の長所を組み合わせて欠陥検出を迅速，確実に行うことを目的とする。 - 特許庁

To provide a surface foreign matter inspecting method and inspecting device capable of conveniently making a total inspection for comparatively large foreign matter or a flaw or the like on a wafer or a liquid crystal substrate in a state of inspection standard is constant.例文帳に追加

検査基準が一定の状態でウエハや液晶基板上の比較的大きな異物、傷等の全数検査を簡便に行うことができる表面異物検査方法及び検査装置を提供すること。 - 特許庁